Non-destructivetesting-Ultrasonictesting-Ultrasonictestingmethodforweldoverlayofwellheadandtreeproducts2023-06-12發布2023-09-12實施 1 1 1 2 2 2 3 4 5 5 6附錄A(規范性)液浸式超聲波檢測方法 7附錄B(規范性)縱波斜探頭和縱波雙晶斜探頭分辨率校驗 8附錄C(規范性)堆焊層校準試塊 9附錄D(資料性)起草單位和起草人 10I本文件參照GB/T1.1—2020《標準化工作導則第1部分：標準化文件的結構和起草規則》，請注意本文件的某些內容有可能涉及專利。本文件的發布本文件由中國材料與試驗標準化委員會無損檢測技術及設備標準化領域委員會（CSTM/FC94）提本文件由中國材料與試驗標準化委員會無損檢測技術及設備標準化領域委員會（CSTM/FC94）歸口無損檢測超聲檢測井口和采油樹產品堆焊層超聲波檢測方法本文件規定了油氣井口設備中管形部件和閥體部件（以下統稱部件）內孔表面或外表面奧氏體不本文件適用于油氣井口設備在生產、制造、安裝和修復中的部件內孔直徑大于度為3mm～25mm的堆焊熔敷層、熔接層和熱影響區的手動或自動檢測。其他設備部件堆焊層的檢下列文件對于本文件的應用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，僅注日期的版本適用于本文A型脈沖反射式超聲探傷儀通用技術條件無損檢測人員資格鑒定與認證（Non-destructivetesting-QualificationandcertificationofNDTpersonnel）innondestructivete用焊接方法在油氣井口設備中部件的內孔表面或外表面堆敷具有耐蝕和一定性能的金屬包層。堆油氣井口設備中的部件內孔附近端部（因與相鄰孔型部件密封銜接，故堆焊層質量有要求）的外14檢測人員4.2檢測應由供方任命的Ⅱ級及以上人員進行5檢測方法5.1當部件的內徑足夠大以及其他條件許可時，易使用雙晶直探頭在堆焊層側進行檢測；如果訂貨要6.1.1應使用脈沖反射式超聲探傷儀或相控陣探傷儀，b）閘門的界面波跟蹤功能；由公式(1)檢查:2a）單晶直探頭的直徑一般不應超過Φ30mm；b）縱波單晶斜探頭的折射角宜為45°。a）雙晶探頭兩晶片間的夾角應能使有效聲場覆蓋全部檢測區域，但總的聲場覆蓋范圍不宜超過b）雙晶探頭靈敏度最高的聲束匯聚區應位于堆焊的熔接層；c）雙晶斜探頭的折射角宜為70°左右，但不應小于60°。6.2.5縱波斜探頭和縱波雙晶斜探頭分辨率校驗方法見附錄B所示。6.3.2對于鎳基合金材料，耦合劑中的硫含量不應超過250ppm。6.3.3對于奧氏體不銹鋼，耦合劑中的鹵化物（氯化物加氟化物）含量不應超7.1.1校準試塊的堆焊層和基材應與被檢部件具有相同的材質，相同或相似的制造和堆焊工藝，以及相7.1.2當試塊的熱處理工藝與被檢部件差異較大時，可通過兩者對相同參考反射體的靈敏度比較實驗進7.3.1當使用縱波雙晶斜探頭從部件內孔的堆焊層側檢測（或使用縱波單晶斜探頭37.4.1當使用單晶直探頭或縱波單晶斜探頭從部件的基材側檢測（或使用縱波雙晶斜探頭從堆焊層側檢測）時，應使用圖3所示的C型校準試塊。注：在A、B、C型試塊中，所有平底孔（FBH）和橫孔（SDH）直徑的加工允差均為±0.1mm。4b）當檢測熔接層時，基材側檢測用C型試塊中8.2.1在對相同部件的檢測過程中，應使用校準試塊對儀器進行定期設置檢查，檢查頻次應至少每4h一次，且當更換設備操作人員和在檢測的開始及結束8.2.3在檢測過程中，如果設置檢查不合格，則自上一次設置合格后的所有被檢部件應在儀器重新設置9掃查方法9.3采用雙晶直探頭檢測時，探頭的掃查方51當量<Φ3.2FBH，或：當量<Φ3.2FBH+6dB且長度≤2D當量<Φ3.2FBH+6dB當量<Φ9.6FBH210.2.1當堆焊層不僅用于耐蝕、還需符合設計規范的性能要求時，既檢測熔敷層缺陷，也檢測熔接層1當量<Φ3.2FBH當量<Φ3.2FBH+6dB當量<Φ1.6SDH當量<Φ1.6SDH+6dB2當量<Φ3.2FBH當量<Φ3.2FBH+6dB當量<Φ1.6SDH當量<Φ1.6SDH+6dB3b）檢測范圍（含堆焊層代碼和/或標識）；）；e）檢測設備和器材（儀器型號、編號及校準日期；探j）檢測結果（含拒收缺陷的位置、深度和尺寸k）檢測日期；l）檢測人員（資格及簽字）和審核人員（資格及A.1儀器應具備足夠電壓、重復頻率、波形的脈沖發生器，確保在所要掃查速度達到全體積覆A.2對自動化液浸檢測應當采用音響警報或記錄設備，且應按符合下列要求：b)為確保報警閘門跟蹤檢驗區域，閘門應鎖定來自檢測工件的第一次A.3操作設備應當為探測管件、包括探測裝置提供足夠調節，并允許在兩個互相垂直的豎直平面，提供任意角度調節。操作設備必須為探測管件和探測裝置之間提供必要的角度調A.4掃查系統應當為探測裝置提供準確的定位，以確保精確控制。水距應連續可調。A.5探測裝置為參考試塊和被檢零件或材料提供準確定位。基本液浸裝置見圖A.1所示。7如圖B.1所示位置斜探頭，使與相應臺階的兩個超聲波的反射回波相等，并位于所用方法應符合表B.1要求。3224HHH），所有D型堆焊層校準試塊要求。表面條件必須與被測零件相同。必須在校準試塊上機加工一個平底C.2直徑小于500mm時，必須使用彎曲試塊，其直徑等于被檢表面。可使用直徑大致相等的試CCl3.2w3.23.2w3.2w3.24747UVtXYZAAA—金屬行程，公差±0.38mm；平底孔直徑可采用FBH3.2mm,公9本文件負責起草單位:南京迪威爾高端制造股份有本文件參與起