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SEM原理及應(yīng)用實(shí)例大家好主要內(nèi)容SEM基本原理1SEM分析應(yīng)用實(shí)例2大家好2SEM工作原理掃描電鏡是用于檢驗(yàn)和分析固體微觀結(jié)構(gòu)特的最有用的儀器之一。與透射電鏡的成像方式不同，掃面電鏡是用聚焦電子束在試樣表面逐點(diǎn)掃描成像。由三極電子槍發(fā)射出來(lái)的電子束，在加速電壓作用下，經(jīng)過2-3個(gè)電子透鏡聚焦后，在樣品表面按順序逐行進(jìn)行掃描，激發(fā)樣品產(chǎn)生各種物理信號(hào)，如二次電子、背散射電子、吸收電子、X射線、俄歇電子等。這些物理信號(hào)的強(qiáng)度隨樣品表面特征而變，它們分別被相應(yīng)的收集器接受，經(jīng)放大器按順序、成比例地放大后，送到顯像管成像，得到樣品表面特征圖像。大家好3SEM示意圖大家好4SEM特點(diǎn)可以觀察直徑為10~30mm的大塊試樣，制樣簡(jiǎn)單場(chǎng)深大，適用于粗糙表面和斷口的分析；試樣有立體感，易于識(shí)別放大倍數(shù)范圍大具有相當(dāng)?shù)姆直媛士梢酝ㄟ^電子學(xué)方法有效的控制和改善圖像質(zhì)量可進(jìn)行多種功能的分析可使用加熱、冷卻和拉伸等樣品臺(tái)進(jìn)行動(dòng)態(tài)試驗(yàn)大家好5SEM應(yīng)用實(shí)例1大家好6SEM應(yīng)用實(shí)例1大家好7SEM應(yīng)用實(shí)例1大家好8大家好9SEM應(yīng)用實(shí)例1大家好10SEM應(yīng)用

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