電磁兼容測(cè)試技術(shù)培訓(xùn)-Part1-20250228_第1頁(yè)
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電磁兼容測(cè)試概述XASTTESTZhejiangXin’anSmartTestingTechnologyCo.,Ltd電磁兼容測(cè)試技術(shù)培訓(xùn)計(jì)劃Part1培訓(xùn)目標(biāo):XASTTESTZhejiangXin’anSmartTestingTechnologyCo.,Ltd了解電磁兼容性概念的由來(lái)和歷史發(fā)展理解電磁兼容性、電磁干擾的定義了解電磁兼容測(cè)試的內(nèi)容電磁兼容性概念的由來(lái)與歷史發(fā)展一、國(guó)外發(fā)展歷史(1)理論基礎(chǔ)和早期探索(19世紀(jì)末-20世紀(jì)初)XASTTESTZhejiangXin’anSmartTestingTechnologyCo.,Ltd1864年,麥克斯韋提出電磁場(chǎng)理論,預(yù)言電磁波存在,為EMC研究奠定理論基礎(chǔ)。1888年,通赫茲過(guò)實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證電磁波,進(jìn)一步推動(dòng)電磁學(xué)發(fā)展。1881年,希維賽德發(fā)表《論干擾》,首次系統(tǒng)探討電磁干擾問(wèn)題。1889年,英國(guó)郵電部門(mén)研究通信干擾問(wèn)題,表明電磁干擾對(duì)通信領(lǐng)域已產(chǎn)生實(shí)際影響。1887年柏林電氣協(xié)會(huì)成立“全部干擾問(wèn)題委員會(huì)”,開(kāi)始有組織地研究電磁干擾。1934年,國(guó)際無(wú)線電干擾特別委員會(huì)(CISPR)成立,專注于干擾測(cè)量與限值。電磁兼容性概念的由來(lái)與歷史發(fā)展一、國(guó)外發(fā)展歷史(2)軍事需求與工程化應(yīng)用(20世紀(jì)中期)XASTTESTZhejiangXin’anSmartTestingTechnologyCo.,Ltd二戰(zhàn)期間,德國(guó)1944年制定首個(gè)電磁兼容規(guī)范VDE0878,美國(guó)1945年頒布軍用標(biāo)準(zhǔn)JAN-I-225。這些規(guī)范的制定標(biāo)志著EMC技術(shù)開(kāi)始進(jìn)入工程化應(yīng)用階段。20世紀(jì)60年代起,美、蘇、英等國(guó)家軍事部門(mén)建立較完善的電磁兼容實(shí)驗(yàn)室、分析中心。這些實(shí)驗(yàn)室和中心的建立為深入研究電磁干擾問(wèn)題提供了實(shí)驗(yàn)平臺(tái)。核爆炸電磁脈沖(EMP)的研究凸顯了EMC的重要性,EMP研究推動(dòng)了電磁屏蔽、抗干擾等技術(shù)的發(fā)展。電磁兼容性概念的由來(lái)與歷史發(fā)展一、國(guó)外發(fā)展歷史(3)國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化與法規(guī)強(qiáng)制(20世紀(jì)后期)XASTTESTZhejiangXin’anSmartTestingTechnologyCo.,Ltd1934年,CISPR成立后,持續(xù)開(kāi)展電磁干擾測(cè)量與限值研究。1980年代后,國(guó)際電工委員會(huì)(IEC)等組織不斷完善EMC標(biāo)準(zhǔn)體系。美國(guó)聯(lián)邦通信委員會(huì)(FCC)出臺(tái)民用設(shè)備規(guī)范,限制電子設(shè)備的電磁輻射。FCC規(guī)范的實(shí)施不僅保障了美國(guó)本土的電磁環(huán)境,也對(duì)全球電子設(shè)備制造商產(chǎn)生了深遠(yuǎn)影響。歐盟通過(guò)89/336/EEC等指令,強(qiáng)制要求產(chǎn)品符合EMC標(biāo)準(zhǔn)并加貼CE標(biāo)志。這些指令的實(shí)施促進(jìn)了歐洲各國(guó)在EMC標(biāo)準(zhǔn)上的統(tǒng)一。電磁兼容性概念的由來(lái)與歷史發(fā)展一、國(guó)外發(fā)展歷史(4)現(xiàn)代數(shù)字技術(shù)驅(qū)動(dòng)(21世紀(jì)以來(lái))XASTTESTZhejiangXin’anSmartTestingTechnologyCo.,Ltd高頻數(shù)字設(shè)備廣泛應(yīng)用,加劇電磁環(huán)境復(fù)雜性。數(shù)字設(shè)備的高速開(kāi)關(guān)動(dòng)作和復(fù)雜信號(hào)處理產(chǎn)生了大量電磁干擾。歐洲2014年發(fā)布新版EMC指令(2014/30/EU),強(qiáng)化市場(chǎng)準(zhǔn)入要求。新指令的實(shí)施不僅提高了產(chǎn)品的市場(chǎng)準(zhǔn)入門(mén)檻,也促進(jìn)了企業(yè)對(duì)EMC技術(shù)的重視和投入。IEC更新61000系列標(biāo)準(zhǔn),覆蓋傳導(dǎo)干擾、輻射敏感度等新問(wèn)題。新版標(biāo)準(zhǔn)的發(fā)布及時(shí)跟上了技術(shù)發(fā)展的步伐。電磁兼容性概念的由來(lái)與歷史發(fā)展二、國(guó)內(nèi)發(fā)展歷史(1)起步階段(20世紀(jì)80年代前)XASTTESTZhejiangXin’anSmartTestingTechnologyCo.,Ltd中國(guó)早期EMC研究主要集中在軍事領(lǐng)域,民用領(lǐng)域關(guān)注較少。軍事領(lǐng)域的研究為后續(xù)EMC技術(shù)發(fā)展積累了初步經(jīng)驗(yàn)。早期國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)主要借鑒蘇聯(lián)體系,雖有一定基礎(chǔ),但未能形成完整的EMC標(biāo)準(zhǔn)體系。蘇聯(lián)標(biāo)準(zhǔn)的引入為我國(guó)EMC研究提供了參考。1966年,一機(jī)部制定JB-854-66《船用電氣設(shè)備工業(yè)無(wú)線電干擾端子電壓測(cè)量方法和允許值》。1981年:航空工業(yè)部制定HB5662-81《飛機(jī)設(shè)備電磁兼容性要求和測(cè)試方法》;全國(guó)無(wú)線電干擾標(biāo)準(zhǔn)化工作組成立,提出制定國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范的計(jì)劃;電磁兼容性概念的由來(lái)與歷史發(fā)展二、國(guó)內(nèi)發(fā)展歷史(2)標(biāo)準(zhǔn)引進(jìn)與體系建立(20世紀(jì)90年代-21世紀(jì)初)XASTTESTZhejiangXin’anSmartTestingTechnologyCo.,Ltd隨著改革開(kāi)放,中國(guó)開(kāi)始引入國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)。1990年代,國(guó)家發(fā)布GB/T17626系列標(biāo)準(zhǔn),等效采用IEC61000系列。通過(guò)引入國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)和參考國(guó)外先進(jìn)經(jīng)驗(yàn),我國(guó)逐步建立了較為完整的EMC標(biāo)準(zhǔn)體系。這一階段的標(biāo)準(zhǔn)化工作促進(jìn)了國(guó)內(nèi)EMC技術(shù)的規(guī)范化和國(guó)際化。軍用標(biāo)準(zhǔn)(如GJB151A-97)則參考美軍標(biāo)MIL-STD-461D。軍用標(biāo)準(zhǔn)的完善提高了我國(guó)軍事裝備的電磁兼容性。電磁兼容性概念的由來(lái)與歷史發(fā)展二、國(guó)內(nèi)發(fā)展歷史(3)法規(guī)強(qiáng)制與產(chǎn)業(yè)發(fā)展(21世紀(jì)以來(lái))XASTTESTZhejiangXin’anSmartTestingTechnologyCo.,Ltd2002年起,中國(guó)實(shí)施電磁兼容強(qiáng)制性認(rèn)證(CCC認(rèn)證),覆蓋家電、通信設(shè)備等領(lǐng)域。強(qiáng)制性認(rèn)證的實(shí)施提高了國(guó)內(nèi)市場(chǎng)產(chǎn)品的電磁兼容性水平。國(guó)內(nèi)檢測(cè)機(jī)構(gòu)(如廣電計(jì)量)在車(chē)載電子、5G通信等領(lǐng)域形成全鏈條服務(wù)能力。檢測(cè)機(jī)構(gòu)的發(fā)展提高了國(guó)內(nèi)EMC測(cè)試能力。2010年后,新能源汽車(chē)和智能網(wǎng)聯(lián)技術(shù)的興起推動(dòng)EMC需求激增。新能源汽車(chē)的快速發(fā)展對(duì)EMC技術(shù)提出了更高要求。電磁兼容性概念的由來(lái)與歷史發(fā)展二、國(guó)內(nèi)發(fā)展歷史(3)技術(shù)自主創(chuàng)新(近年趨勢(shì))XASTTESTZhejiangXin’anSmartTestingTechnologyCo.,Ltd在芯片設(shè)計(jì)、高速PCB布局等領(lǐng)域,國(guó)內(nèi)企業(yè)結(jié)合仿真工具(如Cadence)優(yōu)化EMC設(shè)計(jì)流程。通過(guò)優(yōu)化芯片設(shè)計(jì)和PCB布局,提高了產(chǎn)品的電磁兼容性。國(guó)內(nèi)企業(yè)在EMC技術(shù)自主創(chuàng)新方面取得了顯著成果。自主創(chuàng)新不僅提升了國(guó)內(nèi)企業(yè)的競(jìng)爭(zhēng)力,也為我國(guó)電子產(chǎn)業(yè)的可持續(xù)發(fā)展提供了技術(shù)支持。通過(guò)鐵氧體磁芯(FerriteCore)抑制信號(hào)線干擾。鐵氧體磁芯的應(yīng)用有效解決了信號(hào)線干擾問(wèn)題。XASTTESTZhejiangXin’anSmartTestingTechnologyCo.,Ltd

電磁干擾的定義電磁干擾是指電磁騷擾引起的設(shè)備、傳輸通道或系統(tǒng)性能的下降。

——GB/T4365—2003ElectromagneticInterference,簡(jiǎn)稱EMI。電磁騷擾(ElectromagneticDisturbance)任何可能引起裝置、設(shè)備或系統(tǒng)性能降級(jí)或者對(duì)生物或非生物產(chǎn)生不良影響的電磁現(xiàn)象。注:電磁騷擾可能是電磁噪聲、無(wú)用信號(hào)或傳播媒介自身的變化。

——GB/T4365—2003起因后果XASTTESTZhejiangXin’anSmartTestingTechnologyCo.,Ltd

電磁干擾的危害①對(duì)電子設(shè)備或系統(tǒng)的危害②對(duì)武器設(shè)備的危害③對(duì)人體的危害④對(duì)燃油資源的危害XASTTESTZhejiangXin’anSmartTestingTechnologyCo.,Ltd

電磁騷擾的分類(lèi)ElectromagneticDisturbance①自然電磁噪聲:雷電、宇宙輻射等。②人為電磁噪聲:通信發(fā)射機(jī)的有意輻射和雜散輻射、電動(dòng)機(jī)開(kāi)關(guān)等。電磁干擾的三要素XASTTESTZhejiangXin’anSmartTestingTechnologyCo.,Ltd(1)干擾源(2)傳輸途徑①空間輻射②傳導(dǎo)發(fā)射(3)敏感設(shè)備產(chǎn)生電磁干擾的元器件、電路設(shè)備、系統(tǒng)或自然干擾源。對(duì)電磁干擾發(fā)生響應(yīng)的設(shè)備。使能量從干擾源耦合(或傳輸)到敏感設(shè)備上并使敏感設(shè)備產(chǎn)生響應(yīng)的媒介工頻干擾:f=50Hz,λ=6000km;甚低頻干擾:f=30kHz以下,λ=10km以上;載頻干擾:f=30kHz~300kHz,λ=1km~10km;射頻、視頻干擾:f=300kHz~300MHz,λ=1m~1km;微波干擾:f=300MHz~300GHz,λ=1mm~1m;雷電及電磁脈沖干擾:頻率范圍很寬,f=0Hz~。電磁干擾的頻譜XASTTESTZhejiangXin’anSmartTestingTechnologyCo.,Ltd某城市中的背景電磁噪聲XASTTESTZhejiangXin’anSmartTestingTechnologyCo.,LtdXASTTESTZhejiangXin’anSmartTestingTechnologyCo.,Ltd電磁兼容性的定義電磁兼容性是指設(shè)備或系統(tǒng)在其電磁環(huán)境中能正常工作且不對(duì)該環(huán)境中任何事物構(gòu)成不能承受的電磁騷擾的能力。

——GB/T4365—2003ElectromagneticCompatibility,簡(jiǎn)稱EMC。電磁兼容性包含以下兩方面:設(shè)備本身產(chǎn)生的電磁干擾(EMI):設(shè)備本身對(duì)外的電磁騷擾。設(shè)備本身的電磁敏感度(EMS,ElectromagneticSusceptibility),設(shè)備在有電磁騷擾的情況下,不能避免性能降低的能力。反面定義是抗擾度(Immunity),面臨電磁騷擾不降低運(yùn)行性能的能力。

——GB/T4365—2003

電磁屏蔽暗室XASTTESTZhejiangXin’anSmartTestingTechnologyCo.,Ltd電磁兼容測(cè)試的內(nèi)容電磁兼容測(cè)試(ElectromagneticCompatibilityTesting,簡(jiǎn)稱EMC測(cè)試)是指評(píng)估電子設(shè)備在電磁環(huán)境中是否能夠正常工作,同時(shí)不會(huì)對(duì)其他設(shè)備產(chǎn)生不可接受的電磁干擾。其主要目的是確保電子設(shè)備在復(fù)雜的電磁環(huán)境中能夠穩(wěn)定運(yùn)行,減少電磁干擾帶來(lái)的安全隱患和經(jīng)濟(jì)損失。(1)電磁兼容測(cè)試的定義(2)電磁兼容測(cè)試的目的1.確保設(shè)備正常運(yùn)行2.減少安全隱患3.符合法規(guī)要求4.提升產(chǎn)品質(zhì)量19EMC:電磁兼容性測(cè)試EMI:電磁干擾RECEHarmonicsFlicker輻射發(fā)射傳導(dǎo)發(fā)射諧波電流電壓閃爍RSCSESDEFT/BSurgePMS輻射抗擾度傳導(dǎo)抗擾度靜電抗擾度電快速瞬變脈沖群浪涌抗擾度工頻磁場(chǎng)抗擾度DIPS電壓跌落/短時(shí)中斷常見(jiàn)電磁兼容測(cè)試項(xiàng)目XASTTESTZhejiangXin’anSmartTestingTechnologyCo.,LtdEMS:電磁敏感度EMC標(biāo)準(zhǔn)介紹XASTTESTZhejiangXin’anSmartTestingTechnologyCo.,LtdEMC標(biāo)準(zhǔn)介紹XASTTESTZhejiangXin’anSmartTestingTechnologyCo.,LtdIEC(國(guó)際電工委員會(huì))有兩個(gè)平行組織,制定EMC標(biāo)準(zhǔn),即CISPR和TC77。CENELEEC(歐洲電工標(biāo)準(zhǔn)委員會(huì))制定歐洲標(biāo)準(zhǔn)EN。FCC(美國(guó)聯(lián)邦通信委員會(huì))主要制定民用產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn),關(guān)于電磁兼容的主要包括在FCCPart15和18中。MIL-STD,美國(guó)軍用標(biāo)準(zhǔn),如MIL-STD-461。VDE(德國(guó)電氣工程師協(xié)會(huì)),制定的標(biāo)準(zhǔn)比較嚴(yán)格,關(guān)于電磁兼容的有VED0871、72、75、79等。符合德標(biāo)的基本都符合歐標(biāo)。VCCI(日本干擾自愿控制委員會(huì)),民間組織,其標(biāo)準(zhǔn)與CISPR和IEC基本一致。我國(guó)和大多數(shù)國(guó)家采用CISPER和IEC標(biāo)準(zhǔn)。XASTTESTZhejiangXin’anSmartTestingTechnologyCo.,Ltd輻射發(fā)射測(cè)試RE(RadiatedEmission)RE主要是考察設(shè)備在正常工作時(shí)自身對(duì)外界的輻射干擾強(qiáng)度,測(cè)試頻段根據(jù)不同的標(biāo)準(zhǔn)要求不同,值得注意的是,設(shè)備進(jìn)行RE測(cè)試時(shí)標(biāo)準(zhǔn)要求盡可能滿配置、滿負(fù)荷的運(yùn)行。XASTTESTZhejiangXin’anSmartTestingTechnologyCo.,Ltd輻射發(fā)射測(cè)試RE(RadiatedEmission)在RE測(cè)試中,天線的高度、天線的極化方向以及轉(zhuǎn)臺(tái)的角度都需要不斷改變,以求檢測(cè)到設(shè)備輻射的最大點(diǎn)。4XASTTESTZhejiangXin’anSmartTestingTechnologyCo.,Ltd輻射發(fā)射測(cè)試RE(RadiatedEmission)RE測(cè)試可以在開(kāi)闊場(chǎng)和半電波暗室內(nèi)進(jìn)行。開(kāi)闊試驗(yàn)場(chǎng)半電波暗室XASTTESTZhejiangXin’anSmartTestingTechnologyCo.,Ltd電波暗室的分類(lèi)全電波暗室減小了外界電磁波信號(hào)對(duì)測(cè)試信號(hào)的干擾,同時(shí)電磁波吸波材料可以減小由于墻壁和天花板的反射對(duì)測(cè)試結(jié)果造成的多徑效應(yīng)影響,適用于發(fā)射、靈敏度和抗擾度實(shí)驗(yàn)。實(shí)際使用中,如果屏蔽體的屏蔽效能能夠達(dá)到80dB~140dB,那么對(duì)于外界環(huán)境的干擾就可以忽略不計(jì),在全電波暗室中可以模擬自由空間的情況。同其它兩種測(cè)試場(chǎng)地相比,全電波暗室的地面、天花板和墻壁反射最小、受外界環(huán)境干擾最小,并且不受外界天氣的影響。它的缺點(diǎn)在于受成本制約,測(cè)試空間有限。半電波暗室與全電波暗室類(lèi)似,也是一個(gè)經(jīng)過(guò)屏蔽設(shè)計(jì)的六面盒體,在其內(nèi)部覆蓋有電磁波吸波材料,不同之處在于半電波暗室使用導(dǎo)電地板,不覆蓋吸波材料。半電波暗室模擬理想的開(kāi)闊場(chǎng)情況,即場(chǎng)地具有一個(gè)無(wú)限大的良好的導(dǎo)電地平面。在半電波暗室中,由于地面沒(méi)有覆蓋吸波材料,因此將產(chǎn)生反射路徑,這樣接收天線接收到的信號(hào)將是直射路徑和反射路徑信號(hào)的總和。開(kāi)闊場(chǎng)OATS,是平坦、空曠、電導(dǎo)率均勻良好、無(wú)任何反射物的橢圓形或圓形試驗(yàn)場(chǎng)地,理想的開(kāi)闊場(chǎng)地面具有良好的導(dǎo)電性,面積無(wú)限大,在30MHz~1000MHz之間,接收天線接收到的信號(hào)將是直射路徑和反射路徑信號(hào)的總和。但在實(shí)際應(yīng)用中,雖然可以獲得良好的地面?zhèn)鲗?dǎo)率,但是開(kāi)闊場(chǎng)的面積卻是有限的,因此可能造成發(fā)射天線與接收天線之間的相位差。在發(fā)射測(cè)試中,開(kāi)闊場(chǎng)的使用和半電波暗室相同。

XASTTESTZhejiangXin’anSmartTestingTechnologyCo.,Ltd為什么會(huì)有輻射3米測(cè)試與10米測(cè)試,兩者有何區(qū)別?XASTTESTZhejiangXin’anSmartTestingTechnologyCo.,Ltd傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試CE(ConductedEmission)任何一個(gè)非便攜式設(shè)備都和其他設(shè)備有電纜互連關(guān)系,無(wú)論是通過(guò)電源電纜還是信號(hào)電纜,只要有這種互連關(guān)系的存在,設(shè)備就有一個(gè)途徑將自身的共模電流傳給與其互連的設(shè)備,這種現(xiàn)象就叫傳導(dǎo)干擾,又成為傳導(dǎo)發(fā)射。通信端CE、測(cè)試頻段同上,此處描述的通信端指得是針對(duì)接駁到公網(wǎng)的端口,如網(wǎng)口、ISDN口等才有CE測(cè)試要求,而對(duì)于接終端的信號(hào)端口如音視頻端口則無(wú)CE要求。電源端CE:測(cè)試設(shè)備通過(guò)自己的電源端口向交流電網(wǎng)或直流配電網(wǎng)絡(luò)傳送的干擾,測(cè)試頻段為150kHz~30MHz,(此外FCC標(biāo)準(zhǔn)中測(cè)試頻段也已經(jīng)和CISPR32一致了)。傳導(dǎo)發(fā)射包含兩個(gè)部分:電源端CE和通信端CEXASTTESTZhejiangXin’anSmartTestingTechnologyCo.,Ltd傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試CE(ConductedEmission)XASTTESTZhejiangXin’anSmartTestingTechnologyCo.,Ltd傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試CE(ConductedEmission)LISN(Lineimpedancestabilizationnetwork)線路阻抗穩(wěn)定網(wǎng)絡(luò),用來(lái)進(jìn)行電源端CE測(cè)試時(shí)的在9KHz-30MHz頻率范圍內(nèi)提供穩(wěn)定阻抗,并且該網(wǎng)絡(luò)上面有一個(gè)RF端子,EUT沿電源線向公共電網(wǎng)的干擾就從此RF端子取出,送至干擾分析儀進(jìn)行檢測(cè),得到結(jié)果。XASTTESTZhejiangXin’anSmartTestingTechnologyCo.,Ltd諧波電流和電壓波動(dòng)與閃爍測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):EN61000-4-13XASTTESTZhejiangXin’anSmartTestingTechnologyCo.,Ltd傳導(dǎo)騷擾抗擾度測(cè)試CS(ConductedSusceptibility)現(xiàn)在的空間存在太多的電磁噪聲,當(dāng)空間的電磁波的波長(zhǎng)和設(shè)備線纜的長(zhǎng)度可以比擬時(shí),電磁波將會(huì)耦合在此段線纜上并產(chǎn)生感應(yīng)電壓/電流,沿著該電纜流進(jìn)設(shè)備內(nèi)部,從而對(duì)設(shè)備的正常工作產(chǎn)生干擾,上述的設(shè)備線纜包含電源線和信號(hào)線。電源端CS試驗(yàn)此時(shí)頻段150kHz~80MHz,加入的試驗(yàn)電壓根據(jù)產(chǎn)品類(lèi)型不同而不同。信號(hào)端CS試驗(yàn)測(cè)試頻段同電源端試驗(yàn),加擾的強(qiáng)度也因產(chǎn)品類(lèi)型不同而不同。XASTTESTZhejiangXin’anSmartTestingTechnologyCo.,Ltd傳導(dǎo)騷擾抗擾度測(cè)試CS(ConductedSusceptibility)信號(hào)端試驗(yàn)連接圖EMCLAMP

EUTATTENUATERSIGNALGENERATERAMPLIFIERAUXG.R.P0.1m>0.4m

<0.3mXASTTESTZhejiangXin’anSmartTestingTechnologyCo.,Ltd輻射抗擾度測(cè)試RS(RadiatedSusceptibility)產(chǎn)品工作于80MHz–1GHz80%1KHz調(diào)幅的均勻電磁場(chǎng)中時(shí)的抗干擾能力。測(cè)試LEVEL:CE/EMC:3V/m(無(wú)調(diào)制狀況下)產(chǎn)品須達(dá)到A級(jí)水平EN60335-1:10V/m(無(wú)調(diào)制狀況下)標(biāo)準(zhǔn):EN61000-4-3XASTTESTZhejiangXin’anSmartTestingTechnologyCo.,Ltd輻射抗擾度測(cè)試RS(RadiatedSusceptibility)XASTTESTZhejiangXin’anSmartTestingTechnologyCo.,Ltd靜電放電ESD(ElectrostaticDischarge)測(cè)試環(huán)境:溫度15~35℃,濕度30%~60%,氣壓86kPa-106kPaESD:靜電放電,考察設(shè)備在接收外界靜電源(如帶電人體、帶電設(shè)備等)所產(chǎn)生的直接放電或靜電場(chǎng)干擾時(shí)的抵抗能力。靜電波形及參數(shù)Tr約為0.7至1ns,因上升時(shí)間非常短,根據(jù)傅利葉變換,其產(chǎn)生干擾的頻率可以延伸至500MHzXASTTESTZhejiangXin’anSmartTestingTechnologyCo.,Ltd靜電放電ESD(ElectrostaticDischarge)直接放電:又包含接觸放電和空氣放電接觸放電主要針對(duì)設(shè)備表面的金屬裸露部分進(jìn)行。空氣放電主要針對(duì)設(shè)備表面覆蓋有絕緣物質(zhì)的地方進(jìn)行,入噴有絕緣漆等。直接放電主要模擬人體或其他帶電源直接對(duì)設(shè)備放電的現(xiàn)象。間接放電:只包含接觸放電對(duì)水平耦合板和垂直耦合板進(jìn)行放電,耦合板距離設(shè)備一定距離,耦合板通過(guò)兩個(gè)470k歐姆的電阻接地,所以當(dāng)對(duì)耦合板放電時(shí),耦合板上的靜電不會(huì)馬上泄放到地,而以耦合板為靜電源形成一靜電場(chǎng),對(duì)設(shè)備進(jìn)行干擾。標(biāo)準(zhǔn):EN61000-4-2XASTTESTZhejiangXin’anSmartTestingTechnologyCo.,Ltd靜電放電ESD(ElectrostaticDischarge)1.放電次數(shù):正負(fù)各個(gè)極性不少于10次以保證測(cè)試的重復(fù)性。各次放電應(yīng)是獨(dú)立的(間隔大于1秒)2.測(cè)試的等級(jí):CE/EMC:+/-4KV接觸,間接放電,+/-8KV空氣放電,產(chǎn)品須達(dá)到B級(jí)水平。EN60335-1:+/-8KV接觸,間接放電,+/-15KV空氣放電。3.測(cè)試方法:槍頭應(yīng)垂直于被測(cè)面。空氣放電:槍頭充電后迅速接近測(cè)試點(diǎn)。接觸放電:直接在測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試。VCP/HCP在耦合板邊緣進(jìn)行放電。XASTTESTZhejiangXin’anSmartTestingTechnologyCo.,Ltd電快速瞬變脈沖群EFT/B1.標(biāo)準(zhǔn):EN61000-4-4

2.測(cè)試范圍/能力:+/-4KV3.測(cè)試原理:產(chǎn)品工作于對(duì)于電源端或信號(hào),控制,輸出/入等端口的重復(fù)性電瞬變脈沖群的抗干擾能力4.測(cè)試等級(jí):CE/EMC:+/-1KV(電源端),+/-0.5KV(外接連線可能長(zhǎng)于3m的信號(hào)端),產(chǎn)品須達(dá)到B級(jí)水平EN60335-1+/-4KV(電源端),+/-2KV(信號(hào)端)XASTTESTZhejiangXin’anSmartTestingTechnologyCo.,Ltd電快速瞬變脈沖群EFT/B符合標(biāo)準(zhǔn)要求的單個(gè)脈沖波形上升時(shí)間:5ns+/-30%,脈沖持續(xù)時(shí)間50ns+/-30%符合標(biāo)準(zhǔn)要求的脈沖群波形上升時(shí)間脈沖持續(xù)時(shí)間脈沖群持續(xù)時(shí)間:15ms,脈沖群周期300ms,脈沖重復(fù)率5KHz+/-20%(U<4KV),2.5KHz+/-20%(U=4KV)XASTTESTZhejiangXin’anSmartTestingTechnologyCo.,Ltd浪涌抗擾度測(cè)試Surge雷擊浪涌試驗(yàn)用來(lái)模擬自然雷擊或者電網(wǎng)中接入大容性負(fù)載時(shí)所產(chǎn)生的脈沖對(duì)設(shè)備的影響。包含電源端和信號(hào)端測(cè)試。電源端測(cè)試包括L和N線、L對(duì)保護(hù)地、N線對(duì)保護(hù)地、L&N對(duì)保護(hù)地,其中第一種屬于差模干擾,后三種為共模干擾。信號(hào)端測(cè)試如果是屏蔽線,干擾加在屏蔽層上,如果是地線,干擾加在信號(hào)線上,例如對(duì)用戶線,直接加在AB線上。標(biāo)準(zhǔn):EN61000-4-5XASTTESTZhejiangXin’anSmartTestingTechnologyCo.,Ltd浪涌抗擾度測(cè)試Surge浪涌波形有:1.2/50(8/20)組合波,10/700電壓波,其中1.2/50、1.2/50(8/20)波形用在電源端和室內(nèi)信號(hào)端的試驗(yàn)上,而10/700電壓波用在室外信號(hào)端的浪涌試驗(yàn)上。上述波形中的1.2、8和10都是指波形的波前時(shí)間,單位為us,50、20和700指得是波形的脈寬,單位也為us,可見(jiàn)浪涌波形的能量遠(yuǎn)大于EFT/B和靜電,但是干擾頻寬卻要窄得多。XASTTESTZhejiangXin’anSmartTestingTechnologyCo.,Ltd浪涌抗擾度測(cè)試SurgeXASTTESTZhejiangXin’anSmartTestingTechnologyCo.,Ltd浪涌抗擾度測(cè)試SurgeXASTTESTZhejiangXin’anSmartTestingTechnologyCo.,Ltd浪涌抗擾度測(cè)試Surge測(cè)試范圍/能力:+/-4KV(L,N間),+/-6KV(L,N與地線間)CE/EMC:+/-1KV(L,N間),+/-2KV(L,N與地線間),產(chǎn)品須達(dá)到B級(jí)水平EN60335-1:+/-2KV(L,N間),+/-4KV(L,N與地線間)電源線不長(zhǎng)于2米正負(fù)各不少于5次,各次間隔不大于1分鐘,浪涌注入的電源相位(4點(diǎn))。XASTTESTZhejiangXin’anSmartTestingTechnologyCo.,Ltd工頻磁場(chǎng)抗擾度PMS標(biāo)準(zhǔn):EN61000-4-8測(cè)試范圍/能力:50A/m模擬測(cè)試產(chǎn)品對(duì)供電電網(wǎng)產(chǎn)生的工頻磁場(chǎng)的抗干擾能力磁場(chǎng)強(qiáng)度1A/m,產(chǎn)品須達(dá)到A級(jí)水平。三個(gè)軸向移動(dòng)天線進(jìn)行測(cè)試。本測(cè)試只適用于含有磁敏感元件/電路的產(chǎn)品。XASTTESTZhejiangXin’anSmartTestingTechnologyCo.,Ltd電壓跌落/短時(shí)中斷DIPS標(biāo)準(zhǔn):EN61000-4-11測(cè)試范圍/能力:0%,40%,70%.模擬測(cè)試產(chǎn)品對(duì)電源供電不穩(wěn)定時(shí)的抗干擾能力100%電源電壓中斷電源電壓跌落60%電源電壓跌落30%各種情況至少重復(fù)3次家用電器

家用空調(diào),冰柜,攪拌機(jī),榨汁機(jī),電熱設(shè)備…便攜式電動(dòng)工具

電鉆,電鋸…電動(dòng)玩具小型汽車(chē)電子零部件EMS安全測(cè)試我們目前可以做測(cè)試的產(chǎn)品XASTTESTZhejiangXin’anSmartTestingTechnologyCo.,Ltd電子產(chǎn)品的國(guó)際認(rèn)證以及國(guó)內(nèi)3C認(rèn)證對(duì)產(chǎn)品射頻特性,電磁兼容特性的標(biāo)準(zhǔn)與要求.XASTTESTZhejiangXin’anSmartTestingTechnologyCo.,Ltd產(chǎn)品認(rèn)證說(shuō)明XASTTESTZhejiangXin’anSmartTestingTechnologyCo.,Ltd產(chǎn)品認(rèn)證說(shuō)明3C3C認(rèn)證(中國(guó)強(qiáng)制性產(chǎn)品認(rèn)證)是中國(guó)政府為保障消費(fèi)者安全、規(guī)范市場(chǎng)準(zhǔn)入而實(shí)施的產(chǎn)品合格評(píng)定制度。其覆蓋范圍廣泛,包括家用電器、通信設(shè)備、音視頻設(shè)備、信息技術(shù)設(shè)備、照明設(shè)備等22大類(lèi)產(chǎn)品。涉及EMC的關(guān)鍵產(chǎn)品類(lèi)別:家用電器(如冰箱、空調(diào))、音視頻設(shè)備(如電視、音響)、信息技術(shù)設(shè)備(如電腦、服務(wù)器)、照明設(shè)備等。家用電器:依據(jù)GB4343系列(如連續(xù)干擾電壓、諧波電流)、GB17625.1(諧波電流限制)等音視頻及信息技術(shù)設(shè)備:采用GB/T13837、GB/T9254,主要測(cè)試騷擾電壓、輻射騷擾場(chǎng)強(qiáng)、諧波電流等。照明設(shè)備:需滿足GB17625.1和GB/T17743(電磁兼容性要求)。XASTTESTZhejiangXin’anSmartTestingTechnologyCo.,Ltd產(chǎn)品認(rèn)證說(shuō)明3C認(rèn)證流程申請(qǐng)與資料提交向認(rèn)證機(jī)構(gòu)(如CQC)提交申請(qǐng)表、企業(yè)資質(zhì)文件(營(yíng)業(yè)執(zhí)照)、產(chǎn)品技術(shù)資料(說(shuō)明書(shū)、電路圖)等。2.樣品測(cè)試在CNAS/CMA認(rèn)可實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行EMC測(cè)試,依據(jù)產(chǎn)品類(lèi)別選擇相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)。3.工廠審查審核生產(chǎn)環(huán)境、質(zhì)量管理體系,確保批量產(chǎn)品一致性。4.證書(shū)發(fā)放與維護(hù)證書(shū)有效期5年,需接受年度監(jiān)督審核,產(chǎn)品變更需重新評(píng)估。關(guān)鍵材料清單電磁兼容認(rèn)證申請(qǐng)書(shū)產(chǎn)品技術(shù)文件:電原理圖、印刷電路板圖、關(guān)鍵元器件清單(如電源濾波器、晶振)。生產(chǎn)資質(zhì)證明:質(zhì)量手冊(cè)、生產(chǎn)過(guò)程說(shuō)明。測(cè)試報(bào)告:由國(guó)家認(rèn)可實(shí)驗(yàn)室出具。XASTTESTZhejiangXin’anSmartTestingTechnologyCo.,Ltd產(chǎn)品認(rèn)證說(shuō)明EU/CE-EMC歐盟(EU)的要求:CE的要求 電磁兼容(EMC)指令2014/30/EU EMI(干擾)+EMS(抗干擾)的要求認(rèn)證方式: DoCDeclarationofConformity自我宣告 第三方檢測(cè)

TCFTechnicalConstructionFile執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn): 家用電器(電機(jī)驅(qū)動(dòng),電熱)電動(dòng)玩具,便攜工具:EN55014-1,EN55014-2

信息產(chǎn)品:EN55032,EN55024

燈具:EN55015,EN61547

影音產(chǎn)品:EN55032,EN55020

工科醫(yī)產(chǎn)品(包括微波爐,電磁爐):EN55011和相應(yīng)的EMS標(biāo)準(zhǔn). 產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn):EN61204-3(DC電源),EN61326(實(shí)驗(yàn)室測(cè)量?jī)x器)等。

通用標(biāo)準(zhǔn):EN61000-6-3,EN61000-6-1.

其他參考OfficialJournaloftheEuropeanUnion(OJ)

此外,對(duì)以公用交流電網(wǎng)供電(單相小于16A)的產(chǎn)品,須符合EN61000-3-2(諧波電流)和EN61000-3-3(電壓閃爍)的要求產(chǎn)品認(rèn)證說(shuō)明EU/CE-EMCXASTTESTZhejiangXin’anSmartTestingTechnologyCo.,Ltd進(jìn)入美國(guó)市場(chǎng)的產(chǎn)品認(rèn)證程序產(chǎn)品須符合相應(yīng)的FCC法規(guī)認(rèn)可程序:FCCsDoC(自我宣告)于2017年11月2日開(kāi)始所有進(jìn)入美國(guó)市場(chǎng)的產(chǎn)品需要申請(qǐng)F(tuán)CCsDoC和Certification。需在符合特定資格的實(shí)驗(yàn)室(NVLAP,A2LA)測(cè)試驗(yàn)證符合行后,在測(cè)試實(shí)驗(yàn)室的技術(shù)(報(bào)告)支持下進(jìn)行自我宣告(注:責(zé)任方必須是美國(guó)當(dāng)?shù)毓净虼?.FCCCertification

測(cè)試報(bào)告經(jīng)過(guò)

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