實驗三 頻率特性曲線測試_第1頁
實驗三 頻率特性曲線測試_第2頁
實驗三 頻率特性曲線測試_第3頁
實驗三 頻率特性曲線測試_第4頁
實驗三 頻率特性曲線測試_第5頁
全文預覽已結束

下載本文檔

版權說明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內容提供方,若內容存在侵權,請進行舉報或認領

文檔簡介

1364957203實驗三頻率特性曲線測試3.2.3二階閉環系統的頻率特性曲線一.實驗目的了解和掌握二階閉環系統中的對數幅頻特性和相頻特性,實頻特性和虛頻特性的計算。了解和掌握欠阻尼二階閉環系統中的自然頻率ωn、阻尼比ξ對諧振頻率ωr和諧振峰值L(ωr)的影響及ωr和L(ωr)的計算。觀察和分析欠阻尼二階開環系統的諧振頻率ωr、諧振峰值L(ωr),并與理論計算值作比對。改變被測系統的電路參數,畫出閉環頻率特性曲線,觀測諧振頻率和諧振峰值,填入實驗報告。二.實驗內容及步驟1.被測系統模擬電路圖的構成如圖3-2-3所示,觀測二階閉環系統的頻率特性曲線,測試其諧振頻率、諧振峰值。2.改變被測系統的各項電路參數,畫出其系統模擬電路圖,及閉環頻率特性曲線,並計算和測量系統的諧振頻率及諧振峰值,填入實驗報告。圖3-2-3二階閉環系統頻率特性測試電路實驗步驟: (1)將數/模轉換器(B2)輸出OUT2作為被測系統的輸入。(2)構造模擬電路:按圖3-2-3安置短路套及測孔聯線,表如下。(a)安置短路套(b)測孔聯線模塊號跨接座號1A1S4,S82A2S2,S11,S123A3S8,S95A6S2,S61信號輸入B2(OUT2)→A1(H1)2運放級聯A1(OUT)→A2(H1)3運放級聯A3(OUT)→A6(H1)4負反饋A3(OUT)→A1(H2)6相位測量A6(OUT)→A8(CIN1)7A8(COUT1)→B8(IRQ6)8幅值測量A6(OUT)→B7(IN4)9跨接元件(4K)元件庫A11中可變電阻跨接到A2A(OUTA)和A3(IN)之間(3)運行、觀察、記錄:①將數/模轉換器(B2)輸出OUT2作為被測系統的輸入,運行LABACT程序,在界面的自動控制菜單下的線性控制系統的頻率響應分析實驗項目,選擇二階系統,就會彈出‘頻率特性掃描點設置’表。在該表中用戶可根據自己的需要填入各個掃描點頻率(本實驗機選取的頻率值f,以0.1Hz為分辨率),如需在特性曲線上標注顯示某個掃描點的角頻率ω、幅頻特性L(ω)或相頻特性φ(ω),則可在該表的掃描點上方小框內點擊一下(打√)。設置完后,點擊確認后將彈出虛擬示波器的頻率特性界面,點擊開始,即可按‘頻率特性掃描點設置’表規定的頻率值,實現頻率特性測試。②測試結束后(約十分鐘),可點擊界面下方的“頻率特性”選擇框中的任意一項進行切換,將顯示被測系統的閉環對數幅頻、相頻特性曲線(伯德圖)和幅相曲線(奈奎斯特圖)。③顯示該系統用戶點取的頻率點的ω、L、、Im、Re實驗機在測試頻率特性結束后,將提示用戶用鼠標直接在幅頻或相頻特性曲線的界面上點擊所需增加的頻率點(為了教育上的方便,本實驗機選取的頻率值f,以0.1Hz為分辨率,例如所選擇的信號頻率f值為4.19Hz,則被認為4.1Hz送入到被測對象的輸入端),實驗機將會把鼠標點取的頻率點的頻率信號送入到被測對象的輸入端,然后檢測該頻率的頻率特性。檢測完成后在界面上方顯示該頻率點的f、ω、L、、Im、Re相關數據,同時在曲線上打‘十字標記’。如果增添的頻率點足夠多,則特性曲線將成為近似光滑的曲線。 鼠標在界面上移動時,在界面的左下角將會同步顯示鼠標位置所選取的角頻率ω值及幅值或相位值。④諧振頻率和諧振峰值的測試:在閉環對數幅頻曲線中用鼠標在曲線峰值處點擊一下,待檢測完成后就可以根據‘十字標記’測得該系統的諧振頻率ωr,諧振峰值L(ωr)。諧振頻率ωr諧振頻率ωr諧振峰值L(ωr)圖3-2-4被測二階閉環系統的對數幅頻曲線三.實驗報告要求:按下表改變圖3-2-3所示的實驗被測系統:開環增益K(A3)慣性常數T(A3)積分常數Ti(A2)諧振頻率(rad)諧振峰值(dB)計算值測量值計算值測量值250.110.20.3200.10.50.2改變開環增益K(A3)、慣性時間常數T(A3)、積分常數Ti(A2),畫出其系統模擬電路圖,及開環頻率特性曲線,並計算和測量系統的諧振頻率及諧振峰值,填入實驗報告。3.2.4二階開環系統的頻率特性曲線一.實驗目的1.了解和掌握Ⅰ型二階開環系統中的對數幅頻特性和相頻特性,實頻特性和虛頻特性的計算。2.了解和掌握欠阻尼Ⅰ型二階閉環系統中的自然頻率、阻尼比ξ對開環參數幅值穿越頻率和相位裕度的影響,及幅值穿越頻率和相位裕度的計算。3.研究表征系統穩定程度的相位裕度和幅值穿越頻率對系統的影響。4.了解和掌握Ⅰ型二階開環系統對數幅頻曲線、相頻曲線、和幅相曲線的構造及繪制方法二.實驗內容及步驟1.被測系統模擬電路圖的構成如圖3-2-3所示(同Ⅰ型二階閉環系統頻率特性測試構成),測試其幅值穿越頻率、相位裕度。2.改變被測系統的各項電路參數,畫出其系統模擬電路圖,及開環頻率特性曲線,並計算和測量其幅值穿越頻率、相位裕度,填入實驗報告。實驗步驟:(1)將數/模轉換器(B2)輸出OUT2作為被測系統的輸入。(2)構造模擬電路:安置短路套及測孔聯線表同笫3.2.2節《二階閉環系統的頻率特性曲線測試》。(3)運行、觀察、記錄:①將數/模轉換器(B2)輸出OUT2作為被測系統的輸入,運行LABACT程序,在界面的自動控制菜單下的線性控制系統的頻率響應分析實驗項目,選擇二階系統,就會彈出‘頻率特性掃描點設置’表,在該表中用戶可根據自己的需要填入各個掃描點(本實驗機選取的頻率值f,以0.1Hz為分辨率),如需在特性曲線上直接標注顯示某個掃描點的角頻率ω、幅頻特性L(ω)或相頻特性φ(ω),則可在該表的掃描點上小框內點擊一下(打√)。確認后將彈出虛擬示波器的頻率特性界面,點擊開始,即可按‘頻率特性掃描點設置’表規定的頻率值,實現頻率特性測試。②待實驗機把閉環頻率特性測試結束后,再在示波器界面左上角的紅色‘開環’或‘閉環’字上雙擊,將在示波器界面上彈出‘開環/閉環’選擇框,點擊確定后,示波器界面左上角的紅字,將變為‘開環’然后再在示波器界面下部‘頻率特性’選擇框點擊(任一項),在示波器上將轉為‘開環’頻率特性顯示界面。可點擊界面下方的“頻率特性”選擇框中的任意一項進行切換,將顯示被測系統的開環對數幅頻、相頻特性曲線(伯德圖)和幅相曲線(奈奎斯特圖)。在‘開環’頻率特性界面上,亦可轉為‘閉環’頻率特性顯示界面,方法同上。在頻率特性顯示界面的左上角,有紅色‘開環’或‘閉環’字表示當前界面的顯示狀態。圖3-2-3的被測二階系統的開環對數幅頻曲線的實驗結果見圖3-2-5所示。③顯示該系統用戶點取的頻率點的ω、L、、Im、Re實驗機在測試頻率特性結束后,將提示用戶用鼠標直接在幅頻或相頻特性曲線的界面上點擊所需增加的頻率點(為了教育上的方便,本實驗機選取的頻率值f,以0.1Hz為分辨率,例如所選擇的信號頻率f值為4.19Hz,則被認為4.1Hz送入到被測對象的輸入端),實驗機將會把鼠標點取的頻率點的頻率信號送入到被測對象的輸入端,然后檢測該頻率的頻率特性。檢測完成后在界面上方顯示該頻率點的f、ω、L、、Im、Re相關數據,同時在曲線上打‘十字標記’。如果增添的頻率點足夠多,則特性曲線將成為近似光滑的曲線。 鼠標在界面上移動時,在界面的左下角將會同步顯示鼠標位置所選取的角頻率ω值及幅值或相位值。在軟件安裝目錄\Aedk\LabACT\兩階頻率特性數據表.txt中將列出所有測試到的頻率點的開環L、、Im、Re等相關數據測量。注:該數據表不能自動更新,只能用‘關閉后再打開’的辦法更新。④幅值穿越頻率ωc,相位裕度γ的測試:在開環對數幅頻曲線中,用鼠標在曲線L(ω)=0處點擊一下,待檢測完成后,就可以根據‘十字標記’測得系統的幅值穿越頻率ωc,見圖3-2-5;同時還可在開環對數相頻曲線上根據‘十字標記’測得該系統的相位裕度γ。實驗結果可與式(3-2-3)和(3-2-4)的理論計算值進行比對。注1:用戶用鼠標只能在幅頻或相頻特性曲線的界面上點擊所需增加的頻率點,無法在幅相曲線的界面上點擊所需增加的頻率點。穿越頻率ω穿越頻率ωc圖3-2-5被測二階開環系統的對數幅頻曲線三.實驗報告要求:按下表改變圖3-2-4所示的實驗被測系統

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請聯系上傳者。文件的所有權益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網頁內容里面會有圖紙預覽,若沒有圖紙預覽就沒有圖紙。
  • 4. 未經權益所有人同意不得將文件中的內容挪作商業或盈利用途。
  • 5. 人人文庫網僅提供信息存儲空間,僅對用戶上傳內容的表現方式做保護處理,對用戶上傳分享的文檔內容本身不做任何修改或編輯,并不能對任何下載內容負責。
  • 6. 下載文件中如有侵權或不適當內容,請與我們聯系,我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準確性、安全性和完整性, 同時也不承擔用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

評論

0/150

提交評論