標準解讀

《YB/T 172-2000 硅磚定量相分析 X射線衍射法》是一項用于硅磚材料中各物相含量測定的標準。該標準通過X射線衍射技術對硅磚中的不同晶相進行定性和定量分析,為評估硅磚質量提供了科學依據。

根據此標準,首先需要準備待測樣品,并確保其符合實驗要求的尺寸和形態。然后利用X射線衍射儀獲取樣品的衍射圖譜。在獲得衍射數據后,依據已知物質的標準卡片或數據庫比對,確定樣品中存在的各種礦物成分及其相對強度。接著,采用適當的方法(如內標法、外標法等)計算出每種相的比例。值得注意的是,在實際操作過程中還需考慮儀器參數設置、背景扣除等因素的影響,以保證分析結果的準確性。

該標準適用于冶金行業中使用的硅磚材料,對于指導生產過程控制及產品質量檢驗具有重要意義。通過嚴格執行該標準規定的測試方法,可以有效提高硅磚產品的性能穩定性與使用壽命。


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  • 2000-07-26 頒布
  • 2000-12-01 實施
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文檔簡介

041YB中華人民共和國黑色治金行業標準YB/T172一2000硅磚定量相分析X射線衍射法Phasequantitativeanalysisofsilicabricks-X-raydiffractionmethod2000-07-26發布2000-12-01實施國家治金工業局發布

YB/T172-2000前本標準在內容上部分參考了我國JG/T629-19894國家計量檢定規程!多品義射線衍射儀》、在非金屬材料特別是硅磚中殘存石英含量的測定目前尚無標準,而硅磚中殘余石英的含量是衡量硅磚質量的重要指標,對硅磚的生產控制及產品質量檢驗起到促進作用。本標準的附錄A為標準的附錄。本標準由全國耐火材料標準化技術委員會提出并歸口本標準起草單位:洛陽耐火材料研究院、北京焦化廠山西孟縣西小坪耐火材料有限公司。本標準主要起草人:任剛偉、張熊榮、高宜欽、趙孟喜

中華人民共和國黑色治金行業標準硅磚定量相分析X射線衍射法YB/T172—2000PhasequantitativeanalysisofsilicabricksX-raydiffractionmethod本標準規定了硅磚X射線定量相分析的定義、原理、儀器設備、標樣、試樣制備、定城分析、試驗報告本標準適用于硅磚中石英、方石英及殘余石英的定量分析引用標準下列標準所包含的條文,通過在本標準中引用而構成為本標準的條文。本標準出版時,所示版本均為為有效。所有標準都會被修訂,使用本標準的各方應探討使用下列標準最新版本的可能性。JJG/T629-1989國家計量檢定規程,多晶X射線衍射儀3定義本標準采用下列定義,3.1X射線強度X-rayintensityX射線衍射分析中的強度系指扣除背景后衍射峰的積分強度,也可用衍射峰的面積來表示3.2分析線analysislines需要對其強度進行測量并據此判定被分析物相含量的特征譜線,3.3同素異形體polymorph組成相同而結構不同的礦物,如鱗石英、方石英、。-石英的組成均為Si.,但結構各不相同。3.4擇優取向preferredorientation非金屬材料由于試樣粒度粗或壓制試樣時用力過大等使某一衍射面的衍射強度反常而增大。原理及計算公式對多相混合試樣進行X射線衍射測量時,待測相的X射線衍射強度與該相在試樣中的含量成正比,與多相混合試樣的質量吸收系數成反比。硅磚中鱗石英、方石英及殘余石英均為二氧化硅的同素異形體,采用外標法商便易行,可用微機直接進行數據處理。如果沒有計算軟件可按下列公式計算:Tx·(Ki)100式中:Wx-試樣中待測相的重量百分數,%;試樣中待

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