標準解讀

《JJF 1179-2007 集成電路高溫動態老化系統校準規范》是針對集成電路高溫動態老化系統進行校準的技術文件。該標準由中國國家質量監督檢驗檢疫總局發布,旨在確保此類設備的測量結果準確可靠。根據這份規范,主要涉及了以下幾個方面:

首先,定義了術語和計量單位,明確了“集成電路高溫動態老化系統”的概念及其組成部分,包括加熱裝置、溫度控制系統以及用于監測溫度變化的傳感器等。

其次,詳細描述了校準條件,包括環境溫度、濕度的要求,以及對電源穩定性的要求。這些條件對于保證校準過程的有效性和準確性至關重要。

接著,指定了校準項目與方法,如溫度均勻性測試、溫度波動度測試等,并給出了具體的測試步驟及所需儀器設備清單。此外,還提供了如何處理數據的方法指導,比如通過特定公式計算不確定度。

然后,規定了校準結果表達方式,要求記錄所有相關參數值,并按照一定格式編寫校準證書或報告。這有助于用戶了解其設備當前狀態是否符合預期性能指標。

最后,提出了復校時間間隔建議,基于設備使用頻率、工作環境等因素綜合考慮后給出推薦周期,以保持長期穩定性。

該規范為從事集成電路高溫動態老化系統設計、制造、使用及相關檢測工作的人員提供了重要參考依據,有助于提高產品質量控制水平。


如需獲取更多詳盡信息,請直接參考下方經官方授權發布的權威標準文檔。

....

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  • 現行
  • 正在執行有效
  • 2007-06-14 頒布
  • 2007-09-14 實施
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文檔簡介

中華人民共和國國家計量技術規范

JJF1179—2007

集成電路高溫動態老化系統校準規范

CalibrationSpecificationofHighTemperature

DynamicICBurn-inSystem

2007-06-14發布2007-09-14實施

國家質量監督檢驗檢疫總局發布

中華人民共和國

國家計量技術規范

集成電路高溫動態老化系統校準規范

JJF1179—2007

國家質量監督檢驗檢疫總局發布

*

中國質檢出版社出版發行

北京市朝陽區和平里西街甲號

2(100013)

北京市西城區復外三里河北街號

16(100045)

網址

:

服務熱線

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年月第版

200781

*

書號

:155026·J-2262

版權專有侵權必究

JJF1179—2007

集成電路高溫動態老化系統

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校準規范?JJF11792007?

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CalibrationSpecificationofHigh

TemperatureDynamicICBurn-inSystem

本規范經國家質量監督檢驗檢疫總局年月日批準并自

2007614,

年月日起實施

2007914。

歸口單位:全國無線電計量技術委員會

起草單位:信息產業部電子工業標準化研究所

本規范由全國無線電計量技術委員會負責解釋

JJF1179—2007

本規范主要起草人:

王酣信息產業部電子工業標準化研究所

()

吳京燕信息產業部電子工業標準化研究所

()

陳大為信息產業部電子工業標準化研究所

()

參加起草人:

郭守君桂林電子科技大學

()

JJF1179—2007

目錄

范圍……………………

1(1)

引用文獻………………

2(1)

概述……………………

3(1)

計量特性………………

4(1)

溫度性能……………

4.1(1)

數字驅動信號特性參數……………

4.2(2)

模擬驅動信號特性參數……………

4.3(2)

老化板器件電源參數………………

4.4(2)

校準條件………………

5(2)

環境條件……………

5.1(2)

校準用計量標準儀表設備………

5.2、(2)

校準項目及校準方法…………………

6(2)

設備工作正常性檢查………………

6.1(2)

高溫試驗箱校準……………………

6.2(3)

數字驅動信號單元特性參數校準…………………

6.3(4)

模擬驅動信號單元特性參數校準…………………

6.4(5)

老化區器件電源單元電壓設置校準………………

6.5(6)

校準結果的表述………………………

7(7)

復校時間間隔…………

8(7)

附錄集成電路高溫動態老化系統校準證書格式…………………

A(8)

JJF1179—2007

集成電路高溫動態老化系統校準規范

1范圍

本規范適用于集成電路高溫動態老化系統的校準

2引用文獻

電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法總則

GB/T5170.1—1995

電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法溫度試驗設備

GB/T5170.2—1996

注:使用本規范時,應注意使用上述引用文獻的現行有效版本。

3概述

集成電路高溫動態老化系統用于對集成電路進行高溫動態老化試驗主要由控制

,

機高溫試驗箱器件電源單元信號驅動單元等部分組成系統結構示意圖見圖所

、、、,1

圖集成電路高溫動態老化系統結構示意圖

1

老化系統中的高溫試驗箱用于提供集成電路高溫動態老化的高溫環境電源單元即

老化電源采用二級電源方式其中一級老化電源用于提供足夠功率的正負一次電壓

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