ICS31-030

L90

中華人民共和國國家標準

GB/T55943—2015

代替.

GB/T5594.3—1985

電子元器件結構陶瓷材料

性能測試方法

第3部分平均線膨脹系數測試方法

:

Testmethodsforpropertiesofstructureceramic

usedinelectroniccomponentsanddevice—

Part3Testmethodformeancoefficientoflinearexansion

:p

2015-05-15發布2016-01-01實施

中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局發布

中國國家標準化管理委員會

GB/T55943—2015

.

前言

電子元器件結構陶瓷材料性能測試方法的結構如下

GB/T5594《》:

氣密性測試方法

———(GB/T5594.1);

楊氏彈性模量泊松比測試方法

———(GB/T5594.2);

第部分平均線膨脹系數測試方法

———3:(GB/T5594.3);

第部分介電常數和介質損耗角正切值測試方法

———4:(GB/T5594.4);

體積電阻率測試方法

———(GB/T5594.5);

第部分化學穩定性測試方法

———6:(GB/T5594.6);

第部分透液性測定方法

———7:(GB/T5594.7);

第部分顯微結構測定方法

———8:(GB/T5594.8);

電擊穿強度測試方法

———(GB/T5594.9)。

本部分為的第部分

GB/T55943。

本部分按照給出的規則起草

GB/T1.1—2009。

本部分代替電子元器件結構陶瓷材料性能測試方法平均線膨脹系數測試

GB/T5594.3—1985《

方法

》。

本部分與相比主要有下列變化

GB/T5594.3—1985,:

標準名稱改為電子元器件結構陶瓷材料性能測試方法第部分平均線膨脹系數測試方

———:“3:

法

”;

測試樣品改為?

———4.13.5×50mm;

套管和傳遞桿的材料從石英玻璃變化為石英玻璃或高溫氧化鋁陶瓷

———4.2;

測量范圍從室溫至變化為室溫至

———4.4800℃1200℃;

線膨脹系數單位改為-1

———4.5K。

請注意本文件的某些內容可能涉及專利本文件的發布機構不承擔識別這些專利的責任

,。

本部分由中華人民共和國工業和信息化部提出

。

本部分由中國電子技術標準化研究院歸口

。

本部分起草單位中國電子科技集團公司第十二研究所河南濟源兄弟材料有限公司浙江溫嶺特

:、、

種陶瓷廠

。

本部分主要起草人高隴橋黃國立胡菊飛

:、、。

本部分所代替標準的歷次版本發布情況為

:

———GB/T5594.3—1985。

Ⅰ

GB/T55943—2015

.

電子元器件結構陶瓷材料

性能測試方法

第3部分平均線膨脹系數測試方法

:

1范圍

的本部分規定了陶瓷材料平均線膨脹系數測試的樣品測試設備測試方法及報告

GB/T5594、、

格式

。

本部分適用于電子元器件結構陶瓷材料的平均線膨脹系數的測試

。

2規范性引用文件

下列文件對于本文件的應用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

電子元器件結構陶瓷材料

GB/T5593—2015

電子陶瓷名詞術語

GB/T9530—1988

3術語和定義

界定的以及下列術語和定義適用于本文件

GB/T9530—1988。

31

.

線膨脹系數coefficientoflinearexpansion

在一定溫度范圍內溫度變化試樣線性尺寸的相對變化值常用式表示

,1K。(1):

lt-l

α=0

lt-t…………(1)

0(0)

式中

:

α線膨脹系數

———;

l最初溫度t時試樣的長度單位為毫米

0———0,(mm);

lt加熱溫度至t時試樣的長度單位為毫米

———,(mm)。

4測試方法

41樣品應符合中表的要求并用精確度為的卡尺測量試樣長度L

.GB/T5593—201520.02mm0。

42試樣裝入石英玻璃或高溫陶瓷套管中應保持平直和穩定并和石英玻璃或高溫陶

.Al2O3,,Al2O3

瓷傳遞桿接觸良好用倍放大鏡觀察不應有可見裂紋和氣孔

。10,。

43接通電源加熱并均勻升溫試樣升溫速度不大于

.,。