標(biāo)準解讀
《GB/T 5095.2-1997 電子設(shè)備用機電元件 基本試驗規(guī)程及測量方法 第2部分:一般檢查、電連續(xù)性和接觸電阻測試、絕緣試驗和電壓應(yīng)力試驗》相對于《GB 5095.2-1986》版本,在內(nèi)容上進行了多方面的更新與完善,主要體現(xiàn)在以下幾個方面:
- 標(biāo)準性質(zhì)的變化:從強制性國家標(biāo)準(GB)轉(zhuǎn)變?yōu)橥扑]性國家標(biāo)準(GB/T),反映了標(biāo)準適用范圍和執(zhí)行方式上的調(diào)整。
- 技術(shù)要求更加明確:新版本對各項測試的具體條件、步驟以及評價標(biāo)準給出了更為詳細的規(guī)定,增強了操作的規(guī)范性和一致性。
- 測試方法更新:針對一些特定類型的連接器或開關(guān)等元件,引入了新的檢測手段和技術(shù)參數(shù)要求,如對于某些特殊應(yīng)用場景下的耐久性測試、環(huán)境適應(yīng)性測試等方面增加了相應(yīng)的內(nèi)容。
- 安全性能考量增強:加強了對產(chǎn)品安全性的關(guān)注,在電氣間隙、爬電距離等方面提出了更嚴格的要求,并且增加了關(guān)于防止觸電危險的設(shè)計指導(dǎo)原則。
- 文字表述優(yōu)化:整個文檔的語言表達更加清晰準確,減少了歧義,便于用戶理解和實施。
這些變化體現(xiàn)了技術(shù)進步背景下對電子設(shè)備用機電元件質(zhì)量控制的新需求,旨在通過提高標(biāo)準水平來促進產(chǎn)品質(zhì)量提升。
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- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 1997-12-26 頒布
- 1998-10-01 實施




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GB/T 5095.2-1997電子設(shè)備用機電元件基本試驗規(guī)程及測量方法第2部分:一般檢查、電連續(xù)性和接觸電阻測試、絕緣試驗和電壓應(yīng)力試驗-免費下載試讀頁文檔簡介
ICS31.220L23中華人民共和國國家標(biāo)準GB/T5095.2-1997idtIEC512-2:1985電子設(shè)備用機電元件基本試驗規(guī)程及測量方法第2部分:一般檢查、電連續(xù)性和接觸電阻測試、絕緣試驗和電壓應(yīng)力試驗ElectromechanicalcomponentsforelectronicequipmentBasictestingproceduresandmeasuringmethodsPart2:Generalexamination,electricalcontinutyandcontactresistancetestsinsulationtestsandvoltagestresstests1997-12-26發(fā)布1998-10-01實施國家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布
GB/T5095.2-1997前本標(biāo)準等同采用IEC512-2:1985《電子設(shè)備用機電元件基本試驗規(guī)程及測量方法第2部分:一般檢查、電連續(xù)性、接觸電阻測試、絕緣試驗和電壓應(yīng)力試驗》及共修改市1(1994年)是對GB5095.2-86進行的第一次修訂,增加了試驗1c:功能操作(開關(guān))。本標(biāo)準由中華人民共和國電子工業(yè)部提出。本標(biāo)準由全國電子設(shè)備用機電元件標(biāo)準化技術(shù)委員會歸口本標(biāo)準由電子工業(yè)部標(biāo)準化研究所負責(zé)起草。本標(biāo)準主要起草人:余玉芳、汪其龍、張菊華、王玉堂。
GB/T5095.2-1997IEC前言1)IEC(國際電工委員會)在技術(shù)問題上的正式?jīng)Q議或協(xié)議,是由對這些問題特別關(guān)切的國家委員會參加的技術(shù)委員會制定的,對所涉及的間題盡可能地代表了國際上的一致意見。2)這些決議或協(xié)議以標(biāo)準,技術(shù)報告或?qū)t的形式發(fā)布,以推薦的形式供國際上使用,并在此意義上,為各國家委員會認可。3)為了促進國際上的統(tǒng)一,各IEC國家委員會有責(zé)任使其國家和地區(qū)標(biāo)準盡可能采用IEC標(biāo)準IC標(biāo)準與相應(yīng)國家或地區(qū)標(biāo)準之間的任何差異應(yīng)在國家或地區(qū)標(biāo)準中指明。IEC引言國際標(biāo)準IEC512-2由IEC/TC48(電子設(shè)備用機電元件)制定的。本標(biāo)準第二版取代了1976年出版的第一版IEC512-2及其修定1(1983年)和1980年出版的第次補充IEC512-2A.本標(biāo)準與第1部分:總則(IEC512-1:1984)一同使用整套標(biāo)準包括的其他試驗項目在IEC512-1的附錄A中給出了總的計劃。這些試驗項目在制定后就發(fā)布。本標(biāo)準預(yù)定取代IEC130-1《頻率低于3MH2連接器號第1部分:一般要求和試驗方法》中相應(yīng)的試驗項目、本標(biāo)準文本以下列文件為依據(jù):六個月法表決報告二個月程府表決報告48(C0)13548(C0)169.169A48(C0150.150A48(C0)15648(C09548(C0)10948(C012948(C015448(C0)9648(C0)11548(C08848(C010648(C0)27848(C028548(C08948(CO)10748(C025248(CO26448(C0)9048(C0)10848(C0)9148(C0)11348(C0)13648(C0)15948(C0))23248(CO)236表決批準本標(biāo)準的詳細資料可在上表列出的表決報告中查閱。本標(biāo)準引用下列標(biāo)準:IEC270:1981局部放電測量。
中華人民共和國國家標(biāo)準電子設(shè)備用機電元件基本試驗規(guī)程及測量方法第2部分:一般檢查、電連續(xù)GB/T5095.2-1997性和接觸電阻測試、絕緣idtiec512-2:1985試驗和電壓應(yīng)力試驗代替GB5095.2-86ElectromechanicalcomponentsforelectroniccquipmcntBasictestingproceduresandmeasuringmethodsPart2.Generalexamination.clcctricalcontinuityandcontactresistancetests.insulationtestsandvoltagestresstests第一篇一般檢查范圍本標(biāo)準規(guī)定的試驗方法,在IEC/TC48范圍內(nèi)·的電子設(shè)備用機電元件的詳細規(guī)范要求時,應(yīng)給以采用。類似元件的詳細規(guī)范要求時,也可以采用。1試驗1a:外觀檢查1.1目的是確立詳細的標(biāo)準試驗方法,以檢查電子設(shè)備用機電元件的外觀。1.2總則外觀檢查就是檢查產(chǎn)品的標(biāo)志、外觀、加工質(zhì)量和鍍涂層是否符合有關(guān)規(guī)范。當(dāng)詳細規(guī)范有規(guī)定時可采用1.4中規(guī)定的光學(xué)輔助手段。外觀檢查在一定程度上是一種主觀方法,所以應(yīng)細心地進行檢查,以達到公正的判斷。偏離標(biāo)準的缺陷,或由于應(yīng)力引起的變化,應(yīng)按重要性或作用進行細心地辨別。1.3需要檢查的外觀特征外觀特征的檢查項目如下:a)加工質(zhì)量及鎖涂層;b)標(biāo)志:TC48的范圍:制定用于通信設(shè)備和采用類似技術(shù)的電子裝置的具有機電連接和
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