ICS25.040.40:35.240.50N10中華人民共和國國家標準GB/T19767-2005/IEC/TS62098:2000基于微處理器儀表的評定方法Evaluationmethodsformicroprocessor-basedinstrument（IEC/TS62098:2000,IDT)2005-05-18發布2005-12-01實施中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局愛布中國國家標準化管理委員會

GB/T19767-2005/IEC/TS62098：2000三錄前言引言1概要1.1他圍1.2規范性引用文件1.3術語和定義2儀表的發展…….3評定需考慮的事項3.1系統方法·……3.2評定表3.3邊界區(接口)4評定技術4.1儀表分析4.2在數字通信鏈路上的儀表4.3儀表特性的識別·4.4影響量與相關測試……附錄A（資料性附錄）關于測量精確度的考慮附錄B（資料性附錄)控制器的靜差測量附錄C（資料性附錄）積分作用的分并率和消除附錄D（資料性附錄)防止積分飽和22附錄E（資料性附錄）評定表的實例29參考文獻25

GB/T19767-2005/IEC/TS62098:2000本標準等同采用IEC/TS62098:2000《基于微處理器儀表的評定方法》（英文版）為便于使用.對IEC/TS62098:2000做了下列編譯性修改：“本技術規范”和“本文本"一詞改為"本標準"：b）用小數點"."代替作為小數點的退號"."；用破折號·-“代替作為列項用的短橫線""；刪除IEC/TS62098:2000的前言，修改了IEC/TS62098:2000的引言；將IEC/TS62098.20004.3.7中提及的"IEC61721°改為“IEC60721°.因IEC60721是“環境條件分類"標準，而IEC61721是"光伏組件對意外碰撞的承受能力(抗撞擊試驗)"標準,根據上下文應用前者：將IEC/TS62098:2000圖圖5中的過程域方框延長,以便與測量儀表和(智能)執行機構間形成通信鏈路本標準的附錄A、附錄B、附錄C、附錄D和附錄E均為資料性附錄，本標準由中國機械工業聯合會提出。本標準由全國工業過程測量和控制標準化技術委員會第二分技術委員會歸口。本標準負責起草單位：西南師范大學。本標準參加起草單位：機械工業儀器儀表綜合技術經濟研究所、四聯儀器儀表集團、浙江大學、北京機械工業自動化研究所。本標準主要起草人：周雪蓮、劉楓、張建成、薛思源本標準參加起草人;馮曉升、劉進、馮冬芹、謝兵兵

GB/T19767-2005/IEC/TS62098:20000.1儀表或過程控制器的評定是在工廠的整個生存期期間核定測量或控制功能的固有成本的一種支持工具.固有成本包括投資成本(包括工廠在整個生存期期間的更新成本）、工程成本、安裝成本、維護成本、能源和原材料消耗成本0.2用于過程控制和測量的新型儀表通常配備有微處理器，因此有利于使用數字數據處理方法和人工智能。這就使得這類儀表更加復雜，現有的標準化評定方法不總是能充分描述這類儀表的性能。評定內容最多可以包括以下幾方面：-設計審查（硬件和軟件)；性能(功能)測試；-對可靠性、可維護性的測試研究;安安全研究和安全性測試：現現場測試0.3本標準所描述的評定方法主要涉及與性能和可靠性測試相關的內容。本標準可看作是對（B/T18271的擴展。為完整性起見,在GB/T18271里所提及的對基于微處理器的儀表仍然有效的方法在這里也被提到.但不完全重復它們,在相關的時候，將參考該標準。0.4在本標準中,關于對基于微處理器儀表的評定的某些考電是基于GB/T18272的前言中所提出的思想。0.5將來，基于微處理器的儀表將日益集成在數字通信系統中.因此本標準也將考慮這類儀表的通信特性以及它對實時操作和儀表的更多性能的可能影響。

GB/T19767-2005/IEC/TS62098:2000基于微處理器儀表的評定方法概要1.1花圍本標準的目的是為開發基于微處理器儀表的評定方法提供背景信息評定是從進出過程的內外信息流、操作員和外部系統等方面對儀表進行分析開始的，然后辨識儀表的主要功能塊，通過使用4.2和4.3給出的檢驗項目.能養識可能嵌入在被評定儀表的功能塊中的功能和特性。4.4給出了在相關影響條件下評定儀表的檢驗項根據儀表的應用，本標準的用戶可能需要定義更多的功能和特性或影響條件1.2規范性引用文件下列文件中的條款通過本標準的引用而成為本標準的條款。凡是注日期的引用文件.其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內容)或修訂版均不適用于本標準，然而，鼓勵根據本標準達成協議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件.其最新版本適用于本標準。GB/T2900.56-2002電工術語自動控制（IEC60050-351:1998.InternationalElectrotechnicalVocabularyChapter351:AutomaticControl(2w.Ed.),IDT)GB/T17614.1工業過程控制系統用變送器第1部分：性能評定方法（GB/T17614.1—1998.idtIEC60770-1：1984）GB/T18271.1過程測量和控制裝置通用性能評定方法和程序第1部分：總則（GB/T18271.1-2000,idtIEC61298-1:1995）GB/T18271.2過程測量和控制裝置通用性能評定方法和程序第2部分：參比條件下的試驗（GB/T18271.2-2000.idtIEC61298-2：1995）GB/T18271.3過程測量和控制裝置通用性能評定方法和程序：第3部分：影響量影響的試驗（GB/T18271.3-2000.idtIEC61298-3:1998）GB/T18271.4過程測量和控制裝置通用性能評定方法和程序第4部分：評定報告的內容（GB/T18271.4-2000.idtIEC61298-4:1995)GB/T18272.1工業過程測量和控制系統評估中系統特性的評定三第1部分：總則和方法學（GB/T18272.1-2000,idtIEC61069-1:1991)GB/T18272.2工業過程測量和控制系統評估中系統特性的評定第2部分.評估方法學（GB/T18272.2-2000.idtIEC61069-2：1993)GB/T18272.3工業過程測量和控制系統評估中系統特性的評定第3部分：系統功能性評估（GB/T18272.3-2000.idtIEC61069-3:1996）GB/T18272.5工業過程測量和控制系統評估中系統特性的評定第5部分：系統可信性評估（GB/T18272.5-2000.idtTEC61069-5:1994)IEC61069-4:1997工業過程測量和控制系統評估中系統特性的評定第4部分：系統性能JB/T8209工業