標準解讀

《GB/T 18904.5-2003 半導體器件 第12-5部分：光電子器件 纖維光學系統或子系統用帶/不帶尾纖的PIN光電二極管空白詳細規范》這一標準主要規定了光纖系統或其子系統中使用的帶尾纖和不帶尾纖的PIN光電二極管的技術要求、測試方法及檢驗規則等，旨在確保此類光電子器件的質量與性能一致性。然而，您未提供另一個具體的標準以進行比較，因此直接對比變更內容無法完成。

若要一般性地討論此類標準更新的常見變更點，可能包括但不限于以下方面：

  • 性能指標調整：新標準可能會根據技術進步和應用需求，對光電二極管的靈敏度、響應速度、信噪比等關鍵性能參數提出更嚴格或更適應當前技術環境的要求。
  • 測試方法優化：隨著測量技術和設備的進步，新的測試方法可能被引入，以提高測試精度和效率，或者簡化測試流程。
  • 機械和環境適應性要求：針對器件的機械強度、溫度循環、濕度抵抗等環境適應性測試條件和標準可能有所變化，以更好地反映實際使用場景。
  • 接口與兼容性規范：對于帶尾纖的產品，其尾纖類型、連接器規格等接口標準可能隨行業發展趨勢而更新，以促進不同廠商產品的互操作性。
  • 安全與電磁兼容性：隨著對電子產品安全性和電磁兼容性(EMC)要求的提升，相關條款可能會被加強或細化。
  • 文檔與標識要求：產品標簽、包裝、使用說明書等的標準化要求也可能得到更新，以增強用戶友好性和合規性。


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  • 現行
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  • 2003-01-24 頒布
  • 2003-08-01 實施
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GB/T 18904.5-2003半導體器件第12-5部分：光電子器件纖維光學系統或子系統用帶/不帶尾纖的pin光電二極管空白詳細規范_第1頁
GB/T 18904.5-2003半導體器件第12-5部分：光電子器件纖維光學系統或子系統用帶/不帶尾纖的pin光電二極管空白詳細規范_第2頁
GB/T 18904.5-2003半導體器件第12-5部分：光電子器件纖維光學系統或子系統用帶/不帶尾纖的pin光電二極管空白詳細規范_第3頁

文檔簡介

ICS31.260L54中華人民共和國國家標準GB/T18904.5-2003/IEC60747-12-5：1997QC720105半導體器件第12-5部分:光電子器件纖維光學系統或子系統用帶/不帶尾纖的pin光電二極管空白詳細規范Semiconductordeyices-Part12-5:0ptoelectronicdevices-Blankdetailspecificationforpin-photodiodeswith/withoutpigtailforfibreopticsystemsorsubsystems（IEC60747-12-5：1997.IDT)2003-01-24發布2003-08-01實施中華人民共和國發布國家質量監督檢驗檢疫總局

GB/T18904.5-2003/IEC60747-12-5：1997GB/T18904.5是有關纖維光學系統或子系統用光電子器件的國家標準的一部分。。下面列出了這些國家標準的預計結構：-GB/T18904.1《半導體器件第12-1部分：光電子器件纖維光學系統或子系統用帶/不帶尾纖的光發射或紅外發射二極管空白詳細規范》GB/T18904.2《半導體器件第12-2部分：光電子器件纖維光學系統或子系統用帶尾纖的激光二極管模塊空白詳細規范》GB/T18904.3《半導體器件第12-3部分：光電子器件顯示用發光二極管空白詳細規范GB/T18904.4《半導體器件第12-4部分：光電子器件纖維光學系統或子系統用帶/不帶尾纖的pin-FET模塊空白詳細規范》GGB/T18904.5《半導體器件第12-5部分：光電子器件纖維光學系統或子系統用帶/不帶尾纖的pin光電二極管空白詳細規范》GB/T18904的本部分等同采用國際標準IEC60747-12-5:1997（QC720105)《纖維光學系統或子系統用帶/不帶尾纖的pin光電二極管空白詳細規范》英文版）。本部分和IEC60747-12-5的主要區別是：第4、5章中本部分是曲線最好在本規范的第10章給出丁,IEC原文是曲線最好在IEC60747-12-4的第10章給出。-第5章表注3)本部分是".只適用于器件的光端口。不適用于器件的其他部分。否則會導致測量錯誤。在實際應用中，光端口·這個術語由詳細規范定義，同時也適用于發射器件。"IEC原文是"只適用于器件的光端口。不適用于器件的其他部分。否則個別管殼上其他發射部分會導致測量錯誤，特別是當二極管有保護層或尾纖包層中不規則的電磁輻射已被用相應的方法去除的情況下。在實際應用中.光端口"這個術語由詳細規范定義.同時也適用于發射器件”-C6分組“引用標準”欄本部分取消,IEC原文是",7"。第11章本部分取消，放在前言及首頁中。本部分引用的國家標準及1EC標準如下：GB/T4937—1995半導體器件機械和氣候試驗方法（idtIEC60749:1984）5半導體器件分立器件和集成電路GB/T15651-1995第五部分：光電子器件(idtIEC60747-5:1992）-IEC60068-2-14:1984環境試驗--第2部分：試驗武試驗N：溫度變化IEC60191-2:1966半導體器件機械標準化第2部分：尺寸IEC60747-10/QC700000:1991半導體器件第10部分分立器件和集成電路總規范-IEC60747-12/QC720100:1991半導體器件第12部分光電子器件分規范本部分由中華人民共和國信息產業部提出。本部分由中國電子技術標準化研究所（CESI)歸口.本部分起草單位：中國電子技術標準化研究所（CESI)本部分主要起草人:趙英。

GB/T18904.5—2003/IEC60747-12-5:1997半導體器件第12-5部分：光電子器件纖維光學系統或子系統用帶/不帶尾纖的pin光電二極管空白詳細規范引育IEC電子元器件質量評定體系遵循IEC章程并在IEC授權下工作。該體系的目的是確定質量評定程序.以這種方式使一個參加國按有關規范要求放行的電子元器件無需進一步試驗而為其他所有多加國同樣接受。本空白詳細規范是半導體器件的一系列空白詳細規范之一,并應與下列IEC標準一起使用IEC60747-10（QC700000）：1991半導體器件第10部分分立器件和集成電路總規范IEC60747-12（QC720100）：1985半導體器件第12部分·光電子器件分規范要求的資料本頁及下面方括號內的數字與下列各項要求的資料相對應.這些資料應填人相應欄中詳細規范的識別「1授權發布詳細規范的國家標準化機構（NAI)名稱【2詳細規范的IECQ編號。「37總規范、分規范的編號及版本號【47詳細規范的國家編號、發布日期及國家標準體系要求的任何資料器件的識別【57主要功能和型號[6丁外形圖、引線識別、標志和(或)引用有關的外形標準「7典型結構(材料、主要工藝)和封裝資料。如果一種器件有幾種派生產品·則應指出其差異.例

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