標(biāo)準(zhǔn)解讀
GB/T 17627.1-1998是一項(xiàng)中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),專注于低壓電氣設(shè)備的高電壓試驗(yàn)技術(shù)。該標(biāo)準(zhǔn)的第一部分主要涵蓋了兩個(gè)核心內(nèi)容:定義與試驗(yàn)要求。
定義部分: 此部分詳細(xì)闡述了進(jìn)行高電壓試驗(yàn)時(shí)所涉及的關(guān)鍵術(shù)語(yǔ)和概念,確保了在執(zhí)行試驗(yàn)過(guò)程中,所有參與者對(duì)術(shù)語(yǔ)的理解保持一致。這些定義可能包括但不限于高壓測(cè)試中的基本電壓類型(如工頻電壓、沖擊電壓等)、試驗(yàn)方法的命名規(guī)則、以及試驗(yàn)設(shè)備和被測(cè)電氣設(shè)備的關(guān)鍵部件和功能的描述。通過(guò)明確這些定義,標(biāo)準(zhǔn)為后續(xù)的試驗(yàn)要求奠定了基礎(chǔ)。
試驗(yàn)要求部分: 這部分規(guī)定了針對(duì)低壓電氣設(shè)備進(jìn)行高電壓試驗(yàn)的具體要求和程序,旨在評(píng)估設(shè)備在承受預(yù)定高壓條件下的絕緣性能和安全性。要求可能涵蓋以下幾個(gè)方面:
- 試驗(yàn)條件:包括環(huán)境條件(如溫度、濕度)、電源特性(如電壓波形、頻率)以及測(cè)試前的準(zhǔn)備步驟。
- 試驗(yàn)類型:根據(jù)不同的設(shè)備特性和應(yīng)用需求,規(guī)定應(yīng)進(jìn)行的試驗(yàn)類別,例如耐壓試驗(yàn)、絕緣電阻測(cè)試、泄漏電流測(cè)量或是介電強(qiáng)度試驗(yàn)等。
- 試驗(yàn)設(shè)備與儀器:詳細(xì)說(shuō)明了用于執(zhí)行試驗(yàn)的設(shè)備和測(cè)量?jī)x器的技術(shù)要求和校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn),以保證測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性。
- 安全措施:強(qiáng)調(diào)在進(jìn)行高電壓試驗(yàn)時(shí)必須遵守的安全規(guī)程,以保護(hù)操作人員和設(shè)備安全,避免電擊、火災(zāi)等事故。
- 試驗(yàn)結(jié)果的判定準(zhǔn)則:提供了判斷測(cè)試是否合格的標(biāo)準(zhǔn),包括允許的最大泄漏電流、閃絡(luò)或擊穿現(xiàn)象的界定等。
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- 被代替
- 已被新標(biāo)準(zhǔn)代替,建議下載現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)GB/T 17627-2019
- 1998-12-14 頒布
- 1999-12-01 實(shí)施





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GB/T 17627.1-1998低壓電氣設(shè)備的高電壓試驗(yàn)技術(shù)第一部分:定義和試驗(yàn)要求-免費(fèi)下載試讀頁(yè)文檔簡(jiǎn)介
ICS.27.100F24中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T17627.1-1998eavIEC1180-1:1992低壓電氣設(shè)備的高電壓試驗(yàn)技術(shù)第一部分:定義和試驗(yàn)要求High-voltagetesttechniquesforlow-voltageequipmentPart1:Definitions,testandprocedurerequirements1998-12-14發(fā)布1999-12-01實(shí)施國(guó)家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布
GB/T17627.1-1998三前言IEC前言1范圍2引用標(biāo)準(zhǔn)3定義…….對(duì)試驗(yàn)程序和試品的一般要求5大氣條件6直流電壓試驗(yàn)7交流電壓試驗(yàn)8沖擊電壓試驗(yàn)9沖擊電流試驗(yàn)10合成試驗(yàn)附錄A(提示的附錄)合合成試驗(yàn)的布置附錄B(提示的附錄)試驗(yàn)報(bào)告中應(yīng)給出的資料13
GB/T17627.1-1998本標(biāo)準(zhǔn)是根據(jù)電力工業(yè)部1992年電力行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)計(jì)劃項(xiàng)目的安排,由全國(guó)高電壓試驗(yàn)技術(shù)分標(biāo)委會(huì)負(fù)責(zé)制定。本標(biāo)準(zhǔn)是根據(jù)國(guó)際電工委員會(huì)第42技術(shù)委員會(huì)制定的標(biāo)準(zhǔn)IEC1180-1:1992《低壓電氣設(shè)備的高電壓試驗(yàn)技術(shù)第一部分:定義和試驗(yàn)要求》制定的。在技術(shù)內(nèi)容上與國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)IEC1180-1等效,編寫規(guī)則上與之相同。根據(jù)GB/T1.1的規(guī)定,保留了該國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的前言(IEC前言),同時(shí)增加了《前言》。為了使國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)轉(zhuǎn)化為本國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)時(shí),合GB/T1.1標(biāo)準(zhǔn)格式的規(guī)定,章節(jié)及條號(hào)上與國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)稍有改變。本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A和附錄B是提示的附錄。本標(biāo)準(zhǔn)由電力工業(yè)部提出。本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)高電壓試驗(yàn)技術(shù)及絕緣配合標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口。本標(biāo)準(zhǔn)起草單位:電力部武漢高壓研究所。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:朱同春、禁愛(ài)校、鐘連宏
GB/T17627.1-1998IEC前育1)IEC在技術(shù)問(wèn)題上的正式?jīng)Q定或協(xié)議,是由代表了對(duì)此特別關(guān)切的所有國(guó)家委員會(huì)的技術(shù)委員會(huì)準(zhǔn)備的。它們盡量表達(dá)國(guó)際間在所涉及問(wèn)題上的一致意見(jiàn)。2)這些決定或協(xié)議,采用推薦標(biāo)準(zhǔn)的形式以便國(guó)際上使用,并在此意義上為各國(guó)委員會(huì)所接受,3)為了促進(jìn)國(guó)際上的統(tǒng)一,IEC希望所有的國(guó)家委員會(huì)在本國(guó)條件允許的范圍內(nèi),盡可能采用IEC推薦標(biāo)準(zhǔn)的文本作為國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)。IEC推薦標(biāo)準(zhǔn)和相應(yīng)的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)之間的任何區(qū)別,應(yīng)盡可能清楚地在國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)中說(shuō)明。本標(biāo)準(zhǔn)由IEC第42(高電壓試驗(yàn)技術(shù))技術(shù)委員會(huì)準(zhǔn)備。本標(biāo)準(zhǔn)的文本根據(jù)下列文件:六月法則表決報(bào)告42(C0)4942(C0)51投票批準(zhǔn)本標(biāo)準(zhǔn)的全部資料可以在上表指出的表決報(bào)告中查到
中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)低壓電氣設(shè)備的高電壓試驗(yàn)技術(shù)17627.1CBT-1998cvie011801.1992第一部分:定義和試驗(yàn)要求High-voltagetesttechniquesforlow-voltageequipmentPart1:Definitions,testandprocedurerequirements1范國(guó)主題內(nèi)容本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了對(duì)試驗(yàn)程序和試品的一般要求,試驗(yàn)電壓和電流的產(chǎn)生及測(cè)量方法、試驗(yàn)程序、試驗(yàn)結(jié)果的評(píng)估方法和試驗(yàn)是否合格的判據(jù)。還規(guī)定了與試驗(yàn)有關(guān)的術(shù)語(yǔ)。1.2適用范圍本標(biāo)準(zhǔn)適用于額定電壓交流1kV及以下和直流1.5kV及以下設(shè)備的下列試驗(yàn):a)直流電壓絕緣試驗(yàn)b)交流電壓絕緣試驗(yàn))沖擊電壓絕緣試驗(yàn);d)沖擊電流試驗(yàn);e)上述各項(xiàng)試驗(yàn)的合成試驗(yàn)引用標(biāo)準(zhǔn)下列標(biāo)準(zhǔn)所包含的條文,通過(guò)在本標(biāo)準(zhǔn)中引用而構(gòu)成為本標(biāo)準(zhǔn)的條文。本標(biāo)準(zhǔn)出版時(shí),所示版本均為有效。所有標(biāo)準(zhǔn)都會(huì)被修訂,使用本標(biāo)準(zhǔn)的各方應(yīng)探討使用下列標(biāo)準(zhǔn)最新版本的可能性。GB/T813—1989沖擊試驗(yàn)用示波器和峰值電壓表(neqIEC790:1984)GB/T2900.19一1994電工術(shù)語(yǔ)高電壓試驗(yàn)技術(shù)和絕緣配合GB/T7354-1987局部放電測(cè)量(neqTEC270,1981)GB/T16927.1一1997高電壓試驗(yàn)技術(shù)第一部分一般試驗(yàn)要求(eqvIEC60-1:1989)GB/T16927.2-1997高電壓試驗(yàn)技術(shù)第二部分測(cè)量系統(tǒng)(eqvIEC60-2:1994)GB/T17627.2-1998低壓電氣設(shè)備的高電壓試驗(yàn)技術(shù)第二部分:測(cè)量系統(tǒng)和試驗(yàn)設(shè)備<eqvIEC1180-2:1994)3定義3.1沖擊技術(shù)和絕緣3.1.1沖擊impulse試驗(yàn)時(shí)施加的非周期性瞬態(tài)電壓或電流。它通常迅速上升至峰值然后較緩饅地降到零:3.1.2部分擊穿partialbreakdown當(dāng)沖擊施加到固體絕緣時(shí)可能產(chǎn)
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