ICS_31.080.10K46中華人民共和國國家標準GB/T16894-1997ldtIEC747-2-2：1993大于100A,環境和管殼額定的整流二極管（包括雪崩整流二極管)空白詳細規范Blankdetailspecificationforrectifierdiodes(includingavalancherectifierdiodes),ambientandcase-rated,forcurrentsgreaterthan100A1997-06-28發布1998-03-01實施國家技術監督局發布

中華人民共和國國家標準大于100A，環境和管殼額定的整流二極管（包括雪崩整流二極管)空白詳細規范GB/T16894-1997中國標準出版社出版發行北北京西城區復興門外三里河北街16號郵政編碼：100045電話：63787337、637874471998年5月第一版20.05年1月電子版制作書號：155066·1-14826版權專有浸權必究舉報電話：（010）68533533

GB/T16894-1997本標準等同采用國際電工委員會標準IEC747-2-2:1993《半導體分立器件第2部分：整流二極管第2節：大于100A,環境和管殼額定的整流二極管(包括雪崩整流二極管)空白詳細規范》。本標準按GB/T1.1一1993《標準化工作導則第1單元：標準的起草與表述規則第1部分:標準編寫的基本規定》,除標準名稱省去引導要素、增加前言等編輯性變化外，技術內容與IEC747-2-2相同編寫方法與其完全對應。這樣，通過使我國標準編寫格式和規則盡可能與國際一致或等同,以盡快適應國際貿易、技術和經濟交流以及采用國際標準飛躍發展的需要。本標準應與GB4589.1-89半導體器件總規范(IEC747-10一1991)和GB12560—90半導體分立器件分規范(IEC747-11一1985)一起使用。本標準是制訂其相同范圍產品詳細規范的依據。本標準的附錄A是標準的附錄。本標準由中華人民共和國機械工業部捉出。本標準由全國半導體器件標準化技術委員會歸口。本標準起草單位：北京變壓器廠、鐵道部永濟電機廠、機械部西安電力電子技術研究所。本標準起草人：雷京貴、李夢錄、霍志新、賀宏飯、秦賢滿。

GBT116894-1997IEC前言1）國際電工委員會(IEC)是世界范圍的標準化組織，它由各國家電工委員會(IEC國家委員會)組成。IEC的目的是促進在電氣、電子領域有關所有標準化問題的合作。為此目的并開展了另外一些活動.IC發布了國際標準。標準的制訂委托給技術委員會，對標準涉及的問題感興趣的任何IEC國家委員會可以參加有關的制訂工作。國際上，政府和非政府組織與IEC聯絡也可參加有關的制訂工作。IEC與ISO（國際標準化組織)按照兩個組織一致決定的條件密切協作。2）由各技術委員會制訂的技術間題的IEC正式決議或協議，是所有國家委員會特別感興趣的，并盡可能就涉及的各種問題表示、表達了國際上的一致意見。3）這些決議和協議用標準、技術報告或導則的形式發表，以推薦方式為國際上采用，并在此意義上為各國家委員會所接受。4）為促進國際上的一致,IEC各國家委員會許諾了在本國標準或區域標準中，以最大限度的可能、透明地采用IEC國際標準。IEC標準和國家標準或區域標準的任何分歧之處，應在國家標準或區域標準中清楚地指出。本國際標準由IEC第47技術委員會《半導體器件》制訂本標準是大于100A、環境和管殼額定整流二極管（包括雪崩整流二極管)的空白詳細規范本標準的內容基于如下文件六月法規則表決報告47C0)127947（C0)1341貧成本標準的完整的投票情況能在上表指出的表決報告中找到。出現在本出版物封面上的QC編號是IEC電子元器件質量評定體系(IECQ)的規范編號。本標準引用了下列IEC標準：1EC68-2-17(1978）環境試驗第2部分：試驗Q密封IEC191-2(1966）半導體器件機械標準化第2部分：尺寸(正在修訂中)TEC747-2（1983）半導體器件分立器件和集成電路第2部分：整流二極管第1號修訂件（1992）TEC747-10(1991）半導體器件分立器件和集成電路第10部分：分立器件和集成電路的總規范（第二版）TEC747-11(1985）華導體器件分立器件和集成電路第11部分：分立器件分規范TEC749(1984）半導體器件機械和氣候試驗方法第1號修訂件(1991）

中華人民共和國國家標準大于100A,環境和管殼額定的整流二極管GB/T(包括雪崩整流二極管)空白詳細規范r16894-1997idtIEC747-2-2:1993Blankdetailspeciticationforrectifierdiodes(includingavalanchercctifierdiodes),ambienandcnscratcd,forcurrentsgrenterthan100A引言國際電工委員會電子器件質量評定體系遵循國際電工委員會的章程，在國際電工委員會授權下開展工作。評定體系的目的是以這樣一種方式確定質量評定程序，即一個成員國按照符合適用范圍要求所放行的電子器件在其他成員國內無需再試驗同樣為合格。本空白詳細規范是半導體器件-系列空白詳細規范的一個，應該和國際電工委員會的如下規范一起使用。TEC747-10/QC700000(1991)半導體器件第10部分：分立器件和集成電路總規范IEC747-11/QC750100(1985)半導體器件第11部分：分立器件分規范。要求的資料下列所要求的各項內容，應填人下頁規定的對應空欄中。詳細規范的識別【1授權發布詳細規范的國家標準化組織的名稱L2]詳細規范的IECQ編號。L37總規范和分規范的編號和發布號。「4詳細規范的國家編號、發布日期和國家體系要求的任何更多的資料器件的識別151器件的型號【67典型結構和應用的資料。如果設計一種器件滿足幾種應用,則應在詳細規范中說明。這些應用的特性、極限值和檢驗要求應子滿足。對靜電敏感器件或含危險材料如皺的氧化物器件，在詳細規范中應寫上警告說明。【7外形圖和(或)引用有關的外形標準。L8]質量評定類