標準解讀

GB/T 14849.4-2008 是一項中國國家標準,專注于工業(yè)硅化學(xué)分析領(lǐng)域,特別是針對元素含量的測定。該標準的第四部分詳細介紹了使用電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法(ICP-AES)進行分析的具體方法和要求。下面是對該標準內(nèi)容的展開說明:

標準范圍

本部分標準規(guī)定了利用電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜技術(shù)來測定工業(yè)硅中多種元素(如鋁、鈣、鐵、鎂、錳、磷、鉀、鈉、鈦等)含量的方法。適用于評估工業(yè)硅原材料及成品中的元素雜質(zhì)含量,確保材料質(zhì)量符合相關(guān)標準或特定應(yīng)用需求。

方法原理

電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法基于將樣品經(jīng)過適當處理后轉(zhuǎn)化為氣溶膠形式,引入高溫等離子體中。在高溫條件下,樣品中的元素被激發(fā)至高能態(tài),當它們返回到基態(tài)時會發(fā)射出具有特征波長的光。通過檢測這些特征光譜線的強度,結(jié)合標準曲線或內(nèi)部標樣的比較,可以定量分析出各元素的含量。

試驗條件與設(shè)備

  • 儀器要求:需要配備性能穩(wěn)定的電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀,包括采樣系統(tǒng)、霧化器、等離子體光源、光譜儀及檢測系統(tǒng)。
  • 試劑與材料:標準詳細列出了用于制備標準溶液、樣品處理及儀器校正的各種試劑和材料規(guī)格。
  • 樣品處理:規(guī)定了樣品的稱量、溶解、稀釋及必要時的消解步驟,確保樣品適合于ICP-AES分析。

測定步驟

  1. 樣品準備:根據(jù)規(guī)定的程序準確稱取試樣,采用適當?shù)娜軇┻M行溶解和必要處理,以去除干擾物質(zhì)并達到適宜的濃度范圍。
  2. 儀器校準:使用已知濃度的標準溶液系列對儀器進行校準,建立元素濃度與光譜強度之間的關(guān)系。
  3. 樣品分析:將處理后的樣品溶液注入ICP-AES儀器,記錄各元素的特征光譜線強度。
  4. 數(shù)據(jù)處理:依據(jù)校準曲線計算樣品中各元素的實際含量。

精密度與準確度

標準提供了重復(fù)性和再現(xiàn)性限值,以及通過與認可參考方法比對驗證的準確度要求,確保測試結(jié)果的可靠性和一致性。

試驗報告

要求報告中應(yīng)包含樣品信息、試驗條件、所用試劑、測量結(jié)果及必要的數(shù)據(jù)處理細節(jié),確保試驗過程的可追溯性。

注意事項

雖然未直接要求總結(jié),但標準內(nèi)隱含地強調(diào)了遵循操作規(guī)程的重要性,以及在執(zhí)行分析過程中控制實驗條件、減少誤差來源的必要性,以保證分析結(jié)果的準確性與可靠性。


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  • 被代替
  • 已被新標準代替,建議下載現(xiàn)行標準GB/T 14849.4-2014
  • 2008-06-09 頒布
  • 2008-12-01 實施
?正版授權(quán)
GB/T 14849.4-2008工業(yè)硅化學(xué)分析方法第4部分:電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法測定元素含量_第1頁
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GB/T 14849.4-2008工業(yè)硅化學(xué)分析方法第4部分:電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法測定元素含量-免費下載試讀頁

文檔簡介

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中華人民共和國國家標準

犌犅/犜14849.4—2008

工業(yè)硅化學(xué)分析方法

第4部分:電感耦合等離子體原子

發(fā)射光譜法測定元素含量

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20080609發(fā)布20081201實施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局

發(fā)布

中國國家標準化管理委員會

中華人民共和國

國家標準

工業(yè)硅化學(xué)分析方法

第4部分:電感耦合等離子體原子

發(fā)射光譜法測定元素含量

GB/T14849.4—2008

中國標準出版社出版發(fā)行

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電話:6852394668517548

中國標準出版社秦皇島印刷廠印刷

各地新華書店經(jīng)銷

開本880×12301/16印張0.5字數(shù)9千字

2008年8月第一版2008年8月第一次印刷

書號:155066·132554

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舉報電話:(010)68533533

犌犅/犜14849.4—2008

前言

GB/T14849《工業(yè)硅化學(xué)分析方法》分為四部分:

———第1部分:鐵含量的測定1,10二氮雜菲分光光度法;

———第2部分:鋁含量的測定鉻天青S分光光度法;

———第3部分:鈣含量的測定火焰原子吸收光譜法、偶氮氯膦Ⅰ分光光度法;

———第4部分:電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法測定元素含量。

本部分為第4部分。

本部分附錄A為資料性附錄。

本部分由中國有色金屬工業(yè)協(xié)會提出。

本部分由全國有色金屬標準化技術(shù)委員會歸口。

本部分負責(zé)起草單位:中國鋁業(yè)股份有限公司鄭州研究院、中國有色金屬工業(yè)標準計量質(zhì)量研

究所。

本部分參加起草單位:東北輕合金有限責(zé)任公司、包頭鋁業(yè)股份有限公司、西南鋁業(yè)(集團)有限責(zé)

任公司、山西晉能集團大同能源發(fā)展有限公司。

本部分主要起草人:李躍平、石磊、張樹朝、張潔、吳豫強、周兵、姜偉、金建華、劉雙慶、牟利娟、

張艾芬。

犌犅/犜14849.4—2008

工業(yè)硅化學(xué)分析方法

第4部分:電感耦合等離子體原子

發(fā)射光譜法測定元素含量

1范圍

本部分規(guī)定了工業(yè)硅中鐵、鋁、鈣、鈦、錳、鎳含量的測定方法。

本部分適用于工業(yè)硅中鐵、鋁、鈣、鈦、錳、鎳含量的測定,測定范圍見表1。

表1

元素質(zhì)量分數(shù)/%元素質(zhì)量分數(shù)/%

鐵0.020~1.00鎳0.0050~0.50

鋁0.020~0.50錳0.0050~0.50

鈣0.020~1.00

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