SPC及CPK實戰篇1SPC及CPK11﹑六西格碼在控制中的應用★廣義的六西格碼是一個完善的管理工具﹐是品質管理系統的一種說法﹔★單純的六西格碼控制應用﹐是一種質量控制的目標﹐請看以下說法﹐正確與否﹕?我公司已經實施了六西格碼管理﹔?

我公司達到了六西格碼的要求﹔?

通過六西格碼管理﹐公司品質上了一個臺階﹔………一﹑六西格碼21﹑六西格碼在控制中的應用★廣義的六西格碼是一個完善的管理工2﹑六西格碼與不良率:±Kr百分比(%)百萬分缺點數±1r±2r±3r±4r±5r±6r68.2695.4599.7399.993799.99994399.9999998317400455002700630.570.002(規格中心不偏移)常態分配規格下限規格上限-6r-5r-4r-3r-2r-1r+6r+1r+2r+3r+4r+5rX4232﹑六西格碼與不良率:±Kr±Kr合格百分比(%)百萬分缺點數±1r±2r±3r±4r±5r±6r30.2369.1393.3299.379099.9767099.9996606977003087006681062102333.4規格中心值往左、右移動1.5r常態分配規格下限規格上限-6r-5r-4r-3r-2r-1r+6r+1r+2r+3r+4r+5rX1.5r1.5r434±Kr合格百分比(3控制方式與6控制方式的比較：53控制方式與6控制方式的比較：5???兩個影響量﹐﹑1﹑的變化﹖2﹑的變化﹖21e-222F(x)=(x-)6???兩個影響量﹐﹑21e-222F(x二﹑SPC與CPK1﹑區別與聯系CPK﹕判定短期的制程能力﹐可以用來解析目前的制程能力或用來檢驗制程能力是否在管制狀況下﹔SPK﹕長期的制程能力﹐主要用在制程管制上。兩者配合使用﹐應該做到﹕ 短期=長期7二﹑SPC與CPK1﹑區別與聯系CPK﹕判定短期的制程能力﹐2﹑影響量----標準差Sigma82﹑影響量----標準差Sigma8實例(Sigma較大﹐離散性問題)實例(Sigma較大﹐離散性問題)3﹑影響量----中心偏移量103﹑影響量----中心偏移量10CPK實例分析(離散性較小﹑中心偏移量影響)11CPK實例分析(離散性較小﹑中心偏移量影響)114﹑CPK改善的方向及目標124﹑CPK改善的方向及目標125﹑管制圖的判斷在計量值﹐服從常態分布的生產特性下﹐最常用的管制圖是Xbar-R管制圖。常用的控制圖a、Xbar–R控制圖（計量值、正態分布）b、不合格品百分率p控制圖（計件值、二項分布）c、不合格品數np控制圖(計件值、二項分布)d、缺陷率u控制圖(計點值、泊松分布）e、缺陷數c控制圖(計點值、泊松分布）f、DPMO控制圖(計點值、泊松分布）135﹑管制圖的判斷在計量值﹐服從常態分布的生產特性下﹐最常用的1414.214.414.614.81515.215.415.615.8折線圖1!5.1﹑穩定原則----異常處理原則一:不可超出管制界限141414.214.414.614.81515.215.41514.214.414.614.81515.215.415.6折線圖15.1﹑穩定原則----預防處理原則二:不可呈現規律變動連續7點上升或下降呈現規律性波動,具有顯著的波動周期1514.214.414.614.81515.215.415.614.214.414.614.81515.215.415.6東部5.1﹑穩定原則----預防處理原則二:不可呈現規律變動連續7點在管制界限一側連續11點中,有10點在管制界限一側(間斷)1614.214.414.614.81515.215.415.65.1﹑穩定原則----預防處理原則三:不可過于集中分布顯著多于2/3的點集中在CL附近:即90%的數據在1δ線以內顯著少于40%的數據落在1δ線以內數據集中分布在2δ到管制線之間(超過2/3)3點中,有兩點接近一側之管制界限7點中,有3點以上接近控制界限原則四:符合過程能力要求175.1﹑穩定原則----預防處理原則三:不可過于集中分布175.2﹑長期控制符合以下條件,可將管制圖用于長期控制:過程穩定符合過程能力的要求再收集15組數據,無異常情形利用已經算出之管制界限進行管制按要求收集數據,并進行管制分析/控制在下列情況下,重新計算管制界限:初次過程能力研究,異常消除時對4M1E進行重大改進時產品修正時經過長期運行后185.2﹑長期控制符合以下條件,可將管制圖用于長期控制:18現象可能原因處理分布不穩定計算錯誤數據未層別查清原因,重新計算存在特殊原因查清原因,予以消除過程能力不足過于分散平均值偏移采用管理性/技術性措施,進行改進5.3﹑異常處理可以采取的措施有效后,標準化處理19現象可能原因處理分布計算錯誤查清原因,重新計算存在特殊原因查三﹑制程管制實例1﹑CPK解析目的﹕通過集中量測解析目前的制程能力﹐得出制程管控要求﹐對制程管控要求進行分析﹐解析出合理的制程管控上下限。實例分析﹕以解析錫膏厚度的管控上下限為例﹕集中量測25組錫膏厚度數據﹔每組由5個量測點的數據﹔計算CPK值﹐判定是否合理﹔計算上下管制線。20三﹑制程管制實例1﹑CPK解析目的﹕201.1﹑集中量測25組錫膏厚度數據211.1﹑集中量測25組錫膏厚度數據211.2﹑計算CPK值Sigma=(Σ(Xi-Xbar)2/(n-1))?其中i=1ton=0.00312CP=T/(6*Simga)=(0.16-0.12)/(6*0.00312)=2.13675K=|Xbar-SL|/T/2=|0.139832-0.140|/0.02=0.0084CPK=CP(1-K)=2.13675(1-0.0084)=2.1188判定﹕CPK為2.1188>1.67﹐屬于制程能力充分的狀態下﹔221.2﹑計算CPK值Sigma=(Σ(Xi-Xbar)2/1.3﹑計算管制上下限上管制界限:UCL=Xbar+3*Sigma=0.139832+3*0.00312=0.149192下管制界限:LCL=Xbar-3*Sigma=0.139832-3*0.00312=0.130472231.3﹑計算管制上下限上管制界限:UCL=Xbar+3*1.4﹑管制圖241.4﹑管制圖241.5﹑解析管制上下限上管制界限:UCL=0.149192實際管制上限=0.150在實際解析中﹐如果測量的點比較分散﹐可以適當放寬解析上限﹐再定期檢討﹑縮緊管制上限到理論值。下管制界限:LCL=0.130472實際管制下限=0.130在實際解析中﹐如果測量的點比較分散﹐可以適當放寬解析下限﹐再定期檢討﹑縮緊管制下限到理論值。251.5﹑解析管制上下限上管制界限:UCL=0.1491922﹑SPC管制▲將CPK解析的管制上下限﹐作為SPC的管制上下線﹔▲定時對生產制程進行量測﹐這個時間可以是每天或每班﹔▲檢查每次的量測結果是否在管控范圍內﹔▲量測點超出管控線﹐需要立即檢討制程﹐尋找出原因﹔▲定期(每月或每周)對近期的控制圖進行分析﹐檢查是否有不收控制的趨勢(如周期變動﹑連續7點﹑連續11點等)。262﹑SPC管制▲將CPK解析的管制上下限﹐作為SPC的管2.1﹑SPC管制圖272.1﹑SPC管制圖272.2﹑管制圖的難點▲CPK解析時﹐存在中心偏移量較大的情況﹖▲CPK解析時﹐數據離散性較大﹐Sigma較大﹖▲SPC管制時﹐管制上下限太嚴﹐導致經常跑出管制線﹖▲量測點都在管制界限內﹐是否代表制程良好﹖282.2﹑管制圖的難點▲CPK解析時﹐存在中心偏移量較大的3﹑SPC&CPK管制的步驟四個步驟﹕ 3.1﹑CPK改進﹔ 3.2﹑CPK解析﹔ 3.3﹑SPC管制及改進﹔ 3.4﹑PDCA293﹑SPC&CPK管制的步驟四個步驟﹕293.1﹑CPK改進----中心偏移量SLCLCP=2.13675K=0.5084CPK=1.05303.1﹑CPK改進----中心偏移量SLCLCP=2.1363.1﹑CPK解析----消除中心偏移量CL≌SLCP=2.13675K=0.0084CPK=2.1188313.1﹑CPK解析----消除中心偏移量CL≌SLCP=23.1﹑CPK解析----消除中心偏移量（圖）SL323.1﹑CPK解析----消除中心偏移量（圖）SL323.2﹑CPK解析---穩定性﹑離散性原則CPK解析時﹕ Sigma較大→CP<2→

CPK<1.67 制程需要分析原因﹐尋找加強制程能力的方法﹐直到滿足3.1﹐且CPK>1.67 具體解析過程可以用Xbar-R管制分析法難333.2﹑CPK解析---穩定性﹑離散性原則CPK解析時﹕難33.2﹑CPK解析---Xbar-R分析步驟﹕1﹑計算Xbar﹑R﹑Xbar.bar﹑Rbar﹔2﹑計算R的管控線﹐并判斷﹔3﹑剔除異常的點(超出規格的)﹐查找異常的原因﹔4﹑重復1﹑2﹑3步驟﹐直到全部在管控范圍內﹔5﹑計算Xbar的管控線﹐并判斷﹔6﹑剔除異常的點(超出規格的)﹐查找異常的原因﹔7﹑重復1到6步驟﹐直到全部在管控范圍內﹔8﹑落實查找出來的改善措施﹔9﹑再次復驗。343.2﹑CPK解析---Xbar-R分析步驟﹕341﹑計算Xbar﹑R﹑Xbar.bar﹑RbarR.UCL=D4*R.bar=2.12*0.0127=0.02694R.LCL=D3*R.bar=0*0.013=0351﹑計算Xbar﹑R﹑Xbar.bar﹑RbarR.UCL=2﹑計算R的管控線此時的X.bar圖異常點362﹑計算R的管控線此時的X.bar圖異常點363﹑重新計算----剔除R圖中的不合格點(第2點)剔除后﹐X.bar.bar及R.bar值均發生變化。R圖符合要求。373﹑重新計算----剔除R圖中的不合格點(第2點)剔除后﹐X4﹑計算Xbar的管控線UCL=Xbar.bar+A2*Rbar=0.14043+0.577*0.012=0.147354LCL=Xbar.bar-A2*Rbar=0.14043-0.577*0.012=0.133506384﹑計算Xbar的管控線UCL=Xbar.bar+A2*R5﹑剔除異常的點(超出規格的)﹐查找異常的原因異常點異常點395﹑剔除異常的點(超出規格的)﹐查找異常的原因異常點異常點36﹑重新計算----剔除第5﹑12點Xbar.bar﹑Rbar都需要重新計算﹐檢查R圖符合要求406﹑重新計算----剔除第5﹑12點Xbar.bar﹑Rba6﹑重新計算----檢查X.bar是否符合管制要求416﹑重新計算----檢查X.bar是否符合管制要求417﹑落實改善措施及延長管制線將第2點和第5﹑12點出現異常的原因進行分析﹐一定要追蹤落實改善﹔用以下公式得到管制用管制線﹕ UCL=Xbar+3*Sigma LCL=Xbar-3*Sigma427﹑落實改善措施及延長管制線將第2點和第5﹑3.3﹑SPC管制及改進3.1和3.2得到了管制上下限﹐在批量生產中就可以用此管控線來管制﹑檢驗制程是否處于正常狀況下﹔SPC管制一般會要求定期進行量測監控。發現異常及時處理433.3﹑SPC管制及改進3.1和3.2得到了3.4﹑PDCA443.4﹑PDCA44結束語用CPK來解析制程﹐得到制程管控的目標﹔用SPC來定期檢驗制程是否處于受控狀態﹐并改善超出管控的異常﹔再用CPK來驗証制程能力。制程沒有最好只有更好45結束語用CPK來解析制程﹐得到制程管控的目標﹔制程SPC及CPK實戰篇46SPC及CPK11﹑六西格碼在控制中的應用★廣義的六西格碼是一個完善的管理工具﹐是品質管理系統的一種說法﹔★單純的六西格碼控制應用﹐是一種質量控制的目標﹐請看以下說法﹐正確與否﹕?我公司已經實施了六西格碼管理﹔?

我公司達到了六西格碼的要求﹔?

通過六西格碼管理﹐公司品質上了一個臺階﹔………一﹑六西格碼471﹑六西格碼在控制中的應用★廣義的六西格碼是一個完善的管理工2﹑六西格碼與不良率:±Kr百分比(%)百萬分缺點數±1r±2r±3r±4r±5r±6r68.2695.4599.7399.993799.99994399.9999998317400455002700630.570.002(規格中心不偏移)常態分配規格下限規格上限-6r-5r-4r-3r-2r-1r+6r+1r+2r+3r+4r+5rX42482﹑六西格碼與不良率:±Kr±Kr合格百分比(%)百萬分缺點數±1r±2r±3r±4r±5r±6r30.2369.1393.3299.379099.9767099.9996606977003087006681062102333.4規格中心值往左、右移動1.5r常態分配規格下限規格上限-6r-5r-4r-3r-2r-1r+6r+1r+2r+3r+4r+5rX1.5r1.5r4349±Kr合格百分比(3控制方式與6控制方式的比較：503控制方式與6控制方式的比較：5???兩個影響量﹐﹑1﹑的變化﹖2﹑的變化﹖21e-222F(x)=(x-)51???兩個影響量﹐﹑21e-222F(x二﹑SPC與CPK1﹑區別與聯系CPK﹕判定短期的制程能力﹐可以用來解析目前的制程能力或用來檢驗制程能力是否在管制狀況下﹔SPK﹕長期的制程能力﹐主要用在制程管制上。兩者配合使用﹐應該做到﹕ 短期=長期52二﹑SPC與CPK1﹑區別與聯系CPK﹕判定短期的制程能力﹐2﹑影響量----標準差Sigma532﹑影響量----標準差Sigma8實例(Sigma較大﹐離散性問題)實例(Sigma較大﹐離散性問題)3﹑影響量----中心偏移量553﹑影響量----中心偏移量10CPK實例分析(離散性較小﹑中心偏移量影響)56CPK實例分析(離散性較小﹑中心偏移量影響)114﹑CPK改善的方向及目標574﹑CPK改善的方向及目標125﹑管制圖的判斷在計量值﹐服從常態分布的生產特性下﹐最常用的管制圖是Xbar-R管制圖。常用的控制圖a、Xbar–R控制圖（計量值、正態分布）b、不合格品百分率p控制圖（計件值、二項分布）c、不合格品數np控制圖(計件值、二項分布)d、缺陷率u控制圖(計點值、泊松分布）e、缺陷數c控制圖(計點值、泊松分布）f、DPMO控制圖(計點值、泊松分布）585﹑管制圖的判斷在計量值﹐服從常態分布的生產特性下﹐最常用的1414.214.414.614.81515.215.415.615.8折線圖1!5.1﹑穩定原則----異常處理原則一:不可超出管制界限591414.214.414.614.81515.215.41514.214.414.614.81515.215.415.6折線圖15.1﹑穩定原則----預防處理原則二:不可呈現規律變動連續7點上升或下降呈現規律性波動,具有顯著的波動周期6014.214.414.614.81515.215.415.614.214.414.614.81515.215.415.6東部5.1﹑穩定原則----預防處理原則二:不可呈現規律變動連續7點在管制界限一側連續11點中,有10點在管制界限一側(間斷)6114.214.414.614.81515.215.415.65.1﹑穩定原則----預防處理原則三:不可過于集中分布顯著多于2/3的點集中在CL附近:即90%的數據在1δ線以內顯著少于40%的數據落在1δ線以內數據集中分布在2δ到管制線之間(超過2/3)3點中,有兩點接近一側之管制界限7點中,有3點以上接近控制界限原則四:符合過程能力要求625.1﹑穩定原則----預防處理原則三:不可過于集中分布175.2﹑長期控制符合以下條件,可將管制圖用于長期控制:過程穩定符合過程能力的要求再收集15組數據,無異常情形利用已經算出之管制界限進行管制按要求收集數據,并進行管制分析/控制在下列情況下,重新計算管制界限:初次過程能力研究,異常消除時對4M1E進行重大改進時產品修正時經過長期運行后635.2﹑長期控制符合以下條件,可將管制圖用于長期控制:18現象可能原因處理分布不穩定計算錯誤數據未層別查清原因,重新計算存在特殊原因查清原因,予以消除過程能力不足過于分散平均值偏移采用管理性/技術性措施,進行改進5.3﹑異常處理可以采取的措施有效后,標準化處理64現象可能原因處理分布計算錯誤查清原因,重新計算存在特殊原因查三﹑制程管制實例1﹑CPK解析目的﹕通過集中量測解析目前的制程能力﹐得出制程管控要求﹐對制程管控要求進行分析﹐解析出合理的制程管控上下限。實例分析﹕以解析錫膏厚度的管控上下限為例﹕集中量測25組錫膏厚度數據﹔每組由5個量測點的數據﹔計算CPK值﹐判定是否合理﹔計算上下管制線。65三﹑制程管制實例1﹑CPK解析目的﹕201.1﹑集中量測25組錫膏厚度數據661.1﹑集中量測25組錫膏厚度數據211.2﹑計算CPK值Sigma=(Σ(Xi-Xbar)2/(n-1))?其中i=1ton=0.00312CP=T/(6*Simga)=(0.16-0.12)/(6*0.00312)=2.13675K=|Xbar-SL|/T/2=|0.139832-0.140|/0.02=0.0084CPK=CP(1-K)=2.13675(1-0.0084)=2.1188判定﹕CPK為2.1188>1.67﹐屬于制程能力充分的狀態下﹔671.2﹑計算CPK值Sigma=(Σ(Xi-Xbar)2/1.3﹑計算管制上下限上管制界限:UCL=Xbar+3*Sigma=0.139832+3*0.00312=0.149192下管制界限:LCL=Xbar-3*Sigma=0.139832-3*0.00312=0.130472681.3﹑計算管制上下限上管制界限:UCL=Xbar+3*1.4﹑管制圖691.4﹑管制圖241.5﹑解析管制上下限上管制界限:UCL=0.149192實際管制上限=0.150在實際解析中﹐如果測量的點比較分散﹐可以適當放寬解析上限﹐再定期檢討﹑縮緊管制上限到理論值。下管制界限:LCL=0.130472實際管制下限=0.130在實際解析中﹐如果測量的點比較分散﹐可以適當放寬解析下限﹐再定期檢討﹑縮緊管制下限到理論值。701.5﹑解析管制上下限上管制界限:UCL=0.1491922﹑SPC管制▲將CPK解析的管制上下限﹐作為SPC的管制上下線﹔▲定時對生產制程進行量測﹐這個時間可以是每天或每班﹔▲檢查每次的量測結果是否在管控范圍內﹔▲量測點超出管控線﹐需要立即檢討制程﹐尋找出原因﹔▲定期(每月或每周)對近期的控制圖進行分析﹐檢查是否有不收控制的趨勢(如周期變動﹑連續7點﹑連續11點等)。712﹑SPC管制▲將CPK解析的管制上下限﹐作為SPC的管2.1﹑SPC管制圖722.1﹑SPC管制圖272.2﹑管制圖的難點▲CPK解析時﹐存在中心偏移量較大的情況﹖▲CPK解析時﹐數據離散性較大﹐Sigma較大﹖▲SPC管制時﹐管制上下限太嚴﹐導致經常跑出管制線﹖▲量測點都在管制界限內﹐是否代表制程良好﹖732.2﹑管制圖的難點▲CPK解析時﹐存在中心偏移量較大的3﹑SPC&CPK管制的步驟四個步驟﹕ 3.1﹑CPK改進﹔ 3.2﹑CPK解析﹔ 3.3﹑SPC管制及改進﹔ 3.4﹑PDCA743﹑SPC&CPK管制的步驟四個步驟﹕293.1﹑CPK改進----中心偏移量SLCLCP=2.13675K=0.5084CPK=1.05753.1﹑CPK改進----中心偏移量SLCLCP=2.1363.1﹑CPK解析----消除中心偏移量CL≌SLCP=2.13675K=0.0084CPK=2.1188763.1﹑CPK解析----消除中心偏移量CL≌SLCP=23.1﹑CPK解析----消除中心偏移量（圖）SL773.1﹑CPK解析----消除中心偏移量（圖）SL323.2﹑CPK解析---穩定性﹑離散性原則CPK解析時﹕ Sigma較大→CP<2→

CPK<1.67 制程需要分析原因﹐尋找加強制程能力的方法﹐直到滿足3.1﹐且CPK>1.67 具體解析過程可以用Xbar-R管制分析法難783.2﹑CPK解析---穩定性﹑離散性原則CPK解析時﹕難33.2﹑CPK解析---Xbar-R分析步驟﹕1﹑計算Xbar﹑R﹑Xbar.bar﹑Rbar﹔2﹑計算R的管控線﹐并判斷﹔3﹑剔除異常的點(超出規格的)﹐查找異常的原因﹔4﹑重復1﹑2﹑3步驟﹐直到全部在管控范圍內﹔5﹑計算Xbar的管控線﹐并判斷﹔6﹑剔除異