集成電路測試3_第1頁
集成電路測試3_第2頁
集成電路測試3_第3頁
集成電路測試3_第4頁
集成電路測試3_第5頁
已閱讀5頁，還剩6頁未讀， 繼續免費閱讀

下載本文檔

版權說明：本文檔由用戶提供并上傳，收益歸屬內容提供方，若內容存在侵權，請進行舉報或認領

文檔簡介

1、第三章 測試經濟學和產品質量3.1 測試經濟學3.2 良率3.3 測量品質的缺陷等級13.1 測試經濟學總成本（TC） = 固定成本（FC） +可變成本（VC）平均成本（AC） = 總成本/產量2Total CostCost per ICVariable cost3Die Cost4Wafer Size5Yield63.1 測試經濟學十倍法則： 如果一個芯片故障沒有在芯片測試時發現，那么在PCB級別發現故障的成本就是芯片級別的10倍。 如果一個PCB故障沒有在電路板測試時被發現，那么在系統級別發現錯誤的成本將是PCB級別的10倍。73.2 良率良率（yield） = 好的芯片數目/生產出來的總

2、的芯片數圓片良率：一個圓片上的好芯片的平均數83.2 良率93.3 測量品質的缺陷等級缺陷級別：在通過測試的芯片中，故障芯 片所占的比例。通常用每百萬個芯片中的故障芯片數來表示（ppm）。10EX3.1There are some parameters of two different process of a chip. The expected sale of this chip between 100,000 and 500,000. can you figure out the cost of per chip with 65nm and 90nm process. Everyone can choose a different productio

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無特殊說明，都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等，如果需要附件，請聯系上傳者。文件的所有權益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙，網頁內容里面會有圖紙預覽，若沒有圖紙預覽就沒有圖紙。
  • 4. 未經權益所有人同意不得將文件中的內容挪作商業或盈利用途。
  • 5. 人人文庫網僅提供信息存儲空間，僅對用戶上傳內容的表現方式做保護處理，對用戶上傳分享的文檔內容本身不做任何修改或編輯，并不能對任何下載內容負責。
  • 6. 下載文件中如有侵權或不適當內容，請與我們聯系，我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準確性、安全性和完整性, 同時也不承擔用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

評論

0/150

提交評論