半成品、成品檢驗規范_第1頁
半成品、成品檢驗規范_第2頁
半成品、成品檢驗規范_第3頁
全文預覽已結束

下載本文檔

版權說明：本文檔由用戶提供并上傳，收益歸屬內容提供方，若內容存在侵權，請進行舉報或認領

文檔簡介

1、半成品、成品檢驗規范質量檢驗xxxx有限公司目的為了確保產品的質量能得到有效的控制，特制定此標準指導檢驗員對半成品、成品進行檢驗。適用范圍適用于本公司IQC、IPQC、OQC對半成品、成品的檢驗。引用標準抽樣依據MIL-STD-105E加嚴抽樣計劃抽樣標準依據：按照(GB2828.1-20XX年level口逐批檢驗抽樣計劃抽樣標準:AQL(質量允收水準)a)致命缺陷(CRI)=0無論批量大小b)主要缺陷(MAJ)=0.65c)次要缺陷(MIN)=1.5一般檢驗外觀檢查、功能檢查水平n當按正常抽樣水準連續3批出現同樣不合格現象時，應立即執行加嚴檢驗方案。加嚴檢驗連續5批合格，可恢復正常檢驗；按正

2、常抽樣水準連續10批次未出現不合格批時，可以執行放寬檢驗流程；當放寬檢驗發現不合格批次時，應立即恢復正常抽樣水準，并對前一批次產品按正常抽樣水準進行復檢如果不合格時按不合格程序處理。3.5缺陷分類定義：嚴重缺陷（CriticalDefect）:產品存在對使用者的人身及財產安全構成威脅的缺陷。主要缺陷（MajorDefect）:影響產品正常功能/性能使用的缺陷或產品組裝/包裝存在的缺陷導致最終客戶拒絕購買的產品結構及外觀缺陷。次要缺陷（minorDefect）:不影響產品使用檢驗項目及要求檢查區域A面：用戶正常使用操作時的直視部分（如：面殼、鏡片、LCD、鍵盤等）4.1.2B面：用戶正常使用操作時的可視部分（如：頂面、底面、側面、天線等）C面：不易被用戶見到的部分（如手機背面、耳機、I/O口、電池面等）D面：正常使用時的非暴露面（如電池內面、SIM卡口等）4.2檢查條件環境亮度：距離被觀測物50cm處的光強為1000至20XX年lux質量檢驗檢查溫/濕度：15-35/2085%觀測距離：眼睛與被觀測物之間的距離3040cm。只有30cm內才能看到外觀缺陷可以忽略不計。觀測角度：在檢查過程中目光要與被觀測面垂直，允許將被觀測面各方向轉動45度角觀觀測者要求：校正視力1.0以上，不允許色盲、色弱者。4.

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無特殊說明，都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等，如果需要附件，請聯系上傳者。文件的所有權益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙，網頁內容里面會有圖紙預覽，若沒有圖紙預覽就沒有圖紙。
  • 4. 未經權益所有人同意不得將文件中的內容挪作商業或盈利用途。
  • 5. 人人文庫網僅提供信息存儲空間，僅對用戶上傳內容的表現方式做保護處理，對用戶上傳分享的文檔內容本身不做任何修改或編輯，并不能對任何下載內容負責。
  • 6. 下載文件中如有侵權或不適當內容，請與我們聯系，我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準確性、安全性和完整性, 同時也不承擔用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

評論

0/150

提交評論