1、 Statistical Process control統計過程控制第一章 持續改進與統計過程控制概述第二章 計量型數據控制圖Designed by LLCNO:LLC-ts05Rev:B基本概念：特 性產品一 般安全、法規關 鍵KPCS配合、功能過程一 般關 鍵KCCS一般特性：只要是合格就可以；關鍵特性：不僅僅合格，還要盡可能接近目標值。檢驗分類：l 計數型：檢驗時僅分為合格、不合格；l 計量型：檢驗時可確定值的大小。第一章 持續改進與統計過程控制概述應用統計技術來控制產生輸出的過程時，才能在改進質量、提高生產率、降低成本上發揮作用。第一節 預防與檢測 檢 測 - 容忍浪費 預 防 - 避

2、免浪費第二節 過程控制系統過 程 共同工作以產生輸出的供方、生產者、人、設備、輸入材料、方法和環境以與使用輸出的顧客之集合。過程性能取決于： 1.供方和顧客之間的溝通； 2.過程設計與實施的方式； 3.動作和管理方式。過程控制重點：過程特性過程控制步驟：確定特性的目標值； 監測我們與目標值的距離是近還是遠； 對得到的信息作出正確的解釋，確定過程是在正常的方式下運行； 必要時，采取與時準確的措施來校正過程或剛產生的輸出； 監測采取措施后的效果，必要時進一步分析與采取措施。注：僅對輸出進行檢驗并隨之采取措施，只可作為不穩定或沒有能力的過程的臨時措施。不能代替有效的過程管理。第三節 變差：普通與特殊

3、原因任何過程都存在引起變差的原因，產品的差距總是存在。雖然單個的測量值可能全都不同，但形成一組后它們趨于形成一個可以描述的分布的圖形。 （例圖）影響因素：普通原因：難以排除，具有穩定、可重復的分布；此時輸出可以預測。特殊原因：必須排除，偶然發生、影響顯著；此時將有不可預測方式影響輸出。生產過程控制就是要清除系統性因素（特殊原因）。第四節 局部措施和對系統采取措施局部措施：針對特殊原因由直接操作人采取適當糾正措施。此時大約可糾正15%的過程問題。系統措施：解決變差的普通原因，由管理人員來采取措施。此時大約可糾正85%的過程問題。采取措施類型不正確，將給機構帶來在的損失，勞而無功，延誤問題的解決。

4、第五節 過程控制和過程能力過程控制系統的目標：對影響過程的措施作出經濟合理的決定， 處理好兩種變差原因的風險。 （例圖）過程控制系統的作用：當出現變差的特殊原因時提供統計信號， 從而采取適當的措施。過程分類：控 制滿足要求受控不受控可接受1類3類不可接受2類4類利用量化的過程性能，反映能否滿足顧客要求的能力。例如：Cp 和Cpk第六節 過程改進循環與過程控制 （例圖）第七節 控制圖：過程控制的工具 （例圖）第八節 控制圖的益處l 控制圖是了解過程變差并幫助達到統計控制狀態的有效工具；l 達到質量水平的穩定的成本；l 控制圖提供了通用的語言；l 控制圖減少混淆、挫折以與誤導性解決問題的努力而造成

5、的高成本。總 結：SPC對象：過程過程測量利用控制圖分析了解過程狀態特殊原因受控與否 N Y 控制/改進計算過程能力CPK普通原因是否滿足 N Y 改進保持第二章 計量型數據控制圖計量型數據的控制圖應用廣泛的原因：1. 大多過程和其輸出具有可測量的特性，所以其潛在應用很廣；2. 量化的值比簡單的是否述包含的信息更多；3. 雖然獲得一個測得的數據比獲得一個通過或不通過的數據成本高，但為了獲得更多的有關過程的信息而需要檢查的件數卻較少，因此，在某些情況下測量的費用更低；4. 由于在作出可靠的決定之前，只需檢查少量產品，因此可以縮短零件生產和采取糾正措施之間的時間間隔；5. 用計量型數據，可以分析一

6、個過程的性能，可以量化所作的改進，即使每個單值都在規限界之。統計過程控制有效性評價：-過程質量是否達到受控狀態 -過程能力是否達到規定要求第一節 均值和極差圖（XR圖）準備工作：l 建立適合于實施的環境l 定義過程l 確定待管理（作圖）的特性應考慮： 顧客的需求 當前與潛在的問題區域 特性間的相互關系l 確定測量系統l 使不必要的變差最小化l 確定需要控制的質量特性 能定量的質量特性 與生產和使用關系重大的質量特性 對下道工序影響較大的質量特性 經常出問題的質量特性 l 分析生產過程 掌握規對所選擇的質量特性提出的要求 研究每一個生產步驟和多個特性之間的關系以說明生產過程可能發生異常的地點與起

7、因 研究所選擇質量特性的檢查方法，特別注意產生測量誤差的因素 考慮整個產品是作為同一總體還是多個總體 確定控制點計量型數據控制圖的繪制與應用：A. 收集數據A.1 選擇子組大小、頻率和數據a. 子組大小 所有的子組樣本的容量應保持恒定， 一般為45件連續生產的產品的組合；b. 子組頻率 應當在適當的時間收集足夠的子組，這樣子組才能反映潛在的變化；c. 子組數的大小 一般情況下，包含100或更多單值讀數的25或更多個的子組可以很好地用來檢驗穩定性。A.2 建立控制圖與記錄原始數據A.3 計算每個子組的均值（X）和極差（R）X （X1 + X2 + + Xn）n最大值最小值式中：X1 ，X2 為子

8、組的每個測量值。n為子組的樣本容量。A.4 選擇控制圖的刻度對于X 圖：坐標上的刻度的最大值與最小值之差至少為子組均值的最大值與最小值的2倍。對于R 圖：刻度值應從最低值為0開始到最大值之間的差值為初始階段所遇到的最大極差的2倍。A.5 將均值和極差畫到控制圖上B. 計算控制限B.1 計算R與X=R1 + R2+ +RKRK=X1+X2+ +XKXKB.2 計算控制限 UCLR=D4R LCLR=D3R UCLX=X A2R LCLX=X A2RB.3 在控制圖上作出平均值和極差控制限的控制線. 過程控制解釋.1 分析用控制圖受控狀態的判斷準則： 連續25個點都在控制界限，或 連續35個點中，

9、在控制界限外的點不超過1個點，或 連續100個點中，在控制界限外的點不超過2個點，且 點子無非隨機排列。非隨機排列情況： 點子屢屢接近控制界限（在2外的圍）a. 連接3個點中，至少有2個點接近界限b. 連接7個點中，至少有3個點接近界限c. 連接10個點中，至少有4個點接近界限 連（控制圖中心線一側連續出現的點）長（點子的數目）不少于7 間斷的連a. 連續11個點中，至少有10個點在中心線的一側b. 連續14個點中，至少有12個點在中心線的一側c. 連續17個點中，至少有14個點在中心線的一側d. 連續20個點中，至少有16個點在中心線的一側 連續6個點中，至少有5個點超過中心線一側的1界限

10、連續不少于7個點的上升或下降.2 識別并標注特殊原因.3 重新計算控制極限D. 過程能力解釋D.1 計算過程的標準偏差 = R/d2 =R/d2D.2 計算過程能力 Cp =（USL LSL）/（6R/d2）注：僅限于公差中心與過程中心重合。SL：規界限 當Cp< 1 能力不合格； 當Cp> 1 能力合格； CPU=（USL X）/（3R/d2） CPL=（X - LSL）/（3R/d2） Cpk =Zmin/3=CPU或CPL的最小值D.3 評價過程能力 基本目標：對過程的性能進行持續改進，首先應考慮的是哪些過程應優先獲得注意。 未滿足要求的措施：l 通過減少普通原因引起的變差或將過程均值調整到接近目標值方法來改進過程性能； 臨時措施：l 對輸出進行篩選，根據需要進行報廢或返工處置；l 改變規使之與過程性能一致。D.4