1、編號no. 2812共 頁檢 驗 記 錄產 品 名 稱name of sample智能讀卡鎖商 標 型 號trade mark & type chd1200m制 造 廠 商manufacturer深圳市紐貝爾電子有限公司委 托 單 位client深圳市紐貝爾電子有限公司檢 驗 類 別test sort委托檢 驗 項 目test item靜電放電抗擾度、電快速瞬變脈沖群抗擾度、浪涌（沖擊）抗擾度深圳電子產品質量檢測中心shenzhen electronic product quality testing center報告編號：2811068 第 頁 共 頁深 圳 電 子 產 品 質 量 檢 測

2、中 心檢 驗 記 錄第 2 頁 共 頁 樣品名稱智能讀卡鎖商 標/制造廠商深圳市紐貝爾電子有限公司型號規格chd1200m委托單位深圳市紐貝爾電子有限公司取樣方式委托人送樣抽樣單位/抽樣母數1臺抽樣地點/樣品數量1臺生產日期-抽樣日期/送檢日期2008年11月14日檢驗日期2008年11月14日-2008年12月4日檢驗環境1535 4575%rh樣品說明: 檢測樣品1臺，檢測編號：1#，檢測前后樣品外觀完好，功能正常。測試時供電電壓：dc 12v 檢驗項目:靜電放電抗擾度、浪涌（沖擊）抗擾度、電快速瞬變脈沖群抗擾度檢測依據:iec 61000-4-5:2005、iec 61000-4-2：2

3、001、iec 61000-4-4-2004、企業要求檢驗概況:依據標準和企業要求對1臺樣品分別進行了靜電放電抗擾度、浪涌（沖擊）抗擾度、電快速瞬變脈沖群抗擾度共3項的檢測，測試結果均符合企業要求。詳見后頁。檢驗結論: 共檢3項，3項均符合企業要求檢驗負責人：審核：批準：職務：年 月 日年 月 日年 月 日 抗擾度試驗判據說明：序號判定準則類別說明1判據a試驗中eut在規范極限值內性能正常2判據b試驗中eut功能或性能暫時降低或喪失，但能自行恢復3判據c試驗中eut功能或性能暫時降低或喪失，但需操作者干預或系統重調(或復位)4判據d試驗中eut因裝置(或元件)損壞而不可恢復的功能降低或喪失檢驗

4、項目：浪涌（沖擊）抗擾度試驗依據標準：iec 61000-4-5:2005 、企業要求產品名稱：智能讀卡鎖 商標型號：chd1200m 樣品編號：1#試驗條件：溫度： 23 ， 濕度： 52 %rh， 正常大氣壓。 電磁條件保證受試設備正常工作，并不影響試驗結果。eut狀態：試驗前工作正常，試驗中受試設備刷卡及rs485命令開鎖正常，使受試設備處于正常工作狀態。試驗等級：在受試設備的dc電源和信號線端口：正-負：電壓峰值2kv，開路電壓波形1.2/50s（短路電流波形8/20s），2內阻正（或負）-地：電壓峰值2kv，開路電壓波形1.2/50s（短路電流波形8/20s），12內阻信號線對線：電

5、壓峰值2kv，開路電壓波形1.2/50s（短路電流波形8/20s），15內阻信號線對地：電壓峰值2kv，開路電壓波形1.2/50s（短路電流波形8/20s），15內阻要求符合性能判據b。試驗布置：嚴格按標準要求。試驗過程：浪涌（沖擊）電壓施加在eut的dc電源和信號線端口，60秒鐘一次，正、負極性各做5次。試驗電壓由低等級增加到規定的試驗等級，較低等級均應滿足要求。eut表現：在整個試驗過程中沒有出現危險或不安全的后果，試驗中及試驗后，eut工作正常，表現出抗擾能力。符合性能判據 a 。描述如下：受試設備在試驗前正常工作，試驗中及試驗后eut工作正常。符合性能判據要求。檢 驗 人： 校 核 人

6、：檢驗日期： 校核日期：報告編號： 第 頁 共 頁抗擾度試驗判據說明：序號判定準則類別說明1判據a試驗中eut在規范極限值內性能正常2判據b試驗中eut功能或性能暫時降低或喪失，但能自行恢復3判據c試驗中eut功能或性能暫時降低或喪失，但需操作者干預或系統重調(或復位)4判據d試驗中eut因裝置(或元件)損壞而不可恢復的功能降低或喪失檢驗項目：靜電放電抗擾度試驗依據標準：iec 61000-4-2：2001 、企業要求產品名稱：智能讀卡鎖 商標型號：chd1200m 樣品編號：1#試驗條件：溫度 24 ，濕度： 52 rh ，正常大氣壓。 電磁條件保證受試設備正常工作，并不影響試驗結果。eut

7、狀態：試驗前工作正常，試驗中受試設備刷卡及rs485命令開鎖正常。，使受試設備處于正常工作狀態。試驗等級：a) 接觸放電：試驗電壓6kv。 b) 空氣放電：試驗電壓8kv。要求符合性能判據 b 。試驗布置：嚴格按標準要求。試驗過程：a) 對eut可接觸的導電表面、螺釘、端口等金屬體進行接觸放電，分別選擇4個以上試驗點進行（每點至少50次，正負極性各25次），其中一個試驗點承受水平耦合板前邊緣中心距eut 0.1m處至少50次間接（接觸）放電。試驗電壓4kv，用尖端接觸放電槍頭，最大放電重復頻率為1次/s。試驗電壓應從最小值逐漸增加至規定的試驗值，以確定故障的臨界值。 b) 對eut可接觸的殼體

8、表面，按鍵、指示燈、顯示屏、殼體等的縫隙進行空氣放電，分別選擇3個以上試驗點，每點進行至少20次單次放電，正負極性各10次，試驗電壓8kv，用圓形空氣放電槍頭。試驗電壓應從最小值逐漸增加至規定的試驗值，以確定故障的臨界值。eut表現：在整個試驗過程中沒有出現危險或不安全的后果，表現出抗擾能力，符合性能判據 b 。描述如下：受試設備在試驗前正常工作，試驗中及試驗后受試設備工作正常。符合性能判據要求。檢 驗 人： 校 核 人：檢驗日期： 校核日期： 報告編號： 第 頁 共 頁抗擾度試驗判據說明：序號判定準則類別說明1判據a試驗中eut在規范極限值內性能正常2判據b試驗中eut功能或性能暫時降低或喪

9、失，但能自行恢復3判據c試驗中eut功能或性能暫時降低或喪失，但需操作者干預或系統重調(或復位)4判據d試驗中eut因裝置(或元件)損壞而不可恢復的功能降低或喪失檢驗項目：電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗依據標準：iec 61000-4-4-2004、企業要求產品名稱：智能讀卡鎖 商標型號：chd1200m 樣品編號：1#試驗條件：溫度： 23 ， 濕度： 52 %rh， 正常大氣壓。 電磁條件保證受試設備正常工作，并不影響試驗結果。eut狀態：試驗前工作正常，試驗中受試設備刷卡及rs485命令開鎖正常。，使受試設備處于正常工作狀態。試驗等級：在eut供電電源端口：線對線和線對地：試驗電壓峰值2kv

10、；重復頻率2.5khz，5/50ns tr/td脈沖群波形。脈沖群持續時間、周期分別為15ms，300ms。要求符合性能判據b。在信號線端口，通過電容耦合鉗耦合：試驗電壓峰值2kv；重復頻率5khz，5/50ns tr/td脈沖群波形。脈沖群持續時間、周期分別為15ms，300ms。要求符合性能判據b。試驗布置：嚴格按標準要求。試驗過程：eut的電源插入電快速瞬變脈沖群發生器的eut插座端口，加峰值為2kv的試驗電壓，分別加在+、-和+/-線、地線上，每根線上的試驗持續時間為1分鐘，分別進行正負極性試驗。 eut的信號線放入電快速瞬變脈沖群發生器的電容耦合鉗里，通過耦合，加峰值為2kv的試驗電

11、壓，試驗持續時間為1分鐘，分別進行正負極性試驗。eut表現：在整個試驗過程中沒有出現危險或不安全的后果，試驗中及試驗后，eut工作完全正常，表現出抗擾能力。符合性能判據 b 。描述如下：受試設備在試驗前正常工作，試驗中及試驗后受試設備工作正常。符合性能判據要求。檢 驗 人： 校 核 人：檢驗日期： 校核日期：試驗儀器設備清單序號名稱型號編號有效日期本次使用21靜電放電測試儀pesd 1600a01031082009.06.1022電快速瞬變測試儀peft juniora01031102009.06.1023電容耦合鉗ip4aa01032082006.06.1025雷擊測試儀tss 500 m10a07125112009.11.1926浪涌脈沖發生器vcs500 m10a07125092009.11.1927浪涌耦合網絡cnv503 s9a07125102009.11.19注：打“”為本次試驗使用儀器、設備，所有儀器、設備均在校準有效期內。檢查人：檢驗報告審批登記表qr-31 工作任務通知書28-4271檢驗報告編號產 品 名 稱智能讀卡