中華人民共和國國家計量檢定規程53本底、013測量儀53家質量監督檢驗檢疫總局發布 中國質檢出版社出版發行北京市朝陽區和平里西街甲2號(100013)北京市西城區三里河北街16號(100045)010)64275323發行中心:(010)51780235讀者服務部:(010)68523946中國標準出版社秦皇島印刷廠印刷各地新華書店經銷* 開本8806 印張1字數22千字2013年12月第一版2013年12月第一次印刷* 書號155026 010)53本底、0.。陰部歸55啃七of 口單位53規程起草人國計量科學研究院)梁瑭成(中國計量科學研究院)何林鋒(上海市計量測試技術研究院)陳靖(中國計量科學研究院)53錄99。，。白酬地樣果仁式結格檢報位處錄/荒求求識制的己書確且L慨附加丹江擺擺出時宮附加圍用語術計述量儀探重串用外量檢檢檢檢檢53002一2010(國家計量檢定規程編寫規則、(通用計量術語及定義、1一2012(測量不確定度評定與表示共同構成支撐本規程修訂工作的基礎性系列規范。與編輯性修改外，本規程主要技術變化如下測量儀的分級;一一取消要求受檢用戶提供一一取消穩定性檢定7. 3. 2 , 7. 3. 3 , E 53本底、圍本規程適用于采用固體閃爍探測器和半導體探測器的低本底、日測量儀的首次檢定、后續檢定和使用中檢查，不適用于流氣正比計數器以及液體閃爍計數器等類型測量儀器的檢定。2 引用文件本規程引用下列文件035離輻射計量術語及定義 11682本底和/或697: 2008 水質元鹽水中總of in 85892009環境中放射性活度測量土壤第6部分in : of 凡是注日期的引用文件，僅注日期的版本適用于本規程;凡是不注日期的引用文件，其最新版本包括所有的修改單適用于本規程。3 術語和計量單位3. 1 術語3. 1. 1 儀器本底器正常工作狀態下，測量元放射性污染的空樣品盤時的示值。3. 1. 2 表面發射率射源在2球面度內的發射率。3. 1. 3 標準平面源質和活度在某一確定的時間內都是已知的，并能用作參考的固態平面放射源。3. 1. 4 探測效率一定探測條件下，探測器測得的計數率與被測源發射率的比值。3. 1. 5 串道比儀器測量單一或目標準源時，在自道或道的計數與和1 源表面發射率每分鐘2球面度，符號(211。位面積平均本底計數率每平方厘米分鐘，符號 53 概述低本底、號處理單元和屏蔽單元等組成。測量時，探測器記錄人射的、自粒子，計數率與樣品中核素活度成正比。探測器單元由主探測器、反符合探測器等構成，置于屏蔽單元內。信號處理單元由計算機和測量主機構成。屏蔽單元一般由鉛和鋼等材料制成。低本底、自測量儀主要應用于水質監測、食品衛生、環境放射性評價與輻射防護等領域。5 計量性能要求5. 1 儀器本底5. 1. 1 單位面積，5. 1. 2 單位面霉的5. 2 探測效6. 1. 1 儀器外觀不應6. 1. 2 儀器應標明制造等信息，其標識應牢固、清晰。7 計量器具控制計量器具控制包括首次檢定、后續檢定和使用中檢查。7. 1 檢定條件7. 1. 1 計量標準7. 1 標準平面源標準平面源的技術指標見表1。2 531標準平面源的技術指標表面發射率擴展規格表面發射率不確定度核素2外徑;205 (5) 是=2)活性區;185 2392102 日標準平面源目標準平面源的技核素90 (k=2) 7. 1. 2 7. 1. 2. 4 定檢定項檢定項目外觀和標識儀器本底探測效率重復性串道比+一+一+一+使用中檢查+ + + + +一+一+一+注+為應檢定的項目一為可不檢定的項目。定方法7. 3. 1 外觀和標識目測被檢儀器外觀， 儀器本底被檢低本底、自測量儀開機預熱至少30元放射性核素污染的樣品盤放人53量室進行本底測量。測量時間一般不少于24h，或的累計計數不小于25，目的累計計數不小于100，按式(1)計算被檢儀器的本底。-、，T = B (1) 式中自本底計數率，一(或)本底總計數;一(或自)本底累計測量時間， 探測效率將(或自)標準平面源置于樣品盤中心，使源表面盡量接近但不超過樣品盤的上沿，固定平面源。設置儀器的測量次數及單次測量時間，使得用于計算探測效率的累計總計數不小于40000，按式(2)計算被檢儀器的探測效率。lT ()X 100% ) ) (2) 式中一儀器(或自探測效率;)一一(或自)累計計數;)一一測量(或自)源的累計時間，一(或)標準平面源在檢定時的表面發射率，(211。探測效率檢定結果應給出擴展不確定度。復性重復性測量條件下，用被檢儀器測量(或自)標準平面源，設置單次測量時間使得單次測量計數約為4000左右，重復測量不少于10次，按式(3)計算相對實驗標準差。v=豐X 三()2 $=1咱l (3) 式中i= 1 , 2 , 3. , n ( 串道比根據探測效率測量數據，按式(4)計算射線對式(5)計算自射線對道的串道比。Na a L=) 4 53liR a 問=叫一一測量標準平面源時，道的計數;凡一一測量標準平面源時，道的計數;問一道的計數霄定結果的處理檢定合格的低果;檢定不合格低(5) 5 53錄測量儀檢定記錄儀器名稱型號/規格出廠編號生產廠家檢定日期證書編號檢定依據的技術文件檢定環境條件溫度z 相對濕度z% 環境h 1 標準平面源目標準平面源檢定項目檢定結果合格判定外觀和標識合格口不合格口測量時間有效探測計數率總計數儀器積 底 合格口不合格口合格口不合格口 合格口不合格口重復性日合格口不合格口測量時間累計計數凈計數探測效探測，道合格口不合格口自源，自道合格口不合格口串道比%串道比源，自道合格口不合格口道合格口不合格口檢定結論合格口不合格口檢定員核驗員6 53錄定證書第三頁式樣序號一1 2 3 4 5 檢定結論一一一一一一一一一一一一上一一一旦旦一一一一一7 53定結果通知書第三頁式樣序號1 2 3 一一 檢定不合格項目 證書編號53錄此在測量中引人的不確定度稱為統計不確定度。由于存在此項不確定度，同樣條件下的測量結果只能在某一誤差范圍內一致。由原子核衰變規律引起的測量誤差是一項隨機誤差，與采用何種測量儀器元關。這項隨機誤差對于評估測量結果的可靠性具有重要意義，以下介紹統計不確定度的計算方法。如果對放射性樣品發射的粒子數進行無限多次重復測量，那么測量結果將服從泊松分布，中，軸表示出現某一測量值的概率。Y n n+n+2x 學期望)的偏差限用標準偏差的倍數k表示。根據泊松分布規律，如果某一時間段的測量總計數為n，那么標準偏差為z=C. l) 測量結果的誤差限為土是吟，k()到n+ 一一1. 65 53準偏差與測量總汁數=毛2) 氣為實際測量的次數總