中華人民共和國國家計量技術規范

JJF1763—2019

低本底α、β測量儀型式評價大綱

ProramofPatternEvaluationofLowBackroundα

gg、β

MeasuringInstruments

2019-09-27發布2019-12-27實施

國家市場監督管理總局發布

JJF1763—2019

低本底、測量儀型式評價大綱??

αβ???????????????

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ProgramofPatternEvaluationofLowBack-JJF17632019

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roundαMeasurinInstruments

g、βg

歸口單位全國電離輻射計量技術委員會

:

主要起草單位中國測試技術研究院

:

上海市計量測試技術研究院

中國計量科學研究院

參加起草單位湖北省計量測試技術研究院

:

本規范委托全國電離輻射計量技術委員會負責解釋

JJF1763—2019

本規范主要起草人

:

于兵中國測試技術研究院

()

唐方東上海市計量測試技術研究院

()

梁珺成中國計量科學研究院

()

參加起草人

:

石曙光湖北省計量測試技術研究院

()

何林鋒上海市計量測試技術研究院

()

王巍中國測試技術研究院

()

但玉娟中國測試技術研究院

()

JJF1763—2019

目錄

引言

………………………(Ⅱ)

范圍

1…………………(1)

引用文件

2……………(1)

術語

3…………………(1)

探測器靈敏面積

3.1…………………(1)

概述

4…………………(1)

法制管理要求

5………………………(2)

計量單位

5.1…………(2)

關于計量法制標志和計量器具標識的要求

5.2……(2)

計量要求

6……………(2)

儀器本底

6.1…………(2)

探測效率

6.2…………(2)

重復性

6.3……………(2)

串道比

6.4……………(2)

通用技術要求

7………………………(2)

外觀與結構

7.1………………………(2)

功能性要求

7.2………………………(3)

環境適應性

7.3………………………(3)

型式評價項目表

8……………………(3)

提供樣機的數量及樣機的使用方法

9………………(4)

提供樣機的數量

9.1…………………(4)

樣機的使用方法

9.2…………………(4)

試驗項目的試驗方法和條件以及數據處理和合格判據

10…………(4)

計量性能檢查

10.1……………………(4)

外觀結構與功能性要求

10.2、………(7)

環境適應性

10.3………………………(7)

試驗項目所用計量器具和設備表

11…………………(10)

型式評價結果的判定

12………………(10)

型式評價記錄格式

13…………………(10)

附錄型式評價記錄格式

A…………(11)

Ⅰ

JJF1763—2019

引言

本型式評價大綱依據計量器具型式評價通用規范和計量器

JJF1015《》JJF1016《

具型式評價大綱編寫導則以及通用計量術語及定義的規定編寫

》JJF1001《》。

本型式評價大綱的技術指標和試驗方法參考了低本底測量

JJG853—2013《α、β

儀低本底和或測量儀等技術法規

》、GB/T11682《α/β》。

本型式評價大綱為首次發布

。

Ⅱ

JJF1763—2019

低本底α、β測量儀型式評價大綱

1范圍

本型式評價大綱適用于計量器具分類編碼為的低本底測量儀的型式

37061500α、β

評價

。

本型式評價大綱不適用于流氣正比計數器總總測量儀和能譜測量儀的型

α、βα、β

式評價

。

2引用文件

本型式評價大綱引用下列文件

:

低本底測量儀

JJG853—2013α、β

通用計量術語及定義

JJF1001

電子測量儀器通用規范

GB/T6587

低本底和或測量儀

GB/T11682α/β

核儀器及系統安全要求第部分通用要求

GB/T19661.11:

凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本型式評價大綱凡是不注日期的

,;

引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本型式評價大綱

,()。

3術語

和中界定的術語和定義及以下術語和定義適用于本型式評

JJF1001JJG853—2013

價大綱

。

探測器靈敏面積

3.1sensitivesurfaceofadetector

探測器中對輻射靈敏并用于探測的那部分面積

。

4概述

低本底測量儀主要用于各種樣品中放射性活度測量該儀器采用質量

α、βα、β。、

體積較大的鉛屏蔽體在實驗室內使用

,。

低本底測量儀主要由探測器單元屏蔽單元測量和數據處理單元組成探

α、β