序文 1 12引用規格 23用語,定義,記號及び略語 33.1用語及び定義 3 54手順の概要 64.1完全な手順 64.2簡略化した數値的及びグラフ的評価手順 65試験手順の詳細 6 6 75.3試験片の準備及び試験片の數 7 85.5暴露溫度及び暴露時間 95.6劣化処理用オーブン 95.7周囲の狀態 9 9 6.1試験データの數値解析 6.2熱的耐久特性及びその表記 6.3終點到達時間,x値及びy値 6.4平均及び分散 6.5全體の平均,分散及び回帰分析 6.8試験報告書 7簡略化した手順 7.1手順の概要 7.2試験手順 7.3暴露溫度 附屬書A(參考)ばらつき及び非直線性 25C2143-1:2011(IEC60216-1:2001)目次附屬書B(參考)暴露溫度及び暴露時間 27 29この規格は,工業標準化法第12條第1項の規定に基づき,社団法人電気學會(IEEJ)及び財団法人日本規格協會(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり,日本工業標準調査會の審議を経て,経済産業大臣が制定した日この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵觸する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査會は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実用新案権に関わる確認について,責任はもたない。JISC2143-1第1部:劣化処理手順及び試験結果の評価JISC2143-2第2部:熱的耐久性の測定一評価指標の選択日本工業規格JIS序文この規格は,2001年に第5版として発行されたIEC60216-1を基に,技術的內容及び構成を変更するこなお,この規格で側線又は點線の下線を施してある參考事項は,対応國際規格にはない事項である。この規格は,電気絶緑材料の熱的耐久性を求めるために用いる一般的な劣化処理條件及び手順の詳細にさらに,制約のある條件の下で用いる可能性がある単純化した手順も件せて規定する。この規格の中で規定した手瓜は,出気純緑材料及びそれらのり純な[合せに対して川いるために州発された。ただし,この手順は,より広範囲な応用が可能と考えられるため,電気絶緑を目的としない材料のこの規格は,あらかじめ規定した特性変化を川き起こすために必要な時問の対數とそれに対応する熱力學的溫度(絶対溫度)の逆數との間に,実質的な直線関係(アレニウス則の関係)が成り立つことを前提この規格は,試験する溫度範囲內で供試材料に転移D,特に一次転移が起きる場合には適用しないほう注1)高分子材料の場合,一次転移とガラス転移(二次転移)とがある。一次転移とは,化學変化を伴わず,気體,液體,固體などの狀態が他の相に変わることをいう。結晶性高分子の場合,構造中の結晶部分の融解が一次転移である。非結晶性高分子の場合には,相転移はないが,分子が熱エネルギーによって凍結狀態から解これら転移溫度の上下では,熱力學的な狀態が異なり,この試験方法のアレニウス則の前提この規格群の第2部以降の各部を通して,“絶緑材料”とは,常に“絶緑材料及びそれらを単純に組み合注記この規格の対応國際規格及びその対応の程度を表す記號を,次に示す。IEC60216-1:2001,Electricali2proceduresandevaluationoftestresults(IDT)IEC60216,Electricalinsulatingmaterialsの規格群には,次に示す部編成がある。Part1:Propertiesofthermalendurance—AgeingproceduresandevaluPart2:Thermalenduranceproperties—Determinationofthermalendurancepropertiesofelectricalinsulatingmaterials—ChoiceoftestcriteriaPart3:ThermalenduranceproperPart4-1:Thermalenduranceproperties—Part4-2:Thermalenduranceproperties—Ageingovens—Precisionovensforuseupto3Part4-3:Thermalenduranceproperties—AgeingovensPart5:Thermalenduranceproperties—DeterminationofrelaofaninsulatingmaterialPart6:Thermalenduranceproperties—Deteofaninsulatingmaterialusingthefixedtimeframemethod次に揭げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの引用規格のうちで,西層年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)は適用しない。西層年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。注記対応國際規格:IEC60212:1971,StandardconditionsforusepriortoandduringJISC2143-2電気絶緑材料一熱的耐久性一第2部:熱的耐久性の測定一評価指標の選択注記対応國際規格:IEC60216-2:2005,Electricalinsulatingmaterials—Thermalenduranceproperties—Part2:Determinationofthermalendurancepropertiesofelectricalinsulatingmaterials—ChoiceofIEC60050-212:1990,InIEC60216-3,Electricalinsulatingmaterials—ThermalcalculatingthermalendurancechaIEC60216-4(allparts),ElectricalinsulIEC60216-4-1:2006,Electricalinsulatingm—Single-chamberovens3ofnormallydistributedtestresults3用語,定義,記號及び略語この規格で用いる主な用語及び定義は,次による。溫度指數(temperatureindex),TI20000時間(又はその他の規定する時間)における熱的耐久性の関係から導く溫度(℃)の數値。半滅溫度幅(halvinginterval),HC溫度指數に等しい溫度と,溫度指數に等しい溫度で得た終點到達時間の半分の時間から求めた溫度(半減溫度)との溫度間隔(K)の數値(図4參照)。熱的耐久性試験で,規定する終點到達時間の対數(況軸)と,試験した熱力學的溫度(絶対溫度)の逆熱的耐久グラフ用紙(thermalendurancegrap軸に,熱力學的溫度(絶対溫度)の逆數の目盛をもつグラフ用紙。橫軸には,一般に左から右に溫度が増す方向に合わせた非均等な溫度川盛(℃)を餅記する.(図.4.參照)。注記…橫軸の熱力學的溫度(絶対溫度)の逆數は,左から右に滅少する方向をとる?！瓟盗肖沃肖?適切な方向で各要素がその前の要素より大きいか又は等しくなるように順序正しく並べ変注記この規格中での増加方向とは,データをこの方向に順序付けたとき,最初の順序統計量は最小順序データで,一連の中の數で表した位置によって同じものとみなすことができるセットのそれぞれのある境界位置から上及び/又は下の値が未知である順序データ。4打切りデータ(censoreddata)統計量の上又は下から始まる場合は,打切りはタイプ2である。この規格は,タイプ2だけ注記2規定支る劣化処理時間後に試験を終了丈る志“定時打切2”又“久工1途中打切2”といい.規定する試験片數が故障した後に試験を終了するとき.“定數打切?”又は“タイプ2.途中打切Ω”という。データセットの不偏分散(varianceofadataset)一つ又はそれ以上のパラメータによって定義した照合水準からのデータ偏差の平方の和を,自由度の數注記照合水準は,例えば,平均値(1パラメータ)又は直線(2パラメータ,勾配及び切片)である。データセットの共分散(covarianceofdataset)一つのデータセットの各要素が互いに対応する等しい數のその他の要素からなる二つのデータセットについて,各データセットの平均からの要素の偏差を,対応するデータセット間で積算し,その合計を自由回帰分析(regressionanalysis)二つのデータグループの対応する要素の川の閃係を示す取適正線を想定し,その血線とグループの一つの要素との偏差の平方の和が最小になるように,最適直線を導く過程。注記パラメータは,回帰係數を指す。相関係數(correlationcoefficient)二つのデータセットの要素間の関係の完全性を表す數。相関係數は,共分散をデータセットの分散の積注記この平方の値は,0(相関なし)と1(完全な相関)との間である。信頼限界(confidencelimit),TC溫度指數によって想定できる溫度指數の真の值について,95%の信頼度をもって下限を示す試験データ注記195%信頼度とは,溫度指數の真の值が実際に信頼限界よりも小さくなる可能性が5%だけで注記2例えば,破壊試験の直線性検定のように,あるときには95%以外の信頼度の値を用いること5特性測定によって試験片が非可逆的な変化を受け,同一試験片での繰り返し測定をすることができない測定によって試験片の性質が永久的な変化をせず,適切な取扱いの後,同一試験片で更なる測定をする保証試験(prooftest)各劣化処理サイクル[4.1c)參照]の終わりで,各試験片に規定のストレスを加えて試験片が壊れるま注記…瞭昧さのリス久がない場合,溫度グループヌは貳験グル一ズを.単にグループという...3.2記號及び略語この規格で用いる主な記號及び略語は,次による。a,b回帰係數7.6.2a,b,c,d破壊試験での試験片數5.3.2.3,7.2.3N試験片の數5.3.2.3,7.2.3m;溫度グループiの試験片數(打切りデータ) r相関係數 Fフィッシャー分布した統計的変數 x熱力學的溫度の逆數(1/0) y終點到達時間の対數 ②熱力學的溫度(ケルビン) O?0℃のケルビンの値(273.15K) T(終點到達)時間6.6.1,6.7,7.6.4μ?値のグループの2次中央モーメント6.5,7.6.3TI溫度指數3.1.1,6.2,6.6.1,7.6.4,7.6.6TC溫度指數の下側95%信頼限界3.1.14,6.6.16HIC溫度指數と等しい溫度での半滅溫度幅…………3.1.2,6.2,6.6.1,7.6.4,7.6.64手順の概要4.1完全な手順材料の熱的特性評価の完全な手順は,次のa)～g)による。注記a)～g)及び簡條5の全ての評価手順を適用することが望ましい。IEC60216-3に規定する計算は,手動計算機で行うと複雑で冗長なため,IEC60216-3には作業を非常に単純化し,加えてコンピュータスクリーン上に熱的耐久グラフを表示するコンピュータプログラムについての記b)幾つか設定した高溫度における試験片グループの劣化処理。このときの高溫度劣化理,又は試験片が室溫若しくはその他の決めた溫度に定期的に戻るような,周期的劣化処理であってもよい(5.5參照)。c)劣化の程度を評価するための,試験片への特性試験の実施。特性試験には,特性の非破壊的測定,破d)規定の終點まで,例えば,試験片が破壊するか又は測定特性が一定水準値に到達するまでの,連続的熱暴露又は周期的熱暴露の継続(5.1,5.2e)連続的又は周期的な劣化処理方法及び特性試験[c)參照]の種類に応じた,各試験片に関する劣化曲線,終點到達時間,終點到達の周期などの試験結果の報告。D6.1及び6.8に規定する,これらのデータの數低的な評試験及び評価の完全な手順は,簡條5～簡條6に規定する。4.2簡略化した數値的及びグラフ的評価手順材料の熱的耐久性の評価には,データのばらつきを対象としないで直線性からの偏差だけを検定する簡略化した手順を用いることができる。これらの手順は,簡條7に規定する。また,幾つかの制限下では,熱的耐久データをグラフで評価することもできる。この場合,データのばらつきの統計的評価はできないが,直線性からのデータの偏差を評価することが重要である。グラフによる評価手順についての指針も,簡條7に規定する。5試験手順の詳細5.1試験手順の選択各試験手順では,試験片の形狀·寸法及び數,暴露溫度及び暴露時間,溫度指數に関連する特性,その測定方法,終點,経験的データから熱的耐久特性の偏差などを規定することが望ましい。選択する特性は,JISC2143-2による。試験條件をそろえるために,オーブンから取り出した後及び測定する前に,試験片の狀態調節を規定す7個別材料規格がある場合,通常,溫度指數の許容下限値を求めるための特性川を規定している。個別材料規格がない場合,熱的耐久性を評価するための特性値及び方法の選択は,JISC2143-2による(個別材料規格がなく,JISC2143-2にも規定がない場合は,國際規格,國家規格,団體規格及び特別に考えら5.1.320000時間以外での溫度指數の決定ほとんどの場合,要求される熱的耐久特性は20000時間での耐久性を前提としている。ただし,それ以外の長時間又は短時間での熱的耐久性に関連する情報が必要なことがある。200をとる場合,この規格の要求事項又は推奬事項となっている時間[例えば,5.5a)に規定する,最短終點到達時間である5000時間]を,20000時間に対する実際の規定時間に比例して増やさなければならない。同様に,劣化処理サイクル時間も,同じ比率で変えるのがよい。さらに,溫度外捕間隔は25Kを超えてはならない。20000時間より短い規定時間の場合,必要に応じて,関係する時間を同じ比率で減らしてもよ規定時間が非常に短く,かつ,より高溫の劣化処理溫度を用いる場合,ガラス転移溫度,局部的な溶融が起こる溫度など,アレニウス則の非直線性を特別な注意が必要である。規定時間が非常に長い場合は,非直線性となることもある(附屬書A參照)。電気絶緑材料は,電気絶緑システムにおける役割に応じて容易に選択できるように,異なる特性項目及びノ又は終點から導かれる耐久性データによって,熱的耐久性を示す必要がある(JISC2143-2參照)。終點の決め方は,次のいずれかの方法による。a)初期特性値からの増加又は減少の百分率をとる方法。この方法は,材料の間の比較には有効だが,通常の使川時に要求される特性値は,b)より相関が乏ほとんど特性の固定値で規定する。出気絶蘇材料が劣化した場合,出気絶緑システムの火稼働中のストレスに耐える能力が低下する。終點は,この能力の程度を示すように選択することが望ましい。試験の終點とする劣化の程度は,使用時に要劣化試験に用いる試験片は,調査する母集団から無作為に抽出して構成することが望ましく,これらの個別材料規格又は試験規格には,試験片の準備に関して必要な全ての指針が含まれている。試験片の厚さは,熱的耐久性の決定に関する特性測定項目の表の中に規定されている場合がある(JISC2143-2參照)。特性測定の項目の表の中に規定がない場合,試験片の厚さを報告しなければならない。物理的性質によっては,試験片の厚さの僅かな変化であっても影響を受けやすい。このよらに影響を受けやすい場合で,関連する個別材料規格に規定があるときには,各劣化処理サイクルの後の試験片の厚さを測定し,報告する必要がある。試験片の厚さは,劣化の速度がその厚さによって変化することがあり,試験要因として重要である。試験片の厚さが異なる材料の劣化データは,必ずしも比較できるとは限らない。したがって,試験する材料は,異なる試験片の厚さによる特性の測定から求めた二つ以上の熱的耐久性を評価する方がよい。8試験片の寸法の許容差は,一般の試験で通常に用いるものと同じであり,試験片の寸法に通常より小さな許容光が必要な場合,特別な許容光を與えるのがよい。スクリーニング試験を行うことによって,試験加工工程が,材料の劣化特性に頭著に影響することがあり,サンプル抽出,調達ロールからのシートの切斷,與えられた方向での異方性材料の切出し,成形方法,硬化方法,前処理などは,全ての試験片につ耐久性試験結果の精度は,各溫度で劣化を受けた試験片の數に大きく依存する。試験片の適切な數につ~5.3.2.3)を適用する。試験片を追加して用意しておくこと,又は少なくともそれらの試験片を後で用意できるような原材料バッチを保存しておくことが,望ましい。これによって,熱的耐久性が直線から外れたり,又はオーブンの熱的暴走によって試験片が使用できなくなったりする不測の事態が発生した場合,追加の劣化処理試験に非破壊試験又は保証試験での判定基準が初期特性値に基づく場合,初期特性値は,各溫度グループでの試験片の數は,ほとんどの場合,各暴露溫度で5個で十分である。それ以上の洋細な手川きは,IEC試験片の數は,ほとんどの場合,各築鐵溫度について11個以上が必要である。グラフによる処理又はその他の幾つかの処理では,各グループの試験片の數が奇數の場合,データの取扱いはより簡単になる。そ試験片の數は,次の式によって求める。a:一つの溫度で同じ処理を受け,特性評価後に廃棄する試験グループの試験片の數(通常a=5)b:一つの溫度での,例えば,暴露時問の水準の數のような処到の數c:劣化処理の溫度水準の數定基準が,初期値からの特性の変化率(パーセント)の場合,通常は,d=2aとする。判定基準が絶対的な特初期値の報告を要求されない限り,d=0とする。初期特性値を測定する試験片は,劣化試験に用意した試験片から,無作為に抽出したグループを構成するように送定する。この試験片は,特性値を決定する前に,最も低い劣化処理溫度(5.5參照)で2日I1(48時間士6時間)狀態調節を行う。注記例えば,非常に厚い試験片などの場合,安定な値を得るためには2日間以上の時間が必要とな9特性の測定方法について,特に規定(例えば,試験方法に関係する個別材料規格,又はJISC2143-2に規定する方法。)がない場合,初期特性値には試験結果の算術平均を用いる。溫度指數の決定には,終點到達時間の対數と熱力學的溫度(絶対溫度)の逆數との間に直線関係を立証適切な熱的耐久特性の計算で不確かさを低減するには,熱暴露の溫度範囲を慎重に選び,次の要求事項a)溫度指數の決定に當たり,最も低い暴露溫度は,終點到達時間の平均値又は中央値が5000時間を超b)溫度指數の確定に必要な外揮は,25Kを超えてはならない。c)最も高い暴露溫度は,終點到達時間の平均値又は中央値が100時間を超える(可能な場合,500時間未満)となる溫度とする。注記材料によっては,十分な直線性をもちながら500時間未満の終點到達時間に至らないもる。ただし,データのばらつきが同程度でも,終點到達の平均時間の範囲が狹いと信頼區間を非破壊試験,保証試験又は破壊試験において,試験をどのように進めるかの詳細な手順は,5.8による。表1に,最初の選択をするための手引きを示す。暴露時間及び暴露溫度の設び提案は,附屬書Bに記載する。劣化処理用オーブンは,加熱劣化処理の期間を通して,試験片を入れる空間を,IEC60216-4の規格群に規定する許容差の溫度に保持しなければならない。特に処理川オーブンに関する規定がない場合,IECオーブン中の空気循環及び換気は,分解生成物の蓄積又は酸素濃度の低下によって,熱劣化速度に影響がないように通切に行うことがましい(5.7參照)。高濕度,化學的汚染,振動など,これら特殊な周囲の狀態の影響は,多くの場合,電気絶緑システムの試験において,より適切な方法で評価する。ただし,周囲の狀態,空気以外の雰囲気,油のような液體浸せき(漬)の影響などの狀態調節は重要と思われるが,この規格の対象外とする。特に劣化処理の雰囲気條件に関する規定がない場合,劣化処理は,通常の試験室の雰囲気中で運転するオーブン中で行う。ただし,オーブン中の濕度に非常に敏感な幾つかの材料の場合には,劣化処理オーブより信頼できる結果が得られる。このような狀態又はその他の特殊な條件は,報告する。特に特性測定の條件に関する規定がない場合,試験片は,測定前に個別材料規格に規定する條件で狀態調節を行い,個別材料規格に規定する條件下で測定を行う。ここでは,次の試験を実施するための手順について規定する。a)非破壊試験b)保証試験5.4の規定によって初期特性値を決定する。試験片は,無作為に抽出することによって,暴露溫度の水準と5.6の規定に従い,表1から選んだ溫度にできるだけ近い溫度に保ったそれぞれのオーブンに,注記1各試験の後,個々の試験片を正しいオーブンに容易に戻せるように,見分けがつくようにし注記2附屬書Bの記載內容に従い,追加の溫度水準で早めに劣化試験が開始できるように,5.3の特に非破壊試験を用いる場合の手順に関する規定がない場合,各暴露サイクルの後に,それぞれのオーブンから試験片グループを取り出し,室溫まで冷卻する(5.7參照)。試験項目によってオーブンの溫度における測定が必要な場合もある。この場合,劣化を継続する。各試験片に適切な測定を行った後,試験片のグループを同じ溫度の元のオーブンに戻し,以降のサイクルに暴露する。溫度暴露,冷卻及び非破壊試験を,グループ中の試験片の測定値の平均が規定の終點に到達し,終點を超える測定値が1點以上得られるまで続ける。6.1及びIEC60216-3の簡條6(Caliculationprocedures)に規定するように結果を評価し,6.8の規定のよ保証試験の手順で用いる試験片は,保証試験によるスクリーニング検査に合格したものから無作為に抽各暴露サイクルの後に,オーブンから全ての試験片を取り出す。取り出した全ての試験片を空溫まで冷卻し,規定の保証試験を実施する。保証試験に耐えた試験片は,それらを取り出した同じ溫度の元のオーブンに戻し,以降のサイクルの試験のために暴露する。溫度暴露,冷卻及び保証試験を,破壊した試験片の數が試験片の數の中央値を超えるまで続ける。中央値は,試験片の數mが奇數なら(m+1)/2となりサイクル目で終點到達時間に達すると想定できる場合は,初めに選択した暴露サイクルの時間を変える必要はない。このような結果が想定できない場合は,暴露サイクルの時間を変えて,結果の中央値が7サイクル以上(望ましくは約10サイクル)となるようにする。この1サイクルの時間の変更は,4サイクル目溫度暴露のサイクルを全ての試験片が不合格となるまで続けた場合,より完全な統計的分析ができる試験片の割り當てられた數(=a,7.2.3參照)の試験グループを無作為に抽出し,適切な順序で構成される規定の暴露時間後に,試験片を各オーブンから取り出す。5.5,附屬書B及び表1參照。特に破壊試験を用いる場合の手順に関する規定がない場合,オーブンから取り出した後,試験片のグループを室溫まで冷卻する。溫度又は濕度によって頭著な特性の変化が予想される材料では,特に規定がない場合,試験片をJISC2142に規定する標準界叫気Bの中で,一晩狀態謝節する。試験を行い,各試験片の試験結果及び結果の算術平均(又は結果の適切な変換値)をIEC60216-3に規定するように暴露時間のきるが(簡條7による。),それから得られる結果に,完全な解析結果と等しい統計的信頼性はない。簡略化した解析手順は,溫度指數の信頼區間を求めるに當たって,(例えば,予備的試験の結果から)実験デー夕のばらつきが溫度指數の信頼區間と比べて十分に小さいという,正當性のある根拠がある場合にだけ用溫度指數データの解析は,終點到達時間の対數と劣化処理溫度(熱力學的溫度)の逆數との間に直線関溫度指數の結果に関する評価は,図4のようなグラフ表示を件せて用いたIE的な手順によることが望ましい。ただし,統計的な要求事項に適合しないか又は何らかの理由でその方が望ましい場合には,グラフによる評価を用いることができる。この場合,結果はオーブンの平均測定溫度を用いてプロットしなければならない(附屬書Aも參照)。熱的耐久特性は,次による(6.7參照)。一溫度指數,TI電気絶緑材料の熱的耐久性は,常に電気絶緑材料のある一つの特性項目とその項目における終點との関係で決まる。そのことに刑意しない場合は,熱的耐久性の評価結果と材料の特性リとを閃係付ける意味がなくなる。なぜなら,熱劣化を受ける材料の全ての特性が,同じ速度で低下するとは限らないからである。したがって,一つの電気絶緑材料について,複數の異なる特性項目の測定結果から導かれた二つ以上完全な數值解析によって導かれた結果で,直線性及びばらつきに関する統計的な條件を満足する場合,熱的耐久性は,次のように表記する。TI(HIC):TI值(HIC值)溫度指數の値は,最も近い整數値として表し,また,半減溫度幅は小數點1桁で表す。グラフによって得られた結果の場合,又は統計的な條件を満足しない場合,熱的耐久性は,次のように溫度指數を導くに當たって20000時間と異なる時間を用いた場合,その時間を千時間単位で求め,キロ時間(kh)で表記する。熱的耐久性は,次のように表記する。例3TI40kh(HIC):131(10.0)ここに,g:劣化処理溫度(℃)グラフのおおよその直線部分を選び(図2參照),回帰線と平行に各(時間,特性値)點を通る直線を引C2143-1:2011(I破壊試験では,6.3.3のように求め,仮定のy値に同じ手順を當てはめる。6.6統計検定及びデータの要求事項b)溫度指數と最も低い加熱溫度との差は,25K以下でなければならない。もよい(詳細は,IEC60216-3參照)。データのばらつき(TI-TC)が,0.6HICと1.6HICとの間に入る場合,調整値TI?を計算し,それと通 數選択する試験は,実用上重要な特性に関連するものとし,可能な場合は個別材料規格(例えばJIsC試験片の寸法及び狀態調節の方法は,閃進する試験方法の規定に従わなければならない。a)非破壊試験の判定基準では,ほとんどの場合,各暴露溫度で5個の試験片を一つのグループとするのb)保証試験の判定基準では,各暴露溫度における一つのグループに11個以上,可能な場合,21個の試c)破壊試験の判定基準では,必要な試験片の最少個數は,次の式(4)によって求める。N=a×b×c+d……………………(4)a:一つの溫度で同じ処理を受け,特性評価後に廃棄する試験グループの試験片の數(通常a=5)b:一つの溫度での,例えば,暴露時間の水準の數のような処理の數c:劣化処理の溫度水準の數d:初期特性値を確定するために用いるグループの試定基準が,初期値からの特性の変化率(パーセント)の場合,通常はd=2aとする。判定基準が絶対的な特性水準の場合,注記1これらの規定によって試験片が膨大な數になる場合は,閃迎する試験規格から外れても,試験片の數を滅らしてもよい。ただし,試験結果の精度は,試験片の數に大きく左右されるこ注記2反対に,個々の結果が非常にばらついている場合は,統計的な精度を得るために,試験片の注記3予備試験によって,劣化試験に必要な試験片の數及び期間をおおよそ推定することが望まし試験片は,必要とする精度をもった外捕によって溫度指數を決定するために,適切な範囲の三つ以上の溫度に暴露する。最も低い暴露溫度は,終點に到達する時間が5000時間以上になるように,選択する。同様に,最も高い暴露溫度は,終點に到達する時間が,100時間以上,望ましくは500時間以下になるよ求める溫度指數を,20000時間以外に設定しようとする場合は,最も低い暴露溫度での終點に達する時適切な暴露溫度を選択するには,あらかじめ試験材料の熱劣化情報が必要である。それらの情報が入手できない場合は,熱的耐久性の評価に適切な暴露溫度を決定するのに,予備試験が有用である。劣化処理用オーブンは,特に溫度の許容差及び換気速度に関して,IEC60216-4の規格群の規定に合致熱劣化溫度に然露する試験片に加えて,次の小頭に當てる十分な數の試験片を川意する。一參照試験片として必要となる場合これらは,適切に調節した雰囲気中に保管する(JISK7100參照)。必要な場合,加熱劣化処理手順の開始前に狀態調節した必要な數の試験片で,選択した試験方法に従っ試験片の間で異なるプラスチックから生じる相互汚染の危険がある場合は,各材料について別のオーブンを用いる。破壊試験及び保証試験の場合には,試験の後,次の劣化処理のために試験片をオーブンに戻す。この手順を,調査特性の平均値が終點に到達するまで続ける。7.6簡略化した計算手順破壊試験では,各暴露溫度のそれぞれの熱劣化処理経過時間後にオーブンから取り出したグループについて,測定した特性の平均値を劣化処理時間の対數の関數としてプロットする(図2參照)。この図の終點基準を表す水平線を橫切る點を,溫度グループの終點到達時間として求める。非破壊試験では,各劣化処理経過時間後に各試験片で測定した特性値をプロットし,この図の終點基準を表す水平線を橫切る點を,試験片の終點到達時間として求める。溫度グループの終點到達時間は,試験保證試験では,各劣化処時問は劣化処理の始め及び終わりでの時問の平均として計算する。溫度グループの劣化処理時間は,保証試験で破壊した試験片の數がグループの中央値以上になったときを劣化処理サイクルの時間として求める(6.3.2も參照)。この規格の目的として推定する劣化関數は,熱力學的溫度(絶対溫度)日と特性値とが特定の変化に必日:熱力學的溫度(絶対溫度),この式(5)は,また,直線の関數として式(6 及び式(8)によって求める。があることから,式(5)～式(7)従屬変數として入力する必要注記2一般に,これらの計算機では,加算の前に時間及び溫度を入力してx及びyに変換すること注記3他の底(例えば10)の対數を用いることができるが,7.6.3で用いる値に影響する。7.6.3直線性からの偏差の計算決定係數(相関係數の平方)は,次の式(9)によって求める。これは,計算機の回帰の機能で実行できる。y値の中央2次モーメントは,次の式(10)によって求める。これは,yの標準偏差の平方を(k-1)/k倍し回帰直線からのデータ點の偏差平均は,次の式(11)によって求める。7.6.4溫度指數及び半滅溫度幅式(11)から求めたs,の仙が0.16(又は10を底とする対數を川いる場合は0.0695)未満の場合は,そこで溫度指數及び半減溫度幅が決定できる。この條件を満足しない場合は,計算を進めるに當たり,基本的な仮定からの逸脫があまりにも大きくなる。は,次の式(12)によって求める。ラフ用紙に回帰線を引く。溫度指數TI及び半減溫度幅HICの値を計算する。TI=O0000,HIC=190000注記1對応國際規格では,半減溫度幅HIC左求女る式に態用いているが.誤りと判斷して..C2143-1:2011(I注記2流度指數の汁算で20000とは具なるzを川いる場合は,上記の10000及び20000をそれぞれt/2及びzで置き換える。ここで.対応風際規格では.2.000.を用いる前提で.…t/10態用いているが.認りと判斷して..zに変更した。予思され℃一7一3一1一一7—3一1一一7一3一1一一7一3一1一一7一3一1一一7一3一1一一7一3一1——7—3—1一一7一3一1一—7一3一1一一7—3一1一一7一3一1一一7一3一1一一7一3一1一一7一3一1一一7一31注記1この表は,主として保証武験又は非破壊試験に適用するものであるが,H以上のサイウル時間を必要とする場合もある。特性值保持率%特性值保持率%図1-特性變化一各溫度の終點到達時間の求め方長方形の差込み図の詳細は,図3に示す?？跍y定點■特定値のグループ平均▲推定終點到達時間の指示點ーーーーーー回帰と平行な想定直線C2143-1:2011(IEC6022.6