• 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 2025-03-07 頒布
?正版授權(quán)
注:本標(biāo)準(zhǔn)為國際組織發(fā)行的正版標(biāo)準(zhǔn),下載后為完整內(nèi)容;本圖片為程序生成,僅供參考,介紹內(nèi)容如有偏差,以實(shí)際下載內(nèi)容為準(zhǔn)
【正版授權(quán)-英/法語版】 IEC 61000-4-2:2025 EN-FR Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-2: Testing and measurement techniques - Electrostatic discharge immunity test_第1頁
全文預(yù)覽已結(jié)束

下載本文檔

基本信息:

  • 標(biāo)準(zhǔn)號(hào):IEC 61000-4-2:2025 EN-FR
  • 標(biāo)準(zhǔn)名稱:電磁兼容性(EMC)- 第4-2部分:測試和測量技術(shù)-靜電放電抗擾度測試
  • 英文名稱:Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-2: Testing and measurement techniques - Electrostatic discharge immunity test
  • 標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行
  • 發(fā)布日期:2025-03-07

文檔簡介

試驗(yàn)和測量技術(shù)-靜電放電抗擾度測試(ESD測試)是一種測試方法,用于評(píng)估電子設(shè)備在受到靜電放電(ESD)攻擊時(shí)的性能。它涉及到模擬由瞬態(tài)靜電放電引起的瞬態(tài)電壓和瞬態(tài)電流的測量,這些瞬態(tài)放電可能由設(shè)備外部或內(nèi)部產(chǎn)生。這個(gè)測試的目的是評(píng)估設(shè)備是否能夠承受這種瞬態(tài)放電,并保持其功能不受影響。

測試過程通常包括以下步驟:

1.設(shè)備放置:設(shè)備需要放置在特定的測試環(huán)境中,以模擬實(shí)際使用中的環(huán)境條件。

2.靜電放電模擬:使用適當(dāng)?shù)脑O(shè)備產(chǎn)生瞬態(tài)靜電放電,并測量其電壓和電流。

3.測量設(shè)備響應(yīng):測量設(shè)備在受到放電后的響應(yīng),包括其功能是否受到影響,以及任何異常的電壓或電流。

4.結(jié)果評(píng)估:根據(jù)測試結(jié)果,評(píng)估設(shè)備是否符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)。如果設(shè)備在放電后能夠保持其功能,則視為通過測試。

ESD測試對于評(píng)估設(shè)備的電磁兼容性非常重要,因?yàn)樗婕暗皆S多其他EMC測試中可能沒有考慮的因素,如靜電放電的隨機(jī)性和不可預(yù)測性。此外,它還涉及到設(shè)備的實(shí)際使用環(huán)境,因此在實(shí)際應(yīng)用中具有重要意義。

ESD測試是一種用于評(píng)估電子設(shè)備在受到靜電放電攻擊時(shí)的性能的測試方法,對于確保設(shè)備的電磁兼容性和實(shí)際使用中的可靠性非常重要。

溫馨提示

  • 1. 本站所提供的標(biāo)準(zhǔn)文本僅供個(gè)人學(xué)習(xí)、研究之用,未經(jīng)授權(quán),嚴(yán)禁復(fù)制、發(fā)行、匯編、翻譯或網(wǎng)絡(luò)傳播等,侵權(quán)必究。
  • 2. 本站所提供的標(biāo)準(zhǔn)均為PDF格式電子版文本(可閱讀打印),因數(shù)字商品的特殊性,一經(jīng)售出,不提供退換貨服務(wù)。
  • 3. 標(biāo)準(zhǔn)文檔要求電子版與印刷版保持一致,所以下載的文檔中可能包含空白頁,非文檔質(zhì)量問題。
  • 4. 下載后請按順序安裝Reader(點(diǎn)擊安裝)和FileOpen(點(diǎn)擊安裝)方可打開。詳細(xì)可查看標(biāo)準(zhǔn)文檔下載聲明

最新文檔

評(píng)論

0/150

提交評(píng)論