中華人民共和國國家檢定系統表JJG20××-××××α、β表面粒子發射率計量器具MetrologicalInstrumentsforα、βparticlesurfaceemissionrate202×-××-××發布202×-××-××實施國家市場監督管理總局發布JJGJJG2041-××替代JJG2041-1989計量器具檢定系統表VerificationSchemeofMetrologicalInstrumentsforα、βsurfaceemissionrate本檢定系統表經國家市場監督管理總局202×年××月××日批準，并自202×年××月××日起施行。歸口單位：全國電離輻射計量技術委員會起草單位：中國計量科學研究院中國測試技術研究院上海市計量測試技術研究院國防科技工業電離輻射一級計量站本檢定系統表由全國電離輻射計量技術委員會負責解釋

本檢定系統表主要起草人：張明（中國計量科學研究院）梁珺成（中國計量科學研究院）黃秋（中國測試技術研究院）參加起草人：唐方東（上海市計量測試技術研究院）劉玫玲（中國計量科學研究院）陳細林（國防科技工業電離輻射一級計量站）

目錄TOC\o"1-2"\h\z\u引言 51范圍 62計量基準 62.12πα、2πβ粒子發射率基準 62.22πα、2πβ粒子發射率副基準 63計量標準 73.1α、β表面粒子發射率測量裝置 73.2α、β平面源 74工作計量器具 84.1α、β表面粒子發射率測量裝置 84.2α、β平面源 84.3低本底α、β測量儀 84.4流氣正比計數器總α、總β測量儀 84.5α、β表面污染儀 84.6固定式α、β個人表面污染監測裝置 94.7α譜儀 95α、β表面粒子發射率計量器具檢定系統表框圖 9引言本檢定系統表依據JJF1104-2003《國家計量檢定系統表編寫規則》編制。本檢定系統表代替JJG2041-1989《測量α、β表面污染的計量器具》，主要技術變化如下：——修改了2πα、2πβ粒子發射率基準和2πα、2πβ粒子發射率副基準的技術指標；——計量標準取消了α、β標準源的分級，增加了α、β表面粒子發射率測量裝置；——工作計量器具修改了α、β表面污染儀的相對固有誤差，增加了固定式α、β個人表面污染監測裝置，低本底α、β測量儀，流氣正比計數器總α、總β測量儀和α譜儀。本檢定系統表的歷次版本發布情況為：——JJG2041-1989。

α、β表面粒子發射率計量器具檢定系統表1范圍本檢定系統適用于α、β表面粒子發射率計量器具的量值傳遞。α、β表面粒子發射率計量器具檢定系統由基準計量器具、標準計量器具和工作計量器具組成，規定了α、β表面粒子發射率基準的用途，基準所包含的計量器具、計量學參數，借助標準計量器具向工作計量器具開展量值傳遞的程序，并指明方法和不確定度。在開展α、β表面粒子發射率計量器具校準項目過程中，本檢定系統也可作為量值溯源的依據。2計量基準α、β表面粒子發射率基準計量器具由2πα、2πβ粒子發射率基準和2πα、2πβ粒子發射率副基準組成，用于復現和保存α、β平面源在2π立體角范圍內發射的粒子數，該量值的單位是s-1或min-1。基準計量器具采用替代法向標準級α、β表面粒子發射率測量裝置進行量值傳遞；采用直接測量法向標準級α、β平面源進行量值傳遞。2.12πα、2πβ粒子發射率基準2πα、2πβ粒子發射率基準由多絲正比計數器、電子學系統和鉛屏蔽系統組成，多絲正比計數器一般以氬甲烷為工作氣體，在流氣式常壓模式下測量；電子學系統包括電荷靈敏前置放大器、脈沖成型濾波放大器、單道分析器、時間延遲產生器、定時計數器和多道分析器組成。2πα、2πβ粒子發射率基準的測量范圍和相應的不確定度范圍為：測量α，發射率范圍為(3.0~1.5×104)s-1，擴展不確定度為Urel=(0.3~1.6)%，k=2；測量β，發射率范圍為(1.5×102~1.5×104)s-1，擴展不確定度為Urel=(0.4~1.6)%，k=2。2.22πα、2πβ粒子發射率副基準2πα、2πβ粒子發射率副基準由多絲正比計數器、電子學系統和鉛屏蔽組成。2πα、2πβ粒子發射率副基準的測量范圍和相應的不確定度范圍為：測量α，發射率范圍為(3.3~1.3×104)s-1，擴展不確定度為Urel=(0.4~1.6)%，k=2；測量β，發射率范圍為(1.5×102~1.2×104)s-1，擴展不確定度為Urel=(0.5~1.6)%，k=2。3計量標準α、β表面粒子發射率標準計量器具分為α、β表面粒子發射率測量裝置和α、β平面源兩類，經α、β表面粒子發射率基準計量器具檢定后，用于對工作級α、β表面粒子發射率計量器具進行量值傳遞。3.1α、β表面粒子發射率測量裝置標準級α、β表面粒子發射率測量裝置由多絲正比計數器和電子學系統組成。標準級α、β表面粒子發射率測量裝置測量范圍：測量α，發射率范圍為（1~104）s1，發射率測量結果擴展不確定度Urel≤3.0%（k=2）；測量β，發射率范圍為（10~104）s-1，發射率測量結果擴展不確定度Urel≤3.0%（k=2）。標準級α、β表面粒子發射率測量裝置采用直接測量法向工作級α、β平面源進行量值傳遞，采用替代法向工作級α、β表面粒子發射率測量裝置進行量值傳遞。3.2α、β平面源標準級α、β平面源包括α平面源和β平面源。α平面源核素種類包括但不限于：241Am、239Pu、210Po、天然U等；β平面源核素種類包括但不限于：低能β核素14C（Emax=156.5keV）、147Pm（Emax=224.1keV）等；中能β核素36Cl（Emax=709.5keV）、204Tl（Emax=763.7keV）等；高能β核素90Sr/90Y（Emax=2279.8keV）等。標準級α、β平面源的活性區規格包括：大面積平面源，典型活性區為150mm×100mm、100mm×100mm等；小面積平面源，典型活性區為φ30mm、φ25mm等。標準級α、β平面源表面粒子發射率不均勻性：對于活性區面積不小于50cm2的α、β標準平面源，表面粒子發射率不均勻性不超過10%；對于活性區面積小于50cm2的α、β標準平面源，表面粒子發射率不均勻性不作要求。標準級α、β平面源表面粒子發射率范圍：測量α，發射率范圍為（1~104）s1，發射率標準值擴展不確定度Urel≤3.0%（k=2）；測量β，發射率范圍為（10~104）s1，發射率標準值擴展不確定度Urel≤3.0%（k=2）。標準級α、β平面源采用直接測量法向工作級α、β表面粒子發射率測量裝置，低本底α、β測量儀，流氣正比計數器總α、總β測量儀，α、β表面污染儀，固定式α、β個人表面污染監測裝置和α譜儀等工作級α、β表面粒子發射率計量器具進行量值傳遞。4工作計量器具工作級α、β表面粒子發射率計量器具包括：工作級α、β表面粒子發射率測量裝置，工作級α、β平面源，低本底α、β測量儀，正比計數器總α、總β測量儀，α、β表面污染儀，固定式α、β個人表面污染監測裝置，α譜儀等。4.1α、β表面粒子發射率測量裝置工作級α、β表面粒子發射率測量裝置的測量范圍：測量α，發射率范圍為（1~104）s1，發射率測量結果擴展不確定度Urel≤4.0%（k=2）；測量β，發射率范圍為（10~104）s1，發射率測量結果擴展不確定度Urel≤4.0%（k=2）。4.2α、β平面源工作級α、β平面源表面粒子發射率范圍：α源，發射率范圍為（1~104）s-1，發射率測量結果擴展不確定度Urel≤4.0%（k=2）；β源，發射率范圍為（10~104）s-1，發射率測量結果擴展不確定度Urel≤4.0%（k=2）。4.3低本底α、β測量儀低本底α、β測量儀的測量范圍：測量α，發射率范圍為（10-2~104）s-1，發射率測量結果擴展不確定度Urel≤5.0%（k=2）；測量β，發射率范圍為（10-1~104）s-1，發射率測量結果擴展不確定度Urel≤5.0%（k=2）。4.4流氣正比計數器總α、總β測量儀流氣正比計數器總α、總β測量儀的測量范圍：測量α，發射率范圍為（10-2~104）s-1，發射率測量結果擴展不確定度Urel≤5.0%（k=2）；測量β，發射率范圍為（10-1~104）s-1，發射率測量結果擴展不確定度Urel≤5.0%（k=2）。4.5α、β表面污染儀α、β表面污染儀的測量范圍為（10-1~104）s-1，相對固有誤差不超過±25%。4.6固定式α、β個