1/1x-系列icp-ms初級操作X-系列ICP-MS初級操作在初級操作中,我們首先要了解如何開機預熱,啟動真空系統,點燃等離子體以及進入操作模式等,然后要了解如何編輯基本分析方法,如何準備樣品和做各種校正,再進一步實現從開機到得到分析結果的整個過程,初步的能夠完成一些日常分析任務。

一．日常操作1.開機預熱2.制定分析方案3.編輯分析方法4.點火進入Operate狀態5.調節儀器最佳化6.儀器的Calibration7.樣品分析8.熄火并返回Vacuum狀態9.完全關機二.其他操作CCT模式三.常見故障與排除四.日常維護一.日常操作1、開機預熱1)檢查Ar氣是否足夠（2瓶）2)打開排風，檢查風量3)打開穩壓電源開關，檢查電源是否穩定，觀察約1分鐘4)打開Ar氣鋼瓶的總開關（開到最大），調分壓至0.6MPa(不能大于0.7MPa）5)取下儀器左邊的蓋子，從左向右打開左下方的三個電源開關6)蓋上儀器左邊的蓋子,打開電腦，待自檢完成后，等候約1分鐘,雙擊PlasmaLab圖標，進入操作軟件主窗口，單擊InstrumentTune,檢查炬箱的三個參數：

MajorSamplingDepth采樣深度MinorHorizontal水平Vertical垂直不在兩頭，▲不為0或最大如果為0,則在Configuration中選擇標準條件下的一個已經存儲的條件,將其調出,此時以上位置應不為0。

7）檢查軟件上方的炬箱調諧位置,LOAD和TUNE應不為0或255,如為0,則進入Advanced將其改為100(密碼為iknowwhatiamdoing或vgengineer),如為255則與工程師聯系。

8）單擊左上角的ON鍵YES，啟動真空系統，等待約0.5―4h不等，待Analysis的真空顯示小于610-7mba時，可進行下一步操作。

2、制定分析方案1)確定樣品是否適合用ICP-MS分析(ICP-MS并非萬能,主要以微痕量分析為主)固體樣品0.01%液體樣品1ppm（最好100ppb）2)確定樣品分解方法（溶樣方法）盡量不用H2SO4和H3PO4如果用HF酸的話，一定要趕盡盡可能用HNO3或H2O2分解樣品3)配制工作曲線（混標）濃度之間相差510倍一般用23點標準中包含內標.兩個常見錯誤:a).所有分析元素的濃度都一致,這樣省事,但不科學,應該根據不同元素的濃度范圍,制定其相應的標準溶液濃度。

b).標準曲線點與點之間相隔太近,如2,4,6,8,完全沒有必要。

4)樣品準備：

稀釋到合適的倍數(計數一般小于5,000,000Cps).樣品必須消解徹底，不能有混濁,否則必須先用濾紙過濾,但不要抽濾樣品的固體物含量0.1%樣品當中包含內標3、編輯分析方法1)分析軟件（PlasmaLab）主窗口內容簡介：

1儀器的三種狀態：

Shutdown完全關機狀態（機械泵、分子泵全關）OnOffVacuumnReady真空系統啟動OnOffOperate完全操作狀態（分析狀態）2儀器軟件上方顯示的重要參數Neb：

霧化氣壓力（工作狀態時1.52.5bar）Fwd:ICP正向功率（工作時一般為1200-1300W）Ref:反射功率（工作時一般10W）炬箱的調諧參數：

Load和Tune:不能是0或255，否則有問題真空：

EXP：

兩個錐之間的真空。

工作狀態時約為2.00.2mbaAna：

分析完真空，預熱時610-7mba工作時一般110-6mba分子泵狀態：

SPEED分子泵轉速（一般預熱后為1000HZ）LOAD分子泵電機的電流（預熱時為1A，工作時為2A）3PlasmaLab軟件的三個模塊Instrument儀器控制參數設置最佳化調節Technician:儀器的后臺監視與錯誤報警Experiment:編制分析方法2）編輯分析方法:1單擊ExperimentCreateaNewBlankExperimentContinuousOKDefaultOpen2SetUpConfigurationEditor忽略,在一般操作中,我們不需要選擇。

3SetUpTimings設置最大樣品提升時間,uptake:MaximumDelay(s)(3050s)4SetUpAnalyte選擇分析元素（包括內標元素）5SetUpAcquisitionParameters(數據采集條件)一般選擇MainPeakJumpChannels=3改變Sweeps使采集時間在合適的范圍內,一般AcquisitionTime=1060秒6SetUpInternalStandards先定內標Technique選定內標元素7SetUpIsitopeRatio忽略8InstrumentCalibrations忽略9CalibrationsMethodMethodFullyQuant10QCSetup忽略,在基本操作中不介紹。

11SamplelistSamplelist增加一個樣品12SamplelistFullyQuantitareConcentrations設置標準點的濃度13單擊左上角的FilesSaveAs選定文件名和子目錄Save方法編制完畢。

4、點火進入Operate狀態1檢查Ar氣是否足夠，標準和樣品是否備好2打開水循環開關，觀察壓力和溫度是否正常3裝好蠕動泵管，壓下泵管夾4確認排風工作正常5把進樣毛細管插入純水中6單擊ONYES，此時儀器將自動進入Operate狀態5、調節儀器最佳化1將進樣毛細管放入1ppbTuneSolution2單擊InstrumentTune檢查炬箱的三個參數：

MajorSamplingDepth采樣深度MinorHorizontal水平Vertical垂直不在兩頭，▲不為0或最大3檢查Global下面的檢測器電壓AnalogueDetector:1800V-2500VPCDetector:30004500V4調節TuneMinor下的炬箱位置，使顯示的信號最大，一般用（Co59、In115和U238來看）5調節TuneMinor下的Nebulizer使信號最強，RSD最小6可以檢查其它離子鏡是否在最佳位置，然后Save條件。

6、儀器的Calibration:MassCalibrationDetectorCrossCalibrationDetectorPlea???allCalibration1做MassCalibrationa.將進樣毛細管放入1ppbTuneSolution中，調節最佳化。

b.單擊ExperimentOpenAnExitingExperimentOK選擇InstrumentCalibration子目錄選擇MassCalibrationOpenc.單擊SampleListSampleListd.增加一個樣品（注意樣品類型為InstrumentSetup）e.單擊樣品最左邊方框使其變黑單擊樣品表上方的ShowAdvanced單擊樣品表下方的InstrumentCalibration在MassCalibration前的方框內打一般選擇UpdateMassCalibrationf.單擊Queue鍵AppendOK開始進行質量校準g.待其完成后，單擊OK，如果樣品變為黃色，則成功.2做DetectorCrossCalibrationa.確認儀器已處于最佳化b.將進樣毛細管放入2030ppbTuneSolution中c.單擊ExperimentOpenanExitingExperimentOKInstrumentCalibration子目錄MassCalibrationOpend.單擊SampleListSampleliste.增加一個樣品，單擊左邊使其變黑f.ShowAdvancedInstrumentCalibrationDetectorCalibrationg.單擊QueueAppendOK即開始進行7、樣品分析1打開已經準備好的分析的方法2單擊QueueAppendOK然后按照提示將進樣毛細管放入相應瓶中，單擊Continue進行測定8、熄火并返回Vacuum狀態1確認所有樣品已分析完成2單擊OffYES3松開蠕動泵管夾4冷卻約5min后，關閉循環水5關閉電腦9、完全關機1確認短時間內沒有樣品,一般每周測定一次以上請不要關機。

2單擊OffYES,此時儀器會關閉機械泵和分子泵,等侯30分鐘以上.3關閉電腦.4取下儀器主機的蓋子,從右向左依此關閉儀器左下方的三個電源開關.5關閉排風開關.6關閉穩壓電源開關.7關閉配電盤開關.二.其他操作儀器的其他操作主要包括:碰撞室技術,XI接口,冷等離子體屏蔽技術,熱等離子體屏蔽技術,有機進樣技術,色譜聯用技術,激光進樣,膜去溶進樣等.這些技術的逐漸使用,極大的拓寬了ICP-MS的應用范圍,這些使用都要以日常操作部分為基礎,最大的不同只是在調節儀器最佳化上,編輯分析方法,分析樣品和各種校正都是基本相同的,由于時間原因,本次我們只介紹CCT的操作步驟.1.碰撞室技術(CCT)CCT技術的主要作用是減少多原子離子的干擾,其原理在儀器結構部分已經介紹,通過不同種類氣體的引入,能夠使質量數80以下(包括80)的多原子離子的干擾程度得到極大的降低,從而提高靈敏度和準確性,具體的操作步驟如下(以7%氫+93%氦混合氣為例).1打開He氣鋼瓶（要求純度99.999%的）調氣壓至0.1MPa.2在InstrumentConfigurations中選擇標準模式，調出一組參數.3按正常模式點燃等離子體，進入Operate狀態.4將進樣毛細管插入1ppb調節液中,檢查標準條件下的信號情況,如靈敏度,RSD等.5在InstrumentTuneAddGas中打開CCT1的氣體，調流量至7ml/min，等待約10min.6將進樣毛細管插入1ppbIn溶液中.7在InstrumentConfigurations選擇CCTCh1,然后在下面的選框內打的位置重新打.8調節碰撞氣流量和儀器參數，使在純水中Ar（80）的計數小于200，同時In的靈敏度大于20000/ppb.9編輯分析方法，選擇數據庫為DefaultCCT.10分析樣品.11在Tune中取消80和56等嚴重干擾的質量數.12返回標準模式.13熄火三.常見故障與排除問題一：

點火時顯示RF錯誤原因1：

點火時氬氣壓力降低，檢查氬氣氣路，在打開冷卻氣時壓力是否下降，將鋼瓶閥門開到最大。

原因2：

炬箱位置處于0位，往往在完全關機又重新開機時出現，此時調一組以前存儲的參數即可。

問題二：

點火時顯示水流太低原因1：

水循環未打開（檢查壓力，溫度）。

原因2：

等離子體門沒關好。

原因3：

電源中J19接觸不良。

問題三：

不點火原因1：

匹配箱調諧位置（Load和Tune）在0和255。

原因2：

分析室真空為1E10-8。

問題四：

無信號原因1：

檢測器高壓為0（往往在完全關機又重新開機時出現），設置高壓后即可正常。

原因2：

分析室真空為不夠。

問題五：

在空調壓縮機啟動關閉時，重質量RSD較差，輕質量正常原因1：

儀器室濕度不穩定，用大于50L/天的除濕機可以解決。

問題六：

突然停電后重新開機，真空系統直接啟動，但無真空顯示原因1：

儀器自動記錄關機時的狀態，此時需要先用OFF關掉真空，過20分鐘后重新點擊ON即可。

四.日常維護1.每次點火前檢查蠕動泵泵管,看是否有損傷和過度磨損。

2.定期檢查錐,看是否需要清洗。

3.檢查霧化器,看是否被堵。

4.定期檢查炬管,主要是中心管,以確保無損壞。

5.每半年檢查更換一次機械泵泵油。

6.定期清洗兩個空氣過濾網。

7.定期檢查排風風量,以確保風力充足。

8.定期檢查地線,以確保小于4歐母。

9.定期檢測零線與火線之間的電壓,確定在點火狀態下小于交流5伏。

X-系列ICP-MS中級操作在了解初級操作的前提下,通過完成中級操作中的各個試驗,進一步了解儀器的軟件功能,熟悉常用的各類干擾校正方法的原理和應用。

實驗A:在沒有干擾校準下測得分析數據實驗B:用理論方法手動進行校準計算實驗C:通過PLASMALAB用理論方法進行校準實驗D:通過PLASMALAB用間接經驗公式進行校準實驗E:通過PLASMALAB用直接經驗公式進行校準在這些實驗里,我們將使用不同的方式來進行干擾校正,在實驗A,我們將使用理論方法進行校準,但是我們仍然要監視Cl和ClO的信號,以便后來的實驗能夠進行經驗校準,所有測定的數據都是采用Xi接口。

實驗A:在沒有干擾校準下測得分析數據步驟1:編輯分析數據庫(AnalyteDatabase)步驟2:內標元素步驟3:選擇分析元素和數據采集條件(Acq.Parameters)步驟4:設置校準方法步驟5:建立樣品清單步驟6:輸入標準溶液濃度步驟7:采集實驗數據并觀察結果步驟8:內標元素校準需要準備的溶液:1.內標元素:50ppb的Sc或20ppb的In。

2.準備標準溶液:a).2%硝酸的空白b).250ppb的V標準(2%硝酸介質)3.準備三個樣品溶液:a).空白溶液包含1000ppm的Clb).樣品溶液包含1000ppm的Cl和20ppb的Vc).樣品溶液包含1000ppm的Na和25ppb的V步驟1:編輯分析數據庫(AnalyteDatabase)在第一次做環境實驗研究時,我們需要編輯分析數據庫(AnalyteDatabase)1.在軟件主窗口下,單擊File,Open然后選擇AnalyteDatabase,選擇DefaultDatabase.2.我們需要定義一些新的多原子成分,以便在這個實驗中能夠觀察到ClO,單擊左邊的Polyatomics然后在元素周期表中單擊Cl和O,再單擊OK.選擇質量數53作為Cl的缺省設定。

保存并關閉AnalyteDatabase3.另外一個需要改變的是在周期表的上方的掃描和跳過區間,通過改變每一段跳過的范圍使Cl35和37包含在掃描區間內.紅色的區域是跳過的部分,綠色部分是掃描部分.步驟2:加入內標元素(InternalStandard)內標元素的加入有兩種方式:a):在線加入法,通過一個微型三通和兩根泵管,在進樣的同時與內標溶液混合.b):在配制樣品和標準的同時把內標加入到相應的容量瓶中,注意空白也要加內標。

本次實驗選擇Sc為內標。

步驟3:選擇分析元素和數據采集條件(AcquisitionParameters)1.建立一個新的空白的分析方法(Experiment),注意使用我們新建立的分析數據庫,在Setup頁面下選擇Analytes和AcquisitionParameters,如下圖所示,我們選擇Cr52來測定Cr,然后在多組分清單(PolyatomicsList)中選擇質量數53來觀察ClO的干擾,選擇V,Cr,和Cl為分析元素,Sc為內標。

2.選擇數據采集條件(AcquisitionParameters),如下圖所示,由于我們已經編輯過掃描和跳過的區間,因而我們可以在Surveyscan中觀察到ClO在質量數53處的干擾。

步驟4:設置校準方法(CalibrationMethod)1.在CalibrationMethod中,我們只定義V為全定量校準(FullyQuantCalibration),后面我們將定義Sc作為內標元素,分析元素Cr和Cl的測定只是用來確定干擾的計算。

步驟5:建立樣品清單(SampleList)在這個實驗中,我們要用一個空白和一個250ppb的標液來建立一個V的兩點校準方法,然后分析1000ppmCl但不包含其他元素的溶液,這將顯示ClO的干擾程度,然后分析一個含有25ppbV和1000ppmCl的樣品和一個25ppbV和1000ppmNa的樣品,用以觀察ClO的干擾和物理干擾。

步驟6:輸入全定量濃度設置V的標準濃度為250ppb。

步驟7:測試樣品并觀察結果1.按正常順序點火,調節儀器最佳化,然后測定此方法中的所有樣品和標準,然后我們可以觀察譜圖和數字結果,為了確定1000ppmCl中的ClO干擾,我們在譜圖結果中打開硝酸空白和1000ppm的Cl空白,并把兩個樣品的譜圖疊在一起,此時我們可以觀察到在51和53處的ClO干擾。

可以看到,黑色的是2%HNO3,紅色的是1000ppmCl,可以看到在51處,ClO干擾V的測定,在53處干擾Cr的測定,但是Cr還有一個52的同位素可以用來分析。

2.觀察數據結果中的濃度,前兩個樣品是空白和V標準,他們的回讀結果是準確的,因為我們只用了兩個點來校準。

含有1000ppm的Cl的樣品給出了正的V的結果,那是由于ClO在51處的干擾造成的,在這個例子里我們先不采用任何干擾校正方法。

可以看到,250ppb的V的回讀濃度是250ppb,1000ppmCl的空白的讀數是15ppb,很顯然這由于ClO的干擾造成的,20ppb加1000ppmCl的讀數是36ppb,誤差非常大,在含有1000ppmNa的V標準溶液里,25ppb所測得的結果是21ppb,這并不是Na的干擾造成的,而是由于大量的Na存在對V產生了抑制效應,因而使結果偏低,這種影響可以通過內標來進行校準。

步驟8:使用內標校準(InternalStandardCorrection)1.回到方法的Setup頁面,在InternalStandard頁面下選擇Sc為內標元素。

2.在Results頁面,選擇NumericalResults,然后刷新結果(Refresh),此時看到的結果是用內標進行漂移和抑制校正以后的結果。

內標元素的結果顯示為黃色,從結果可以看到,1000ppm的Cl不會產生抑制,因為內標元素的回收接近100%(相對于第一個測定的溶液),然而,1000ppm的Na確產生了抑制效益,內標的回收只有74%。

實驗B:用理論方法手動進行校準計算步驟1:將結果轉入到Excel中步驟2:校準基體抑制效應(SuppressionEffects)步驟3:校準多原子離子干擾(PolyatomicInterference)步驟4:計算出濃度步驟5:計算結果這個實驗主要是在紙上進行練習,學習怎樣用手工計算的方法進行多原子離子和基體抑制效應的校準,以了解他們的原理。

步驟1:將結果轉入到Excel中1.下面這個表中的數據是從實驗A得到的,凈的分析計數,沒有進行任何計算,在Results中選擇NumericalResults,然后再選擇MassUncorrectedICPS(未計算的計數),工作曲線包括空白和250ppb的V。

2.只保留每個樣品的平均值,并把他們從PlasmaLab中導出到Excel中,結果將顯示如下表:表2顯示的是我們在試驗A中得到的,未經任何干擾校準的濃度結果。

3.下面我們簡要做一個紙上練習,用手工來計算如何校正干擾,注意:黑色:測試結果綠色:計算的舉例藍色:需要填寫的表格紅色:正確答案在表2的濃度結果的不同明顯的,在兩個含有Cl的溶液中可以看出ClO干擾了V51的測定。

同時也可以看出在含有高濃度Na的溶液中得出了偏低的結果,這是由于基體的抑制效應造成的。

步驟2:校準基體抑制效應(SuppressionEffects)1.第一步是使用在分析時包含的內標元素來計算基體抑制,我們用實驗A中選用的Sc45,由于我們在每個樣品中都包含有同樣濃度的Sc,因而我們可以用SC為參照,用第一個樣品(多數是空白)中的Sc的強度與每個樣品中的Sc的強度進行相除,得到的一個比值(ISR),請在下面的藍色表格內填上你計算的結果,注意如果是抑制效應,則比值1,如果是增感效應,則比值1。

2.在上面的表中我們已經計算了內標元素比值(ISR),然后用這個比值(ISR)去乘以所有測定出的強度,結果如表4-a,計算結果并填入表4-b中。

步驟3:計算多原子離子干擾(PolyatomicInterference)1.我們已經知道如何用內標來校準漂移和抑制所造成的影響,下一步是如何校正多原子離子的干擾。

我們知道,35Cl16O會干擾51V,這可以通過監視37Cl16O的辦法進行計算,總的在m/z51處的信號如下:51M=51V+51ClO,因而:51V=51M-51ClO因為我們已經測定了53ClO,因而我們需要計算一個51ClO和53ClO之間的系數,35Cl和37Cl在自然界的豐度(Abundance)為:35Cl:75.2%37Cl:24.7%因而它們理論上的系數為:35Cl/37Cl=75.4/24.6=3.0460因而前面的等式可寫為:51V=51M-53ClO*3.04602.由此看出,只要我們知道了53ClO的結果,就可以計算出51ClO和51V的結果,可是m/z53也不是唯一的,它是由53ClO和53Cr組成的:53M=53ClO+53Cr,因而:53ClO=53M-53Cr由于我們已經在m/z52處測量了Cr,因而我們知道在m/z53處有多少信號是由于CR產生的,我們需要一個系數來計算Cr53和52,53Cr和52CR在自然界的豐度(Abundance)為:52Cr:83.76%53Cr:9.55%因而理論計算系數為:53Cr/52Cr=9.55/83.76=0.1140因而上面的等式可以寫為:53ClO=53M-0.1140*52Cr3.我們現在可以應用等式:53ClO=53M-0.1140*52Cr來計算我們的數據,表5a和5b分別是計算的公式例子和表格,請在表格5b中填上計算出的53Cr的值,下面一步我們將用這個計算出的結果去校正51V的干擾。

4.由于我們已經得出了真正的53CLO的強度,用前面得出的等式:51V=51M-3.0460*53CLO就可以計算出真正的51V的強度,請填寫表6B:現在我們已經用內標校正了Counts/Sec(CPS)的漂移和基體抑制效應,用監視53ClO和52Cr的方法校正了51V的多原子離子干擾。

步驟4:計算V的濃度(Concentration)1.我們需要用這些已經校準后的結果來進行計算,由于有公式:S=MX+C,其中,X為未知濃度,M為斜率或靈敏度,S是校正過的強度,C是空白的強度,因而我們可以通過空白和250PPB的結果來計算其他樣品的濃度:2.按上面公式的計算,請填寫表7:現在我們得到了經過內標和干擾校正后的濃度結果,并且了解了校正的過程和原理。

步驟5:計算結果下面的表中的結果是你應該計算出的中間和最終結果。

實驗C:通過PlasmaLab用理論方法進行校準步驟1:編輯51V處ClO的校準公式步驟2:編輯在53ClO處扣除53Cr步驟3:用理論公式計算出結果步驟1:編輯51V處ClO的校準公式1.在實驗A編輯的分析方法中,在Setup,Analytes下,在周期表中選擇元素V,在51V那一行中的Equation的空格中單擊鼠標右鍵,選擇EditInterferenceEquation。

2.此時將顯示一個對話框,其中Symbol和Multiplier部分是空的,這說明在初始的數據庫中沒有51V的校準公式,單擊Symbol區域,將顯示一個新窗口,即元素周期表。

3.從左面的一列中選擇ClO,注意選擇質量數為53,然后兩次單擊OK。

4.此時在Equation中將自動顯示理論計算公式:步驟2:編輯在53ClO處扣除53Cr1.在Analyte頁面,在周期表中選擇53ClO作為分析項目,在53ClO的Equation處單擊鼠標右鍵,然后選擇EditInterferenceEquationFor53ClO。

2.此時將顯示另外一個對話框,單擊Symbol空白處然后點擊箭頭,打開元素周期表,選擇干擾元素為Cr,質量數為52。

3.此時儀器將自動計算出53Cr和52Cr的比值,在mass53處總的計數減去由52Cr計算出的53Cr的計數,確剩下的就是53ClO的計數,單擊OK,顯示下面的窗口:4.再次單擊OK,此時兩級校正公式就編輯完成了。

步驟3:用理論公式計算出結果現在通過前兩步我們已經建立了兩級的干擾校正公式,下一步我們可以對分析的結果進行重新計算,在Results中的NumericalResults下,單擊Refresh重新對結果進行計算,計算后的結果明顯的準確了很多。

實驗D:通過PlasmaLab用間接經驗公式進行校準步驟1:編輯一個新的分析方法步驟2:計算經驗校正系數步驟3:將經驗系數用到數據計算中需要準備一個Cl的標準系列如下(2%HNO3介質):1.空白2.250ppmCl3.500ppmCl4.750ppmCl5.1000ppmCl步驟1:編輯一個新的分析方法1.建立一個新的分析方法,選擇元素清單如下圖所示,Sc仍然用來做內標,在樣品中沒有V和Cr,測定51V的唯一目的是為了測定35Cl16O的干擾,同樣測Cr的目的是為了測定37Cl16O的干擾。

2.定義Cl和V為全定量校準(FullyQuant)。

3.建立樣品清單(SampleList),我們將分析一系列含有不同濃度Cl的樣品。

4.輸入標準曲線中各溶液的濃度,注意,我們的溶液中沒有V,但是我們仍然想知道51ClO的工作曲線,因而我們也輸入V的濃度(與Cl一樣)。

5.按正常操作點火,分析所有樣品(QUEUETHEEXPERIMENT)。

6.觀察35Cl處的工作曲線和51ClO處的工作曲線,它們都是線性的。

51V的工作曲線實際上是51ClO的曲線,它也跟Cl的濃度成線性關系。

7.觀察數據結果中的計數如下:步驟2:計算校正系數第一個方法我們可以間接的觀察到干擾程度的大小,通過觀察35Cl和51V(實際上沒有V,而是51ClO)的關系,我們發現51ClO的量與Cl的量是成線性關系的,也就是說51ClO的大小取決于Cl的含量,因而我們可以通過Cl的濃度計算出51ClO的強度,在這個實驗中,我們可以用51V(實際是51ClO)的靈敏度除以Cl的靈敏度,從上面的兩個工作曲線我們看到,他們分別是,0.078和10.15,相除以后等于0.0077,再把這個經驗的系數輸入軟件,就可以進行干擾校正計算