GIANTPLUSOPTOELECTRONICS制程能力分析凌達光電質量訓練GIANTPLUSOPTOELECTRONICS大綱名詞解釋制程能力分析步驟GIANTPLUSOPTOELECTRONICS變異一般與特殊原因一般原因:制程中某些微小而不可避免的原因,現象所此造成之分配與時間的關系是穩定而可重復,可預測的.特殊原因:制程中不常發生但造成制程變異的原因,此現象所造成之分配與時間的關系是不穩定且無法預期的名詞解釋GIANTPLUSOPTOELECTRONICS制程能力當我們的制程處于穩定狀態時,即對制程進行研究分出一般原因與特殊原因,消除特殊原因,只存在一般原因,此時的制程狀況處于穩定狀態即是我們所謂的制程能力偵查制程是否處于穩定狀態,需要借助于管制圖,通過管制圖找出一般原因與特殊原因,確定制程狀況,方可進行制程能力分析GIANTPLUSOPTOELECTRONICS制程準確度Ca(Capabilityofaccuracy)生產中所獲得產品數據的實績平均值(X)與規格中心值(u)其間偏差的程度即稱之為(制程準確度),即衡量制程平均值與規格中心值兩者間的一致性Ca=實際平均值-規格中心值規格公差/2*100%=(x-u)/T/2*100%注明:當為單邊規格時無Ca值GIANTPLUSOPTOELECTRONICSCa值的評估Ca值越小,品質越佳,為了便于區分制程實績值(X)的好壞一般將Ca值分成4個等級作為評估的標準.A級:理想的狀態故維持現狀B級:盡可能調整﹑改進為A級C級:應立即檢討并予以改善D級:采取緊急措施,并全面檢討,必要時應考慮停止生產Ca反應工序實際平均值與規格中心值之間的差異GIANTPLUSOPTOELECTRONICSUCLLCL規格中心值制成平均值Ca=23%GIANTPLUSOPTOELECTRONICS制程精密度Cp(Capabilityofprecision)以規格公差(T)與自生產中所獲得產品數據的6個估計績標準差()其間相差程度,即在衡量規格公差范圍與制程變異寬度兩者之間相差的程度

Cp值=規格公差6個估計實績標準差=T/6

雙邊規格時GIANTPLUSOPTOELECTRONICSCp值=規格上限-平均值3個估計實績標準差=USL-X/3

Cp值=3個估計實績標準差=X-LSL/3

單邊規格時規格下限-平均值GIANTPLUSOPTOELECTRONICSCp值的評估Cp值越大,質量越佳,為了便于區分制程實績估計標準差的好壞,一般將Cp值分成5個等級作為評估的標準.A+級:產品變異如大一些也不要緊,考慮管理的簡單化或成本降低方法A級:理想的狀態故維持現狀B級:確實進行制程管理,使其保持在管制狀態,當Cp

接近于1時,恐怕會產生不良品,盡可能改善為A級C級:生產不良品,產品須全數選別,并管理,改善制程D級:質量無法在滿足的狀態,須進行質量的改善,探求原因.須要采取緊急對策,并重新檢討規格GIANTPLUSOPTOELECTRONICSuLSLUSLCp說明尺寸分布的范圍大小﹐并不說明尺寸分布局中心位置的遠近

GIANTPLUSOPTOELECTRONICS規格中心值,制成中心值制成中心值Cp=1制程能力指數Cpk將Ca與Cp兩值同時參考而對制程作一個客觀評價的指標即Cpk,既考慮到變異的寬度,又考慮實績平均值與規格中心值兩者的比較.其計算公式有兩種Cpk=(1-K)T6

=(1-|Ca|

)CpK=|X-u|T/2=|Ca|(1)GIANTPLUSOPTOELECTRONICS當Ca=0時Cpk=Cp(單邊規格時,Cpk即以Cp值計之)=Rd2(2)Cpk=Zmin3

Zmin=[Su-X與-(Sl-X)]的最小值d2之參考表GIANTPLUSOPTOELECTRONICS(1)(2)=

i=1n

(Xi-X)n-1(X為所有數據之平均值)=Rd2Zmin=[Su-X與-(Sl-X)]的最小值i=1n

(Xi-X)n-1

=

3

示例:在內胎壓出工程其長度規格為750+/-10mm,而十一月份壓出工程長度之實際平均值為749mm,實際估計標準差為4mm,計算十一月份之Ca,Cp,Cpk為何?十一月份Ca值=(x-u)/T/2*100%=(749-750)/10*100%=-10%(A級)Cp=T/6=20/6*4=0.83(C級)Cpk=Cp*(1-|Ca|)=0.83*(1-|-10%|)=0.747(C級)GIANTPLUSOPTOELECTRONICS示例:GIANTPLUSOPTOELECTRONICSProcessCapability制程能力分析