10VI〔節選ZD4040-N4_2023〕VIVI在電路2結點〔或器件2管腳〕之間施加一個肯定幅度和頻率的周期信號，在顯示坐標上形成一條電流隨電壓變化的函數曲線，即：VI曲線。VI曲線的外形由被測結點之間的阻抗特性所打算。例如：電阻兩端VI曲線是一條經過坐標原點的直線〔圖4-1b〕。二極管兩端的VIPN4-1器件故障常伴隨管腳之間阻抗特性的轉變。通過比較好壞電路板或器件一樣結點之間的VI曲線，可覺察阻抗特性發生轉變的結點，從而確定故障器件。直接觀看或兩者比照VI曲線的過程稱作VIVI〔坐標系〕：VI曲線窗口中，x軸為電壓，y軸為電流。在±4V·4mA顯示坐標下，1kΩ和2kΩ〔或500Ω〕VI10kΩ10kΩ〔x〕VI100Ω100Ω〔y〕VIVIxy阻抗差異的區分力量越差，靈敏度越低。一旦VIxy阻抗特性變化〔4-2〕。因此，應避開VI曲線過于趨近xy45區域，以便觀看VI4-245VI4V·4mA〔4-2〕，451kΩ阻值，阻抗中值是1kΩ。這個窗口簡稱：1kΩ坐標系。阻抗中值四周〔45度線區域〕測試45VI〔坐標系〕，使VI45VI13/正電流最大值連線和負PNVIVI/正電流最大值連線和負電壓/負電流最大值連線。電阻阻值越大，VIxVIy測試儀有5種阻抗中值〔坐標系〕，100Ω,1kΩ,10kΩ,100kΩ,470kΩ。調整阻抗中值〔坐標系〕原則：VIx軸，應選擇更大一擋的阻抗中值；VIyVIR〔4-1a〕，R〔R〕，1kΩVI2V·2mA45VIVIxVIVIyVI曲線應調低坐標系。VI曲線處于45°線可看成內阻與負載相匹配的信號源，負載信號功率最大。同樣，VI10kΩ電阻VI5〔4-3〕。4-3VIVI曲線最正確顯示范圍是指電路結點阻抗變化能夠引起VI曲線發生明顯變化的區域，即靈敏度最高的區域，位于阻抗中值0.3~3倍之間區域。阻抗中值為100Ω,1kΩ,10kΩ,100kΩ,470kΩ時，VI曲線5種坐標系的最正確顯示范圍分別為 30~300Ω,300Ω~3kΩ,3~30kΩ,30~300kΩ,150kΩ~1.5MΩ之間。通過調整阻抗中值〔坐標系〕，測試儀VI曲線最正確顯示范圍能夠完整掩蓋30Ω~1.5MΩ之間的全部區域。無遺漏，無死角。VI曲線在最正確顯示范圍之外區域也具有辨識度，但靈敏度向兩軸方向漸漸降低，直至無法辨識。另外，測試頻率和掃描幅度等因素也會影響VI曲線測試靈敏度，但遠無法和阻抗中值因素相比。VI曲線重合于兩軸，便進入坐標系窗口邊界，會形成VI曲線兩軸測試盲區。又分為x軸測試盲區和y軸測試盲區。例如：100Ω坐標系下，10kΩVI曲線沒區分，看不出存在10kΩ電阻。這就是x軸測試盲區，應換成10kΩ坐標系測試。再如：10kΩ坐標系下，100Ω電阻和垂直短路VI100Ω電阻。這就是y軸測試盲區，應100Ω坐標系。由于VI曲線窗口有5種坐標系，每一個窗口只能掩蓋局部區域的阻抗故障，無法在一個窗口中掩蓋全部區域的阻抗故障，勢必形成VI曲線兩軸測試盲區。這就是VI曲線結點全域阻抗故障難題。5cVI5VI〔建庫〕VI曲線學習是存儲好電路板上結點之間或好器件管腳之間VI曲線，建立數據庫，作為VI〔檢測〕的標準。進入“元器件特性分析”操作〔圖4-4〕。4-4設置選項：<01>電路板文件：輸入文件名建立一個的數據庫，或選擇已存在的數據庫。從好電路板上提取的VI<02>可選功能〔設置關聯電路板圖,顯示/隱蔽電路板圖〕：可將電路板文件名和電路板圖片相關聯。具體操作見“其它關心功能”相關章節。<03>當前所學器件編號：輸入器件在電路板上的實際位置編號，支持輸入長文件名。建立一個信息較多的長文件名，在比較測試時會更加便利。例如：在所學器件編號處輸入“U15/8031-GNDU158031其它有用信息，比簡潔輸入器件位置“U15”要好很多。<04>器件管腳數：輸入IC總管腳數。承受VIVIIC定時測試和智能存儲時，應輸入IC總管腳數而非智能存儲的實際各點總數。<05>曲線提取工具類型：可選擇各種規格的測試夾、VI〔盒〕。ICVISIP:LxB側”指離線測試板〔盒〕上雙列插座左排插孔，便于測試單排管腳器件，如電阻排、管子和模塊等。<06>結點元件類型：依據器件種類，匹配VI曲線測試頻率。其中，“數字器件”項測試頻率最高，測試速度最快?！按箅娙荨表棞y試頻率最低，測試速度最慢。<07>工作模式：VIVIVI比較”項。<08>開頭學習：啟動相應模式下的測試。建庫時是“開頭學習”，檢測時是“開頭比較”。<09>單地參考模式：任何一條VI曲線都是兩點之間形成。一個測試點，一個參考點?！皢蔚貐⒖肌笔侵杆鶞yVI曲線都以某一個點作為參考點，該點通常選擇電路板的接地線或器件地管腳，所以稱作“單地參考”。測試時應從測試儀接地端子〔COM端〕引線接到電路板上的某點作為參考點，通常接被測電路板的地線。<10>穿插參考模式：任何一點都可作為VI曲線測試參考點?！按┎鍏⒖肌敝赣脺y試夾〔測試插座〕ICVIICVI單向測試一次為“遞減穿插參考”，兩點之間雙向各測試一次為“全數穿插參考”。操作時不能再引線至測試儀的接地端子〔COM〕，否則相當于又多接出一個參考點。<11>NICVI1~12N點管腳處輸入管腳序號，之間用空格或逗號分隔。就相當于對IC的N個點單地測試?？扇コ裏o效數據，減小數據庫尺寸，提高測試速度。協作短路/擊穿檢測功能，效果更完備。<12>NICVI1~12N點管腳處輸入管腳序號，之間用空格或逗號分隔。有些IC只有承受N點共地參考模式，建庫時才能獲得穩定的VI〔COM〕VI均不需要。測試夾〔測試插座〕方式可承受全部參考模式，VI<13>已學器件：當前數據庫〔電路板文件〕中已學VI<14>器件排序規章：為便于快速查找器件，將當前數據庫〔電路板文件〕中的相關器件編號依據肯定規章排序。<15>可選功能〔設置關聯器件圖,查閱關聯器件圖〕：可將VI曲線數據庫中器件和器件圖片相關聯。具體操作見“其它關心功能”相關章節。<16>掃描幅度：VI曲線掃描幅度范圍為-28V~+28V。選擇適宜的VI曲線掃描幅度，有利于提VI4V±8V<17>掃描波形：測試儀施加的VI曲線掃描波形。可選擇三角波和正弦波。其中：三角波形成VIVI<18>曲線區分率：每條VI曲線掃描周期內的采樣點數。采樣點數越高VI曲線越清楚。采樣點數削減一半，測試頻率增加一倍，測試速度也更快。測試夾方式，VI曲線區分率最高為256/周期。VIVI512/周期。<19VI曲線時，系統自動計算兩條VIVI超差，視為有問題。不超差，視為無問題。設置允許誤差應依據具體狀況而定，帶有肯定的3%。<20>阻抗中值〔坐標系〕：轉變阻抗中值可使VI曲線盡量靠近顯示窗口中間區域，從而提高VI5cVI5VI5操作事項：<01>測試VI<02>承受40管腳以下測試夾提取VI曲線，應從測試儀電纜插座中引出測試電纜，曲線提取工具類型選擇“測試夾”。應將測試夾插入兩條扁平測試電纜靠內側插孔中，并同電纜最左VIIC管腳數自動計數，所以測試夾必需與IC1對齊放置〔4-5〕。4-5<03>單地參考模式應連接測試儀地線。其它幾種參考模式均不需要。VI如：覺察器件輸入管腳性能下降、一樣輸出單元輸出特性不全都等參數故障。在對數字器件功能測試后，應VI2N<04IC，“曲線提取工具類型”處應選擇“離線測試板”。IC1頂邊對齊放置。單地參考模式可承受NICN1〔圖4-5〕。〔黑線接測試儀地端子〕，這是抗干擾設計的必需要求。即使全部撥碼接地開關均處于關閉狀態下。<05>VI探棒建庫，只能設置單地參考模式。從測試儀接地端子〔COM端〕引出測試鉤，連接到參考點上〔4-5〕。VI從測試儀接地端子〔COM端〕引線接到被測電路板地線上，以地線作為VI曲線測試參考點。所測各點VINNICN〔COM〕VI測試參考點”這步操作。①測試夾建庫：以學習某20管腳數字IC的VI曲線為例。輸入或選擇“電路板文件”，輸入“器件編20”，選擇“測試夾”，其它設置從略。按“開頭學習”按鈕。假設ICnVIn假設IC多于20管腳，可按“下/上一屏曲線”前后掃瞄。按“刷全屏”，可重測本屏的20條VI曲線；小窗口右下角處“RVI曲線；“O”按鈕，放大顯示小窗口；“S”按鈕，可獨立設置小窗口中VIR”按鈕，小窗口刷一次。按“循環刷”的“R”按鈕，小窗口循環刷。循環刷便利之處：學習時，假設某管腳VI曲線開路，要確定是否為接觸問題，可點擊該管腳“R”按鈕，此時該管腳的VI曲線循環刷。這時可調整測試夾，看是否能會消滅VI曲線，斷定是否確實為開路。比較時，假設某管腳曲線差異較大，可選擇“比較及比照時刷至一樣停頓”選項，看是否能會消滅全都的VI假設僅僅想看一下VI曲線，可按“不存盤退出”。假設想保存所學的VI曲線，應按“存盤退出”〔4-6〕。4-6②VIVI曲線假設呈現一條水平開路線，表示沒有形成電流。通常是管腳與參考點之連續路或測試夾沒有放置好造成的，應重放置測試夾，選擇“刷”或“R”重測，首先排解測試夾未接觸問題。VI曲線水平開路，也不排解VI曲線坐標系選擇不當。按“S”按鈕，對小窗口VI〔坐標系〕向上調整。IC管腳10消滅最大電流，表示這個管腳同參考點之間短路。由于參考點連接的是電路板10在線接地。有些狀況中，VIVI曲線坐標系選擇不當。按“S”按鈕，對小窗口VI〔坐標系〕向下調整。IC的管腳20VI曲線，這是電容特性。在線時由于電路板電源和地之間有電容，即管腳20在線接電源。有時由于電容容量較大，電源管腳對地的VIS”按鈕單獨調整小窗口的阻抗中值〔坐標系〕或測試頻率〔結點元件類型〕選項。數字ICVI-4V~+4V2種VI曲線形式。<1>正向電流導通、反向電流導通特性〔管腳1〕；<2>正向電流截止、反向電流導通特性〔管腳2〕。各個管腳對地VI曲線的反向特性根本全都。這是在沒有可供比照的狀況下推斷數字ICVI曲線符合這2種規律的IC，損壞的可能性比較小。③VI無法使用測試夾的IC、分立元件、電路結點等，可選用VI探棒建庫。例如：在“VI/模擬信號1”中插入一支VI探棒，在“當前所學器件編號”處起好文件名，將“曲線提取工具1”，輸入“器件管腳數”〔≤240〕。點擊“開頭學習”。定時測試：VI探棒學習分“一般測試”和“定時測試”?！耙话銣y試”適合管腳數不多的器件，每學一個點屏幕顯示一次。“定時測試”適合多管腳表貼IC。可設置1~10秒等待時間，每個點測試完成后電腦發出“嘀”的一聲單音提示。聽到提示音后可連續接觸下一個測試點，不用反復抬頭看電腦屏幕?？梢皇殖諺I智能存儲：VI探棒學習/比較窗口有“起始管腳”和“完畢管腳”選項?？蓵和?查閱/存儲。測試多管腳IC時，無須一氣呵成學習/IC，可一次只學習/比較任意一邊管腳或更少。并可隨時暫停，再重設置起始管腳連續測試。能夠隨時存儲，屢次退出再進入。對學習過中沒有學習好的管腳，事后可在“查閱”功能里單獨修改。44PLCCICIC1222的11個管腳。在“當前所學器件編號”輸入U1-PLCC-44，“器件管腳數”輸入44。這里應IC4411。“曲線提取工具類型”選擇探棒VI1。按“開頭學習”進入VI探棒學習窗口。選擇“定時測試”，“起始管腳”輸入12，“完畢管腳”輸入22，選擇適合自己的“各腳測試預備時間”，開頭“測試”。測試過程中可隨時“中止測試”。完畢或中止測試后“存儲”測試結果〔4-7〕。4-7曲線修改：定時測試提取VI曲線時，假設某一個管腳沒有測試好，可臨時不用管，連續去學習后面的VI特性曲線查閱”項，找到該器件沒有學習好的管腳，點擊窗口右下角處的“RVIVI曲線時管腳17沒有學習好，是一條水平開路線〔4-8〕。點擊17窗口右下角處“R”重提取VIS”按鈕，可獨立設置VIVI4-8只有VI曲線單地參考模式〔測試夾單地和VI探棒單地〕測試，才需要從測試儀的接地端子〔COM〕引線作為參考點。以下的其它測試參考模式一概不需要。VI穿插參考測試可自動提取IC任意兩管腳之間的VI曲線。不用人為調整參考點，測試時不能再另接參考點。假設ICnVI=n×〔n–1〕/2=n×n40D8255ACIC40×〔40–1〕/2=780VI40×40=1600VIICVIIC兩管腳之間正向、反向各測試一次VI曲線。由于VI曲線在正負電壓區間掃描，兩點之間僅單向測試一次VI曲線可完整反映阻抗特性，所以遞減穿插和全數穿插信息量一樣。雖然遞減穿插具有提取曲線少和測試速度快的優點，但是顯示效果不如全數穿插好。因此，還是建議多承受全數穿插測試。選擇“測試夾”，選擇“全數穿插參考”，選擇256點/周期，選擇“數字器件”，其它設置選擇從略。按“開頭學習”按鈕。40/801600VI123,管4..4026D8255AC272627ICIC4-9VINN1~12個管腳分別作為參考點，提取ICVI假設ICn，NVIN=n×NIC管腳之間形成的VI曲線，也是推斷IC故障的重要依據。但有些IC特性聯系，全是水平開路形式的VI40D8255ACIC40/801600VID8255AC7262120VI17〔接地腳〕形成非水平開路形式的VI〔4-10〕。4-10ICVIIC手段。假設沒有VIN點穿插參考，需要分別以IC接地管腳和電源管腳為參考點，進展2VI2個文件。承受VI曲線ND8255AC7/267〔接地腳〕26〔電源腳〕2次，存儲2N點穿插測試，輸入器件管腳數“40”，選擇“離線板〔盒〕”，選擇“NN7和26，序號之間用空格或逗號隔開。其它設置選擇從略〔圖4-11〕114-11D8255AC7/26NVI40/801600VI2/480VI〔4-12〕VI數據庫。協作“短路/擊穿檢測”功能，更加簡潔和完備。4-12IC測試儀的接地端子〔COM〕VIVINN1~12個管腳同時作為參考點，提取IC管腳的VIICVI假設ICn，NVIN=n以離線單地測試ADC0804〔20810〕為例。VI外形不抱負〔4-13〕。4-13ADC0804108VI8/10參考點。選擇“離線板〔盒〕”，選擇“N點共地參考”，在“指定N點管腳”處輸入8和10，序號之間用空格或逗號隔開。其它設置選擇從略〔圖4-14〕。4-14ADC08048/10〔模擬地和數字地〕做NVI〔4-15〕。實測中，應依據VIN<01>有些IC需要將接地腳和負電源腳做N點共地測試；<02>有些IC需要將接地腳和正電源腳做N點共地測試；<03>有些IC需要將數字地和模擬地腳做N點共地測試。4-15VI曲線建庫ICIC各個管腳能夠獨立設置，以最能反映管腳特征的測試參數〔阻抗中值/掃描幅度/結點類型/掃描波形〕建庫。各個管腳測試參數不再是統一的，可繽紛設置。建立高性能VI曲線數據庫。1kΩ坐標系〔阻抗中值〕20MC68B501〔1Vss〕單地參考模式建庫〔4-16〕56VIVI略有差異，表現為正電壓區段VI4-165S”10kΩVIVI接近45VI曲線外形或位置的微小變化〔圖4-17〕5/6VIVI〔4-18〕。114-174-18VI〔檢測〕把故障電路板〔或器件〕各個結點之間VIVIVI差異的故障點。在工作模式處選擇“VI〔4-19〕。4-19設置選項：<01>電路板文件：選擇數據庫。<02>選擇器件：選擇待比較的器件。VI<033%?？梢罁c數據庫全都性的實際狀況進展選擇。<04>器件排序規章：依據肯定的規章排序，便于在數據庫中快速查找到待比較的器件。測試夾比較〔檢測〕：19以測試夾單地參考模式比較VI曲線為例。按“開頭比較”按鈕，比較被測IC和數據庫VI曲線差異〔4-20〕IC管腳7對參考點〔電路板的地線〕短路，是明顯的故障點。4-20VI〔檢測〕：以探棒方式比較VI曲線為例。按“開頭比較”按鈕，進入比較測試窗口。VI探棒比較也分為一般測試和定時測試。一般測試可逐點查看比較結果。定時測試適于測試高密度多管腳IC，實現不抬頭比較。假設實測和已學VI曲線相符，每點測試完成后，電腦發出“嘀”的一聲單音提示。假設不相符，測試完成后電腦發出“嘀嘀”兩聲提示，臨時終止測試。屏幕提示選擇“重測試”、“無視本腳”或者“終止測試”。同樣支持設置“起始管腳”和“完畢管腳”選項?？呻S時“暫停”測試〔圖4-21〕。4-21VI〔檢測〕：VI曲線比較時，假設IC某一管腳或某些管腳的VIVIICICVIVI標準。這樣，可避開將一種型號IC2074LS373VIICVI不相符〔圖4-22〕。該IC為也是無故障器件，僅為廠家生產不同。為便利以后比較，可將這個ICVIVI4-22VI曲線比較時，默認首先與數據庫中的標準VI曲線進展比較。假設不匹配，可再與參考VI〔4-23〕。4-23VIVIICVI典型故障VIICVI〔檢測〕應留意的問題：在線比較VI曲線，假設覺察某器件管腳VI曲線好、壞不全都，不肯定是當前所測器件消滅故障。由于這個管腳在線可能還連接了其它器件，其它器件故障也會在測試這個管腳時表達出來。所以在線比較VI曲線時要形成結點意識，是VI曲線不全都管腳所處的結點回路有問題，需要圍繞這個結點進一步排查。<01>好、壞電路板上假設有<02>好、壞電路板有沒有缺器件或局部電路不全都的狀況，板上的器件<04IC一樣，是否器件生產廠家不一樣等。離線比較VI曲線，假設覺察某管腳的VI曲線好、壞不全都，通常是故障。IC，VIVIVI對于沒有數據庫可供比照的單獨IC，比較IC各個同性質管腳〔地址端、數據端、正/反輸入端、正/反輸出端等〕對地管腳/VI曲線〔N點穿插模式〕，也可有效覺察ICVIVIVI特性曲線查閱項可查看承受各種測試方式建立的VI曲線數據庫。重要的是：VI曲線查閱項還可修改VIVI曲線定時測試方式建庫簡潔出錯。為了不影響建庫效率，測試過程中可臨時不用顧忌某些沒有測試到的管腳結點。建庫完畢后，再進入“VI特性曲線查閱”項，點擊“R”可重測小窗口。對沒有測試到的管腳結點重建庫，集中修改。集中修改還包括對VI探棒方式數據庫中的各個管腳進展獨立設置，以最能反映管腳特征的測試參數〔阻抗中值/掃描幅度/結點類型/掃描波形〕建立高性能VI1kΩ坐標系/±4V/VI12結點。建庫完畢后，再進入“VI特性曲線查閱”項，點擊“S”可重設置某個小窗口的測試參數。調整阻抗中值/掃描幅度/結點類型/掃描波形等測試參數，可建立VI探棒方式高性能數據庫，消退VIVI12VI測試參數下比較，而是在繽紛測試參數下比較檢測?？沙浞直ＷC每個管腳結點VI曲線都處于最正確顯示范圍，從而消退VIVIVIVI曲線探棒巡檢測試可動態顯示管腳結點之間的VI曲線，自動刷，高清顯示〔支持512點/周期〕。適合于對分立元件較多的電路板或不便于用測試夾夾取的表貼IC做逐點動態測試，不建立數據庫。進入方式：VI2①從工作模式處選擇“VI②從系統軟件主窗口上端一排快捷鍵中的“VI2VI〔4-24〕VI可獨立設置測試窗口的測試參數。2VI12212人同時各自做VI4-24設置選項：<01>探棒巡檢曲線類型：通常選擇單周期穩態曲線。VI探棒測試電容時，假設消滅VI曲線不閉合的狀況，為改善顯示效果，也可選擇雙周期。<02>聲音提示：承受雙探棒進展VI曲線巡檢比照測試，兩條VI曲線全都，電腦會發出“嘀嘀”的提示音。在測試過程中不用反復看電腦屏幕。假設需要靜音測試，可關閉聲音。提示音由電腦發聲，windows7<03>阻抗中值〔坐標系〕：可單項選擇/組合/全選。即：抑制VI曲線兩軸測試盲區的5cVI曲線5〔簡稱：5cVI〕。5cVI/電流/阻抗三維度VI根本操作：①單探棒操作：用測試鉤將被測板或器件和測試儀共地。從工作模式處或主窗口上端快VIVI1〔或探棒2〕，進展VI1〔2〕，VI〔COM〕作為VI22〔2〕和測試儀共地，從工作模式處或主窗口上端快捷鍵圖標進入VI曲線探棒巡檢設置窗口。在“曲線提取工具類型”處選擇雙探棒，進展VI③雙窗口測試：從工作模式處進入一個VI曲線探棒巡檢設置窗口，在“曲線提取工具類型”處選擇VI探棒1，接出一支探棒1〔比照測試時可選雙探棒〕。從主窗口上端快捷鍵圖VIVI1〔比照測試時可選雙探棒〕1選擇100Ω坐210kΩVIVI④雙人同時測：從工作模式處進入一個VI曲線探棒巡檢設置窗口，在“曲線提取工具類VI探棒11。從主窗口上端快捷鍵圖標進入另一個“VI曲線探棒巡檢”設置窗口，在“曲線提取工具類型”處選擇VI2，2VI測試設置任意。兩個人可同時各自做VI單獨測試電路結點：單獨測試電路結點時，一個5cVI曲線窗口中同時消滅5種不同顏色代表5種阻抗中值〔坐標系〕的VI5種坐標系疊加成一個窗口。5種坐標系可單項選擇、自由組合疊加或5種全部疊加。能夠充分表現結點特征，不會隱蔽漂浮并聯在電路結點上的任何器件。無論結點特征消滅在哪個阻抗區域，5cVI1VI〔1標系〕處于最高靈敏度。例如：在1kΩ100Ω電阻的VI曲線。有時這不肯定只是一個電阻〔圖4-25左〕。而承受5cVI曲線測試這個電路結點，可看到該結點100ΩPN結〔二極管〕PN結被100Ω坐標系覺察。這是典型的VI曲線y軸測試盲區。1kΩ坐標系只能夠覺察100Ω電阻，而10kΩ/100kΩ/470kΩ這3VI31條100Ω〔4-25〕。4-25按“完畢巡檢”后，5cVI曲線窗口中會保存測試結果。點擊5cVI曲線窗口右側的“S”開關，只顯示該“S”開關對應阻抗中值〔坐標系〕1VI比照測試電路結點：5cVI10VI5cVI曲線1〔2〕VI〔1〕處于最高靈敏度。例如：在1kΩPN結〔二極管〕VI曲線。兩塊電路板結點VI曲線完全一樣，相對誤差僅為0.4%。有些狀況下，這不PN〔4-26〕5cVI不是一個單純的反向PN結，各自都并聯了一個電容。是典型的VI曲線x軸測試盲區。在470kΩ5.0%，說明兩個電容的容值存在差異〔圖4-26〕。4-265cVI曲線窗口中能夠自動提示最大相對誤差以及其對應的阻抗中值。按“完畢巡檢”后，5cVI曲線窗口中會保存比照測試結果。點擊5cVI曲線窗口右側的“S”開關，只顯示該“S”開關對應阻抗中值〔坐標系〕1VI測試電容：容抗和容值成反比〔X＝1／2πfC〕VI曲線〔圖4-c2〕與不同容值電容VI曲線的變化規律正好相反。容值越小，VI曲線越趨近x軸〔容抗越大〕；容值越大，VIy軸〔容抗越小〕x軸→圍繞x軸橢圓形VIVI曲線→圍繞y軸橢圓形VIy電容在溝通信號下，電流相位超前電壓相位90°。因此對電容施加正弦波和三角波掃描波形時，會形成VI容抗和頻率成反比〔X＝1／2πfC〕。在同一個坐標系中，調整“結點元件類型”項，可c轉變VI〔大電容項〕，使VIy軸。測試小容值電容，應提高測試頻率〔數字器件項〕，使VI曲線遠離x軸。調整后可相對VI容抗只和容值和頻率有關。在5坐標系中，同一個電容與同一個電阻的VI〔圖4-3〕。坐標系由低到高，VI〔或重合〕x〔或重合〕yxxVIVIyVIy5cVI/電流/VI5此會呈現出電容VI曲線圓潤秀麗的一面，可謂鷹爪也溫順。例如：承受5cVI曲線單獨測試0.1μF5VI曲線圓潤秀麗。一般VI〔100Ω/1kΩ坐標系〕，只會呈現VIx〔綠線/白線〕。5cVI10kΩ以上坐標系〔黃線/粉線/藍線〕都能看出電容特性。其中：470kΩ坐標系〔藍線〕呈現出正圓形VI〔4-27〕。4-27雙人同時測試：VI1VIVI2VI工作模式處和快捷鍵處各自翻開一個VI曲線探棒巡檢設置窗口。一個設置為探棒1，另一個2VI11A15cVIVI22B25cVI工和李工正在同時使用同一臺測試儀，各自獨立進展5cVI曲線測試。適合于人員較多的檢測公司，也適合于師傅帶徒弟〔4-28〕。4-285cVI2窗口。例如：單獨測試電路結點，從測試儀VI1VI25cVI2123VI〔100Ω/10kΩ/470kΩ間隔選取〕2VI〔1kΩ/100kΩ間隔選取〕。單窗口5cVI曲線拆分成2窗口之后，視覺效果更佳。同理，比照測試VI1VI2VI226VI4VI說明事項：<01>5cVI2VI100Ω/10kΩ效果最正確。<02>可協作腳踏開關，用于在雙手同時比照5cVI曲線時，完成完畢巡檢操作。<03>不能在VI220V<04>假設長時間不測試，應準時“完畢巡檢”。測試時再重“開頭巡檢”。否則會影響測試儀內部切換繼電器的使用壽命。調整VI雖然遠無法和阻抗中值〔坐標系〕因素相比，但測試頻率和掃描幅度等因素，某些狀況也會影響VI阻抗中值〔坐標系〕影響測試靈敏度圖例：1]