標準解讀

《GB/T 8646-1998 半導體鍵合鋁-1%硅細絲》是一項國家標準,主要針對半導體行業(yè)中使用的鋁-1%硅細絲(通常稱為鍵合金絲)制定了詳細的技術要求和測試方法。該標準適用于直徑范圍在12.5μm至300μm之間的鋁-1%硅細絲,這些細絲主要用于集成電路和其他微電子器件內(nèi)部連接點之間的電氣連接。

根據(jù)標準內(nèi)容,鋁-1%硅細絲需要滿足一定的物理特性和化學成分要求。物理特性方面包括但不限于細絲的直徑、拉伸強度、延伸率等;化學成分則明確規(guī)定了鋁與硅的比例以及可能存在的其他微量元素的最大允許含量。此外,還規(guī)定了對細絲表面質(zhì)量的要求,如不允許存在影響使用性能的缺陷或污染。

對于檢測方法,《GB/T 8646-1998》也給出了具體指導,涵蓋了從取樣到最終結果分析的全過程。比如,在進行直徑測量時推薦使用顯微鏡或其他合適工具來確保精度;而關于化學成分分析,則可以采用光譜法等多種手段來進行。


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  • 廢止轉(zhuǎn)行標
  • 本標準已被廢除、停止使用,轉(zhuǎn)為行業(yè)標準
  • 1998-07-15 頒布
  • 1999-02-01 實施
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文檔簡介

5C8.29.045H81中華人民共和國國家標準GB/T8646-—1998半導體鍵合鋁-1%硅細絲Finealuminum-1Bsiliconwireforsemiconductorlend-bonding1998-07-15發(fā)布1999-02-01實施國家質(zhì)量技術監(jiān)督局發(fā)布

中華人民共和國國家標準半導體鍵合鋁-1%硅細絲GB/T8646-1998中國標準出版社出版發(fā)行北京西城區(qū)復興門外三里河北街16號郵政編碼:10KN45電話:63787337、637874471998年12月第一版20%05年1月電子版制作書號:155066·1-15361版版權專有浸權必究舉報電話:(010)68533533

GB/T8646-1998前本標準是在GB8646-88的基礎上,參照美國ASTMF487—88(半導體鍵合鋁-1%硅細絲)修訂的本標準將原標準名稱《半導體器件鍵合用鋁硅合金(AISi1)絲》改為《半導體鍵合鋁-1%硅細絲》合金牌號表示方法AISi改為A1-1%Si,與美國ASTM標準一致。本標準按GB/T1.1一1993標準要求進行編寫,增設"前言"、并增加"范圍"、"引用標準"和“訂貨單內(nèi)容"三章。原標準中第一章品種及規(guī)格按(B/T1.1的規(guī)定取消.將1.1條內(nèi)容并入本標準的第四章“要求"中,并取消允許偏差I級,與美國ASTM標準一致;將1.2條絲材單頭長度取消,歸并到本標準第三章"訂貨單內(nèi)容”的有關條款中。本標準在尺寸分檔中增加了0.018mm、0.032mm、0.045mm三檔;將原標準中力學性能表4、表5合并在本標準的表3中,個別數(shù)據(jù)進行了調(diào)整,使之更趨合理。本標準將拉斷力最大范圍縮小了1~2g,伸長率最大值下調(diào)了0.5%~1%,與美國ASTM標準致本標準增加“表面應無超過直徑允許偏差的刻痕、凹坑、劃傷、裂紋和其他降低力學性能的缺陷”,比原標準更直觀。本標準在原標準的基礎上,明確了表面質(zhì)量試驗按SJ/T10705—96《半導體器件鍵合絲表面質(zhì)量檢驗方法》進行。本標準取樣數(shù)量將原標準中規(guī)定的“每批絲材按軸數(shù)取3%"改為“每批絲材按軸數(shù)取1%",與美國ASTM標準一致。本標準從生效之日起,同時代替GB8646-88。本標準由中國有色金屬工業(yè)總公司提出。本標準由中國有色金屬工業(yè)總公司標準計量研究所歸口。本標準由北京有色金屬與稀土應用研究所負責起草。本標準主要起草單位:北京有色金屬與稀土應用研究所、天津市有色金屬研究所本標準主要起草人:趙月國、楊順興、陶毓芬。本標準于1988年2月首次發(fā)布。

中華人民共和國國家標準GB/T8646-1998半導體鍵合鋁-1%硅細絲代替GB8646-88Finealuminum-1%siliconwireforsemiconductorlend-bonding1范圍本標準規(guī)定了半導體鍵合鋁-1%硅細絲的要求、試驗方法、檢驗規(guī)則及包裝、標志、運輸、定存,本標準適用于半導體鍵合用圓形拉制Al-1%Si合金絲。2引用標準下列標準所包含的條文,通過在本標準中引用而構成為本標準的條文。本標準出版時,所示版本均為有效。所有標準都會被修訂,使用本標準的各方應探討使用下列標準最新版本的可能性GB/T191-90包裝儲運圖示標志GB6987.1~6987.21—86鋁及鋁合金化學分析方法GB/T8750—1997半導體器件鍵合金絲GB/T10573—89有色金屬細絲拉伸試驗方法GB/T15077—94貴金屬及其合金材料幾何尺寸測量方法SJ/T10705—96半導體器件鍵合絲表面質(zhì)量檢驗方法3訂貨單內(nèi)容凡訂購本標準的材料的訂貨單(或合同)內(nèi)應包括下列內(nèi)容a)材料名稱、牌號、狀態(tài);b)所需數(shù)量:)尺寸、公差及單頭長度;d)拉斷力和伸長率;e)絲軸形狀及尺寸;f)

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