ICS7104040

G86..

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T58322—2016

代替.

GB/T5832.2—2008

氣體分析微量水分的測(cè)定

第2部分露點(diǎn)法

:

Gasanalysis—Determinationofmoisture—

Part2Dewointmethod

:p

2016-12-13發(fā)布2017-07-01實(shí)施

中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布

中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T58322—2016

.

前言

氣體分析微量水分的測(cè)定分為多個(gè)部分目前暫分為部分

GB/T5832《》,3:

第部分電解法

———1:;

第部分露點(diǎn)法

———2:;

第部分光腔衰蕩光譜法

———3:。

本部分為的第部分

GB/T58322。

本部分按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本部分代替氣體中微量水分的測(cè)定第部分露點(diǎn)法與

GB/T5832.2—2008《2:》,GB/T5832.2—

相比除編輯性修改以外主要技術(shù)變化如下

2008,:

標(biāo)準(zhǔn)名稱修改為氣體分析微量水分的測(cè)定第部分露點(diǎn)法

———《2:》;

修改了測(cè)定范圍見(jiàn)第章年版的第章

———(1,20081);

修改了規(guī)范性引用文件見(jiàn)第章年版的第章

———(2,20082);

刪除了術(shù)語(yǔ)和定義見(jiàn)年版的第章

———(20083);

修改了方法原理見(jiàn)第章年版的第章

———(3,20084);

修改了露點(diǎn)儀的基本要求見(jiàn)第章年版的第章

———(4,20085);

修改了測(cè)定步驟見(jiàn)第章年版的第章

———(5,20086);

刪除了影響測(cè)定的主要因素見(jiàn)年版的第章

———(20087);

刪除了精密度見(jiàn)年版的第章

———(20088);

修改了結(jié)果處理見(jiàn)第章年版的第章

———(6,20089);

修改了對(duì)報(bào)告的要求見(jiàn)第章年版的第章

———(7,200810);

修改了露點(diǎn)體積分?jǐn)?shù)對(duì)照表見(jiàn)附錄年版的附錄

———-(A,2008A)。

本部分由中國(guó)石油和化學(xué)工業(yè)聯(lián)合會(huì)提出

。

本部分由全國(guó)氣體標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)氣體分析分技術(shù)委員會(huì)歸口

(SAC/TC206/SC1)。

本部分起草單位西南化工研究設(shè)計(jì)院有限公司北京華宇同方化工科技開(kāi)發(fā)有限公司天津聯(lián)博

:、、

化工股份有限公司北京高麥克儀器科技有限公司廣東華特氣體股份有限公司上海電控研究所四川

、、、、

中測(cè)標(biāo)物科技有限公司上海昶艾電子科技有限公司西安鼎研科技有限責(zé)任公司上海華愛(ài)色譜分析

、、、

技術(shù)有限公司大連大特氣體有限公司蘇州金宏氣體股份有限公司中昊光明化工研究設(shè)計(jì)院有限公

、、、

司四川德勝集團(tuán)釩鈦有限公司

、。

本部分主要起草人何道善江羅薛定傅鑄紅杜漢盛水浩淼張?chǎng)┢延褟?qiáng)石兆奇方華

:、、、、、、、、、、

孫赟龍金向華孫猛常俠李兵

、、、、。

本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為

:

———GB/T5832.2—1986、GB/T5832.2—2008。

Ⅰ

GB/T58322—2016

.

氣體分析微量水分的測(cè)定

第2部分露點(diǎn)法

:

1范圍

的本部分規(guī)定了采用露點(diǎn)法測(cè)定氣體中微量水分的方法

GB/T5832。

本部分適用于氫氧氮氦氖氬氪氙氧化亞氮等氣體及其混合氣體中微量水分的測(cè)定不適

、、、、、、、、。

用于在水分冷凝前就冷凝的氣體以及能與水分發(fā)生反應(yīng)的氣體

。

本部分適用于氣體露點(diǎn)的測(cè)定

0℃~-100℃。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

工業(yè)用化學(xué)產(chǎn)品采樣安全通則

GB/T3723

3原理

將一置于恒定壓力氣體氛圍中的光潔金屬鏡面逐步冷卻降溫時(shí)氣體和氣體中水分的分壓保持不

,

變直至氣體中的水分達(dá)到飽和而在鏡面形成露霜測(cè)定形成露霜的瞬間溫度即露點(diǎn)溫度在露

,()。(),。

點(diǎn)溫度下水的飽和蒸汽壓與測(cè)定池內(nèi)氣體壓力之比即為以體積分?jǐn)?shù)表示的水分含量不同的露點(diǎn)溫

,,。

度對(duì)應(yīng)不同的水分含量氣體中水分的含量直接以水分的露點(diǎn)溫度表示

。。

4露點(diǎn)儀

41儀器描述

.

露點(diǎn)儀應(yīng)由氣路和測(cè)定池系統(tǒng)拋光鏡面和露霜觀測(cè)系統(tǒng)冷卻降溫及控制系統(tǒng)露點(diǎn)溫度測(cè)量

、()、、

系統(tǒng)等部分組成儀器的氣路系統(tǒng)通常包括測(cè)定池連接管線及接頭還可包括流量調(diào)節(jié)閥等

。、,。

42露點(diǎn)儀的基本要求

.

421降溫能力應(yīng)與樣品氣的水分露點(diǎn)溫度相適應(yīng)降溫速率應(yīng)可以調(diào)控

..。。

422樣品氣流量應(yīng)可以調(diào)控

..。

423