ICS31.030L90中華人民共和國國家標準CB/T5593—1996電子元器件結構陶瓷材料Structureceramicmaterialsusedinelectroniccomponents1996-09-09發布1997-05-01實施國家技術監督局發布

GB/T5593-1996日次前言范圍引用標準3定義4要求試驗方法6檢驗規則7標志、包裝、運輸和存………

GB/T5593-1996前本標準文本是國家標準GB5593-85《電子元器件結構陶究材料》的第一次修訂版本標準按國家標準GB/T1.1一1993的要求對GB5593-85進行了修改;對電子元器件結構陶瓷材料的一些性能指標進行了補充和修訂;按照國家標準GB4457～4460—84、GB1182～1184一80的規定，對GB5593-85中測試樣品形狀、尺寸和要求進行了修訂。本標準自實施之日起同時代替GB5593—85.本標準由中華人民共和國電子工業部提出。本標準由電子工業部標準化研究所歸口。本標準起草單位：北京真空電子技術研究所和電子工業部標準化研究所。本標準主要起草人：高隴橋、肖水光、曾桂生、譚少華、王玉功。

中華人民共和國國家標準cB/T5593-1996電子元器件結構陶瓷材料代替GB5593-85Structureceramicmaterialsusedinelectroniccomponents范圍本標準規定了電子元器件結構陶瓷材料(以下簡稱陶瓷材料)的要求、試驗方法、檢驗規則、標志、包裝、運輸、財存等。本標準適用于裝置零件、電子管、電阻基體、半導體及集成電路等用的各種陶瓷材料2引用標準下列標準所包含的條文，通過在本標準中引用而構成為本標準的條文。本標準出版時·所示版本均為有效。所有標準都會被修訂，使用本標準的各方應探討使用下列標準最新版本的可能性。GB1966—80多孔陶瓷顯氣孔率容重試驗方法GB2413—81壓電陶瓷材料體積密度測量方法GB2421-—89電工電子產品基本環境試驗規程總則GB5592—85電子元器件結構陶瓷材料的名稱和牌號的命名方法GB5594.1—85電子元器件結構陶瓷材料性能測試方法氣密性測試方法GB5594.2—85電子元器件結構陶瓷材料性能測試方法：楊氏彈性模量泊松比測試方法GB5594.3—85電子元器件結構陶瓷材料性能測試方法：平均線膨脹系數測試方法GB5594.4—85電子元器件結構陶瓷材料性能測試方法：介質損耗角正切值的測試方法GB5594.5—85電子元器件結構陶瓷材料性能測試方法體積電阻率測試方法GB5594.6—85電子元器件結構陶瓷材料性能測試方法化學穩定性測試方法GB5594.7-85電子元器件結構陶瓷材料性能測試方法：透液性測試方法GB5594.8-85電子元器件結構陶瓷材料性能測試方法顯微結構的測定方法GB5597-85固體電介質微波復介電常數的測試方法GB5598-85氧化皺瓷導熱系數測定方法·GB9530—88；電子陶瓷名詞術語3定義本標準所用定義符合GB9530的規定。要求4.1分類與命名陶瓷材料根據其用途和性能按表1進行分類。其名稱和牌號的命名符合GB559