ICS25.220.40A29中華人民共和國國家標準GB/T4956-2003/ISO2178:1982代替GB/T4956—1985磁性基體上非磁性覆蓋層覆蓋層厚度測量磁性法Non-magneticcoatingsonmagneticsubstrates-Measurementofcoatingthickness-Magneticmethod(ISO2178:1982,IDT)2003-10-29發布2004-05-01實施中華人民共和國發布國家質量監督檢驗檢疫總局

中華人民共和國國國家標準磁性基體上非磁性覆蓋層覆蓋層厚度測量磁性法GB/T4956-2003/1SO2178：1982中國標準出版社出版發行北京西城區復興門外三里河北街16號郵政編碼：100045電話：63787337、637874472004年3月第一版2004年11月電子版制作書號：155066·1-20459如有排版錯誤本社負責解決版權專有侵權必究舉報電話：010)68533533

GB/T4956-2003/ISO2178:1982前本標準等同采用ISO2178:1982《磁性基體上非磁性覆蓋層覆蓋層厚度測量磁性法》英文版）本標準代替GB/T4956—1985《磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測量磁性方法》。本標準根據ISO2178:1982作如下編輯性修改：a）用"本標準"代替“本國際標準”：b）取消了國際標準的前言；C）為便于使用,引用了采用國際標準的國家標準；d）增加了規范性引用文件。本標準由中國機械工業聯合會提出。本標準由全國金屬與非金屬覆蓋層標準化技術委員會歸口。本標準負責起草單位：武漢材料保護研究所本標準參加起草單位：浙江樂清市新豐企業有限公司本標準主要起草人：喻暉、鐘立暢、馮永春、賈建新、鄭秀林本標準所代替標準的歷次版本發布情況為：-GB/T4956-1985。

GB/T4956-2003/IS02178:1982磁性基體上非磁性覆蓋層覆蓋層厚度測量磁性法范圍本標準規定了使用磁性測厚儀無損測量磁性基體金屬上非磁性覆蓋層(包括釉瓷和塘瓷層)厚度的方法。本方法僅適用于在適當平整的試樣上的測量。。非磁性基體上的鎳覆蓋層厚度測量優先采用GB/T13744規定的方法。2規范性引用文件下列文件中的條款通過本標準的引用而成為本標準的條款。凡是注日期的引用文件.其隨后所有的修改單(不包括勤誤的內容)或修訂版均不適用于本標準.然而，鼓勵根據本標準達成協議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本標準。GB/T12334金屬和其他非有機覆蓋層關于厚度測量的定義和一般規則(idtISO2064)GB/T13744磁性和非磁性基體上鎳電鍍層厚度的測量(eqvISO2361)原理磁性測厚儀測量永久磁鐵和基體金屬之間的磁引力.該磁引力受到覆蓋層存在的影響;或者測量穿過覆蓋層與基體金屬的磁通路的磁阻。影響測量準確度的因素下列因素可能影響覆蓋層厚度測量的準確度。覆覆蓋層厚度測量準確度隨覆蓋層厚度的變化取決于儀器的設計。對于薄的覆蓋層，其測量準確度與覆蓋層的厚度無關.為一常數;對于厚的覆蓋層，其測量準確度等于某一近似恒定的分數與厚度的乘積。4.2基體金屬的磁性基體金屬磁性的變化能影響磁性法厚度的測量。為了實際應用的目的，可認為低碳鋼的磁性變化是不重要的。為了避免各不相同的或局部的熱處理和冷加工的影響，儀器應采用性質與試樣基體金屬相同的金屬校準標準片進行校準：可能的話，最好采用待鍍覆的零件作標樣進行儀器校準。4.3基體金屬的厚度對每一臺儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于此臨界厚度時·金屬基體厚度增加·測量將不受基體金屬厚度增加的影響。臨界厚度取決于儀器測頭和基體金屬的性質.除非制造商有所規定，臨界厚度的大小應通過試驗確定。4.4邊緣效應本方法對試樣表面的不連續敏感，因此·太靠近邊緣或內轉角處的測量將是不可靠的,除非儀器專門為這類