ICS31.080.01L40中華人民共和國國家標準GB/T：4589.1—2006/IEC60747-10:1991QC700000代替GB/T4589.1—1989半導體器件第10部分：分立器件和集成電路總規范Semiconductordevices-Part10:Generiespecificationfordiscretedevicesandintegratedcircuits(IEC60747-10:1991.IDT)2006-10-10發布2007-02-01實施中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局愛布中國國家標準化管理委員會

GB/T4589.1-2006/IEC60747-10:1991三前言范圍2總則2.1優先順序2.2有關文件2.3單位、符號和術語·2.4電壓、電流和溫度的優先值2.5標志·……2.6質量評定類別2.72.8注意事項3質量評定程序3.1定批準的資格3.2商業保密信息3.3檢驗批的構成3.4結構相似器件3.5鑒定批準的授予3.6質量一致性檢驗3.7統計抽樣程序3.8規定LTPD時的耐久性試驗3.9規定失效率時的耐久性試驗3.10加速試驗程序…………3.11能力批準4試驗和測試程序…………….4.1電測試和光測試的標準大氣條件164.2破壞性試驗定義·……·…·…·16物理檢查………4.3164.4電測試和光測試·4.5環境試驗…批允許不合格品率(LTPD)抽樣方案附錄A（規范性附錄）16附錄B（規范性附錄)需檢查的尺寸…附錄C（規范性附錄）20附錄D（資料性附錄）按ppm(百萬分之一)評價質量水平…27附錄NA（資料性附錄）本標準對IEC60747-10:1991所做的編輯性修改和原因

GB/T4589.1-2006/IEC60747-10:1991前本部分是半導體器件系列國家標準之一。下面列出本系列已出版的國家標準：GB/T12560—1999半導體器件分立器件分規范（B/T17573—1998半導體器件分立器件和集成電路第1部分：總則GB/T4023—1997半導體器件分立器件和集成電路第2部分：整流二極管GB/T6571—1995半導體器件分立器件第3部分：信號(包括開關)和調整二極管GB/T20516—2006半導體器件分立器件第4部分：微波器件GB/T15291—1994半導體器件第6部分：品閘管-B/T4587—1994半導體器件分立器件和集成電路第7部分：雙極型晶體管GB/T4586-1994半導體器件分分立器件第8部分：場效應晶體管GB/T16464-1996半導體器件：集成電路第1部分：總則GB/T17574-1998半導體器件集成電路第2部分：數字集成電路GB/T17940-2000半導體器件集成電路第3部分：模擬集成電路GB/T12750—1991半導體集成電路分規范(不包括混合電路)GB/T8976—1996膜集成電路和混合膜集成電路總規范GB/T11498—1989膜集成電路和混合膜集成電路分規范(采用鑒定批準程序）GB/T16465—1996膜集成電路和混合膜集成電路分規范(采用能力批準程序)本部分等同采用IEC60747-10:1991(QC700000）《半導體器件第10部分：分立器件和集成電路總規范》英文版)。同時將下列三個修改單的有關內容納入其中：mendement1(1995-02)；Amendement2(1996-02)Amendement3（1996-08)。本部分代替GB/T4589.1—1989《半導體器件分立器件和集成電路總規范》本部分與GB7T4589.1—1989相比，主要變化如下：-2.1條優先順序中"空白詳細規范”排在了“族規范"之前;22.2條有關文件中刪除了與IEC147、IEC148有關的標準.增加了IEC60747-5：1984.IEC60747-11:1985IEC60748-1:1984、IEC60748-2:1985IEC60748-3:1986IEC60748-11:1990等有關標準.同時ISO2015:1976被ISO8601:1988替代.ISO1000的年代號更新為1981.ISO2859的年代號更新為1989：增加了2.8*注意事項”的內容;增加了3.10“加速試驗程序"3.11“能力批準”和4.2“破壞性試驗的定義”等相關內容；增加了附錄D(資料性附錄)“按ppm(百萬分之一)評價質量水平"；對第3.9.51）的內容進行了變更；對第4章“電測試”內容進行了調整，本章內容也適用于光測試.因此該章所有“電測試”改為“電測試和光測試”；對對第4章中正文參考的標準，如IEC60747-2、IEC60747-5.本部分刪除該標準號及其相關內容：附錄B"需檢查的尺寸”中對集成電路部分進行了調整本部分2.2有關文件中與IEC標準相對應等同采用的國家標準是：

GB/T4589.1-2006/IEC60747-10：1991IEC標準編號IEC標準編號國家標準編號國家標準編號IEC60068-1:1988GB/T2421-IEC60747-1：1983-1999GB/T17573--1998GB/T2423.1-2001IEC60068-2-1:1990TEC60747-11:1985GB/T12560-—1999IEC60068-2-2：1974GB/T2423.2-2001IEC60748-1:1984GB/T16464-1996IEC600617-12:1991GB/T4728.12-19961EC60748-2:1985GB/T17574-—1998IEC600617-13:1993GB/T4728.13-1996EC60748-3:1986GB/T17940-2000本部分對IEC60747-10:1991的編輯性修改意見見附錄NA本部分的附錄八、附錄B和附錄C是規范性附錄,附錄D、附錄NA是資料性附錄本部分由中華人民共和國信息產業部提出。本部分由全國半導體器件標準化技術委員會歸口本部分起草單位：中國電子技術標準化研究所(CESI).本部分主要起草人：羅發明、陳裕昆、金毓鈴

GB/T4589.1-2006/IEC60747-10:1991半導體器件第10部分：分立器件和集成電路總規范1范圍本規范構成國際電工委員會電子元器件質量評定體系(IECQ)的一部分本規范是半導體器件(分立器件和集成電路,包括多片集成電路.但不包括混合電路)的總規范本規范規定了在ICQ體系內采用的質量評定的總程序.并給出了下述方面的總原則：電特性測試方法：氣候和機械試驗；耐耐久性試驗。注：當存在已批準的、適用于特定的一種或幾種器件類型的分規范、族規范和空白詳細規范時.必須用這些規范來補充本規池。2總則2.1優先順序當出現矛盾的要求時,各種文件應按以下權限順序排列：詳細規范：2空白詳細規范；3族規范（若存在時)：分規范：5總規池：6建礎規范：ECQ程序規則;需要參考的其他國際文件.如IEC文件：9）國家文件。同樣的優先順序也適用于等效的國家文件2.2：有關文件詳細規范應指出適用的文件：IEC標準：IEC60027電工技術中使用的文字符號IEC60050國際電工技術詞匯（IEV）IEC60068基本環境試