ICS3122010

V25..

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T39341—2020

宇航用高速傳輸連接器通用規(guī)范

Generalspecificationforhighspeedtransmissionconnectorsforaerospace

2020-11-19發(fā)布2021-06-01實(shí)施

國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布

國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T39341—2020

目次

前言

…………………………Ⅰ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

要求

3………………………1

總則

3.1…………………1

材料

3.2…………………2

設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)和尺寸

3.3、……………………4

輔助零件

3.4……………5

性能

3.5…………………5

破壞性物理分析

3.6(DPA)……………10

標(biāo)志

3.7…………………10

外觀質(zhì)量

3.8……………10

質(zhì)量保證規(guī)定

4……………10

總則

4.1…………………10

檢驗(yàn)分類

4.2……………10

鑒定檢驗(yàn)

4.3……………10

質(zhì)量一致性檢驗(yàn)

4.4……………………13

檢驗(yàn)方法

4.5……………18

交貨準(zhǔn)備

5…………………29

包裝

5.1…………………29

運(yùn)輸儲(chǔ)存

5.2、…………………………29

標(biāo)識(shí)

5.3…………………29

說明事項(xiàng)

6…………………30

預(yù)定用途

6.1……………30

訂購文件

6.2……………30

合格證

6.3………………30

環(huán)保材料

6.4……………30

附錄資料性附錄連接器的最大傳輸速率基準(zhǔn)頻率

A()、……………31

附錄資料性附錄破壞性物理分析

B()(DPA)…………32

GB/T39341—2020

前言

本標(biāo)準(zhǔn)按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

請(qǐng)注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別這些專利的責(zé)任

。。

本標(biāo)準(zhǔn)由全國宇航技術(shù)及其應(yīng)用標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出并歸口

(SAC/TC425)。

本標(biāo)準(zhǔn)起草單位貴州航天電器股份有限公司中國空間技術(shù)研究院

:、。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人陳群強(qiáng)王旭曹永泉張義王征崔文君趙闊

:、、、、、、。

Ⅰ

GB/T39341—2020

宇航用高速傳輸連接器通用規(guī)范

1范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了宇航用高速傳輸連接器的通用技術(shù)要求質(zhì)量保證規(guī)定交貨準(zhǔn)備和說明事項(xiàng)

、、。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于宇航用高速傳輸連接器以下簡稱連接器其接觸件類型為差分接觸件

(),。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)概述和指南

GB/T2421.1—2008

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)低溫

GB/T2423.1—20082:A:

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)高溫

GB/T2423.2—20082:B:

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)交變濕熱

GB/T2423.4—20082:Db:(12h+

循環(huán)

12h)

環(huán)境試驗(yàn)第部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)和導(dǎo)則沖擊

GB/T2423.5—20192:Ea:

環(huán)境試驗(yàn)第部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)振動(dòng)正弦

GB/T2423.10—20192:Fc:()

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)及導(dǎo)則長霉

GB/T2423.16—20082:J:

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)鹽霧

GB/T2423.17—20082:Ka:

環(huán)境試驗(yàn)第部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)溫度變化

GB/T2423.22—20122:N:

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)錫焊

GB/T2423.28—20052:T:

環(huán)境試驗(yàn)第部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)寬帶隨機(jī)振動(dòng)和導(dǎo)則

GB/T2423.56—20182:Fh:

電子設(shè)備用機(jī)電元件基本試驗(yàn)規(guī)程及測(cè)量方法第部分一般檢查電

GB/T5095.2—19972:、

連續(xù)性和接觸電阻測(cè)試絕緣試驗(yàn)和電壓應(yīng)力試驗(yàn)

、

電子設(shè)備用機(jī)電元件基本試驗(yàn)規(guī)程及測(cè)量方法第部分撞擊試驗(yàn)自

GB/T5095.5—19975:(

由元件靜負(fù)荷試驗(yàn)固定元件壽命試驗(yàn)和過負(fù)荷試驗(yàn)

)、(