標準解讀

《GB/T 16822-1997 介電晶體介電性能的試驗方法》作為一項國家標準,詳細規定了測量介電晶體材料介電性能的一系列實驗方法和要求。然而,您提供的對比標準名稱不完整,這使得直接對比兩份標準的具體變更內容變得不可能。為了提供有價值的信息,我可以概述《GB/T 16822-1997》可能涉及的一般性內容及其對介電性能測試的重要意義,但無法直接比較差異或變更點沒有另一個標準的具體信息。

《GB/T 16822-1997》很可能包括了以下方面的內容:

  1. 樣品制備與處理:規定了測試前介電晶體樣品應如何切割、拋光及清潔,確保測試結果的可靠性和重復性。
  2. 測試環境:明確了實驗環境的溫度、濕度等條件要求,因為這些因素可能影響介電性能的測量結果。
  3. 測量方法:詳細描述了用于測定介電常數、損耗因子、介電強度等關鍵參數的多種實驗技術,如諧振法、阻抗分析等。
  4. 儀器校準與精度:提供了進行測試所用儀器設備的校準方法和必要的精度要求,以確保數據的準確性。
  5. 數據處理與分析:指導如何正確采集數據并進行統計分析,包括計算平均值、誤差范圍等。
  6. 安全操作規程:可能包含在操作高電壓或特殊測試設備時的安全注意事項,以保護實驗人員安全。


如需獲取更多詳盡信息,請直接參考下方經官方授權發布的權威標準文檔。

....

查看全部

  • 現行
  • 正在執行有效
  • 1997-05-28 頒布
  • 1998-02-01 實施
?正版授權
GB/T 16822-1997介電晶體介電性能的試驗方法_第1頁
GB/T 16822-1997介電晶體介電性能的試驗方法_第2頁
GB/T 16822-1997介電晶體介電性能的試驗方法_第3頁
GB/T 16822-1997介電晶體介電性能的試驗方法_第4頁
免費預覽已結束,剩余4頁可下載查看

下載本文檔

GB/T 16822-1997介電晶體介電性能的試驗方法-免費下載試讀頁

文檔簡介

ICS.31.020L90中華人民共和國國家標準GB/T16822-—1997介電品體介電性能的試驗方法Testmethodfordielectricpropertiesofdielectriccrystal1997-05-28發布1998-02-01實施國家技術監督局發布

中華人民共和國國家標準介電品體介電性能的試驗方法GB/T16822-1997中國標準出版社出版發行北京西城區復興門外三里河北街16號郵政編碼:100045電話:63787337、637874471997年10月第一版2005年1月電子版制作書號:155066·1-14147版權專有侵權必究舉報電話:(010)68533533

GB/T16822-1997本標準根據GB/T1.1一1993《標準化工作導則第1單元;標準的起草與表述規則第1部分:標淮編寫的基本規定》表達了介電品體介電性能的試驗方法。本標準參考了GB11297.11-89《熱釋電材料介電常數的測試方法》GB11297.9-89《熱釋電材料介質損耗角正切tan8的測試方法》及GB11294—89《紅外探測材料半導體光電材料和熱釋電材料常用名詞術語》三個標準。本標準的特點是針對介電品體的介電性能與其結品學對稱性有關,采用介電系數張量來描述其介電性能。本標準討論了各種晶系品體的介電系數張量的獨立分量數目及其介電主軸的取法,同時給出了低頻下其介電系數及介電損耗的測量方法本標準由中國科學院物理研究所提出、本標準由中國科學院歸口。本標準起草單位:中國科學院物理研究所。本標準主要起草人:張道范、朱鋪

中華人民共和國國家標準介電晶體介電性能的試驗方法GB/T16822-1997Testmethodfordielectricpropertiesofdielectriccrystal本標準規定了介電品體的低頻(10MHz以下)介電系數及介電損耗的試驗方法本標準適用于介電品體的介電性能的測定。2試驗方法2.1介電系數2.1.1定義介電系數dielectriccoefficient將原來不帶電的介電品體置于電場中,在其內部和表面上會感生出一定的電荷即產生電極化現象用電極化強度矢量P描述。當電場強度E不太強時,介質中的電極化強度P和電場強度E成線性關系在一般情況下,晶體中的電極化強皮失量P與電場強度矢量E有不同的方向,使得品體內的電位移失量D和E有不同的方向,在直角坐標系中,晶體內這三者的關系可用式(1)表示:D=eoE,+P,=eoe%E,:·········(1>(i=1,2,3)152i········(2式中:s—真空介電系數,1,2,3分別代表直角坐標軸X,Y,Z;晶體的介電系數張量,該張量為二階對稱極張量,即,=ea。描述二階張量可選用三個相互垂直的主軸為坐標軸(稱主軸坐標系)在主軸坐標系中可將二階介電系數張址簡化為只含對角項,稱主介電系數。晶體的介電系數張量的獨立分量數目與其對稱性有關:對于立方品系只有一個獨立的介電系數m一m=m.對于三方,四方,六方晶系有兩個獨立的介電系數=·ea。取晶體的高次對稱軸(e軸)為一介電主軸,另兩個介電主軸在垂直。軸的平面內,取結晶軸“軸為另一介電主軸。對于正交品系有三個獨立的介電系數..ez.s。取品體的結晶軸(a、、軸)為三個介電主軸對于單斜品系有四個獨立的介電系數.z.ea.a。取晶體的二次對稱軸(軸)為一介電主軸。另兩個介電主軸在垂直6軸的平面內,通過實驗測量位于這平面內的三個獨立的介電系數,可以確定這兩個介電主軸的方向和大小。對于三斜晶系有六個獨立的介電系數,a:eas,ei:6z·a。可任意選一直角坐標系,通過實驗測量六個獨立的介電系數,經過數學運算可以確定三個介電主軸的方向和大小。2.

溫馨提示

  • 1. 本站所提供的標準文本僅供個人學習、研究之用,未經授權,嚴禁復制、發行、匯編、翻譯或網絡傳播等,侵權必究。
  • 2. 本站所提供的標準均為PDF格式電子版文本(可閱讀打印),因數字商品的特殊性,一經售出,不提供退換貨服務。
  • 3. 標準文檔要求電子版與印刷版保持一致,所以下載的文檔中可能包含空白頁,非文檔質量問題。

評論

0/150

提交評論