標準解讀

《GB/T 16464-1996 半導(dǎo)體器件 集成電路 第1部分：總則》作為中國國家標準，規(guī)定了半導(dǎo)體器件特別是集成電路的基本要求、測試方法、標志、包裝、運輸和儲存等通用規(guī)范。不過，您提供的信息中并未直接給出另一個特定的標準以進行詳細的對比變更分析。但是，我可以基于此類標準更新的一般趨勢和常見變更內(nèi)容，概述可能的變動方向，盡管這無法精確對應(yīng)到某個特定的后續(xù)或前序標準版本。

一般來說，此類標準更新時可能會涉及以下幾個方面的變更：

  1. 技術(shù)內(nèi)容更新：隨著半導(dǎo)體技術(shù)和制造工藝的進步，新標準可能會納入新的技術(shù)要求和測試方法，以適應(yīng)更先進的集成電路產(chǎn)品特性，比如更高的集成度、更快的運行速度、更低的功耗等。

  2. 安全與環(huán)境要求：更新的標準可能會加強對環(huán)境保護和用戶安全的關(guān)注，引入或強化限制有害物質(zhì)使用的規(guī)定（如RoHS指令），以及提高產(chǎn)品在電磁兼容性(EMC)、靜電放電(ESD)防護等方面的要求。

  3. 標準化語言和格式：為了與國際標準接軌，新標準可能會調(diào)整術(shù)語定義、符號標記及文檔結(jié)構(gòu)，使其更加國際化、規(guī)范化，便于全球范圍內(nèi)的理解和應(yīng)用。

  4. 測試和評估方法：隨著檢測技術(shù)的發(fā)展，新標準可能會采用更精確、高效的測試設(shè)備和方法來確保集成電路的質(zhì)量和性能，同時可能簡化某些過時的測試流程。

  5. 標志、包裝、運輸和儲存要求：為減少運輸損耗和提高存儲效率，標準可能會對集成電路的包裝材料、標識要求、防靜電保護措施等進行修訂，確保產(chǎn)品在整個供應(yīng)鏈中的安全和可追溯性。


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  • 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 1996-07-09 頒布
  • 1997-01-01 實施
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文檔簡介

ICS31.200L55中華人民共和國國家標準GB/T16464-1996IEC748-1:1984半導(dǎo)體器件集成電路第1部分:總則SemiconductordevicesIntegratedcircuitsPart:General1996-07-09發(fā)布1997-01-01實施國家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

第I篇IEC748號標準的范圍和說明范圍2說明第篇：IEC748-1號標準的目的和說明總則2目的3：說明第篇IEC748-2號、IEC748-3號等標準的目的、說明和要求第W篇：通用術(shù)語………………一般名詞術(shù)語2集成電路的籍位特性工藝術(shù)語5模集成電路和混合膜集成電路器件類型的術(shù)語第V篇通用文字符號…1基本文字符號·……2數(shù)字集成電路的下標2.1電壓和電流·……………2.2開關(guān)時間…………3模擬集成電路的下標第篇關(guān)于基本額定值和電特性的一般規(guī)定2介紹發(fā)布資料的標準格式以及描述集成電路基本額定值、電特性和功能規(guī)范的方法2.1介紹發(fā)布資料的標準格式·…2.2描述集成電路基本額定值、電特性和功能規(guī)范的方法3“額定值”的基本定義……………冷卻條件的定義……5優(yōu)選溫度一覽表6優(yōu)選電壓一覽表……6.1用于推薦工作條件的優(yōu)選標稱電壓-一覽表6.2機械額定值、特性和其他資料…8產(chǎn)品的離散性和一致性：···········99印制線和印制電路）適用于所有種類集成電路的規(guī)范格式10610.1總則

10.2相關(guān)應(yīng)用的描述10.3動能規(guī)范·…·10.4極限值(絕對最大額定值)10.5工作條件……10.610.7編程（適用時）·..10.8機械和環(huán)境額定值，特性和其他資料10.9附加資料·………………·第篇通用測試方法1基本要求………·1.11.2一般注意事項·測試方法的縣體要求…….3測試方法的編號體系·3.1編號原則?……·…··3.2集成電路測試方法的編號表?3.3應(yīng)用表格··.….·….……………·3.4第w篇集成電路的驗收和可靠性第1節(jié)：溉述……第2節(jié)一般原理第3節(jié)電耐久性試驗1目的和說明………2一般要求……2.1電試驗條件…………2.2試驗的持續(xù)時間…2.3失效判定特性和測試…2.4失失效判據(jù)….2.5，注意事項……3特殊要求………3.1耐久性試驗表………3.2耐久性試驗條件…3.3耐久性試驗后，驗收的失效判定特性和失效判據(jù)3.4可靠性試驗的失效判定特性和失效判據(jù)·3.5誤試時處理程序………18第篇靜電敏感器件

中華人民共和國國家標準半導(dǎo)體器件集成電路第1部分：總則GB/T16464-1996IEC748-1:1984SemiconductordevicesIntegratedcircuitsPart1:General本標準等同采用國際電工委員會標準IEC748-1:1984《半導(dǎo)體器件集成電路：第1部分總則》其中包括1991年第1號修改單和1993年第2號修改單的內(nèi)容第I篇IEC748號標準的范圍和說明圍IEC748給出了有關(guān)集成電路的標準，應(yīng)與IEC747-1一起使用說明TEC748由分別頒發(fā)的IEC748-1號、IEC748-2號等幾項標準組成。通過發(fā)布補充標準(例如IEC748-2A)來適應(yīng)發(fā)展的需要第工篇IEC748-1號標準的目的和說明1總則1EC748-1號標準是748號標準的通用部分,和IC747-1號標準的有關(guān)條款一起構(gòu)成集成電路的通用規(guī)定。因此.IEC747-1號標準的所有條款只要適用于集成電路即可引用日的提供有關(guān)IEC748號標準的范圍和說明的通用內(nèi)容(見第1篇)提供適用于IEC748-2號、748-3號等各類或各分類集成電路標準的一般原則或要求。3說明有關(guān)一般原則或要求的內(nèi)容在本標準的第至第W篇中給予說明。注：本標準第口至第W篇的內(nèi)容：第日篇：關(guān)于IEC748-2號、748-3號等標準的日的、說明和要求第N饒：通用術(shù)語除了I

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