標準解讀
《GB/T 12565-1990 半導體器件 光電子器件分規范(可供認證用)》是中國的一項國家標準,發布于1990年,旨在為光電子器件的質量控制和認證提供統一的技術規范。該標準詳細規定了光電子器件的分類、技術要求、試驗方法以及檢驗規則等,以確保這些器件在性能、安全性和可靠性方面達到既定標準,適用于半導體行業中光電子器件的設計、生產、檢驗及認證過程。
標準內容概覽:
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范圍:明確本標準適用的光電子器件類型,通常包括但不限于發光二極管(LED)、激光二極管、光電探測器等,以及這些器件在不同應用領域中的具體要求。
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引用標準:列出執行本標準時需要參考的其他相關國家標準或國際標準,確保各項測試和評估有據可依。
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術語和定義:對光電子器件相關的專業術語進行明確定義,便于標準使用者準確理解各項要求。
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分類:根據光電子器件的工作原理、結構特點、應用領域等進行分類,每類器件可能有不同的性能指標和測試要求。
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技術要求:詳細說明各類光電子器件必須滿足的性能指標,如光電轉換效率、工作壽命、光功率輸出、響應時間、穩定性和環境適應性等。
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試驗方法:規定了驗證光電子器件是否符合技術要求的具體測試程序和方法,包括測試環境條件、測試儀器、測試步驟等,確保測試結果的準確性和可重復性。
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檢驗規則:闡述產品檢驗的程序、抽樣方法、合格判定準則等,用于判斷產品是否達到出廠或銷售的標準。
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標志、包裝、運輸和貯存:規定了產品的標識信息、包裝要求、運輸條件及貯存環境,以保護產品在流通和儲存過程中的完好性。
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附加要求:可能包含針對特殊用途或特定客戶的額外要求,或是未來可能出現的新技術、新材料的考量指導。
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- 現行
- 正在執行有效
- 1990-12-12 頒布
- 1991-10-01 實施


文檔簡介
UDC621.382.032.26L50中華人民共和國國家標準GB12565-90導體器件半光電子器件分規范SemiconductordevicesSectionalspecificationfor(.optoelectronicdevices(可供認證用)1990-12-12發布1991-10-01實施國家技術監督局發布
中華人民共和國國家標準體半導器件光電子器件分規范GB12565-90SemiconductordevicesSectionalspecificationforoptoelectronicdevices(可供認證用)花圍1.1半導體光發射器件光電子顯示器件:發光二極管(LED)C紅外發射二極管(IRED)激光二極管。1.2:半導體光敏器件光敏二極管;光敏三極管;bC光控閘流晶體管。1.3半導體圖像器件。1.4光幫合器。2總則本規范應與其有關的總規范一起使用;本規范規定了評定半導體光電子器件所需的質量評定程序檢驗要求、篩選順序、抽樣要求、試驗和測試方法的細節。2.1有關文件GB4589.1(IEC747-10/0C700000)半導體器件分立器件和集成電路總規范》2.2溫度的推薦值(優選值)見IC747-1《半導體器件分立器件和集成電路第一部分總則》第6.5條。2.33電壓和電流的推薦值(優選值)IC747-1第6.6條。3質量評定程序3.1初始的制造階段和轉包初始的制造階段為下述之一:單晶半導體器件改變純P型或純N型單品半導體材料的第一道工序。多晶半導
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