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FilmIssuesDougPelleymounter&KenNauman高級應用工程師1薄膜問題和其它系統的最優方案用于反應濺射的閉環控制Lambda探測儀殘余氣體分析儀(RGA)等離子體發射監控器(PEM)外部電壓控制新的Crystal?

電壓控制帶有多倍射頻供應的公共激勵振蕩器(CEX)和相移交流陽極下降氣流均勻性薄膜應力和粘著力濺射速率SiO2二氧化硅結晶控制厚度AZO氧化鋅鋁vs.ITO氧化銦錫vs.CdSte每種陶瓷的成本(合金,聯合濺射,等等.)2薄膜問題

提問與解答時間3

Nasdaq?GM:AEIS

ENG-FilmIssues-150-039/24/2008Specificationsaresubjecttochangewithoutnotice.AdvancedEnergy?,Crystal?,FlatPanelFocusSM,PVSunTimesSM,andSputterSpotlight?areU.S.trademarksofAdvancedEnergyIndustries,Inc.2008AdvancedEnergyIndustri

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