計數(shù)值數(shù)據(jù)控制圖計數(shù)值數(shù)據(jù)控制圖概述計數(shù)值數(shù)據(jù)控制圖用以控制不可以用計量值數(shù)據(jù)進行度量的質(zhì)量物性，通常而言，計數(shù)值數(shù)據(jù)只用兩種狀態(tài)來衡量．如合格／不合格，通過/未通過,良/不良等。計數(shù)值數(shù)據(jù)控制圖也是一種廣為使用的過程控制工具。計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC1計數(shù)值數(shù)據(jù)控制圖計數(shù)值數(shù)據(jù)控制圖概述計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC1計算值數(shù)據(jù)控制圖過程能力分析計數(shù)值數(shù)據(jù)的過程能力反映的是僅有普通原因作用時過程滿足要求的能力，在分析控制圖并通過改善消除了過程變異的特殊原因后，可以對過程能力進行計算。計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC2計算值數(shù)據(jù)控制圖過程能力分析計數(shù)值數(shù)據(jù)的過程能力反映的分析計算值數(shù)據(jù)過程能力時的假設(shè)分析計數(shù)值數(shù)據(jù)過程能力時，通常基于以下假設(shè)條件:l、過程處于受控狀態(tài)

過程處于受控狀態(tài)是過程能力研究的基礎(chǔ)，這一點對計數(shù)值數(shù)據(jù)控制圖和計量值數(shù)據(jù)控制圖來說是一樣的。2、測量系統(tǒng)誤差處于可接受范圍如果測量系統(tǒng)誤差太大，則測量數(shù)據(jù)不能反映真值,可能會使控制圖的結(jié)論出錯。以上假設(shè)在過程能力計算前需首先驗證。計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC3分析計算值數(shù)據(jù)過程能力時的假設(shè)分析計數(shù)值數(shù)據(jù)過程能力時，通常過程能力的度量1、計數(shù)值數(shù)據(jù)控制圖控制對象的過程能力的解釋計數(shù)值數(shù)據(jù)控制圖的過程能力與計算值數(shù)據(jù)有所不同，計數(shù)值數(shù)據(jù)控制圖上的所有點直接表明了不符合客戶要求的百分數(shù)或不合格品數(shù)(或缺陷數(shù))，而計量值數(shù)據(jù)控制圖上的所有點顯示的是過程實際生產(chǎn)的產(chǎn)品與規(guī)格比較的結(jié)果。計數(shù)值數(shù)據(jù)控制圖控制對象的過程能力定義為不合格品，缺陷數(shù)的平均不合格率或缺陷率。2、計算過程能力的度量指數(shù)對于各計數(shù)值數(shù)據(jù)控制圖，能力計算指數(shù)如下表：計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC4過程能力的度量1、計數(shù)值數(shù)據(jù)控制圖控制對象的過程能力的解釋計過程能力的度量控制圖種類能力指數(shù)計算公式P圖

Pn圖

U圖

C圖

計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC5過程能力的度量控制圖種類能力指數(shù)計算公式P圖Pn圖U過程能力的度量

上圖計算公式中

K=子組數(shù)

Pni=第i個子組的不合格品數(shù).i=1……K。

Ci=第i個子組的缺陷數(shù)，i=1……K。

N=所有抽樣數(shù)據(jù)之和。用過程能力指數(shù)評價過程對于計數(shù)值數(shù)據(jù)而言，通過過程能力指數(shù)可以直觀地判斷過程產(chǎn)生合格品的能力．從而為過程改善打好基礎(chǔ)。

計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC6過程能力的度量上圖計算公式中計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC6P圖P圖是一種使用頻率較高的計數(shù)值數(shù)據(jù)控制圖，P圖可以監(jiān)控某個過程不合格品的百分比的變化，發(fā)現(xiàn)特殊原因．本節(jié)將對P圖做以詳細討論。制作P圖前的準備

為了P圖能順利制作并發(fā)揮其應(yīng)用作用，在制作P圖前應(yīng)做以下準備：1.取得高層對推行控制圖的認可與支持。2.確定需用P圖控制的過程和特性。3.定義測量系統(tǒng)。4.消除明顯的過程偏差。計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC7P圖P圖是一種使用頻率較高的計數(shù)值數(shù)據(jù)控制圖，P圖可以監(jiān)控控制P控制圖正確制作P控制圖，是進行過程控制及改善的基礎(chǔ)，制作P控制圖的流程如下：1、收集數(shù)據(jù)(1)進行測量系統(tǒng)分析(2)確定子組樣本容量一般而言，P圖的每個子組的樣本容量需大于50。(3)確定子組額率適當(dāng)?shù)淖咏M頻率可以區(qū)分特殊原因引起的過程變化，在確定抽樣頻率時需綜合考慮過程穩(wěn)定性和經(jīng)濟性。一般而言，P圖的子組間時間間隔不可過大。(4)確定子組數(shù)一般來說，要求子組在25個以上，這樣可以全面檢驗過程的穩(wěn)定性。計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC8控制P控制圖正確制作P控制圖，是進行過程控制及改善的基建立控制圖1.P控制圖的通用格式.2.計算每個子組的不合格率P式中:Pi=第i個子組的不合格品率,i=1…Kni=第i個子組的檢驗數(shù)量,i=1…KPni=第i個子組的不合格品數(shù),i=1…K

K=子組數(shù)3.將計算出的Pi描點于P控制圖上.

描點前需確定適當(dāng)?shù)淖鴺溯S刻度,不可太大或太小.計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC9建立控制圖1.P控制圖的通用格式.計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC9計算控制界限1.計算過程不合格品率的平均值式中:=過程不合格品率的平均值

N=所有抽樣數(shù)據(jù)之和

Pni=第i個子組的不合格品數(shù),i=1…K計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC10計算控制界限1.計算過程不合格品率的平均值計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC1計算控制界限2.計算控制界限式中:UCLP=P圖上控制界限

LCLP=P圖下控制界限

ni=各子組樣本容量,i=1…K

從公式可知,P圖的控制界限不是恒定值,而是不同的子組有不同的控制界限.3.將計算結(jié)果繪于P控制圖上計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC11計算控制界限2.計算控制界限計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC11分析P控制圖制作P目的目的在于區(qū)分引起過程變異的特殊原團和普通原因以針對性進行過程改善,因此分析控制圖是P控制圖的關(guān)鍵環(huán)節(jié).

P控制圖對過程異常進行判斷時從兩個方面進行，分別為超出控制界限和控制界限期的圖形趨勢。1.超出控制界限的點

(1)超出控制界限又分為超出控制界限和超出下控制界限兩種情況:A.P圖上數(shù)據(jù)點超出上控制界限.

計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC12分析P控制圖制作P目的目的在于區(qū)分引起過程變異的特殊原分析P控制圖

B.P圖上數(shù)據(jù)點超出下控制界限計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC13分析P控制圖B.P圖上數(shù)據(jù)點超出下控制界限計數(shù)型數(shù)據(jù)S分析P控制圖

(2)數(shù)據(jù)點超出P控制圖控制界限的可能原因：

A、控制界限計算錯誤

B、描點錯混

C、測量系統(tǒng)變化

D、過程不合格率上升以上原因中，只有原因“D”是與過程能力相關(guān)的變化的特殊原因，A、B、C均由人為錯誤造成，需盡可能避免人為錯誤。

計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC14分析P控制圖(2)數(shù)據(jù)點超出P控制圖控制界限的可能原因分析P控制圖2、控制界限內(nèi)的圖形趨勢。

P圖上的數(shù)據(jù)點雖在控制界限內(nèi)但呈現(xiàn)出某種非隨機趨勢，也會表示過程因為特殊原因而發(fā)生變異，P圖些常見的非隨機趨勢如下：

(1)連續(xù)9點出現(xiàn)在中心線的一側(cè)，如下圖所示：計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC15分析P控制圖2、控制界限內(nèi)的圖形趨勢。計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC15分析P控制圖(2)連續(xù)6點上升或下降,如下圖所示

(3)連續(xù)14點上升或下降,如下圖所示計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC16分析P控制圖(2)連續(xù)6點上升或下降,如下圖所示計數(shù)型數(shù)分析P控制圖(4)數(shù)據(jù)點在控制界限內(nèi)的圖形趨勢的可能原因:A.測量系統(tǒng)已變化B.過程性能發(fā)生變化計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC17分析P控制圖(4)數(shù)據(jù)點在控制界限內(nèi)的圖形趨勢的可能原因:計

控制界限的更新

控制界限建立后并非一成不變，而需根據(jù)實際控制狀況加以調(diào)整，在過程發(fā)生以下變化時,需重新計算控制界限：1、過程流程發(fā)生變化．2、現(xiàn)有過程出現(xiàn)失控，經(jīng)過改善使過程重新受控后.3、對過程的普通原因進行改善后。

計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC18控制界限的更新控制界限建立后并非一成不變，而需根據(jù)

分析過程能力

在P圖顯示過程受控以后，可以對過程能力進行分析,在分析過程能力以前，計數(shù)值數(shù)據(jù)控制圖過程能力分析的假設(shè)條件須首先得到滿足。1、P圖對應(yīng)過程能力分析時的假設(shè)條件

(1)過程受控(2)測量系統(tǒng)誤差處于可接受范圍.2、P圖對應(yīng)過程能力度量指數(shù)P圖對應(yīng)過程能力度量指數(shù)為3、過程能力評價根據(jù)計算出的過程能力指數(shù)可以直觀評估過程能力，按6σ標準，過程能力如達到6σ標準，則過程不合格率為3.4PPM計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC19分析過程能力在P圖顯示過程受控以后，可以對過程能力

分析過程能力4.過程能力改善進行過程能力改善時,不單要降低引起過程變化的特殊原因,而且要降低引起過程變異的普通原因,以使過程合格率持續(xù)得到提升.計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC20分析過程能力4.過程能力改善計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC20P圖應(yīng)用例某公司一個改善小組擬對A產(chǎn)品電參數(shù)測試工序的不良率進行控制，他們確定用P圖對該工序不良率進行監(jiān)控，應(yīng)用流程如下：1、確定需控制的過程本例選定的用P圖進行控制的過程為A產(chǎn)品電參數(shù)測試過程。2、確定需控制的項日本例用P圖控制的項目為A產(chǎn)品電參數(shù)測試工序的不合格率。3、定義測量系統(tǒng)改善小組確定的測量系統(tǒng)為3臺電參數(shù)測試儀及被測量產(chǎn)品。

計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC21P圖應(yīng)用例某公司一個改善小組擬對A產(chǎn)品電參數(shù)測試工P圖應(yīng)用例4、測量系統(tǒng)分析經(jīng)小組分析認為該測量系統(tǒng)可接受。5、確定抽樣數(shù)及頻率小組確定現(xiàn)察所有數(shù)據(jù)．每小時約測試200PCS，觀察頻率為每小時一次。6、小組取得的數(shù)據(jù)如下圖：7、計算控制界限(1)計算

=0.0428(2)計算控制界限①為計算方便，如果子組容量的變化范圍在25％以內(nèi)變化，則可以將控制界限下式計算計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC22P圖應(yīng)用例4、測量系統(tǒng)分析計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC22P圖應(yīng)用例4、測量系統(tǒng)分析經(jīng)小組分析認為該測量系統(tǒng)可接受。5、確定抽樣數(shù)及頻率小組確定現(xiàn)察所有數(shù)據(jù)．每小時約測試200PCS，觀察頻率為每小時一次。6、小組取得的數(shù)據(jù)如下圖：7、計算控制界限(1)計算

=0.0428(2)計算控制界限①為計算方便，如果子組容量的變化范圍在25％以內(nèi)變化，則可以將控制界限下式計算計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC23P圖應(yīng)用例4、測量系統(tǒng)分析計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC23P圖應(yīng)用例A產(chǎn)品電參數(shù)測試數(shù)據(jù)表NO.測試數(shù)不合格數(shù)不合格率NO測試數(shù)不合格數(shù)不合格率120680.0391421570.033220160.0315223110.0493195110.05616215130.06421360.02817204100.049520440.021821660.0286186110.0591921880.037719970.03520207140.068820160.0321229120.0529207120.0582217890.0511019860.032319660.0311117680.0452418570.0381218690.0482518990.0481320440.02

計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC24P圖應(yīng)用例A產(chǎn)品電參數(shù)測試數(shù)據(jù)表NO.測試數(shù)不合格數(shù)不合P圖應(yīng)用例式中:為各子組容量的值.

本例中比較本例數(shù)據(jù)表中的”T測試數(shù)”欄的數(shù)據(jù),均在”151.6-252.6”范圍內(nèi),因此,可計算統(tǒng)一的控制界限.②控制界限計算如下

計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC25P圖應(yīng)用例式中:為各子組容量的值.計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC2P圖應(yīng)用例8、將數(shù)據(jù)及控制界限做于P圖上。9、分析P圖按P圖的分析準則判斷，未發(fā)現(xiàn)異常。10、計算過程能力以P圖上看，該過程處于受控狀態(tài)，因此可以計算過程能力，本例過程能為P=0.0416，代表本例電參數(shù)測試工位的合格率穩(wěn)定在95.84％，這個合格率太低，需要改善。計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC26P圖應(yīng)用例8、將數(shù)據(jù)及控制界限做于P圖上。計數(shù)型數(shù)據(jù)SPPn圖Pn圖用來監(jiān)控某個過程不合格品數(shù)的變化，發(fā)現(xiàn)特殊原因，Pn圖和P圖的用途比較類似，在子組容量為常數(shù)或監(jiān)控不合格品數(shù)量比不合格品率更有效時．通常采用Pn圖來替代P圖.制作Pn圖前的準備1、取得高層認可2、確定需用Pn圖控制的過程和特性3、定義測量系統(tǒng)4、消除明顯的過程偏差。計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC27Pn圖Pn圖用來監(jiān)控某個過程不合格品數(shù)的變化，發(fā)現(xiàn)特

制作Pn控制圖制作Pn圖的流程如下：1、收集數(shù)據(jù)(1)進行測量系統(tǒng)分析(2)確定子組樣本容量一般而言，Pn圖每個子組的樣本容量需大于50且每個子組的樣本容量相同。(3)確定子組頻率與P圖一樣，Pn圖一般是利用全檢數(shù)據(jù)而非大于抽樣數(shù)據(jù)進行控制，這并不會額外增加成本，因為即使不做控制圖，也會做必須的檢驗，Pn圖只是利用這些數(shù)據(jù)而已，這也是計數(shù)值數(shù)據(jù)控制圖比計量值數(shù)據(jù)控制圖方便和經(jīng)濟的原因。Pn圖的子組間時間間隔不可過大。(4)確定子組數(shù)一般要求子組數(shù)在25個以上，這樣可以全面檢驗過程的穩(wěn)定性。計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC28制作Pn控制圖制作Pn圖的流程如下：計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC28

制作Pn控制圖2.建立控制圖

Pn圖的通用格式3.計算控制界限

(1)計算過程不合格品數(shù)的平均值式中:過程不合格品數(shù)的平均值K子組數(shù)

Pni第i個子組不合格品數(shù),i=1…K.(2)計算控制界限

計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC29制作Pn控制圖2.建立控制圖計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC29

制作Pn控制圖式中:UCLPn=Pn圖的上控制界限

LCLPn=Pn圖的下控制界限CLPn=Pn圖的控制中心線

=過程平均不合格率3.將計算結(jié)果及各子組Pn點繪于Pn控制圖上,如圖計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC30制作Pn控制圖式中:UCLPn=Pn圖的上控制界限計數(shù)型數(shù)

分析Pn控制圖分析Pn控制圖Pn圖的分析方法與P圖的分析完全相同。控制界限的更新

Pn圖的控制界限建立并非一成不變，而需根據(jù)實際控制狀況加以調(diào)整，在過程發(fā)生以下變化時，需重新計算控制界限：l、過程流程發(fā)生變化2、現(xiàn)有過程出現(xiàn)失控，經(jīng)過改善使過程重新受控后。3、對過程的普通原因進行改善后。計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC31分析Pn控制圖分析Pn控制圖計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC31

分析過程能力l、在Pn圖顯示過程受控后，可對過程能力進行分析，在分析能力前，過程需滿足以下假設(shè)條件(1)過程受控(2)測量系統(tǒng)誤差處于可接受范圍．2、Pn圖對應(yīng)過程能力的度量指數(shù)

Pn對應(yīng)過程能力度量指數(shù)為，與P圖相同。3、過程能力評價根據(jù)計算出的過程能力指數(shù)可以直觀評估過程能力。4、過程能力改善通過降低引起過程變異的普通原因和特殊原因來改善過程能力。計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC32分析過程能力l、在Pn圖顯示過程受控后，可對過程能力進行分Pn圖應(yīng)例某公司擬對其所生產(chǎn)的一種電子產(chǎn)品A在經(jīng)過環(huán)境試驗后的不合格狀況進行監(jiān)控，因為每次進行環(huán)境試驗的樣品數(shù)是恒定的,因此他們確定有Pn圖對環(huán)境試驗的不良率進行控制，應(yīng)用流程如下：1、確定需控制的過程本例選定的用Pn圖進行控制的過程為A產(chǎn)品環(huán)境試驗過程。2、確定需控制的項目本例中Pn圖控制的項目為A產(chǎn)品環(huán)境試驗過程韻不合格品數(shù)。3、定義測量系統(tǒng)

本例測量系統(tǒng)為專用自動評價儀，及被測量產(chǎn)品.計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC33Pn圖應(yīng)例某公司擬對其所生產(chǎn)的一種電子產(chǎn)品A在經(jīng)過環(huán)境試驗Pn圖應(yīng)例4、測量系統(tǒng)分析

經(jīng)小組分析認為該測量系統(tǒng)可以接受.5、確定抽樣數(shù)及頻率

小組確定觀察所有數(shù)據(jù),A產(chǎn)品每班環(huán)境試驗80PCS,子組頻率為每班一次.6、小組取得的數(shù)據(jù)如下表:7、計算控制界限(1)計算

(2)計算控制界限計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC34Pn圖應(yīng)例4、測量系統(tǒng)分析計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC34Pn圖應(yīng)例A產(chǎn)品電參數(shù)測試數(shù)據(jù)表NO.測試數(shù)不合格數(shù)NO.測試數(shù)不合格數(shù)18011480028031580438021680548001780158011880268021980478042080288022180198012280110803238011180224803128022580213802

計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC35Pn圖應(yīng)例A產(chǎn)品電參數(shù)測試數(shù)據(jù)表NO.測試數(shù)不合格數(shù)NO.Pn圖應(yīng)例8、將數(shù)據(jù)及控制界限做于Pn圖上。9、分析Pn圖按Pn圖的分析準則判斷,未發(fā)現(xiàn)異常.10、計算過程能力

從Pn圖上看,該過程處于受控狀態(tài),因此可以計算過程能力,本例過程能力為=0.025,代表本例環(huán)境試驗過程的合格率穩(wěn)定在97,5％,這個合格率太低,需要改善.計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC36Pn圖應(yīng)例8、將數(shù)據(jù)及控制界限做于Pn圖上。計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC圖C圖用來監(jiān)控某個過程不合格數(shù)的變化，發(fā)現(xiàn)特殊原因,C圖應(yīng)用時要求子組容量為恒定值，在單個產(chǎn)品上存在多類塊陷或產(chǎn)品不可分為單個時(如布匹、鋼材等)，C圖比較適用。制作C圖前的準備l、取各高層認可2、確定需用C圖控制的過程和特性3、定義測量系統(tǒng)4、消除明顯的過程偏差計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC37C圖C圖用來監(jiān)控某個過程不合格數(shù)的變化，發(fā)現(xiàn)特殊原因,C圖制作C控制圖

制作C控制圖的流程如下：l、收集數(shù)據(jù)(1)進行測量系統(tǒng)分析(2)確定子組樣本容量一般而言，C圖每個子組樣本容量與其它控制圖有些不同，其容量常表現(xiàn)為面積、長度、寬度等，也可能為樣本的個數(shù)，這與C圖控制對象的性質(zhì)有關(guān)，C圖的樣本容量大小根據(jù)硬陷多少及抽樣經(jīng)濟性確定。(3)確定子組頻率

C圖抽樣頻率根據(jù)缺陷狀況及抽樣經(jīng)濟性確定，抽樣時間間隔不可過大。計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC38制作C控制圖制作C控制圖的流程如下：計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC38制作C控制圖

(4)確定子組數(shù)一般要求子組數(shù)在25個以上,這樣可以全面檢驗過程穩(wěn)定性.2.建立控制圖3.計算控制界限

(1)計算過程缺陷數(shù)的平均值式中:過程缺陷數(shù)的平均值

Ci=第i個子組的缺陷數(shù),i=1…KK=子組數(shù)計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC39制作C控制圖(4)確定子組數(shù)計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC39制作C控制圖

(2)計算控制界限(3)將計算結(jié)果及各子組的缺陷數(shù)繪于C控制圖上.分析C控制圖

C圖的分析方法與P圖相同.

計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC40制作C控制圖(2)計算控制界限計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC40控制界限的更新

C圖的控制界限建立后并非-成不變,而需根據(jù)實際控制狀況加以調(diào)整,在過程發(fā)生以不下變化時,需要新計算控制界限.1.過程流程發(fā)生變化.2.現(xiàn)有過程出現(xiàn)失控,經(jīng)過改善使過程重新受控后.3.對過程的變通原因進行改善后.計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC41控制界限的更新C圖的控制界限建立后并非-成不變,而需根據(jù)分析過程能力l、在C圖顯示過程受控后，可對過程能力進行分析，在分析能力時，過程需滿足以下假設(shè)條件：A、過程受按.B、測量系統(tǒng)誤差在可接受范圍.2、C圖對應(yīng)過程能力的度量指數(shù).C圖對應(yīng)過程能力的度量指數(shù)為，即過程缺陷數(shù)的平均值。3、過程能力評價根據(jù)計算出的過程能力指數(shù)可以直觀地評估過程能力。4、過程能力改善通過降低引起過程變異的普通原因和特殊原因來改善過程能力。計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC42分析過程能力l、在C圖顯示過程受控后，可對過程能力進行分析，C圖應(yīng)用例C圖應(yīng)用例某紡織公司擬對其生產(chǎn)的某種布匹的缺陷數(shù)進行監(jiān)控，根據(jù)控制對象的性質(zhì)，該公司工程師確定用C圖進行控制，流程如下：1、確定需控制的過程本例確定的用C圖控制的過程為布匹紡織過程。2、確定需控制的項目本例用C圖控制的項目為布匹的缺陷數(shù)，缺陷內(nèi)容為:①異色②麻點③起毛3、定義測量系統(tǒng)本例測量系統(tǒng)為2個布匹質(zhì)撿人員受被測量布匹，采用目視檢查方式。計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC43C圖應(yīng)用例C圖應(yīng)用例某紡織公司擬對其生產(chǎn)的某種布匹的缺陷數(shù)進C圖應(yīng)用例4.測量系統(tǒng)分析經(jīng)分析該測量系統(tǒng)滿足要求.5.確定抽樣數(shù)及抽樣頻率該公司工程師經(jīng)綜合考慮,確定的子組樣本容量為長度10M,(布匹寬度恒定為1.5M).抽樣頻率為每小時一次.6.小組取得的數(shù)據(jù)表如下:7.計算控制界限

(1)計算計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC44C圖應(yīng)用例4.測量系統(tǒng)分析計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC44C圖應(yīng)用例(2)計算控制界限8.將數(shù)據(jù)及控制界限作于C圖上計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC45C圖應(yīng)用例(2)計算控制界限計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC45C圖應(yīng)用例NO.抽樣數(shù)(單位:M)缺陷數(shù)(單位:個)異色麻點起毛1105732103963109284101176510894610612117107788109879101188101051061110149912101655131071481410699151098516101257171076618101566191098820107115211061262210359231084824107872510976計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC46C圖應(yīng)用例NO.抽樣數(shù)(單位:M)缺陷數(shù)(單位:個)異色麻點U圖U圖用來監(jiān)控某個過程不合格數(shù)的變化,發(fā)現(xiàn)特殊原因,U圖的應(yīng)用場合與C圖比較類似,但不要求子組容量為恒定值.制作U圖前的準備1.取得高層認可2.確定需用U圖控制的過程和特性3.定義測量系統(tǒng)4.消除明顯的過程偏差計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC47U圖U圖用來監(jiān)控某個過程不合格數(shù)的變化,發(fā)現(xiàn)特殊原因,U圖的制作U圖制作u圖流程如下：收集數(shù)據(jù)l、進行測量系統(tǒng)分析2、確定子組樣本容量U圖每個子組的樣本容量可以不同。樣本容量根據(jù)缺陷多少及抽樣的經(jīng)濟性來確定。3、確定子組頻率。U圖的抽樣頻率根據(jù)缺陷狀況及抽樣經(jīng)濟性確定，抽樣時間間隔不可過大。4、確定子組數(shù)一般要求子組數(shù)在25個以上．選樣可以全面撿驗過程穩(wěn)定性.計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC48制作U圖制作u圖流程如下：計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC48計算控制界限計算過程缺陷數(shù)的平均值式中:=過程缺陷數(shù)的平均值

Ci=第i個子組的缺陷數(shù),i=1…KK=子組數(shù)

N=所有抽樣數(shù)據(jù)之和計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC49計算控制界限計算過程缺陷數(shù)的平均值計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC49計算控制界限2.計算控制界限式中:UCLU=U控制圖上控制界限UCLU=U控制圖上控制界限UCLU=U控制圖上控制界限Ni=各子組樣本容量,i=1…K3.將計算結(jié)果及各子組的單位缺陷數(shù)繪于U控制圖上.計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC50計算控制界限2.計算控制界限計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC50計算控制界限分析U控制圖U圖的分析方法與C圖相同控制界限的更新U圖的控制界限建立后并非一成不變，而需根據(jù)實際控制狀況加以調(diào)整，在過程發(fā)生以下變化時，需重新計算控制界限：1、過程流程發(fā)生變化2、現(xiàn)有過程出現(xiàn)失控，經(jīng)過改善使過程重新受控后。3、對過程的普通原因進行改善后。計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC51計算控制界限分析U控制圖計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC51分析過程能力1.在U圖顯示過程受控后，可對過程能力進行分析，在分析能力時，過程需滿足以下假設(shè)條件：

A、過程受控B、測量系統(tǒng)誤差在可接受范圍2.U圖對應(yīng)過程能力的度量指數(shù)U圖對應(yīng)過程能力的度量指數(shù)為，即過程缺陷數(shù)的平均值。3.過程能力評價根據(jù)計算出的過程能力指數(shù)可以直觀地評估過程能力。計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC52分析過程能力1.在U圖顯示過程受控后，可對過程能力進行分析，分析過程能力1.在U圖顯示過程受控后，可對過程能力進行分析，在分析能力時，過程需滿足以下假設(shè)條件：

A、過程受控B、測量系統(tǒng)誤差在可接受范圍2.U圖對應(yīng)過程能力的度量指數(shù)U圖對應(yīng)過程能力的度量指數(shù)為，即過程缺陷數(shù)的平均值。3.過程能力評價根據(jù)計算出的過程能力指數(shù)可以直觀地評估過程能力。計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC53分析過程能力1.在U圖顯示過程受控后，可對過程能力進行分析，U圖應(yīng)用例某PCBA加工公司擬對本公司某種PCBA的波峰爐焊接過程焊點不合格數(shù)進行控制,該公司工程師確定選用U圖進行控制，流程如下：1、確定需控制的過程本例確定的需用U圖控制的過程為波峰爐焊接過程.2、確定控制的項目本例用U圖控制的項目為PCBA過波峰爐后的焊點不合格數(shù).3、定義測量系統(tǒng)本例測量系統(tǒng)為3名焊點檢驗員及被測量PCBA之焊點.計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC54U圖應(yīng)用例某PCBA加工公司擬對本公司某種PCBA的波峰爐焊U圖應(yīng)用例4.測量系統(tǒng)分析經(jīng)分析該測量系統(tǒng)滿足要求。5.確定抽樣數(shù)及抽樣頻率確定的抽樣數(shù)為每個子組約100塊PCBA。抽樣頻率為每小時一次。小組取得的數(shù)據(jù)表如下：NO.抽樣數(shù)缺陷數(shù)11052352982363101253410321451092106951957891838952049110206計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC55U圖應(yīng)用例4.測量系統(tǒng)分析NO.抽樣數(shù)缺陷數(shù)11052352U圖應(yīng)用例10103197111041961292158138619314108208151123521610621317992241810021019101178201141992194204228921323862202410721825110231計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC56U圖應(yīng)用例1010319711104196129215813U圖應(yīng)用例7.計算控制界限(1)計算(2)計算控制界限根據(jù)U圖控制界限的計算公式,各個子組的控制界限是不同的,為了方便計算,在U圖各子組樣本容量差別在+/-25%以內(nèi)時,可以用統(tǒng)一的控制界限進行控制,計算公式如下:計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC57U圖應(yīng)用例7.計算控制界限計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC57U圖應(yīng)用例式中:各子組樣本容量的平均值本例計算得8.將數(shù)據(jù)及控制界限作于U圖上.計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC58U圖應(yīng)用例式中:各子組樣本容量的平均值計數(shù)型數(shù)據(jù)SP計數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖模版計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC59計數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖模版計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC591.P控制圖例計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC601.P控制圖例計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC602.NP控制圖例計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC612.NP控制圖例計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC613.C控制圖例計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC623.C控制圖例計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC624.U控制圖例計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC634.U控制圖例計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC63演講完畢，謝謝聽講!再見，seeyouagain3rew計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC10/31/2022演講完畢，謝謝聽講!再見，seeyouagain3rew64計數(shù)值數(shù)據(jù)控制圖計數(shù)值數(shù)據(jù)控制圖概述計數(shù)值數(shù)據(jù)控制圖用以控制不可以用計量值數(shù)據(jù)進行度量的質(zhì)量物性，通常而言，計數(shù)值數(shù)據(jù)只用兩種狀態(tài)來衡量．如合格／不合格，通過/未通過,良/不良等。計數(shù)值數(shù)據(jù)控制圖也是一種廣為使用的過程控制工具。計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC65計數(shù)值數(shù)據(jù)控制圖計數(shù)值數(shù)據(jù)控制圖概述計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC1計算值數(shù)據(jù)控制圖過程能力分析計數(shù)值數(shù)據(jù)的過程能力反映的是僅有普通原因作用時過程滿足要求的能力，在分析控制圖并通過改善消除了過程變異的特殊原因后，可以對過程能力進行計算。計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC66計算值數(shù)據(jù)控制圖過程能力分析計數(shù)值數(shù)據(jù)的過程能力反映的分析計算值數(shù)據(jù)過程能力時的假設(shè)分析計數(shù)值數(shù)據(jù)過程能力時，通常基于以下假設(shè)條件:l、過程處于受控狀態(tài)

過程處于受控狀態(tài)是過程能力研究的基礎(chǔ)，這一點對計數(shù)值數(shù)據(jù)控制圖和計量值數(shù)據(jù)控制圖來說是一樣的。2、測量系統(tǒng)誤差處于可接受范圍如果測量系統(tǒng)誤差太大，則測量數(shù)據(jù)不能反映真值,可能會使控制圖的結(jié)論出錯。以上假設(shè)在過程能力計算前需首先驗證。計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC67分析計算值數(shù)據(jù)過程能力時的假設(shè)分析計數(shù)值數(shù)據(jù)過程能力時，通常過程能力的度量1、計數(shù)值數(shù)據(jù)控制圖控制對象的過程能力的解釋計數(shù)值數(shù)據(jù)控制圖的過程能力與計算值數(shù)據(jù)有所不同，計數(shù)值數(shù)據(jù)控制圖上的所有點直接表明了不符合客戶要求的百分數(shù)或不合格品數(shù)(或缺陷數(shù))，而計量值數(shù)據(jù)控制圖上的所有點顯示的是過程實際生產(chǎn)的產(chǎn)品與規(guī)格比較的結(jié)果。計數(shù)值數(shù)據(jù)控制圖控制對象的過程能力定義為不合格品，缺陷數(shù)的平均不合格率或缺陷率。2、計算過程能力的度量指數(shù)對于各計數(shù)值數(shù)據(jù)控制圖，能力計算指數(shù)如下表：計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC68過程能力的度量1、計數(shù)值數(shù)據(jù)控制圖控制對象的過程能力的解釋計過程能力的度量控制圖種類能力指數(shù)計算公式P圖

Pn圖

U圖

C圖

計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC69過程能力的度量控制圖種類能力指數(shù)計算公式P圖Pn圖U過程能力的度量

上圖計算公式中

K=子組數(shù)

Pni=第i個子組的不合格品數(shù).i=1……K。

Ci=第i個子組的缺陷數(shù)，i=1……K。

N=所有抽樣數(shù)據(jù)之和。用過程能力指數(shù)評價過程對于計數(shù)值數(shù)據(jù)而言，通過過程能力指數(shù)可以直觀地判斷過程產(chǎn)生合格品的能力．從而為過程改善打好基礎(chǔ)。

計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC70過程能力的度量上圖計算公式中計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC6P圖P圖是一種使用頻率較高的計數(shù)值數(shù)據(jù)控制圖，P圖可以監(jiān)控某個過程不合格品的百分比的變化，發(fā)現(xiàn)特殊原因．本節(jié)將對P圖做以詳細討論。制作P圖前的準備

為了P圖能順利制作并發(fā)揮其應(yīng)用作用，在制作P圖前應(yīng)做以下準備：1.取得高層對推行控制圖的認可與支持。2.確定需用P圖控制的過程和特性。3.定義測量系統(tǒng)。4.消除明顯的過程偏差。計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC71P圖P圖是一種使用頻率較高的計數(shù)值數(shù)據(jù)控制圖，P圖可以監(jiān)控控制P控制圖正確制作P控制圖，是進行過程控制及改善的基礎(chǔ)，制作P控制圖的流程如下：1、收集數(shù)據(jù)(1)進行測量系統(tǒng)分析(2)確定子組樣本容量一般而言，P圖的每個子組的樣本容量需大于50。(3)確定子組額率適當(dāng)?shù)淖咏M頻率可以區(qū)分特殊原因引起的過程變化，在確定抽樣頻率時需綜合考慮過程穩(wěn)定性和經(jīng)濟性。一般而言，P圖的子組間時間間隔不可過大。(4)確定子組數(shù)一般來說，要求子組在25個以上，這樣可以全面檢驗過程的穩(wěn)定性。計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC72控制P控制圖正確制作P控制圖，是進行過程控制及改善的基建立控制圖1.P控制圖的通用格式.2.計算每個子組的不合格率P式中:Pi=第i個子組的不合格品率,i=1…Kni=第i個子組的檢驗數(shù)量,i=1…KPni=第i個子組的不合格品數(shù),i=1…K

K=子組數(shù)3.將計算出的Pi描點于P控制圖上.

描點前需確定適當(dāng)?shù)淖鴺溯S刻度,不可太大或太小.計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC73建立控制圖1.P控制圖的通用格式.計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC9計算控制界限1.計算過程不合格品率的平均值式中:=過程不合格品率的平均值

N=所有抽樣數(shù)據(jù)之和

Pni=第i個子組的不合格品數(shù),i=1…K計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC74計算控制界限1.計算過程不合格品率的平均值計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC1計算控制界限2.計算控制界限式中:UCLP=P圖上控制界限

LCLP=P圖下控制界限

ni=各子組樣本容量,i=1…K

從公式可知,P圖的控制界限不是恒定值,而是不同的子組有不同的控制界限.3.將計算結(jié)果繪于P控制圖上計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC75計算控制界限2.計算控制界限計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC11分析P控制圖制作P目的目的在于區(qū)分引起過程變異的特殊原團和普通原因以針對性進行過程改善,因此分析控制圖是P控制圖的關(guān)鍵環(huán)節(jié).

P控制圖對過程異常進行判斷時從兩個方面進行，分別為超出控制界限和控制界限期的圖形趨勢。1.超出控制界限的點

(1)超出控制界限又分為超出控制界限和超出下控制界限兩種情況:A.P圖上數(shù)據(jù)點超出上控制界限.

計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC76分析P控制圖制作P目的目的在于區(qū)分引起過程變異的特殊原分析P控制圖

B.P圖上數(shù)據(jù)點超出下控制界限計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC77分析P控制圖B.P圖上數(shù)據(jù)點超出下控制界限計數(shù)型數(shù)據(jù)S分析P控制圖

(2)數(shù)據(jù)點超出P控制圖控制界限的可能原因：

A、控制界限計算錯誤

B、描點錯混

C、測量系統(tǒng)變化

D、過程不合格率上升以上原因中，只有原因“D”是與過程能力相關(guān)的變化的特殊原因，A、B、C均由人為錯誤造成，需盡可能避免人為錯誤。

計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC78分析P控制圖(2)數(shù)據(jù)點超出P控制圖控制界限的可能原因分析P控制圖2、控制界限內(nèi)的圖形趨勢。

P圖上的數(shù)據(jù)點雖在控制界限內(nèi)但呈現(xiàn)出某種非隨機趨勢，也會表示過程因為特殊原因而發(fā)生變異，P圖些常見的非隨機趨勢如下：

(1)連續(xù)9點出現(xiàn)在中心線的一側(cè)，如下圖所示：計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC79分析P控制圖2、控制界限內(nèi)的圖形趨勢。計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC15分析P控制圖(2)連續(xù)6點上升或下降,如下圖所示

(3)連續(xù)14點上升或下降,如下圖所示計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC80分析P控制圖(2)連續(xù)6點上升或下降,如下圖所示計數(shù)型數(shù)分析P控制圖(4)數(shù)據(jù)點在控制界限內(nèi)的圖形趨勢的可能原因:A.測量系統(tǒng)已變化B.過程性能發(fā)生變化計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC81分析P控制圖(4)數(shù)據(jù)點在控制界限內(nèi)的圖形趨勢的可能原因:計

控制界限的更新

控制界限建立后并非一成不變，而需根據(jù)實際控制狀況加以調(diào)整，在過程發(fā)生以下變化時,需重新計算控制界限：1、過程流程發(fā)生變化．2、現(xiàn)有過程出現(xiàn)失控，經(jīng)過改善使過程重新受控后.3、對過程的普通原因進行改善后。

計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC82控制界限的更新控制界限建立后并非一成不變，而需根據(jù)

分析過程能力

在P圖顯示過程受控以后，可以對過程能力進行分析,在分析過程能力以前，計數(shù)值數(shù)據(jù)控制圖過程能力分析的假設(shè)條件須首先得到滿足。1、P圖對應(yīng)過程能力分析時的假設(shè)條件

(1)過程受控(2)測量系統(tǒng)誤差處于可接受范圍.2、P圖對應(yīng)過程能力度量指數(shù)P圖對應(yīng)過程能力度量指數(shù)為3、過程能力評價根據(jù)計算出的過程能力指數(shù)可以直觀評估過程能力，按6σ標準，過程能力如達到6σ標準，則過程不合格率為3.4PPM計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC83分析過程能力在P圖顯示過程受控以后，可以對過程能力

分析過程能力4.過程能力改善進行過程能力改善時,不單要降低引起過程變化的特殊原因,而且要降低引起過程變異的普通原因,以使過程合格率持續(xù)得到提升.計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC84分析過程能力4.過程能力改善計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC20P圖應(yīng)用例某公司一個改善小組擬對A產(chǎn)品電參數(shù)測試工序的不良率進行控制，他們確定用P圖對該工序不良率進行監(jiān)控，應(yīng)用流程如下：1、確定需控制的過程本例選定的用P圖進行控制的過程為A產(chǎn)品電參數(shù)測試過程。2、確定需控制的項日本例用P圖控制的項目為A產(chǎn)品電參數(shù)測試工序的不合格率。3、定義測量系統(tǒng)改善小組確定的測量系統(tǒng)為3臺電參數(shù)測試儀及被測量產(chǎn)品。

計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC85P圖應(yīng)用例某公司一個改善小組擬對A產(chǎn)品電參數(shù)測試工P圖應(yīng)用例4、測量系統(tǒng)分析經(jīng)小組分析認為該測量系統(tǒng)可接受。5、確定抽樣數(shù)及頻率小組確定現(xiàn)察所有數(shù)據(jù)．每小時約測試200PCS，觀察頻率為每小時一次。6、小組取得的數(shù)據(jù)如下圖：7、計算控制界限(1)計算

=0.0428(2)計算控制界限①為計算方便，如果子組容量的變化范圍在25％以內(nèi)變化，則可以將控制界限下式計算計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC86P圖應(yīng)用例4、測量系統(tǒng)分析計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC22P圖應(yīng)用例4、測量系統(tǒng)分析經(jīng)小組分析認為該測量系統(tǒng)可接受。5、確定抽樣數(shù)及頻率小組確定現(xiàn)察所有數(shù)據(jù)．每小時約測試200PCS，觀察頻率為每小時一次。6、小組取得的數(shù)據(jù)如下圖：7、計算控制界限(1)計算

=0.0428(2)計算控制界限①為計算方便，如果子組容量的變化范圍在25％以內(nèi)變化，則可以將控制界限下式計算計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC87P圖應(yīng)用例4、測量系統(tǒng)分析計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC23P圖應(yīng)用例A產(chǎn)品電參數(shù)測試數(shù)據(jù)表NO.測試數(shù)不合格數(shù)不合格率NO測試數(shù)不合格數(shù)不合格率120680.0391421570.033220160.0315223110.0493195110.05616215130.06421360.02817204100.049520440.021821660.0286186110.0591921880.037719970.03520207140.068820160.0321229120.0529207120.0582217890.0511019860.032319660.0311117680.0452418570.0381218690.0482518990.0481320440.02

計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC88P圖應(yīng)用例A產(chǎn)品電參數(shù)測試數(shù)據(jù)表NO.測試數(shù)不合格數(shù)不合P圖應(yīng)用例式中:為各子組容量的值.

本例中比較本例數(shù)據(jù)表中的”T測試數(shù)”欄的數(shù)據(jù),均在”151.6-252.6”范圍內(nèi),因此,可計算統(tǒng)一的控制界限.②控制界限計算如下

計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC89P圖應(yīng)用例式中:為各子組容量的值.計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC2P圖應(yīng)用例8、將數(shù)據(jù)及控制界限做于P圖上。9、分析P圖按P圖的分析準則判斷，未發(fā)現(xiàn)異常。10、計算過程能力以P圖上看，該過程處于受控狀態(tài)，因此可以計算過程能力，本例過程能為P=0.0416，代表本例電參數(shù)測試工位的合格率穩(wěn)定在95.84％，這個合格率太低，需要改善。計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC90P圖應(yīng)用例8、將數(shù)據(jù)及控制界限做于P圖上。計數(shù)型數(shù)據(jù)SPPn圖Pn圖用來監(jiān)控某個過程不合格品數(shù)的變化，發(fā)現(xiàn)特殊原因，Pn圖和P圖的用途比較類似，在子組容量為常數(shù)或監(jiān)控不合格品數(shù)量比不合格品率更有效時．通常采用Pn圖來替代P圖.制作Pn圖前的準備1、取得高層認可2、確定需用Pn圖控制的過程和特性3、定義測量系統(tǒng)4、消除明顯的過程偏差。計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC91Pn圖Pn圖用來監(jiān)控某個過程不合格品數(shù)的變化，發(fā)現(xiàn)特

制作Pn控制圖制作Pn圖的流程如下：1、收集數(shù)據(jù)(1)進行測量系統(tǒng)分析(2)確定子組樣本容量一般而言，Pn圖每個子組的樣本容量需大于50且每個子組的樣本容量相同。(3)確定子組頻率與P圖一樣，Pn圖一般是利用全檢數(shù)據(jù)而非大于抽樣數(shù)據(jù)進行控制，這并不會額外增加成本，因為即使不做控制圖，也會做必須的檢驗，Pn圖只是利用這些數(shù)據(jù)而已，這也是計數(shù)值數(shù)據(jù)控制圖比計量值數(shù)據(jù)控制圖方便和經(jīng)濟的原因。Pn圖的子組間時間間隔不可過大。(4)確定子組數(shù)一般要求子組數(shù)在25個以上，這樣可以全面檢驗過程的穩(wěn)定性。計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC92制作Pn控制圖制作Pn圖的流程如下：計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC28

制作Pn控制圖2.建立控制圖

Pn圖的通用格式3.計算控制界限

(1)計算過程不合格品數(shù)的平均值式中:過程不合格品數(shù)的平均值K子組數(shù)

Pni第i個子組不合格品數(shù),i=1…K.(2)計算控制界限

計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC93制作Pn控制圖2.建立控制圖計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC29

制作Pn控制圖式中:UCLPn=Pn圖的上控制界限

LCLPn=Pn圖的下控制界限CLPn=Pn圖的控制中心線

=過程平均不合格率3.將計算結(jié)果及各子組Pn點繪于Pn控制圖上,如圖計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC94制作Pn控制圖式中:UCLPn=Pn圖的上控制界限計數(shù)型數(shù)

分析Pn控制圖分析Pn控制圖Pn圖的分析方法與P圖的分析完全相同。控制界限的更新

Pn圖的控制界限建立并非一成不變，而需根據(jù)實際控制狀況加以調(diào)整，在過程發(fā)生以下變化時，需重新計算控制界限：l、過程流程發(fā)生變化2、現(xiàn)有過程出現(xiàn)失控，經(jīng)過改善使過程重新受控后。3、對過程的普通原因進行改善后。計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC95分析Pn控制圖分析Pn控制圖計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC31

分析過程能力l、在Pn圖顯示過程受控后，可對過程能力進行分析，在分析能力前，過程需滿足以下假設(shè)條件(1)過程受控(2)測量系統(tǒng)誤差處于可接受范圍．2、Pn圖對應(yīng)過程能力的度量指數(shù)

Pn對應(yīng)過程能力度量指數(shù)為，與P圖相同。3、過程能力評價根據(jù)計算出的過程能力指數(shù)可以直觀評估過程能力。4、過程能力改善通過降低引起過程變異的普通原因和特殊原因來改善過程能力。計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC96分析過程能力l、在Pn圖顯示過程受控后，可對過程能力進行分Pn圖應(yīng)例某公司擬對其所生產(chǎn)的一種電子產(chǎn)品A在經(jīng)過環(huán)境試驗后的不合格狀況進行監(jiān)控，因為每次進行環(huán)境試驗的樣品數(shù)是恒定的,因此他們確定有Pn圖對環(huán)境試驗的不良率進行控制，應(yīng)用流程如下：1、確定需控制的過程本例選定的用Pn圖進行控制的過程為A產(chǎn)品環(huán)境試驗過程。2、確定需控制的項目本例中Pn圖控制的項目為A產(chǎn)品環(huán)境試驗過程韻不合格品數(shù)。3、定義測量系統(tǒng)

本例測量系統(tǒng)為專用自動評價儀，及被測量產(chǎn)品.計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC97Pn圖應(yīng)例某公司擬對其所生產(chǎn)的一種電子產(chǎn)品A在經(jīng)過環(huán)境試驗Pn圖應(yīng)例4、測量系統(tǒng)分析

經(jīng)小組分析認為該測量系統(tǒng)可以接受.5、確定抽樣數(shù)及頻率

小組確定觀察所有數(shù)據(jù),A產(chǎn)品每班環(huán)境試驗80PCS,子組頻率為每班一次.6、小組取得的數(shù)據(jù)如下表:7、計算控制界限(1)計算

(2)計算控制界限計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC98Pn圖應(yīng)例4、測量系統(tǒng)分析計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC34Pn圖應(yīng)例A產(chǎn)品電參數(shù)測試數(shù)據(jù)表NO.測試數(shù)不合格數(shù)NO.測試數(shù)不合格數(shù)18011480028031580438021680548001780158011880268021980478042080288022180198012280110803238011180224803128022580213802

計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC99Pn圖應(yīng)例A產(chǎn)品電參數(shù)測試數(shù)據(jù)表NO.測試數(shù)不合格數(shù)NO.Pn圖應(yīng)例8、將數(shù)據(jù)及控制界限做于Pn圖上。9、分析Pn圖按Pn圖的分析準則判斷,未發(fā)現(xiàn)異常.10、計算過程能力

從Pn圖上看,該過程處于受控狀態(tài),因此可以計算過程能力,本例過程能力為=0.025,代表本例環(huán)境試驗過程的合格率穩(wěn)定在97,5％,這個合格率太低,需要改善.計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC100Pn圖應(yīng)例8、將數(shù)據(jù)及控制界限做于Pn圖上。計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC圖C圖用來監(jiān)控某個過程不合格數(shù)的變化，發(fā)現(xiàn)特殊原因,C圖應(yīng)用時要求子組容量為恒定值，在單個產(chǎn)品上存在多類塊陷或產(chǎn)品不可分為單個時(如布匹、鋼材等)，C圖比較適用。制作C圖前的準備l、取各高層認可2、確定需用C圖控制的過程和特性3、定義測量系統(tǒng)4、消除明顯的過程偏差計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC101C圖C圖用來監(jiān)控某個過程不合格數(shù)的變化，發(fā)現(xiàn)特殊原因,C圖制作C控制圖

制作C控制圖的流程如下：l、收集數(shù)據(jù)(1)進行測量系統(tǒng)分析(2)確定子組樣本容量一般而言，C圖每個子組樣本容量與其它控制圖有些不同，其容量常表現(xiàn)為面積、長度、寬度等，也可能為樣本的個數(shù)，這與C圖控制對象的性質(zhì)有關(guān)，C圖的樣本容量大小根據(jù)硬陷多少及抽樣經(jīng)濟性確定。(3)確定子組頻率

C圖抽樣頻率根據(jù)缺陷狀況及抽樣經(jīng)濟性確定，抽樣時間間隔不可過大。計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC102制作C控制圖制作C控制圖的流程如下：計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC38制作C控制圖

(4)確定子組數(shù)一般要求子組數(shù)在25個以上,這樣可以全面檢驗過程穩(wěn)定性.2.建立控制圖3.計算控制界限

(1)計算過程缺陷數(shù)的平均值式中:過程缺陷數(shù)的平均值

Ci=第i個子組的缺陷數(shù),i=1…KK=子組數(shù)計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC103制作C控制圖(4)確定子組數(shù)計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC39制作C控制圖

(2)計算控制界限(3)將計算結(jié)果及各子組的缺陷數(shù)繪于C控制圖上.分析C控制圖

C圖的分析方法與P圖相同.

計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC104制作C控制圖(2)計算控制界限計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC40控制界限的更新

C圖的控制界限建立后并非-成不變,而需根據(jù)實際控制狀況加以調(diào)整,在過程發(fā)生以不下變化時,需要新計算控制界限.1.過程流程發(fā)生變化.2.現(xiàn)有過程出現(xiàn)失控,經(jīng)過改善使過程重新受控后.3.對過程的變通原因進行改善后.計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC105控制界限的更新C圖的控制界限建立后并非-成不變,而需根據(jù)分析過程能力l、在C圖顯示過程受控后，可對過程能力進行分析，在分析能力時，過程需滿足以下假設(shè)條件：A、過程受按.B、測量系統(tǒng)誤差在可接受范圍.2、C圖對應(yīng)過程能力的度量指數(shù).C圖對應(yīng)過程能力的度量指數(shù)為，即過程缺陷數(shù)的平均值。3、過程能力評價根據(jù)計算出的過程能力指數(shù)可以直觀地評估過程能力。4、過程能力改善通過降低引起過程變異的普通原因和特殊原因來改善過程能力。計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC106分析過程能力l、在C圖顯示過程受控后，可對過程能力進行分析，C圖應(yīng)用例C圖應(yīng)用例某紡織公司擬對其生產(chǎn)的某種布匹的缺陷數(shù)進行監(jiān)控，根據(jù)控制對象的性質(zhì)，該公司工程師確定用C圖進行控制，流程如下：1、確定需控制的過程本例確定的用C圖控制的過程為布匹紡織過程。2、確定需控制的項目本例用C圖控制的項目為布匹的缺陷數(shù)，缺陷內(nèi)容為:①異色②麻點③起毛3、定義測量系統(tǒng)本例測量系統(tǒng)為2個布匹質(zhì)撿人員受被測量布匹，采用目視檢查方式。計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC107C圖應(yīng)用例C圖應(yīng)用例某紡織公司擬對其生產(chǎn)的某種布匹的缺陷數(shù)進C圖應(yīng)用例4.測量系統(tǒng)分析經(jīng)分析該測量系統(tǒng)滿足要求.5.確定抽樣數(shù)及抽樣頻率該公司工程師經(jīng)綜合考慮,確定的子組樣本容量為長度10M,(布匹寬度恒定為1.5M).抽樣頻率為每小時一次.6.小組取得的數(shù)據(jù)表如下:7.計算控制界限

(1)計算計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC108C圖應(yīng)用例4.測量系統(tǒng)分析計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC44C圖應(yīng)用例(2)計算控制界限8.將數(shù)據(jù)及控制界限作于C圖上計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC109C圖應(yīng)用例(2)計算控制界限計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC45C圖應(yīng)用例NO.抽樣數(shù)(單位:M)缺陷數(shù)(單位:個)異色麻點起毛1105732103963109284101176510894610612117107788109879101188101051061110149912101655131071481410699151098516101257171076618101566191098820107115211061262210359231084824107872510976計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC110C圖應(yīng)用例NO.抽樣數(shù)(單位:M)缺陷數(shù)(單位:個)異色麻點U圖U圖用來監(jiān)控某個過程不合格數(shù)的變化,發(fā)現(xiàn)特殊原因,U圖的應(yīng)用場合與C圖比較類似,但不要求子組容量為恒定值.制作U圖前的準備1.取得高層認可2.確定需用U圖控制的過程和特性3.定義測量系統(tǒng)4.消除明顯的過程偏差計數(shù)型數(shù)據(jù)SPC111