1、ICT 培訓資料一一.ICT的根本認識的根本認識 v 1. ICT即在線測試儀In Circuit Tester,是一大堆高級電表的組合。但它能對在線電路板上的元件測試進行有效的隔v 離(Guarding),而萬用表那么不能.所以,萬用表能測的它也能測,萬v 用表不能測的,它可能能測.v 2. ICT能測:Open/Short;R;C;L;D;Q;IC等. v 3. ICT與ATE的區別: ICT只作靜態測試,而ATE那么作動態測試.即ICT對被測板不通電,而ATE要對被測板通電才能測試,二二ICT的測試原理的測試原理 當Rx有旁路R1)時， Ix=Is-I1Is 故：Vx/IsRx此時取A

2、點電位Va, 送至C 點, 令Vc=Va, 那么： I1=(Va-Vc)/R1=0, Is=Ix 從而： Vx/Is=Rx如圖:1. Guarding(隔離隔離)的實現的實現： 2. 量測電阻R： (1).單個R(mode D1,D2): 直流定電流源: 利用Vx=IsRx歐姆定律， 那么Rx=Vx/Is. 信號源Is取恒流 0.1uA5mA,量回Vx即可算出Rx值.如以下圖一.圖一圖一 圖二圖二 (2). R/C(mode V5,CV): 直流定電壓源: 信號源Vs取恒壓 0.2V，量回 Ix，那么Rx=Vs/Ix=0.2V/Ix，算出Rx值.如上圖二.(3).R/L(mode P1,P2,

3、P3,P4,P5): 相位法測試相位法測試:信號源取交流電壓源信號源取交流電壓源Vs，籍相位法輔，籍相位法輔助助.|Y|Cos=YRx=1/Rx,并并|Y|=Ix/Vs故：故：Rx=1/|Y|Cos 如以下圖如以下圖:3. 量測電容量測電容C&電感電感L： (1).單個單個C&LMode A1.A2.A3.A4.A5 ： 交流定電壓交流定電壓:交流電壓源一定交流電壓源一定Vs,Vs/Ix=Zc=1/2fCx,求得：求得：Cx=Ix/2fVs.Vs/Ix=Zl=2fLx, 求得：求得：Lx=Vs/2fIx. 注注:3UF以上電容用以上電容用(Model DC) (2).C/R或或L/R:(P1.

4、P2.P3.P4.P5)相位法測試相位法測試: 1. |Y|Sin=|Ycx|,即即CxSin=Cx 求得：求得：Cx=CxSin (Cx=Ix/2fVs) 2.|Y|Sin=|Ycx|,即即Sin/Cx=1/Cx 求得：求得：Lx=Lx/Sin(Lx=Vs/2fIx) 如以下圖如以下圖:4. 量測PN結：D、Q、IC 信號源0-10V/3mA or 30mA可程式電壓源,量PN結導通電壓 一般順向電壓0.7V;反向電壓2.2V.這里主要講下三極管的三端量測法晶體管做三端點量測時 ,假設晶體管為NPN type,實際值(ACTval)設定值為DA1所送電壓，標準值(STDval)設定值即為晶體

5、管的VCES電壓值。改變實際值(ACTval)(從0.5V往上增加) ，直到晶體管飽和導通(測試值應低于0.2V)。如果晶體管為PNP type，改變實際值(ACTval)欄的電壓(從4.5V往下減少) ，直到晶體管飽和導通測試值應低0.2V。 5. 量測Open/Short： 即以阻抗判定：先對待測板上所有Pin點進行學習,R20即歸為Short Group，然后Test時進行比較，R80判為Open.短路1080開路20學習參考點 6.低壓測試方法(LV) 低壓功能測試是允許你供給某一定電壓到零件兩端，同時測量零件兩端的電壓，如測電容反向、Zener二極管、或IC都可使用此法。 假設我們要

6、測一個6V的穩壓二極管,我們可以在實際值中填入9V,標準值中填入6,當實際植的單位是V,而標準值不是0時,系統會送出一個9V電壓至穩壓二極管兩端,然后量測穩壓二極管的電壓是否為5.6V,從而判定好壞.LV模式最大送出電壓為10V 7.高壓測試方法高壓測試方法(HV) 高壓測試的原理與設定方法與低壓相似,只是在模式里選(HV),高壓最大送出電壓為50V跳線測試跳線測試(Jumper Test) 跳線測試跳線測試(Jumper Test)采用一個比較器硬件線路，因此，測采用一個比較器硬件線路，因此，測試的結果只有、四個值，單位以試的結果只有、四個值，單位以JP表示，其代表表示，其代表的意義如下：的

7、意義如下： JP： 10 歐姆歐姆(ohm) JP： 10歐姆歐姆(ohm)， 20歐姆歐姆( ohm) JP： 20歐姆歐姆(ohm)， 80歐姆歐姆( ohm) JP： 80歐姆歐姆(ohm) 三三ICT測試程序的制作測試程序的制作 一準備好2PCS空PCB板，1PCS實板，1份BOM及原理圖邦線圖，提供給供給商分析 二供給商根據我們的要求制作測試機架及原始程序 三根據BOM，電路圖，針點圖進行相對應的測試程序的調試1單板的調試 按“Ctrl+E進入元件編輯界面 先熟悉一下界面對照壞機故障，加深印象 A 元件元件Component的調試的調試(R,C,L,D,Q) 電阻電阻RDebug:(

8、1).根據根據R的大小的大小,系統自動調整測試電流大小系統自動調整測試電流大小. F9:單步測試單步測試 Alt+F9:整頁測試整頁測試 F5:對調對調AB點點 F10自動自動Guarding. Alt+H:查看串連元查看串連元件件.Alt+J:查看并聯元件查看并聯元件. (2).R/C:Model(CV&V5)(3).R/D:Model(D2&V5).(4).R/L:Model(P1.P2.P3.P4.P5) 電容電容CDebug: (1).單個電容單個電容3uf以上信號源既可用交流也可以上信號源既可用交流也可用直流用直流.300uf以上只可用以上只可用DC模式模式.470pf以以下用下用A

9、4&A5; 470pf3uf用模式用模式. (2).C/R:Model(A1.A2.A3.A4.A5) (3).C/L:Model(P1.P2.P3.P4.P5) (4).C/D:Model(DC&A1A5)470PF3UF300UFA1.A2.A3.A4.A5DCDC.A1.A2D&Q&IC的的Debug (1).單個D&Q&IC正向:0.7V左右;反向2V以上. (2).D/C:Model(LV低電壓) (3).D/D:Model(CM,除正向導通測試,還需做電流測試 (4).Zerer:需作反向電流測試.10V48V的Zerer可用 HV(高電壓)測試. (5).Q的CE極:需判斷Q的類

10、型(PNP&NPN) 為了使CE極飽和導通,NPN偏置電壓為0.7V1V; PNP偏置電壓為 4.5V2V;反向在0.5V以上. B. IC的學習 a 按“Ctrl+I進入IC編輯界面 按F4選出IC相對應的參考地GND或電源VCC 按F3保存后退出b.進入元件編輯界面,然后按ALT+I進行保護二極體的學習,根據提示,按測試要求選擇對話框,完成IC的自動學習并保存注意:IC的參考點GND,VCC必須選對,檢查IC腳位是否和測試針點相對應,否那么將產生錯誤的程序GNDIC腳針點C. OPEN/SHORT的學習的學習在測試界面按CTRL+L,電腦將提示放入好板并進行學習，學習后保存退出注意：系統只

11、會針對有測試點的網絡進行學習。當單板程序調試穩定后，我們就可以產生多連板啦！2多連板的產生多連板的產生A 在測試界面單擊設定，選擇在測試界面單擊設定，選擇“產生多連板程序產生多連板程序命令將彈出以下對話框命令將彈出以下對話框你只用根據你的要求填入數字就可以啦比方要做一個8連板的程序，你就填入4-2，到時電腦將自動產生一個8連板的程序B 接下來將彈出一個對話框，提示輸入第二塊板的最小針點號對照針點圖找到第二塊的最小針點，填入對話框在下面對話框里填入0接下來是選擇新文檔存貯的路徑，假設默認的話，文件將產生一個新的程序并保存在原文件夾中，不用擔憂會把原單板程序覆蓋最后把程序保存，一個完整的程序就完成

12、啦！假設還有個別不穩定的工程，參考前面調試的方法，Debug直到穩定四四ICT誤測分析誤測分析 1. ICT無法測試局部： 記憶體ICEPROM、SRAM、DRAM 并聯大10倍以上大電容的小電容 并聯小20倍以上小電阻的大電阻 單端點之線路斷線 D/L，D無法量測 (6). 跳線并連 (7)IC之功能測試.2. PCB之測點或過孔綠油未翻開，或PCB吃錫不好。3. 壓床壓入量缺乏。探針壓入量應以1/2-2/3為佳。4經過免洗制程的PCB板上松香致探針接觸不良。5PCB板定位柱松動，造成探針觸位偏離焊盤。6治具探針不良損壞。7. 零件廠牌變化可放寬+-%，IC可重新 Learning。8. 治

13、具未Debug好再進行Debug。9. ICT本身故障。五五ICT的轉機流程的轉機流程1將待測Model 的機架準備好. 2將紅外線保護開關拔至OFF位置,依次序取下原測試機架上模和下模.的34Pin排線紅外線保護開關64Pin排線3將待測機架放入,對好上,下模位置并固定好,再依次序插好34Pin排線固定夾具螺絲64pin排線4.固定好機架后,放一待測板在機架上,再調整行程控制感應開關,使上模,待測板,下模三者充分接觸好后,再固定好感應開關.行程控制開關6.將紅外線保護開關拔至ON位置,在D:目錄下調出待測板的測試程序.紅外線保護開關試測試5-10片待測板,PASS后交由測試員操作六六.ICT

14、程序調試時本卷須知程序調試時本卷須知換上新機架時換上新機架時,程序出現不穩定的現象程序出現不穩定的現象,這時我們需作程式調整這時我們需作程式調整,但但需注意如下幾項需注意如下幾項: 1 首先要確定測試針是否良好首先要確定測試針是否良好,測試點是否接觸良好測試點是否接觸良好,元件是否元件是否假焊假焊,漏料漏料,錯料等不良錯料等不良. 2 按按“Ctrl +E進入元件編輯進入元件編輯,再按再按“Alt +R 跳至測試不良項跳至測試不良項,按按F9進行當前項測試進行當前項測試. 3 調整程式時調整程式時,要采用比照方式進行要采用比照方式進行,即用多塊板進行比照調試即用多塊板進行比照調試. 4 調試時

15、調試時,只能在模式只能在模式(MD)(光標移至此欄光標移至此欄)按按Space 進行選進行選擇擇,檔位進檔位進 行行 選選 擇擇 (光標移至此欄光標移至此欄)按按Space 進行選擇進行選擇,延遲時間延遲時間,A.B 點對調點對調(F5)加隔離點加隔離點(F10) 五項中進行調試五項中進行調試. 5 必要時,可調整上限,下限及標準植. 6 PF級電容調試時,不可改動標準值及實際值,只作雜散電容補償調整,使用 “Alt+Y 自動補償 7 級電阻,測試時不穩定時,可根據實際情況作跳線測試,即實際值欄改為 “JP 測試, JP標準: 1JP10 ; 102JP 20 ; 20 3JP 80 . 8

16、電感測試不穩定時,也可作跳線測試,其方法與 級電阻設定相同,也可用頻率 (A2/A3/A4/A5) 進行調試. 如遇電感并聯電容.電阻那么用(P1/P2/P3/P4/P5) 模式進行調試七七ICT常見故障檢修常見故障檢修1系統板，自檢板，DC板，AC板，開關板的偵測 A翻開JET下的Jet300a.dat文件進行系統測試 如果是電阻，二極管，三極管壞或不穩，多為DC板故障 如果是電容壞或不穩，多為AC板故障 兩者都有，那么有可能是系統板或自檢板的故障 B翻開以下圖中的自我測試將會出現 其中MEAS TEST 就是系統板，自檢板，DC板，AC板 的檢測 RELAY TEST 是多塊開關板的檢測，填入開關板的數量，就會顯示測試結果 當然，機臺，卡槽也有可能影響測試 2常用快捷捷鍵常用快捷捷鍵 進入元件編輯界面 CTRL+E 進入短路編輯界面 CTRL+P 進入不測點編輯界面 CTRL+S 進入IC編輯界面 CTRL+I 進入開/短路路學習 CTRL+L 在元件編輯中常用的快捷鍵 尋找針點 ALT+P 顯示并聯元件 ALT+J 顯示串聯元件 ALT+H 學習電容補償值 ALT+Y 單項測試 F9 整頁測試 ALT+F9 尋找隔離點 F10 取消隔離點 F4