1、實驗一 門電路邏輯功能測試及邏輯變換一、實驗?zāi)康模?掌握TTL與非門、或非門和異或門輸入與輸出之間的邏輯關(guān)系。2熟悉TTL中、小規(guī)模集成電路的外型、管腳和使用方法。3. 熟悉邏輯功能的變換。二、實驗儀器及器件：1數(shù)字電路實驗箱 1臺2二輸入四與非門74LS00 1片3. 二輸入四或非門74LS28 1片4. 二輸入四異或門74LS86 1片5數(shù)字萬用表 1塊三、實驗預(yù)習(xí)：1復(fù)習(xí)各種門電路的邏輯符號、邏輯函數(shù)式、真值表。2查出實驗所用集成電路的外引腳線排列圖，熟悉其引腳線位置及各引腳線用途。四、實驗原理：1測試門電路的邏輯功能 與非門的邏輯功能：有0出1，全1出0。與非門的邏輯函數(shù)式：Y=AB7

2、4LS00為二輸入四與非門, 即在一塊集成塊內(nèi)含有四個互相獨(dú)立的與非門,每個與非門有2個輸入端。如下圖所示。 或非門的邏輯功能：有1出0，全0出1。或非門的邏輯函數(shù)式：Y=A+B74LS28為二輸入四或非門, 即在一塊集成塊內(nèi)含有四個互相獨(dú)立的或非門,每個或非門有2個輸入端。 異或門的邏輯功能：相同出0，相反出1。異或門的邏輯函數(shù)式：Y=AB=AB+AB74LS86為二輸入四異或門，即在一塊集成塊內(nèi)含有四個互相獨(dú)立的異或門,每個異或門有2個輸入端。如圖（c）所示。2門電路的邏輯變換：就是用與非門等組成其它門電路。方法：先對其它門電路的函數(shù)式用摩根定理等公式變換成與非式，再畫出相應(yīng)邏輯圖，然后用

3、與非門實現(xiàn)之。五、實驗內(nèi)容：實驗前先檢查實驗箱電源是否正常，然后選擇實驗用的集成電路，按接線圖連線。特別注意Vcc及地線不能接錯。線接好后經(jīng)指導(dǎo)教師檢查無誤方可通電。實驗中改動接線必須先斷開電源，接好線后再通電實驗。1測試二輸入四與非門74LS00一個與非門的輸入和輸出之間的邏輯關(guān)系。任選二個輸入端A、B接電平開關(guān)（K1K16中任選二個）,另外的輸入端懸空，分別測出各種輸入狀態(tài)下輸出邏輯狀態(tài)和輸出電壓填入表1中。表1輸 入輸 出ABY電壓(V)00011011 測試二輸入四或非門74LS28一個或非門的輸入和輸出之間的邏輯關(guān)系。任選二個輸入端A、B接電平開關(guān),另外的輸入端接地，分別測出各種輸入

4、狀態(tài)下輸出邏輯狀態(tài)和輸出電壓填入表2中。表2輸 入輸 出ABY電壓(V)00011011 測試出二輸入四異或門74LS86，一個異或門的輸入和輸出之間的邏輯關(guān)系。任選二個輸入端A、B接電平開關(guān)，分別測出各種輸入狀態(tài)下的輸出狀態(tài)和輸出電壓填入表3中。表3輸 入輸 出ABY電壓(V)000110112門電路的邏輯變換 用與非門構(gòu)成或門，測出其真值表加以驗證：用一片74LS00與非門構(gòu)成或門Y1=A+B=，畫出邏輯電路圖，并在圖中標(biāo)明芯片引腳號，按圖接好線后，測試并填入表4中。表4輸 入輸 出ABY1電壓(V)Y2電壓(V)00011011 用與非門74LS00構(gòu)成同或門：（選做）將同或門函數(shù)式轉(zhuǎn)化

5、為與非門函數(shù)式Y(jié)2，畫出邏輯圖，并在圖中標(biāo)明芯片引腳號，按圖接線，測試并填入表4中。六、實驗提示：1. 將被測器件插入實驗臺上的14芯插座中。2. 將器件的引腳7與實驗臺的“地”（GND）連接，將器件的引腳14與實驗臺的+5V連接。3. 用實驗臺的電平開關(guān)輸出作為被測器件的輸入。撥動開關(guān)，則改變器件的輸入電平。4. 將被測器件的輸出引腳與實驗臺上的電平指示燈連接。指示燈亮表示輸出電平為1，指示燈滅表示輸出電平為0。七、實驗報告內(nèi)容：1實驗?zāi)康摹嶒炛兴褂玫钠骷_圖；按各步驟要求填表。2回答問題： 怎樣判斷門電路邏輯功能是否正常？ 由實驗結(jié)果說明控制門的作用。（3）討論TTL與非門閑置輸入端

6、的處理方法。實驗二 譯碼器的邏輯功能一、實驗?zāi)康?、 學(xué)會正確使用中規(guī)模集成芯片（MSI）組合邏輯電路，掌握譯碼器的應(yīng)用，學(xué)會測試其邏輯功能。2、 學(xué)習(xí)集成芯片使能端的功能、用法。3、 學(xué)會利用譯碼器實現(xiàn)邏輯函數(shù)的使用方法。4、 學(xué)習(xí)用儀器檢測故障，排除故障。5、 學(xué)習(xí)集成譯碼器的擴(kuò)展方法。二、實驗設(shè)備及器件1、數(shù)字電路實驗箱 1臺2、74LS139 雙2線-4線譯碼器 1片3、萬用表、若干連線。4、74LS00 二輸入四與非門 1片三、實驗原理譯碼：是編碼的反過程，是將給定的二進(jìn)制代碼翻譯成編碼時賦予的原意。譯碼器：實現(xiàn)譯碼功能的電路。譯碼器特點(diǎn)：輸入是以n位二進(jìn)制代碼形式出現(xiàn)，輸出是與之對

7、應(yīng)的電位信息。譯碼器分類：通用譯碼器：二進(jìn)制、二十進(jìn)制譯碼器。集成譯碼器是一種具有特定邏輯功能的組合邏輯器件，本實驗以雙2線4線譯碼器74LS139為主，通過實驗進(jìn)一步掌握集成譯碼器。 1. 74LS139管腳及功能 由功能表可知：（1） 使能端（G=1）時，四個譯碼輸出都是無效電平，即輸出全為高電平“1”；（2） 使能端（G=0）時，譯碼器四個輸出中僅與輸入對應(yīng)的一個輸出端為有效低電平“0”，其余輸出無效電平“1”；（3） 在使能條件下，每個輸出都是輸入變量的最小項，因而輸出函數(shù)可寫成最小項的形式。但應(yīng)考慮到芯片是輸出低電平有效，需要轉(zhuǎn)換。 2用74LS139和門電路實現(xiàn)組合電路 邏輯變量作

8、為譯碼器輸入變量，即可用74LS139和與非門實現(xiàn)邏輯函數(shù)。四、實驗內(nèi)容完成以下測試。（1）測試2線4線譯碼器74LS139的邏輯功能（列出真值表驗證之）。4個譯碼輸出引腳Y0Y3接電平指示燈，改變引腳G、B、A的電平，產(chǎn)生相應(yīng)輸出信號。觀測并記錄指示燈的顯示狀態(tài)。（2）用雙2線4線譯碼器74LS139擴(kuò)展為3線8線譯碼器，畫出接線圖，列出真值表，接線并驗證真值表。（3）用74LS139構(gòu)成邏輯函數(shù)發(fā)生器F=+，畫出接線圖，并在圖中標(biāo)明芯片引腳號，列出真值表，接線并驗證真值表。五、預(yù)習(xí)要求：1、 提前預(yù)習(xí)實驗內(nèi)容及相關(guān)知識；2、 復(fù)習(xí)譯碼器的工作原理。3、 熟悉譯碼器74LS139各引腳功能和

9、使用方法，列出真值表，畫出所要求的具體實驗線路圖。4、 對于選做實驗，自行設(shè)計電路。列出必要的真值表、表達(dá)式，畫出接線圖。六、實驗報告：1. 對各項實驗列真值表，畫接線圖和標(biāo)出集成塊引腳號。2. 分析實驗中出現(xiàn)的問題。總結(jié)譯碼器的使用體會。3. 思考如何用74LS139實現(xiàn)三人表決電路，寫出分析過程。實驗三 數(shù)據(jù)選擇器的邏輯功能一、實驗?zāi)康?、 學(xué)會正確使用中規(guī)模集成芯片（MSI）組合邏輯電路，掌握數(shù)據(jù)選擇器的應(yīng)用，學(xué)會測試其邏輯功能。7、 學(xué)習(xí)集成芯片使能端的功能、用法。8、 學(xué)會利用數(shù)據(jù)選擇器實現(xiàn)邏輯函數(shù)的使用方法。9、 學(xué)習(xí)用儀器檢測故障，排除故障。10、 學(xué)習(xí)集成數(shù)據(jù)選擇器的擴(kuò)展方法。

10、二、實驗設(shè)備及器件1、數(shù)字電路實驗箱 1臺2、74LS153 雙四選一數(shù)據(jù)選擇器 1片3、萬用表、若干連線。三、實驗內(nèi)容完成以下測試。（1）測試74LS153中一個四選一數(shù)據(jù)選擇器的邏輯功能（列出真值表驗證之）。4個數(shù)據(jù)輸入引腳C0C3接邏輯開關(guān)，改變引腳B、A的電平，觀測并記錄指示燈的顯示狀態(tài)。（2）用雙四選一數(shù)據(jù)選擇器74LS153擴(kuò)展為八選一數(shù)據(jù)選擇器，畫出接線圖，列出真值表，接線并驗證真值表。（3）用74LS153構(gòu)成邏輯函數(shù)發(fā)生器F=+，畫出接線圖，并在圖中標(biāo)明芯片引腳號，列出真值表，接線并驗證真值表。四、預(yù)習(xí)要求：5、 提前預(yù)習(xí)實驗內(nèi)容及相關(guān)知識；6、 復(fù)習(xí)數(shù)據(jù)選擇器的工作原理。7

11、、 熟悉數(shù)據(jù)選擇器74LS153各引腳功能和使用方法，列出真值表，畫出所要求的具體實驗線路圖。8、 對于思考題，列出真值表、寫出表達(dá)式，先自行設(shè)計電路。五、實驗報告：1. 對各項實驗列真值表，畫接線圖和標(biāo)出集成塊引腳號。2. 分析實驗中出現(xiàn)的問題。總結(jié)數(shù)據(jù)選擇器的使用體會。3. 思考如何用74LS153實現(xiàn)三人表決電路，寫出分析過程，畫出連線圖，填充相應(yīng)真值表。實驗四 觸發(fā)器的邏輯功能測試一、實驗?zāi)康模?掌握基本RS、D、JK觸發(fā)器邏輯功能及其測試方法。2熟練掌握觸發(fā)器的基本性質(zhì)：2個穩(wěn)態(tài)和觸發(fā)翻轉(zhuǎn)。3了解觸發(fā)器的兩種觸發(fā)方式(脈沖電平觸發(fā)和脈沖邊沿觸發(fā))及其觸發(fā)特點(diǎn)。4. 學(xué)會正確使用集成觸

12、發(fā)器。5. 學(xué)會不同觸發(fā)器間相互轉(zhuǎn)換的方法。（選做）二、實驗儀器及器件：1數(shù)學(xué)電路實驗箱 1臺2雙蹤示波器 1臺3萬用表 1塊4器件： 74LS74 雙D觸發(fā)器 1片74LS73 雙JK觸發(fā)器 1片74LS00 四2輸入與非門 1片三、實驗預(yù)習(xí)：1對所用的集成觸發(fā)器查出外引線排列圖，了解集成塊各管腳作用。2復(fù)習(xí)RS、D、JK觸發(fā)器的邏輯功能（包括：邏輯符號、真值表、特性方程、時序圖）及不同觸發(fā)器之間相互轉(zhuǎn)換的方法。四、實驗原理：觸發(fā)器是組成時序電路的最基本單元，也是數(shù)字邏輯電路中另一種重要的單元電路，它在數(shù)字系統(tǒng)和計算機(jī)中有著廣泛的應(yīng)用。觸發(fā)器有集成觸發(fā)器和門電路(主要是“與非門)組成的觸發(fā)器

13、。按其功能可分為有RS觸發(fā)器、JK觸發(fā)器、D觸發(fā)器、T和T功能等觸發(fā)器。觸發(fā)方式有電平觸發(fā)和邊沿觸發(fā)兩種。1觸發(fā)器是具有記憶功能能存儲數(shù)字信息的最常用的一種基本單元電路，是構(gòu)成時序邏輯電路的基本邏輯部件。觸發(fā)器具有兩個穩(wěn)定的狀態(tài)：0狀態(tài)和1狀態(tài)；在適當(dāng)觸發(fā)信號作用下，觸發(fā)器的狀態(tài)發(fā)生翻轉(zhuǎn)，即觸發(fā)器可由一個穩(wěn)態(tài)轉(zhuǎn)換到另一個穩(wěn)態(tài)。當(dāng)輸入觸發(fā)信號消失后，觸發(fā)器翻轉(zhuǎn)后的狀態(tài)保持不變（記憶功能）。2根據(jù)電路結(jié)構(gòu)和功能的不同，觸發(fā)器有RS觸發(fā)器、D觸發(fā)器、JK觸發(fā)器、T觸發(fā)器、T/觸發(fā)器等類型。下面將它們的邏輯功能的表示方法列于下表中：  RS觸發(fā)器JK觸發(fā)器D觸發(fā)器T觸發(fā)器T/觸發(fā)器邏輯符號Q

14、QSRCPSDRDQQJKCPSDRDQQDCPSDRDQQTCPSDRDQQTCPSDRD1特性表S R Qn+10 0 Qn0 1 01 0 11 1 不定J K Qn+10 0 Qn0 1 01 0 11 1 Qn Qn Qn+10 0 Qn0 1 01 0 11 1 1T Qn Qn+10 0 00 1 11 0 11 1 0Qn Qn+10 11 0 特性方程Qn+1=S+RQnSR=0Qn+1=JQn+KQnQn+1=DQn+1=TQnQn+1=Qn特 點(diǎn)1信號雙端輸入2.具有置0、置1、保持功能3.S和R有約束條件，SR=01信號雙端輸入2.具有置0、置1、保持、翻轉(zhuǎn)功能

15、0;1信號單端輸入2.具有置0、置1功能 1信號單端輸入2.具有保持、翻轉(zhuǎn)功能 1.輸入端接“1”2具有翻轉(zhuǎn)功能 上表中邏輯符號上的是直接復(fù)位端，是直接置位端，只要，,則觸發(fā)器置0；，,則觸發(fā)器置1；其作用不受CP脈沖的控制。3集成觸發(fā)器的主要產(chǎn)品是D觸發(fā)器和JK觸發(fā)器，其他功能的觸發(fā)器可由D、JK觸發(fā)器進(jìn)行轉(zhuǎn)換。將D觸發(fā)器的D端連到其輸出端Q，就構(gòu)成T/觸發(fā)器。將JK觸發(fā)器的J、K端連在一起輸入信號，就構(gòu)成T觸發(fā)器；J、K端連在一起輸入高電平（或懸空），就構(gòu)成T/觸發(fā)器。（選做）五實驗內(nèi)容：1基本RS觸發(fā)器功能測試： 將兩個TTL與非門首尾相連構(gòu)成基本RS觸發(fā)器

16、，如圖1所示。、端接電平開關(guān)輸出，、端接電平指示燈，改變、的電平，觀測并記錄、的值。 將圖中、端接電平開關(guān)，、端接電平顯示燈。按表1順序在、端加信號，觀察并記錄、端狀態(tài)填入表1中，并說明其邏輯功能。表1邏輯功能11   10   01   00    當(dāng)、都接低電平時，觀察、端的狀態(tài)。當(dāng)、同時由低電平跳為高電平時，注意觀察、端，重復(fù)35次，看、端的狀態(tài)是否相同，以正確理解“不定”狀態(tài)含義。 圖1 圖2 圖32D觸發(fā)器功能測試： 雙D觸發(fā)器74LS74邏輯符號如圖2所示。 將圖

17、中、D、CP端接電平開關(guān)，、端接電平顯示燈。按表2順序輸入信號，觀察并記錄、端狀態(tài)填入表中，并說明其邏輯功能。表2CP D 邏輯功能01× ××10× ××11(01) 00111(01) 1013JK觸發(fā)器功能測試： 雙JK觸發(fā)器74LS73的邏輯符號如圖3所示。 將圖中、J、K、CP端接電平開關(guān)，、端接電平顯示燈，按下表的順序輸入信號，觀察并記錄、端狀態(tài)填入表中，并說明其邏輯功能。CP J K 邏輯功能01× × × ×10× × × ×11(10)

18、0 00111(10) 0 10111(10) 1 00111(10) 1 1014觸發(fā)器功能轉(zhuǎn)換：（選做） 將D觸發(fā)器和JK觸發(fā)器轉(zhuǎn)換成T/觸發(fā)器，列出表達(dá)式，畫出這兩個實驗電路圖。 令=1(懸空),在CP端輸入連續(xù)脈沖(f=1KHZ)，用示波器同時觀察并記錄Q及CP端波形，自擬相應(yīng)表格，比較兩者關(guān)系（兩個電路都要觀察）。六、實驗報告：1畫出各實驗線路圖(標(biāo)出集成塊引腳號)及實驗數(shù)據(jù)記錄表，寫出各觸發(fā)器特性方程。2總結(jié)各類觸發(fā)器的特點(diǎn)。實驗五 計數(shù)器的邏輯功能一、實驗?zāi)康模?掌握集成計數(shù)器的邏輯功能測試方法及其應(yīng)用。2運(yùn)用集成計數(shù)器構(gòu)成任意進(jìn)制計數(shù)器。二、實驗儀器和器件：1數(shù)字電路實驗箱 1

19、臺2示波器 1臺3器件：74LS162 同步4位BCD計數(shù)器 2片74LS00 2輸入四與非門 1片三、實驗預(yù)習(xí)：1復(fù)習(xí)教材中有關(guān)集成塊74LS162的內(nèi)容，了解其邏輯功能。查出其外引線排列圖，了解各管腳的作用。2復(fù)習(xí)用74LS162構(gòu)成任意進(jìn)制計數(shù)器的兩種方法（反饋歸零法和反饋置數(shù)法）。四、實驗原理：計數(shù)器是一個用以實現(xiàn)計數(shù)功能的時序邏輯部件，它不僅可以用來對脈沖進(jìn)行計數(shù)，還常用做數(shù)字系統(tǒng)的定時、分頻和執(zhí)行數(shù)字運(yùn)算以及其他特定的邏輯功能。計數(shù)器的種類很多。按構(gòu)成計數(shù)器中的各觸發(fā)器是否使用一個時鐘脈沖源來分有：同步計數(shù)器和異步計數(shù)器；根據(jù)計數(shù)進(jìn)制的不同分為：二進(jìn)制、十進(jìn)制和任意進(jìn)制計數(shù)器；根據(jù)

20、計數(shù)的增減趨勢分為：加法、減法和可逆計數(shù)器；還有可預(yù)置數(shù)和可編程功能計數(shù)器等。目前，TTL和CMOS集成計數(shù)器都有較齊全的品種。使用者只需借助于器件手冊提供的功能表和引腳排列圖，就能正確地運(yùn)用這些器件。74LS162管腳圖和功能表：  74LS162是同步4位BCD計數(shù)器，具有下述功能： 異步清零：CR=1，Q3Q2Q1Q0=0000 異步置數(shù)：CR=0，=0，Q3Q2Q1Q0=D3D2D1D0 保持： CR=0，=1，CPU=CPD=1,Q3Q2Q1Q0保持原態(tài) 加計數(shù)：CR=0, =1，CPU=CP，CPD=1，Q3Q2Q1Q0按加法規(guī)律計數(shù)利用集成計數(shù)器芯片可方便地構(gòu)成任意（N

21、）進(jìn)制計數(shù)器。方法： 反饋歸零法：是利用計數(shù)器清零端的清零作用，截取計數(shù)過程中的某一個中間狀態(tài)控制清零端，使計數(shù)器由此狀態(tài)返回到零重新開始計數(shù)。把模數(shù)大的計數(shù)器改成模數(shù)小的計數(shù)器。關(guān)鍵：是清零信號的選擇與芯片的清零方式有關(guān)。異步清零方式以N作為清零信號或反饋?zhàn)R別碼，其有效循環(huán)狀態(tài)為0N-1；同步清零方式以N-1作為反饋?zhàn)R別碼，其有效循環(huán)狀態(tài)為0N-1。還要注意清零端的有效電平，以確定用與門還是與非門來引導(dǎo)。 反饋置數(shù)法：是利用具有置數(shù)功能的計數(shù)器，截取從Nb到Na之間的N個有效狀態(tài)構(gòu)成N進(jìn)制計數(shù)器。其方法是當(dāng)計數(shù)器的狀態(tài)循環(huán)到Na時，由Na構(gòu)成的反饋信號提供置數(shù)指令，由于事先將并行置數(shù)數(shù)據(jù)輸入

22、端置成了Nb的狀態(tài)，所以置數(shù)指令到來時，計數(shù)器輸出端被置成Nb，再來計數(shù)脈沖，計數(shù)器在Nb基礎(chǔ)上繼續(xù)計數(shù)直至Na，又進(jìn)行新一輪置數(shù)、計數(shù)。關(guān)鍵：是反饋?zhàn)R別碼的確定與芯片的置數(shù)方式有關(guān)。異步置數(shù)方式以Na =Nb+N作為反饋?zhàn)R別碼，其有效循環(huán)狀態(tài)為NbNa；同步置數(shù)方式以Na =Nb+N-1作為反饋?zhàn)R別碼，其有效循環(huán)狀態(tài)為NbNa。還要注意置數(shù)端的有效電平，以確定用與門還是與非門來引導(dǎo)。五、實驗內(nèi)容：1測試集成計數(shù)器74LS162的邏輯功能： 按芯片引腳圖將CR、D3、D2、D1、D0端接電平開關(guān)，Q3、Q2、Q1、Q0端接電平顯示燈。測試Q3Q0狀態(tài)填入表1中，并說明邏輯功能。表1輸 入輸 出

23、邏輯功能CR D3 D2 D1 D0Q3 Q2 Q1 Q01 ×× × × ×0 01 0 1 00 1× × × × 將CR=0、=1，Q3、Q2、Q1、Q0端接電平顯示燈、并同時分別接譯碼顯示電路“8、4、2、1”插孔上，CPU、CPD分別輸入連續(xù)脈沖(f=1HZ)，觀察數(shù)碼管數(shù)字的變化，同時記錄Q3Q0狀態(tài)填入表2。表2加計數(shù)輸 出CPU=CPCPD=1Q3 Q2 Q1 Q00 1 2 3 4 5 6 7 8 

24、9 2用74LS192構(gòu)成任意進(jìn)制計數(shù)器： 反饋歸零法： 用一片74LS162和一片74LS00組成六進(jìn)制計數(shù)器。按圖2接線，將Q3、Q2、Q1、Q0端接電平顯示燈、并同時分別接到譯碼顯示電路“8、4、2、1”插孔上，CPU輸入連續(xù)脈沖(f=1HZ)，觀察數(shù)碼管數(shù)字的變化，同時記錄Q3Q0狀態(tài)填入表4中。 CPU端輸入連續(xù)脈沖(f=1KHZ)，用雙蹤示波器同時觀測并記錄CP和Q2的波形，比較其頻率。 圖2表4CP（1HZ）輸 出Q3 Q2 Q1 Q00123456  反饋置數(shù)法：自行設(shè)計，用一片74LS162和一片74LS00組成六進(jìn)制計數(shù)器。（3）任選一種方法，用兩片74

25、LS162和一片74LS00組成六十進(jìn)制計數(shù)器。（選做）。六、實驗報告：1畫出測試電路（標(biāo)出集成塊引腳號）和實驗波形及數(shù)據(jù)表、分析測試結(jié)果。2設(shè)計構(gòu)成六進(jìn)制計數(shù)器的兩種方法，并畫出相應(yīng)的狀態(tài)圖。3討論實驗中遇到的問題。綜合實驗 實驗一 循環(huán)燈電路（選做） 一、實驗任務(wù)和目的 l、實驗任務(wù) 設(shè)計并組裝產(chǎn)生循環(huán)燈所需的下列狀態(tài)序列的電路。 2、實驗?zāi)康?（1）熟悉雙向移位寄存器的工作原理、集成電路的使用方法和使能端的作用。 （2）學(xué)習(xí)設(shè)計和組裝特殊狀態(tài)序列的移位寄存器（計數(shù)器）。 （3）學(xué)習(xí)分析和排除故障。 二、實驗預(yù)習(xí) 設(shè)計實驗任務(wù)所要求實現(xiàn)的電路。其方框圖見下圖所示。選定器件型號。畫出安裝圖。

26、 用寄存器的每一位控制一組燈。各組燈布置成各式各樣的圖案。由于寄存器具有不同的狀態(tài)，點(diǎn)亮的燈光就形成多種多樣的美麗的畫面。寄存器的狀態(tài)不斷地循環(huán)變化，又給這些圖案添加了動感。因此，設(shè)計最佳的寄存器狀態(tài)序列，就會形成動人的燈光循環(huán)。 而在其中，數(shù)字電路的任務(wù)就是提供循環(huán)燈所需的狀態(tài)序列。方法之一，就是用雙向移位寄存器與一個次態(tài)邏輯電路來產(chǎn)生，如圖所示。這個次態(tài)邏輯電路以寄存器的并行輸出Q3、Q2、Q1、Q0為自變量。函數(shù)是M、DSL和DSR。其中，M控制寄存器的移位方向，M=1，寄存器左移； M0，右移。DSL是左移串行輸入； DSR是右移串行輸入。由現(xiàn)態(tài)（第n拍）和次態(tài)（第nl拍）的Q3Q2Q1Q0，