JIS C 6802-2011 激光產品的安全性_第1頁
JIS C 6802-2011 激光產品的安全性_第2頁
JIS C 6802-2011 激光產品的安全性_第3頁
JIS C 6802-2011 激光產品的安全性_第4頁
JIS C 6802-2011 激光產品的安全性_第5頁
已閱讀5頁,還剩166頁未讀 繼續免費閱讀

下載本文檔

版權說明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內容提供方,若內容存在侵權,請進行舉報或認領

文檔簡介

序文 11適用範囲及び目的 12引用規格 23用語及び定義 34技術的仕様 4.1一般注意 4.2保護きよう體 4.3アクセスパネル及びセーフティインタロック 4.5マニュアルリセット(手動再設定) 4.7レーザ放射の放出警告 4.8ビーム終端器又は滅衰器 4.11走査に対する安全防御 4.12“歩行”立入 4.14その他の危険性に対する保護 5.1一般事項 5.2クラス1及びクラス1M 205.3クラス2及びクラス2M 21 21 22 5.8放射出力及び規格情報 22 24 246その他の必要な情報 7.1IEC60825規格群のその他の部 7.2醫用レーザ製品 7.3レーザ加工機 8クラス分け 278.1序文 278.2クラス分けに対する責任 8.3クラス分けの規則 9被ばく放出レベルの決定 319.1試験 9.2レーザ放射の測定 附屬書A(參考)最大許容露光量 47 附屬書C(參考)クラス及び付隨する潛在的危険性に関する解説 63附屬書D(參考)生物物理學的検討 附屬書E(參考)放射輝度で表したMPE及びAEL 76附屬書F(參考)要約表 80 83附屬書JA(參考)使用者への指針 この規格は,工業標準化法第14條によって準用する第12條第1項の規定に基づき,財団法人光産業技術振興協會(OITDA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を改正すべきとの申出があり,日本工業標準調查會の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格である。この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵觸する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調查會は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実川新案権に閃わる確認について,真任はもたない。日本工業規格JIS序文この規格は,2007年に第2版として発行されたIEC60825-1を基に,技術的內容及び対応國際規格の構なお,この規格で點線の下線を施してある參考事項及び附屬書JAは,対応國際規格にはない事項であこの規格は,波長範囲180nm~1mmのレーザ放射を放出するレーザ製品の安全について規定する。レーザ製品は,電源を別にもつもの又は內蔵しているものであり,単一のレーザからなっていてもよいし,また,光學的,電気的又は機械的複合システムの中に一つ又は複數のレーザを組み込んでいてもよい。一般に,レーザ製品は,物理的及び光學的現象の火演,材料の加工,データの説取り及び希租,情服の伝達,表示などに利用される。これらのシステムは,工業,商業,嫘楽,研究,教育,醫用,消費者向け製最終製品は,それ門體この規格に従うことになるが,システムの一部として他の製造業者へ販克される迅転可能なら,この規格の要求小項は取り外し可能なユニットに適川される。注記1運転可能な裝置は,運転の準備のために工具を必要としない。簡條3,簡條8,及び簡條9に従って製造業者が行ったクラス分けが,運転,保守,サービス及び故障の全ての條件下で,放出レベルがクラス1のAELを超えないことを示した場合,全てのレーザ製品は,この注記2上記の除外は,本質的に安全なレーザ製品は必ずしも規格に従う必要がないことを保障するレーザ機器は,レーザ放射による危険に加えて,火災及び感電のようなその他の危険を生じるおそれが注記3ただし,この規格のクラス分け及びその他の要求事項は,目及び皮膚に対するレーザ放射の危険性だけを扱うことを意図している。その他の危険性については,この適用範囲には含まこの規格は最小の要求事項について記載している。この規たレベルを達成するために十分であることにはならない。レーザ製品は,適用可能な製品性能を満たし,かつ,適用可能な製品安全基準の試験要求事項を満たさなければならない。注記4他の規格は,追加的な要求事項を含んでいることがある。意図された適用及びユーザグルー2る場合(例えば,醫用機器IEC60601-2-22,IT機器IEC60950,オーデイオ及びビデオ機器IEC60065,危険な環境に用いる機器IEC60079,又は電気玩具IEC62115),この規格は,レーザ放射から生じる危険ば,JISC6803など)にLEDを含めている場合がある。しかし,ランプ安全基準の開発に伴い放射安全基準は,通常,ランプ安全基準の方がより適切に取り扱うことができる。この規格の適用範囲からのLEDの除外は,他の規格がレーザに言及しこの規格のMPE(最大許容露光量)値は,レーザ放射に対して開発されているため,副次放射には適用しない。しかし,被ばくし得る副次放射の危険性が懸念される場合は,レーザのMPE値をこの潛在的なMPE值は,醫用又は美容整形的治療の目的でなされるレーザ放射の人體へ注記5附屬書A~附屬書JAは,一般的な指針の目的で,かつ,多くの代表的事例を説明するために記載されたものである。ただし,それらの附屬書は,決定的,又は網羅的なものとみなせず,常にこの規格に規定する適切な條項を參照することが望ましい。この規格の川的は,次のとおりである。一危険性の評価及びユーザの管理手段の決定を支援するため,光學的放射の危険性の程度に応じて,レ一通切な予防措が取れるよ弓な情假を提供するため,裂造業者に対する要求を規定する。ーレーザ製品からの被ばく放射に伴って生じる危険性について,ラベル及び取扱説明書によって,各人一不必要な被ばく放射を最小限にすることによって傷害の可能性を低減し,保護手段によってレーザ放注記6この規格の対応國際規格及びその対応の程度を表す記號を,次に示す。IEC60825-1:2007,Safetyoflaserproducts—Partなお,対応の程度を表す記號“IDT”は,ISO/IECGuide21-1に基づき,“一致している”次に揭げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの引用規格のうちで,西層年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)は適用しない。西層年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。JISZ8113照明用語3注記対応國際規格:IEC60050-845:1987,InternationalIEC60601-2-22,Medicalelectricalequipment—Part2-2essentialperformanceofsurgical,cosmetic,therapeIEC61010-1,SafetyrequirementsforelecIEC.62471:2006(CIFS009:2002).Photobiologicalsafety.oflampsandlamp.IEC.Guide.104:1997.Thepreparationofsafety.publicationsandtheuseofbasicsafetypublicationsandgroup.便宜上,定義は英語のアルファベット順に配列されている。JISは意図的で,かつ,その旨指摘してある。このような場合,JIS保護きょう體又は囲いの一部であって,取外し又は移動したときに,レーザ放射による被ばくを生じる簡條9で記述されるように,規定の開口絞り[AELをワット(W)又はジュール(J)の単位で與える場合]を用いて,又は限界開口[AELをワット毎平方メートル(W-m-2)又はジュール毎平方メートル(J·m-2)の単位で與える場合]を用いて,ある位置において決定される放出レベル。3.37で定我するように,被ばく放出は人體の被ばく狀態が考慮されるところで決定する。被ばく放出はレーザ製品のクラスを決定するために被ばく放出限界(3.3參照)と比較する。この規格の本體內では,用注記ビーム直徑が測定用の開口絞りより大きい場合は,ワット(w)又はジュール(J)の単位で與える被ばく放出は,レーザ製品から放出される全パワー又は全エネルギーより小さい。ビーム直徑が限界開口の直徑より小さい場合は,ワット每平方メートル(W-m-2)又はジュール毎平方メートル(Jm-2)の単位で與える被ばく放出,すなわち,限界開口全體で平均化した放射照度又は放射露光は,実際のビームの放射照度又は放射露光より小さくなる。開口絞り(3.9)及び限界開口(3.52)を參照。注記この規格において“AELを超えない放出レベル”又は同様の言い回しの場合は,被ばく放出を簡條9に規定した測定基準に従って決定することを意味する。4鍵の管理,人間に対する安全訓練,警告通知,秒読み手法,及び安全區域管理のような非技術的な安全手段。最小視角(3.58參照)。角は,検出器の前方にある開口又は光學素子で制御できる(図3及び図4參照)。受入れ角は,視野と呼空間の1點から見る場合,図3で示すように,アパーレント光源がその點に対して張る角度。注記1アパーレント光源の位置及び視角は,ビーム內の観察位置に依存する(3.11參照)。注記2アパーレント光源の視角は,この規格において波長範囲400nm~1400nmの網膜障害領域だけに適用できる。限界州口(3.52)も參照。放射が測定される特定の領域を規定するための円形州口。網膜障害に関しての所定の評価位置に対して,最も小さな網膜像を結ぶ実物體又は仮想的物體(人間の目の調節可能範囲を考慮する。)。注記1目の調節可能範囲は100mmから無限遠まで可変であると仮定される。ビーム內の所定の観察位置に対するアパーレント光源の位置は,目が調整して最も危険な網膜放射照度條件を生成する場所である。注記2この定義は,所定の評価位置に対して,波長範囲400nm~1400nmのレーザ放射の見かけの起點の位置を決定するために用いる。発散角がぜロとみなせる限界において,すなわち,理想的な平行ビームでは,アパーレント光源の位置は,無限遠になる。方向,広がり,直徑又は走査仕様によって特性づけられるレーザ放射。非鏡面反射からの散亂放射は,ビームとはみなさない。5ビーム直徑,ビーム幅(beamdiameter,beamwidth)空間のある點でのビーム直徑d.は,全レーザパワー(又はエネルギー)のu%を含んだ最小円の直徑。放射照度(放射露光)が,その中心ピーク値の1/直徑に対応する。注記22次モーメン卜直徑(ISO11146-1の3.8參照)は,例えば,不安定共振器によって生成される,高い放射照度ピークを中心部にもち,かつ,低レベルの背景を伴う遠視野ビームのプロファイルには用いない。開口を通過するパワーは,2次モーメント徑を用いて,ガウスビーム分布の仮定を用いてパワーを計算すると,かなり低めに評価される。ビーム広がり(角),発散角,。(beamdivergence)距離r離れた2點のビーム直徑(3.13參照)がそれぞれd?及びdo?である場合は,ビーム広がりφは,ラジアン(rad)で表し,次の式によって求める。注記2次モーメントビーム広がりの定義(ISO11146-1)は,例えば,不安定共振器によって生成される,高い放射照度ピークを中心部にもち,かつ,低レベルの背最を伴う速視野ビームプロファイル,又は開口によって生じる回折パターンのビームプロファイルには用いない。ビーム拡大器(beamexpander)ビーム光路部品(beampathcomponent)規定ビーム光路上に位置する光學部品(例えば,ビーム操作ミラー又は集束レンズ)。クラス1レーザ製品(Class1laserproduct)運転中に,該當する波長及び放出持続時間[8.3e)參照]に対するクラス1の被ばく放出限界を超えるレ注記1附屬書C參照。注記2製品のクラス分けの決定のための試験は,運転中の試験に限られるので,組込形レーザ製品の場合は,製品によっては,アクセスパネルのインタロックが解除されたとき,クラス1のAELを超えた放射が,保守中に被ばく狀態になり得る。67C6802:2011(Iレーザ運転の結果として,又はその物理的要件によって,レーザ製品から放出されるレーザ放射以外の平行ビーム(collimatedbeam)連続波,CW(continuouswave)規定ビーム光路(definedbeampath)ライトショー,催し物,広告,展示又は美術的構成を目的として,企畫,設計,製造した全てのレーザ用語“実演用レーザ製品”は,実演用に利用できるものであっても,他の用途を意図して設計されたレ拡散反射(diffusereflection)表而又は媒質によって和々の方向に散亂されたビームの空IⅢ分の変化。組込形レーザ製品(embeddedlaserproduct)この規格では,被ばく放出を制限するような技術的手段によって,組み込まれているレーザの本來の能注記組込形レーザ製品に組み込まれているレーザは,組込形レーザと呼ぶ。放出持続時間(emissionduration)レーザ製品の運転,保守又はサービスの結果として生じるレーザ放射を人體に被ばくさせ得るパルス,単一のパルスの場合は,放出持続時間は,パルスの立ち上がり半値點と立ち下がり半値點との間の時間幅である。連続パルス列(又は主パルス列中のサブパルス群)の場合は,最初のパルスの立ち上がり半値8露光時間(exposuretime,exposureduration)9體の被ばく狀態は,自動検知システムのような技術的制御によって防止することができる。積分放射輝度(integratedradiance)與えられた露光時間にわたっての放射輝度積分量。放出の単位立體角當たりで放射面の単位面積當たりの放射エネルギーとして表す(通常はJm-2.sr-1で表す。)。ビーム內観察(intrabeamviewing)目が,例えば,拡散反射の観察とは異なり,直接又は鏡面反射のレーザビームにさらされる場合の全ての観察狀態。放射照度,E(irradiance)素面に入射する放射束dφを,その素面の面積dAで除した値。放射照度は,ワット每平方メートル(W-m-2)で表し,次の式によって求める。主に誘導放出を制御することによって,180nm~1mmの波長範囲での電磁放射を発生又は増幅するこレーザ管理區域(lasercontrolledarea)放射の危険から保護する川的で,區域內への立入り及び區域內での活動が管理及び慌懷下におかれる領レーザエネルギー源(laserenergysource)電子,イオン又は分子の勵起用エネルギーを供給するためにレーザと結合して用いることを意図したデ商用電源,電池のような一般エネルギー源は,レーザエネルギー源には含めない。レーザ危険區域(laserhazardarea)公稱眼障害區域(3.61)參照。レーザ又はレーザシステムを構成するか,これらを組み込むか,若しくは組み込むように意図している,任意の部品の組立品又は製品。誘導放出によってレーザ製品から放出される波長範囲180nm~1mmの全ての電磁放射。レーザ安全管理者(lasersafetyofficer)光放射は,レーザ(3.41參照)と異なり,主として,自然放出によって発生する。ワー,又はパルス當たりの最大放射エネルギー。注記取大出力は,レーザ裂品のクラスを決定するために川いる取大被ばく放射である。被ばく放射の決定には,その他の條件以外に単一故障條件を考慮するため(9.2參照),最大出力が,通常通常の環境下で,人體に照射しても有害な影響を與えることがないレーザ放射のレベル。大のレベルであり,レーザ放射の波長,パルス持続時間又は露光時間,危険にさらされる細胞組織,400nm~1400nmの範囲の可視光線及び近赤外レーザ放射に対しては網膜上の像の大きさなどに関係している。最大許容露光レベルは,(現在の知識の範囲で)附屬書Aに明記してある。生體診斷,外科手術又は治療のため,人體へのレーザ照射を目的として企畫,設計,製造した全てのレMPE及びAELは,min以下の視角に対しては,光源の大きさと無関係でモード同期(mode-locking)非常に短い(例えば,サブナノ秒)パルスの列を生成するためのレーザ共振器內の機構又は現象。これは,意図的に生成されるが,“自己モード同期”のようにクパワーは,平均パワーよりもかなり大きくなる。公稱眼障害區域,NOHA(nominalocularhazardarea)NOHAが光學的手段による観察の可能性を含む場合には,用語“拡張NOHA”を用いる。公稱眼障害距離,NOHD(nominalocularhazarddistance)NOHDが光學的手段による観察の可能性を含む場合には,用語“拡張NOHD”を用いる。紫外線波長領域では,光化學的障害限界は角膜及び水晶體への有害な影響を防止する。一方,400nm~600nmの波長範囲で規定する網膜に対する光化學的障害限界は,放射被ばくによる光網膜炎一光化學的網裝置·設備の設置上必要とされる場合を除き,レーザ放射による人體への被ばくを予防するための物理規定するAELを超えるレーザ放射による人體への被ばくを防ぐために設計したレーザ製品(組込形レーザ製品を含む。)の構成部分(通常,製造業者が取り付ける。)。パルス持続時間(pulseduration)エネルギーを1ーのパルス又はパルス列の形で放出するレーザ。放射輝度(radiance)んだ立體們dQ內に伝搬される素ビームの放射束。dA:與えられた點を含むビームの切斷面の面積。θ:切斷面の法線とビームの方向とがなす角。注記この定義は,この規格の目的に十分な程度にIEV845-01-34を簡単化したものである。疑義が放射エネルギー,Q(radiantenergy)與えられた時間間隔Atにわたっての放射束の時間積分値(IEVル(J)で表し,次の式によって求める。放射露光,H(radiantexposu面の一點において,素面に入射した放射エネルギーを,その素面の面積で除した値。放射露光は,ジュール毎平方メートル(J-m-2)で表し,次の式によって求める。放射の形態で放出,伝送又は受光するパワー(IEV845-01-24)。放射パワ一及び放射束は,ワット(W)で表し,次の式によって求める。與えられた條件において,入射した放射パワーに対する反射した放射パワーの比(修正。)。反射率は,無次元數である。レーザ製品の部品で,他の部品から離れて設置された外部制御器との接続を行うコネクタ(4.4參照)。レーザ製品のきょう體の一部分を取り外し,開放し,又は移動したときに,クラス3R,クラス3B又はクラス4レーザ放射による人體への被ばくを防ぐため,保護きょう體の各部分に連結された自動連動裝置 (4.3參照)。走查レーザ放射(scanninglaserradiation)伝搬の方向,放射起點又は放射形狀が基準靜止系に対して時間的に変化するレーザ放射。製品の性能に影響を與え得るもので,製造業者のサービス指示書の中に記述されている作業手順又は調整の実行。保守又は運転は含まない。サービスパネル(servicepanサービスのために取り外せるように,又は位置を動かせるように設計したアクセスパネル。單一故障條件(singlefaultcondition)製品內に生じ得る全ての単一の故障であり,その故障によって直接引き起こされる必然的結果も含めた條件。鏡面反射(specularreflection)鏡面からの反射を含めて,反射光がビーム(3.11參照)と考えることのできる表面からの反射。注記この定義は,例えば,放物面鏡のように,ある反射表面は入射ビームよりも危険性が増加する,又は少なくとも変化しない,ということを認識させる意図がある。熱的障害限界(thermalhazardlimit)光化學損傷と対比して,有害な熱的影響から人體を保護するために定めたMPE又はAEL。時間基準(timebase)ねじ又は同様な固定手段の著脫に用いるねじ回し,六角レンチなどのもの。(透遏)光學濃度,D[(transmittance)opticaldensity]透過率zの逆數の常用対數値(IEV845-04-66)。(透過)光學濃度は,次の式によって求める。可視放射,可視光(visibleradiation,visiblelight)加工品(workpiece)4技術的仕様レーザ製品は,製造業者によって割り當てられたクラスに従って,信頼できる安全上の特質を備えていする全內容を理解していると認められるレベルまで訓練を受けて,レーザ製品及びシステムのクラス分け先にクラス分けされたレーザ製品の改造が,この規格の適川範明內での製品の其準又は意図した機能に影響を及ばす場合には,そのような改造を行った者又は組織は,當該レーザ製品の再クラス分け及び再ラ各レーザ製品は,所定の位置に設置してある場合には,クラス1のAELを超えるレーザ放射(迷走レーただし,人體の被ばくが製品の機能の実施上必要である場合は除く。レーザ製品のクラス分けがクラス4(例えば,レーザ加工裝置用など)に相當するエネルギーレベルヘの人體の被ばく防止を前提にする場合は,保護きょう體は,合理的に予見できる単一故障條件(9.1參照)の下での露光に対し,人間の介入なしで,耐えられるものでなければならない。保護きょう體が人間の立ルに人體の被ばくを許容してはならない。サービスのため取外し又は移動ができ,かつ,割り當てられたAELを超えるレーザ放射の被ばくの可能性があり,かつ,インタロックが施されていない(4.3參照)レーザ製品(組込形レーザ製品を含む。)の保護きょう體又は保護囲いのいかなる部分も,その部分の取外し及び移動には工具又は工具類を必要とすレーザシステムが,その保護きょう體又は保護囲いから取り外すことができ,かつ,改造しないで運転することができる場合には,そのレーザ製品はそのクラスに適切な簡條4及び簡條5の製造上の必要要件4.3.1次の両方の條件を満たす場合には,保護きょう體のアクセスパネルは,セーフティインタロックをb)パネルを取り外したときに,表1の“×”に示すレベルのレーザ放射を人體が被ばくするおそれがあ表1に,セーフティインタロックの適用性を×印で示す。表1ーセーフティインタロックに対する要件製品クラスアクセスパネルの移功中又は移動後の被ばくレベル4X×××X×一××一××4一××パネルを取り外したときには,波長に従って適用されるクラス1M又はクラス2Mに対するAELを超えセーフティインタロックが要求される場合,そのインタロックはパネルを取り外したときに,表1中の不注意なインタロックの再設定は,それ自體で表1中の該當するAELを超えた放出値に回復させてはならない。これらのインタロックは該當するIEC製品安全基準(簡條1參照)の要求事項に適合しなければ注記9.1の要件もインタロックに適用される。すなわち,インタロックにはフェールセーフ,又は冗作方法に関する適切な指示書を提供しなければならない。アクセスパネルを正規の位置に戻すとき,解除関連付けられていなければならない。解除機構を操作する場合は,レーザが勵起されているか,又はコンデンサバンクがまだ十分に放電が完了していないときには,アクセスパネルの裝著の有無にかかわらず,はっきりと識別できる警告燈,又はよく聞こえる警告音によって警告しなければならない。可視光による警告は,被ばくレーザ放射の波長に対して特に設計又は規定した保護めがねを通して,明瞭に見えるものコネクタの端子が開放されているとき,被ばく放射は,クラス1M又はクラス2M(いずれか該當する方)4.5マニュアルリセット(手動再設定)の遮斷の後,又は主電源の5秒より長い停電の後,被ばくの可能性のあるクラス4レーザ放射を再開できるように,マニュアルリセット(手動可沒定)を紅み込まなければならない。注記製造業者は,放射を開始するときに能動的な操作を要しない第2のインタロックコネクタを含めることができる。ただし,製品には二つのコネクタの具備は要求されない。4.6鍵による制御クラス3B及びクラス4のレーザシステムは,鍵操作による主制御を取り外すことができ,かつ,鍵が外されているときは,レーザ放射による被ばくのおそれがあってはなら注記この規格では,用語“鍵”には,磁気カード,暗號組合せ,コンピュータパスワードのような4.7.1波長が400nmを下回るか,又は700nmを超えるクラス3Rのレーザシステム,並びにクラス3B4.7.2レーザシステムのスイッチがオンになったとき,又はパルスレーザのコンデンサバンクが充電中か若しくは放電が完了していないとき,警告裝置は可聴音又は可視光の信號を発するようになっていなければならない。警告裝置は,フェールセーフ又は冗長性のある設計でなければならない。あらゆる可視光信號による警告裝置は,放出レーザ放射の波長に対して特に設計された保護めがねを通して明らかに見える注記人間が保護きょう體內にいるときに,人體への放射被ばくを防止する方法は,圧力に感度をもつ床マット數,赤外線検出器などを含んでよい。4.13環境條件レーザ製品は,製品の意図した用途に適合する全ての予期される運転條件の下において,この規格に規一気候的な諸條件(例えば,溫度,相対濕度)一振動及び衝撃製品安全規格の中に條項がない場合は,IE注記EMS(電磁感受性)に関する要求事項は,検討中である。関連する製品安全規格の要求事項は,運転中及び単一故障の場合に次の各項目に対しても適合しなけれ一過度の溫度一機器からの炎の広がり一有毒な物質一爆発注記多くの國は,有害物質の管理に関する法律をもっている。これらの要件に対しては,當該國のレーザ製品の保護きょう體は,通常,副次放射(例えば,紫外線,可視光,赤外線)の危険からも保護する。ただし,危険となるレベルの副次放射による被ばくの懸念がある場合には,レーザ放射のMPE各レーザ製品は,次の各項目の要求事項に従ったラベルを付けなければならない。ラベルは,耐久性があり,恒久的に固定され,明瞭で,かつ,運転,保守及びサービスの間,その目的に従ってはっきりと読めなくてはならない。ラベルは,クラス1に対するAELを超えるレーザ放射を人體が被ばくすることなく読み取ることができる位置に設けられなければならない。語句の緑取り及びシンボルは,色の組合せを用いる必要がない場合のクラス1を除いて,黃色地の上に黒色でなければならない。簡條5に規定するラベルの文言は,推奬されるが強制的ではない。同じ意味を伝えるその他の文言に置製品の大きさ又は設計のためにラベルを付けることが非現実的となる場合には,ラベルは,使用者への情報(取扱説明書など)に記載するか,又は包裝箱に表示しなければならない。注記レーザ製品又はパネル上に同等のラベルの直接印刷又は刻印でもよい。ard7137126523934488寸法D?,D?,D?,g1及Tdは推樊值である。図1一警告ラベルー危険シンボルr文字の大きさ1442文字は,判読できる大きさのものでな55264855536363648寸法g?は推奬値である。5.2クラス1及びクラス1M簡條1で適用外とされたレーザ製品を除いて,クラス1の各レーザ製品は,次の語句を記載した説明ラベル(図2參照)を付けなければならない。クラス1レーザ製品上記のラベルの代わりに,製造業者の裁丘で,同じ記述を使川者への情服の中に含めてもよい。目は,“雙眼鏡又は望遠鏡の使用者に露光しないこと”と記載してもよい。照)を付けなければならない。注記2行目に“ビームの被ばくを避けること”を用いたラベルも容認される。クラス3Bの各レーザ製品には,警告ラベル(図1參照)及び次の語句を記載した説明ラベル(図2參照)を付けなければならない。クラス4の各レーザ製品には,警告ラベル(図1參照)及び次の語句を記載した説明ラベル(図2參照)を付けなければならない。クラス4レーザ製品5.7開口ラベルクラス3R,クラス3B及びクラス4の各レーザ製品には,クラス1又はクラス2に対するAELを超すレーザ放射が放出される各開口の近くにラベルを付けなければならない。そのラベルには,次の語句を記載又は又は被ばく回避のことーこの開口からレーザ放射が出る5.8放射出力及び規格情報製品をクラス分けした規格の名稱及び発行日付は,製品の説明ラベル(図2參照)上,又はそのラベルに近接した製品上に含まれなければならない。クラス1のレーザ製品を除く各レーザ製品は,説明ラベル (図2參照)上にレーザ放射の最大出力(3.55參照),パルス持続時間(該當する場合)及び放出される波長を記述しなければならない。クラス1及びクラス1Mに対しては,これらの情報は,製品上のラベルの代わりに,使用者への情報に含めてもよい。各接続,保護きょう體の各パネル及び保護囲いの各アクセスパネルは,取り外したり移動したりしたときに,クラス1に対するAELを超えるレーザ放射を人體が被ばくするおそれがある場合には,次の語句を記載したラベルを付けなければならない(クラス1Mのレーザを組み込んだ組込形レーザ製品に対しては,は注意ーここを開くとクラス2のレーザ放射が出るはビームをのぞき込まないこと,また光學器具で直接ビームを見ないこと注記2行目に“ビームの被ばくを避けること”を用いたラベルも容認される。注意一ここを開くとクラス3Bのレーザp被ばく放射が,クラス3BのAELを超える場合には注意ーここを開くとクラス4のレーザ放射が出るこの情報は,複數の隣接するラベルで製品上に表示してもよい。一波長可能かつ関連する場合は,拡張NOHD(ENOHD)も記述しなければならない。b)サービス業者,小売業者及びその他の要求する者に対し,サービス調整に対する十分な指示,及び次C6802:2011(IEC60825-1:2007)レーザ加工機は,それらのクラスのレーザ製品に対して適川する要求小項に準拠しなければならない。加えて,レーザ加工機はISO11553-1を適用してもよい。レーザ製品である電気玩具は,それらのクラスのレーザ製品に対して適用する要求事項に準拠しなけれ一しなければならない。加えて,これらの製品には,次のいずれかの規格を適用してもよい。一一IEC60065(AV機器)8クラス分けレーザビームは,波長,エネルギー及びパルス特性に対して考え得る範囲が広いため,その使用によって生じる潛在的な危険性は幅広く変化する。したがって,レーザを共通の安全限界が適用できる単一のグループとしてみなすことはできない。附屬書Cに,より詳細にクラスに付隨する危険及びその限界(例えば,光學補助器具観察によって起こり得る)に関連した危険性を記載する。レーザ製品の正しいクラス分けを行うことは,製造業者又はその代理業者の責任である(4.1も參照)。レーザ製品は,製造後のあらゆる時點で,動作能力の全範囲にわたって,被ばくし得るレーザ放射の出カパワーと波長との合せに片づいて,クラス分けしなければならない。この手続きによって,適切な最當該クラスに対するこの規格の全ての要求事項(例えば,技術的管理,ラベル表示,使用者への情報など)を満たした場合にだけ,特定のクラスが與えられる。クラス分けの規則として,クラス1,クラス1M,クラス2,クラス2M,クラス3R,クラス3B及びクラス4のクラス順位(危険性の増大順)を用いる。定した開口絞りを用いることで,大きな直徑又は高発散性をもつビームから集められる放射量を制限する。例えば,適用條件下で測定したとき,クラス1M及びクラス2Mの製品が,クラクラス1及びクラス1M,クラス2及びクラス2M,クラス3R並びにクラス3Bに対する被ばく放出限界(AEL)を表4~表9に規定する。用いる補正係數の値を,波長,放出持続時間,パルス數及び視角の関數として表10に規定する。a)単一波長の放射AELが一定となる十分狹い放出スペクトル範囲をもつ単一波長のレーザ製品は,そのクラスに適合した條件下で測定した被ばくレーザ放射量が,それより低い全ての下位クラスのAELを超えるが,割り當てられたクラスのAELを超えない場合は,そのクラスに割り當てる。る比率の合計が,全ての下位のクラスでは1よりも大きいが,割り當てられたクラスでは1を波長創域a)IR-B及IR-C0S0SS0SSSS0SS0Sb)AEL及び目のMPEは1秒以上の時間基準又は露光時間に対して評価する場合は,重置影響(400nm~600nm)及び重置的な熱的影響(400nm~1400nm)は獨立して評価し,最も厳しい值を用いなければならない。ーム內観察),點狀のアパーレント光源(小光源)として現れる。実際,円狀レーザビーアパーレント光源の視角αの7倍の値を,C?の決定(すなわち,C?=7Xa/amin)に適用してもよい。注記4a<1.5mradであるが7×a>1.5mradとなる場合,表5及び表8のα>1.5mradに対する限一全ての單一點 2)1)及び3)の場合を除くレーザ放射のうち,400nmを超える波長にび非可視の放射スペクトル成分をもつ多波長放射レーザ製品に対して,重置された放射を評f繰返しパルスレーザ及び変調レーザ繰返しパルス放射又は変調された放射に適用されるレーザ製品のクラス分けを決定するために,次の方法を用いなければならない。全ての波長に対する要求事項として,1)及び2)を評価する。加えて,400nmから10°nmの波長に対して,要求事項3)を熱的限界値の比較のために評価する。要求事項3)は,光化學的限界の比較のたクラス分け(表4~表9參照)は,1),2)及び狀況に応じて3)も含めた中で,最も厳しいものを用い1)パルス列內のどの単一パルスからの露光も,単一パルスに対するAELを超えてはならない。2)放出持続時間Tのパルス列の平均パワーAEL?は,放出持続時間Tに対する単一パルスの注記1參照)。3)繰返しパルス及び変調パルスの熱的限界値の3.1)パルスエネルギ一及びパルス持続時間が変化しない場合パルス當たりのエネルギーは,補正係數C?を乗じた単一パルスに対するAELを超えてはならない。ただし,C?の補正は,個々のパルAELingle:単一パルスに対するAEL(表4~表9參照)N:評価する放出持続時間內のパルス列に含まれる実3參照)內に現れるとき,Nは火際のパルス數より長に対する評価では,考慮の必要な最大の放出持続時間は,T?(表10參照)又は適用する時間基準のうち,いずれか知い方である。1400nmより大複數のパルスがT;時間(表3參照)內に現れる場合には,それらのパルス群を単一パルスとみなしてNを決定する。また,個々のパルスのエネルギーは,加算してTのAELと比較する。所定の時間內に放出されたパルス列グループ(又はパルス列中のサブパルス列グループ)からのエネルギーは,その時間に対するAELを超えてはならない。れる場合は,次のいずれか一つを実施しなければならない。一技術的手段によって1一故障を排除する。一保護きょう體には,危険なレーザエネルギーの露光に対し,劣化のない十分な防御特性をもち,レー一保護きょう體の劣化が起こる前に故障を検知し,レーザ放射が透過することを防ぐ。IEC60825-4に規定する,30000秒未満の保護きよう體の評価時間は,製品のクラス分けに対して適用參照),そのため使用者による保護きょう體の検査は考慮していない。注記6人による検査又は人の介入を考慮した保護きょう體の評価は,安全レベルを確立するため,又は合理的に予見不可能な故障事象若しくは複數の故障事象から生的な劣化の検知のため,製品のクラス分けとは獨立して用いることができる。この細分簡條に規定する試験又は手順と同等の試験又は手順は,受け入れられる。光増幅器は,最大定格入力パワー又はエネルギーを含めた,被ばくし得る最大の全出力パワー又は工ネ注記7出力パワー又はエネルギーの明確な限界がない場合には,光増幅器によって加えられる最大の増幅パワー又は増幅エネルギーと,それを得るために必要な入力信號パワー又はエネルギ9.2レーザ放射の測定物理的な特性及び制限によって,レーザ製品又はレーザの搭載が明確に特定のクラスに指定される場合,測定は不要である。測定は,次の條件及び手順で大施しなければならない。a)レーザ製品の始動時,安定放出時及び運転停止時を含めた,被ばく放出レベルを最大にする條件及びb)迅忪,保守及びサービスの各指示背に記載された全ての制御及び沒定が,最大の被ばく放出レベルとなる組合せに調整されている狀態で行う。測定では,放射光の危険性を増大させるおそれのある附屬品(例えば,平行ビームを作る光學系)であって,製品とともに用いるために製造業者によって供給注記以上は,工具の使用又はインタロックの解除を行わずに達成することが可能な製品のあらゅる構成を含めており,運転説明書及び保守指示書が警告している構成及び設定も含む。例えば,レーザビームの光路內の光學フィルタ,拡散板又はレンズのような光學部品を,工具を光學部品を取り外さないようにという製造業者の指示は,より低いクラスヘのクラス分けを正當化できない。クラス分けは製品の工學的設計に基c)エネルギ一供給源をもっていないレーザ製品に対しては,レーザ製品の製ると指定され,かつ,その製品から最大の被ばく放射量を発生するタイプのレーザエネルギー源にレd)被ばく放出レベルの測定は,運転中に人體への被ばくが予測できる全ての位置で行う(例えば,運転が,保護きょう體の一部の取外し及びセーフティインタロックの解除を要求する場合,測定はその製g)クラス1及びクラス1M一被ばく放出量が條件1,條件2及び條件3においてクラス1のAEL以下のとき,レーザ製品はクラス1に割り當てる。一被ばく放出量が條件1又は條件2に対してクラス1のAELより大きく,條件1及び條件2に対して件1,條件2及び條件3においてクラス2のAEL以下のとき,レーザ製品はクラス2に割り當てる。は條件2においてクラス2のAELより大きく,條件1及び條件2においてクラス3BのAELより小さく,かつ,條件3においてクラス2のAEL以下のとき,レーザ製品はクラス2Mに割り當てる。出出放小持続時問t(s)~~ ~~~熱的障害注配測定條件1及び測定條件2を満たすことによってクラス1に11に規定する直徑より大きい対物レンズ直徑をもつ観察用光學若具を用いる場合,障害を引き起こす可能性がある。注り神止係數及び単位にりいては,表10を參照,b)10-13秒より短い放出お時MのAEJは,10-3秒での450nm~500nmの波長頼囲において,2稀類のAELを適用放川持続時問t(s)~~~ ~~~使用使用吏用)1秒~10秒の露光時間を用いる場合,400nm~484nmの波長範放山持続時問t(s)を満たすとされたレーザ裂小であっても,7信より大きい信率又は表11に規むする血徑より大きい対物レンズ直徑をも一観察川光學器具を川いる場合,隙背を引き起こす可能性がある。出放山持続時問t(s)~~~~~~注。補止係數及び単位については,表10を參b)10-1秒より短い放出持続時間のAびは,10-13秒でのAEI,のパワー又は放射照度の値と等しい。の繰返しパルス紫外レーザに対してはいずれの限界値も超えないほうがよ-放山持続時問t(s)~~~~注補正係數及び単位については,表10を參照。出放出持続時間t(s)10-?~0.25t<0.06C?sに対して,0.03C?Jt≥0.06C?sに対して,0.5W表4~表9に掃ける補正係數C?~C,並びに折點T?及びT?は次の式で定義される(表10參照)。T?=10s(a<1.5mradの場合)T?=100s(a>100mradの場合)180~400及びC?=1(a≤aminの場合)DC?=alawin(auin<a≤amの場合)PC?=am/amin=66.7(a>amxの場合)b注記1400nm未満の波長及び1400nmを超える波長に対して,10-?秒未満の注記3表4~表10では,波長はnm(ナノメートル),放出持続時間tはs(秒),注記4表4~表9の境界時間(例えば,10s)にある放出持続時間の場合,小さ注Csは,0.25秒より短いパルス持続時間だけに適用で適用可能な最も厳しい測定條件を適用しなければならない。最も厳しい條件が明らかでa)簡略化した(既定)評価法であり,通常容易に特定できる測定基準點に対して表11に規定する測定距離でクラス分けのための試験を行う。この簡略化した評価法では,アパーレント光源の視角を決定する必要はなく,C?(表10參照)は1とする。b)400nm~1400nmの網膜障害領域の波長をもつ放射に対して,分散光源のために1よりも大きなC?の値によってAELが大きくなる場合は,ビームの中の最も厳しい位置で製品のクラスを評価する(すの既定評価法より複雑であるが,分散光源に対して,より大きい被ばく放出量を許容することができ注記1最も厳しい位置は多くの場合,基本的な評価に対して用いられる測定基準點から100mmの視角を決定すると,これらの場合,最も厳しい位置で決定されたAELより大きいAEL簡略化した(既定)評価法によって希望のクラス分けになる場合には,実際の光源が分散光源であり,実際の補正係數C?が1より大きく,最も厳しい位置が表11に規定する位置とは違っていてに対する複雑な評価を行う必要はない(9.3.2參照)。注記2光源がむき出しのレーザダイオード又は十分平行なレーザビームである場合,通常,簡略化した(既定)評価法は適切である。すなわち,9.3.3に規定する分散光源方法と等価な結果と9.3.2既定(簡略化した)評価法次のいずれかの場合,表11の,簡略化した既定距離を適用する。一400nm未満又は1400nmを超える波長をもつ光源の場合。一測定受入れ角で制限されることなく(すなわち,測定受入れ角が少なくともアパーレント光源の視角と同程度の大きさでなければならない),かつ,100秒以上の時間基準値に対する光化學的網膜限界の一光化學的網膜限界又はC?に依存しない熱的網膜限界のいずれも該當しないその他の限界(例えば,ク條件1(望遠鏡,雙眼鏡などによって危険性が増大するような平行ビームに適るような発散性ビームに適用)(裸眼及び走查ビームに対する放射量の決定に適用)開口絞り開口絞り開口絞りノ限界開口一一一一1071771400以上4000未満7×條件37t≥10sに対して,3.5(tは放出持続時間)4000以上103未満一—一t≤0.35sに対して,1t≥10sに対して,3.5(tは放出持就時M)010?以上10?以下一一一一0注記“條件1,條件2及び條件3”の括弧內の記述は単なる情報として典型的な場合を述べているだけであり,製品のタイプ測定基準點半導體発光體(LED,半導體レーザ,スーパールミネ走查形出力光(走査形線狀レーザを含む。)走査の頂點(走査ビームのピボット點)線狀レーザ線狀レーザの集光點(ファン角の頂點)ファイバ出力ファイバ先端その他注記測定基準點が保護きょう體の內側(すな被ばく放出量及びAEL(すなわち,C?による補正)は,ビーム內の任意の位置で同時に決まり(すなわ 注記1レーザビームの発散們が1.5mradより小さい場合,アパーレント光源の視價αはaminであり,注記2光源が発散性,例えば,透過形拡散板に入射したレーザビームのような場合,その撻散板がアパーレント光源の位置とみなされ,拡散板での発光パターンをアパーレント光源の視角の注記3複數光源又は複數の焦點をもつ,より複雑な配置では,光線追跡のような,より複雑な手法a)開口の直徑條件1及び條件3の場合,アパーレント光源の視角及び被ばく放出量(両者ともビーム內の最も厳しい位置で決定する。)に対して,表11に規定する開口直徑及び最小測定距離を用いなけ光源の視角d検出器の受光領域業結像距離光源検出器の受光鎮域光源O図4ーアパーレント光源に近接して円形開口又は(視野絞りとなる)マスクを置くことによってC6802:2011(IEC60825-注記レンズL1は7倍の拡大率をもつ拡大鏡を表している。発散光源をレンズの焦點距離に置いたとき,放射は平行ビームとなる。そのため,アパーレント光源の視角だけでなく,開口絞3.53.5mm開口絞り光源例:7mm^3.5mm開口絞り光源例:條件2に対してアパーレント光源の被ばく放出量(上)及び視角(下)を決定するための実験配置ンズによる損失は考慮する必要がある。さい場合には,受入れ角は,対象となる光源全體を完全に包含するので,受入れ角を厳格に規定す明確な受入れ角を得るために,光源を視野絞り上に結像させるか,又は光源の一部を遮蔽放出持続時間S條件1に対する條件2及び條件3に対する附屬書A最大許容露光量被ばく放出限界(AEL)は一般に最大許容露光量(MPE)から導かれる。この附屬書では,製品の意図的な使用に関連する安全性の評価(例えば,NO者に提供するために,MPEについて記述する。--露光時問t(s)~~~ ~~~熱的及びu)露光時問が10”秒より短く,波長が400nm未満メは1400nmを超える場合の得られる。露光時間が1013秒より短い場合のMPE過,10-!秒でのMPEの放射照度他と等しく設定する。450nm~500nmの波長範囲の場合,2析類の限界が適用されるが,露光はいずれの適用限界も超えてはならない。d)緑返しパルス紫外レーザの場合,どちらの限界も趙えないほうがよい。露光時問t(s)~~~~~~~400nm~600nm一光化學的翻告を使用を使用を使用 驚,限界測定受人角~600nmの波長範囲の時間だ古古露光時間t(s)10-?~10-7103~3×10?注い正係數及び單位については,表10參照。b)10-?秒未満の露光に対する影響については,限られた証拠しかない。これらの露光時間に対するMPEは,10-?秒の放射照度を適用する。。0.1m2よりも大きい皮膚面積が露光される場合,MPEは100Wm-2に減少する。0.01m2~0.1m2の間では,MPEは照射される皮店山積に反比例する。露光量の全ての測定及び計算には,適切な開口を用いるのがよい。これが限界開口であり,放射照度又は放射露光を平均化する円形領域の直徑として定義される。限界開口の値を,表A.4に示す。1400nm~10?nmのスペクトル範囲の繰返しパルスレーザ露光に対して,個々のパルスでの危険性を評価する場合には,1mmの開口を用いる。10秒を超える露光に対して適用されるMPEを評価する場合には,注記400nm~1400nmの波長範囲における目の露光量は,直徑7mmの開口(ひとみ徑)で測定する。MPEの値は,より小さいひとみ徑を考スペクトル範囲開口直徑目皮膚180以上400未満1400以上1400未満71400以上10?未満t≥10sの場合3.510?以上10?以下繰返しパルス放射の露光に対して適用するMPEを決定するためには,次の方法を用いることが望まし対象時間に照射された全てのパルス列グループ(又はパルス列中のサブパルス列グループ)からの露光量は,対象時間に対するMPEを超えないほうがよい。のを川いて決定する。要求り#ic)は,熱的網膜限界だけに適川し,光化學的網膜限界には適川しない。1)パルスエネルギー及びパルス持続時間が変化しない場合パルス當たりの露光は,補正係數Csを乗じた単一パルスに対するMPEを超えない。ただし,CMPEgptain=MPEsnge×Cs的なパルスの數[複數のパルスがT?時間(表3參照)內にあるとき,Nは実際のパルスより少なくして,評価のために考慮する必要がある最大露光時間はT?(表10參照),又は適用可能な時間基準に対して,考慮する最大持続時間は10秒である。複數のパルスがT;時間(表3參照)內に現れる場合,それらのパルス群を単一パルスにみなして2)パルス持続時間又はパルス間隔が変化する場合パルス持続時間又はパルス間隔が可変の場合,ト時間の合計である。T;よりも短い持続時間をもつパルスには,T;のパルス持続時間を二つ以上のパルスがT;の持続時間內で生じる場合には,これらのパルス群には,T;のパルス持続時間が割り當てられる。対応する持続時間に対するMPEと比較するため,個々のパルス放射露光量A.4.1一般的注意事項失際の露光を評価するために,次の測定條件を適川することが!ましい。する。400nm~1400nmの波長範叫におけるリへの館光の場合には,100mmの取小測定母離を川いる。a)光化學的網膜限界光化學的限界(400nm~600nm)を評価する光源の測定の場合には,限界受入れて規定する値を超えないほうがよい。規定する限界受入れ角ynよりも光源の視角αが小さい場合には,受入れ角は対象となる光源を完全に包含するので,受人れ角を厳格に規定する必要はない(すなわち,受入れ角は,Ymに限定する必要はない。)。注記a<yhである単一光源の測定の場合には,特定の明確な受入れ角で測定する必要はない。明確な受入れ角を得るために,光源を視野絞り上に結像させるか,又は光源の一部を遮蔽するb)その他の全ての限界光化學的網膜障害限界以外の限界と比較される放射測定の場合には,受入れ角は対象となる光源全體を包含することが望ましい(すなわち,受入れ角は光源の視角α以上の大きさであることが望ましい。)。ただし,302.5nm~4000nmの波長範囲において,a>amaxの場合には,熱的障害限界についての限界受入れ角は最大amx(0.1rad)とするのがよい。400nm~1400nmの波長範囲における熱的障害限界について,複數の発光點からなるアパーレント光源を評価する場合には,受入れ角はαmin≤y≤anxの範囲にあることが望ましい[8.3d)參照]。円形でない放射パターンの光源に対するMPEを決定する場合には,方形又は線形光源の視角の値は光源の二つの角度寸法の算術平均によって決定する。amxより大きく,又はαminより小さい角度寸い。光化學的網膜障害限界は光源の視角によって左右されることはなく,その光源は上に規定する受入れ角で測定する。小光源MPEに対する次の補正は,ほとんどの場合,拡散反射の観察に限定される。また,場合によっ超えるビームウエスト此徑及び2mradを超える発散竹をもつレーザ,又は分散光源拡散レーザ製品にも適用する。大きい場合,補正係數C?の値だけ増加する。補正率C?は,次によって求める。-a>amx對L,C?=amxam出射レーザビームの直徑又はJm-2a空間中の一點に対し,アパーレント光源(拡散反射を含む。)の張る角度分散光源基準を適用する光源の張る最小視角一補正係數(表10參照)パルス繰返し周波數Hアパーレント光源からの規定距離rにおける放射露光E同上の放射照度アパーレント光源からの距離ゼロにおける出射ビームの放射露光同上の放射照度λレーザ放射の波長N一WWパルスレーザの1パルス內の放射パワーψ出射レーザビームの発散角π一定數3.142QJパルスレーザの全放射エネルギーtS単一レーザパルスの持続時間TSパルス列の全露光持続時間S時間折點(表10參照)ス2及びクラス2M,クラス3R,並びにクラス3B(危険性の増大順)に対する被ばく放出限界(AEL)は,それぞれ,表4~表9に規定する。使用者がレーザ製品を改造して,被ばくし得るレーザ放射が変更された場合には,その製品が正しくク單一時間基準には単一パ[(8.3D],注配1參照適川されるか?迷択したクラスに対するAELを決定表3參照注配2參照AEL?ptan=AELgμe×N-0上位のクラスを選下位のクラスを選図B.1一與えられた出カパラメータに基づいてレーザ製品のクラス分けを行うためのガイドとしての C6802:2011(I3R又はクラス3Bのいずれ選択したクラスに対するAELを決定計算。ただし,選択したクラスが3Bの場合,レーザいい元レーザ出力は,條件1小さいか?下位のクラスを選択して再計算終了。レーザは,クラス1MAELを満たすかどうか調べる必要又はクラス2Mであるか調いいえ終了。レーザは,選択したはづいたレーザ出力の測定值はクラス1又はクラス2,小さいか?クラス1又はクラス2のAELより大きく,かつ,測定値のいずれも心元200205放出持続時間(s)放出持続時間(s)図B.5一可視及び選択した赤外波長におけるクラス1のレーザ製品のAEL(C?=1の場合)ラス分けしなさい。このレーザは,そのビーム特性から,α≤amn=1.5mradに該當する指向性のよい點光源であることが推察される。ビーム直徑及びビーム広がりが小さいため,ビーム出力パワーの全體が直徑7mmの開口を通の測定はいずれも同じ被ばく放出レベルを與える。ククラス3B及び時間基準100sを選択する。レーザ出力は可視域(波長400nm~700nm)にあるが,クラス3Bに対して,0.25sの時間基準は許容されず,意図的なのぞき込みも見込まれない。クラス3Bに対こともできる。ただし,より下位のクラスに分類するのに必要な要求事項を満たしていないであろうとい白ではない。このため,疑義がある場合は,下位のクラスに対する要求事項を調べる必要がある。クラス3Rの場合,波長400nm~700nmの放射については,0.25sの時間基準を適用してもよい。それゆえ,表7から,AELは次の値が得られる。AEL=5×10-3C?W指向性のよいビームを直接観察する場合,すなわち,α≤1.5mradの場合,表10からC?=1が得られるので,これを上の式に代入すると,次の値が得られる。AEL=5mWコリメート用レンズ(発散ビームを平行ビームに変換するレンズ)をもたない12mWのCW半導體レーザ(波長λ=900nm)が,0.5radのビーム広がりをもち,かつ,表11に規定する測定條件に対して,次のようなパラメータ値をもっているとする。より小さいと仮定する。條件3:レーザダイオードチップから100mm離した直徑7mmの開口絞りを通過した出力は0.7mW。クラス1及び時間基準100sを選択する[8.3e)參照]。したがって,a≤1.5mradのレーザについてはAEL=3.9×10-?C?C?W上式に代入すると,次の値がAEL=0.98mWこの値は,レーザから70mmの距離における直徑7mmの開口絞りを通過した出力よりも小さいので,クラス1にクラス分けするための條件2による制限を超えている。しかし條件3について,クラス1レーるための要求事項を満たしているが,條件2については満たしていない。しかし,クラス3Bに対するAELを超えていないので,この製品はクラス1Mとしてクラス分けされる。レンズを裝著する場合は,この製品は改めてクラス分けする必要があろう。ǐーパルス動作の,周波數逛倍方式ネオジウムレーザであって,次の出力特性をもつものについてクラス分けしなさい。ただし,二つの波長の光は同時に出力されるものとする。一波長1060nmにおける出カパルスエネルギー=100mJ一波長530nmにおける出力パルスエネルギー=25mJ一出力開口の直徑=5mm一各波長におけるビーム広がりく1mrad解答レーザは,時間基準100sの間にただ一つのパルスを出射するものとする。この場合,パルス持続時間波長1060nmAEL?o?o=0.15J=150mJそれゆえ,次の式を満たすかどうかを判定

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請聯系上傳者。文件的所有權益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網頁內容里面會有圖紙預覽,若沒有圖紙預覽就沒有圖紙。
  • 4. 未經權益所有人同意不得將文件中的內容挪作商業或盈利用途。
  • 5. 人人文庫網僅提供信息存儲空間,僅對用戶上傳內容的表現方式做保護處理,對用戶上傳分享的文檔內容本身不做任何修改或編輯,并不能對任何下載內容負責。
  • 6. 下載文件中如有侵權或不適當內容,請與我們聯系,我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準確性、安全性和完整性, 同時也不承擔用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

評論

0/150

提交評論