74LS138測試開發目錄CONTENTS芯片簡介01測試規范02測試程序編寫05測試需求分析03電路圖繪制04調試06PARTONE數據手冊數據手冊1輸入高低電平電流測試，是電子設備測試中的一項重要內容，主要用于檢測邏輯門或集成電路在輸入端為高電平或低電平時的電流特性。PARTTWO測試需求分析測試需求分析201輸入高低電平電流測試1.什么是輸入高低電平電流測試

輸入高電平電流測試（IOH或Iih測試）：在邏輯門的輸入端施加規定的高電平電壓時，測量流入（或流出，具體取決于電路類型）邏輯門的電流值。這個值反映了邏輯門在高電平輸入狀態下的電流特性。

輸入低電平電流測試（IOL或Iil測試）：在邏輯門的輸入端施加規定的低電平電壓時，測量流入（或流出）邏輯門的電流值。這個值反映了邏輯門在低電平輸入狀態下的電流特性。測試需求分析301輸入高低電平電流測試2.輸入高電平電流測試怎么測試？

根據測試規范要求，將GND引腳連接測試機地，電源引腳VCC給5.25V，所有輸出引腳開路，所有輸入引腳給低電平0.4V，待測輸入引腳加電壓2.7V，測量該輸入引腳上的電流，判斷該電流IIH是否小于20μA，不在范圍內則該項測試不通過。再將該已測引腳給0.4V，對其他待測輸出引腳分別再進行上述的測試，直至所有輸入引腳都測試完畢。測試需求分析401輸入高低電平電流測試3.輸入低電平電流測試怎么測試？

根據測試規范要求，將GND引腳連接測試機地，電源引腳VCC給5.25V，所有輸出引腳開路，所有輸入引腳給高電平2.7V，某個待測引腳加電壓0.4V，測量其引腳上的電流IIL，判斷該電流是否小于-0.4或-0.2mA，不在范圍內則該項測試不通過。再將該已測引腳給2.7V，對其他待測輸出引腳分別再進行上述的測試，直至所有待測輸入引腳（G1、G2A、G2B、A、B、C）都測試完畢。測試需求分析501輸入高低電平電流測試4.測試需求測試項目測試資源需求引腳Vcc輸入輸出引腳引腳GNDPMU測量單元輸入高低電平電流測試1個V/I源14個PIN通道測試機地1個PARTTHREE電路圖繪制電路圖繪制6PARTFOUR測試程序編寫測試程序編寫702輸入高電平電流測試1.測試流程(1)

初始化測試機。(2)VCC引腳提供5.25V電壓(3)設置邏輯電平，先設置輸入低電平，并斷開輸出(4)給被測輸入引腳2.7V電壓，測量輸入引腳的電流并判斷(4)測試機復位，斷開連接。測試程序編寫82.測試程序編寫

1).初始化測試機cy->_reset();//初始化測試機cy->MSleep_mS(5);//延時5mscy->_on_vpt(1,1,5.25);//給電源引腳5.25V電壓cy->MSleep_mS(5);//延時5ms02輸入高電平電流測試測試程序編寫92.測試程序編寫

2).設置邏輯電平，設定輸入輸出引腳，拉低輸入引腳cy->_set_logic_level(2.7,0.4,0,0);//設置輸入高電平2.7V、輸入低電平0.4V，輸出高電平0V、輸出低電平0Vcy->MSleep_mS(5);//延時5mscy->_sel_drv_pin(1,2,3,4,5,6,0);//設定輸入引腳為1,2,3,4,5,6cy->_sel_comp_pin(7,9,10,11,12,13,14,15,0);//設定輸出引腳7,9,10,11,12,13,14,15cy->MSleep_mS(5);//延時5ms02輸入高電平電流測試測試程序編寫102.測試程序編寫

3).拉低輸入引腳，斷開輸出引腳cy->_set_drvpin("L",1,2,3,4,5,6,0);//給所有輸入引腳低電平cy->MSleep_mS(5);//延時5mscy->_off_fun_pin(7,9,10,11,12,13,14,15,0)；//斷開輸出引腳與測試機的連接cy->MSleep_mS(5);//延時5ms02輸入高電平電流測試測試程序編寫112.測試程序編寫

4).建立循環，給被測引腳加2.7V電壓并測量判斷for(inti=0;i<6;i++){ para.Format(_T("IIH%d"),iih_pin[i]);//通過Format函數將IIH和變量iih_pin[i]的值結合轉換成新的字符串IIHx，此時para存放的字符串是IIHxcy->_pmu_test_vi(para,iih_pin[i],2,5,2.7,1,0);//通過第2路PMU通道給PINiih_pin[i]連接的引腳加2.7V的電壓，測量引腳上流過的電流，并將該值賦給參數IIHx cy->_set_drvpin("L",iih_pin[i],0);//給已測輸入引腳低電平}02輸入高電平電流測試測試程序編寫122.測試程序編寫

5).測試機復位cy->_on_vpt(1,3,0);//給電源引腳0V電壓cy->MSleep_mS(5);//延時5mscy->_off_vpt(1);//斷開電源引腳和測試機1通道的連接cy->MSleep_mS(5);//延時5ms02輸入高電平電流測試測試程序編寫1303輸入低電平電流測試1.測試流程(1)

初始化測試機。(2)VCC引腳提供5.25V電壓(3)設置邏輯電平，先設置輸入高電平，并斷開輸出(4)給被測輸入引腳0.4V電壓，測量輸入引腳的電流并判斷(4)測試機復位，斷開連接。測試程序編寫142.測試程序編寫

1).初始化測試機cy->_reset();//初始化測試機cy->MSleep_mS(5);//延時5mscy->_on_vpt(1,1,5.25);//給電源引腳5.25V電壓cy->MSleep_mS(5);//延時5ms03輸入低電平電流測試測試程序編寫152.測試程序編寫

2).設置邏輯電平，設定輸入輸出引腳cy->_set_logic_level(2.7,0.4,0,0);//設置輸入高電平2.7V、輸入低電平0.4V，輸出高電平0V、輸出低電平0Vcy->MSleep_mS(5);//延時5mscy->_sel_drv_pin(1,2,3,4,5,6,0);//設定輸入引腳為1,2,3,4,5,6cy->_sel_comp_pin(7,9,10,11,12,13,14,15,0);//設定輸出引腳為7,9,10,11,12,13,14,15cy->MSleep_mS(5);//延時5ms03輸入低電平電流測試測試程序編寫162.測試程序編寫

3).拉高輸入引腳，斷開輸出引腳cy->_set_drvpin("H",1,2,3,4,5,6,0);//給所有輸入引腳高電平cy->MSleep_mS(5);//延時5mscy->_off_fun_pin(7,9,10,11,12,13,14,15,0)；//斷開輸出引腳與測試機的連接cy->MSleep_mS(5);//延時5ms03輸入低電平電流測試測試程序編寫172.測試程序編寫

4).建立循環，給被測引腳加0.4V電壓并測量判斷for(inti=0;i<6;i++){ para.Format(_T("IIL%d"),iih_pin[i]);//通過Format函數將IIL和變量iih_pin[i]的值結合轉換成新的字符串IILx，此時para存放的字符串是IILx cy->_pmu_test_vi(para,iih_pin[i],2,4,0.4,2,0);//通過第2路PMU通道給PINiih_pin[i]連接的引腳加0.4V的電壓，測量引腳上流過的電流，并將該值賦給參數IILxcy->_set_drvpin("H",iih_pin[i],0);//給已測輸入引腳高電平}03輸入低電平電流測試測試程序編寫182.測試程序編寫

5).復位測試機cy->_on_vpt(1,3,0)