序文 1 12引用規(guī)格 13密度の測定 23.1適用分野 23.2試験片 2 23.4測定裝置 43.5測定手順 4 54抵抗率の測定 54.1適用分野 54.2試験片 5 5 6 6 65.2測定手順 65.3再現(xiàn)性 6附屬書A(規(guī)定)単板試験片を使用する測定法(B法) 7 この規(guī)格は,工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化法第12條第1項の規(guī)定に基づき,一般社団法人日本電機(jī)工業(yè)會(JEMA)及び財団法人日本規(guī)格協(xié)會(JSA)から,工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)原案を具して日本工業(yè)規(guī)格を制定すべきとの申出があり,日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)査會の審議を経て,経済産業(yè)大臣が制定した日本工業(yè)規(guī)格である。これによって,JISC2550:2000はこの規(guī)格は,著作権法で保護(hù)対象となっている著作物である。この規(guī)格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵觸する可能性があることに注意を喚起する。経済産業(yè)大i及び日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)在會は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び欠用新案権に関わる確認(rèn)について,責(zé)任はもたない。JISC2550の規(guī)格群には,次に示す部編成JISC2550-1第1部:エプスタイJISC2550-2第2部:寸法·形狀の測定方法JISC2550-3第3部:中州周波磁気特性の測JISC2550-4第4部:表面絶緑抵抗の測定方法JISC2550-5第5部:電磁鋼帯の密度,抵抗率及び占積率の測定方法日本工業(yè)規(guī)格JIS電磁鋼帯試験方法一第5部:電磁鋼帯の密度,序文この規(guī)格は,1995年に第1版として発行されたIEC60404-13を基とし,我が國で一般的となっている技術(shù)と整合させるため,技術(shù)的內(nèi)容を変更して作成した日本工業(yè)規(guī)格である。なお,この規(guī)格で點(diǎn)線の下線を施してある簡所は,対応國際規(guī)格を変更している事項である。変更の一1適用範(fàn)囲この規(guī)格は,電磁鋼帯の密度,抵抗率及び占積率を測定する方法について規(guī)定する。これらの量は,材料の磁気特性を証明するのに必要である。特に,試験片の厚さが不明な場合,密度は磁束密度の規(guī)定値を以前は密度の測定には浸せき方法が基本的な方法と考えられていた。しかし,経験によって,相対的に大きな表面積をもつ試験片の場合には,この方法を使用するのは極めて困難なことが分かった。したがっ注記この規(guī)格の対応國際規(guī)格及びその対応の程度を表す記號を,次に示す。IEC60404-13:1995,Magneticmaterials—Part13:Methodsofmeasurementなお,対応の程度を表す記號“MOD”は,ISO/IECGuide21-1に基づき,“修正している”2引用規(guī)格次に揭げる規(guī)格は,この規(guī)格に引用されることによって,この規(guī)格の規(guī)定の一部を構(gòu)成する。これらの引用規(guī)格は,その最新版(追補(bǔ)を含む。)を適用する。JISC2550-1心磁鋼帶試験方法一第1部:エプスタイン試験器による心磁注記対応國際規(guī)格:IEC60404-2:2008,Magneticmaterials—Part2:MethodsofmeasuremmagneticpropertiesofelectricalsteelstripandJISC2550-3電磁鋼帯試験方法一第3部:中間周波磁気特性の測定方法注記対応國際規(guī)格:IEC60404-10:1988,Magneticmaterials.Part10:Methodsofmeasurementof2magneticpropertiesofma注記対応國際規(guī)格:IEC60404-3:1992,Magneticmaterials—Part3:MethodsofmeasurementofmagneticpropertiesofmagneticsheetandstripbymeansofasingleJISK7112プラスチックー非発泡プラスチックの密度及び比重の測定方法注記対応國際規(guī)格:ISO1183,Plastics—Methodsfordeterminingthedensityandrelativedensityofnon-cellularplastics(MOD)ISO2738,Sinteredmetalmaterials,excludinghardDeterminationofdensity,oilcon3密度の測定この項で規(guī)定する密度の測定方法は,次の化學(xué)成分範(fàn)囲の絶緑あり又は絶緑なしの無方向性電磁鋼帯に一他の合金成分の合計:0.4%以下注記化學(xué)成分が不明の場合は,この方法を使用する前に確認(rèn)する必要がある。スタイン試験片を使用する方法(A法)及びJISC2556によって規(guī)定される?yún)g板法)に適用できる。測定は,(23±5)℃の周囲溫度において行う。一一A法(3.3.2參照)に使用するエプスタイン試験片は,次の寸法とする。一長さ280mm以上320mm以下電気的な接觸をとる部分を除き,酸化物その他の絶縁皮膜を除去する必要はない。B法(3.3.3參照)に使用する?yún)g板試験片は,A.1による。3.1で規(guī)定した電磁鋼帯の場合には,密度pmと抵抗率pの両方とも,けい素及びアルミニウム成分の関されるように単調(diào)であり,ほとんど直線的である。したがって,密度の直接測定に代わり積pm·pの測定に3図1一合金系電磁鋼帯における,積pm·pの関數(shù)としての密度pm実験データの直線回帰によって得られた図1に示す直線関數(shù)によって,次の実験式が導(dǎo)かれる。Pm=Po-k?·Pm·p………………(1)p:抵抗率(Q·m)無方向性電磁鋼帯の通常範(fàn)囲の純度を考慮した場合,浸せき方法によって得られる関係と式(1)とは一致エプスタイン試験片及び単板試験片を用いる場合の積pm·pの測定方法を,それぞれ3.3.2及び3.3.3に示電流が試験片の中を均一に流れる場合,エプスタイン試験片の二つの接觸點(diǎn)間の長さの抵抗値Rは,容易に測定できる。式(2)及び式(3)から式(4)が得られる。 (3) p:抵抗率(Q·m)l?:電位接點(diǎn)間の長さ(m)45図1の直線から,積pm°pに対応する密度pmを読み取る。式(1)を川いても,この密度を算出することが3.6再現(xiàn)性4抵抗率の測定4.1適用分野簡條3に規(guī)定したように,積pm·pの判定に基づく抵抗率pの測定方法は,エプスタイン試験片に適用す法の測定に基づく方法は,全ての種類の試験片に適用することができる。抵抗率は溫度の関數(shù)であるので,図1の直線[又は式(1)]は,(23±5)℃での測定だけに使用する。こ4.3測定原理抵抗率は図1の値の橫座標(biāo)を縦座標(biāo)で除すことによって得られる。厚さを十分な精度で測定するのは困難であるため,この方法が望ましい。4.3.2厚さdの判定に基づ<方法3.1の適川分野に含まれない心磁鋼帶の抵抗率の測定については,文獻(xiàn)b及び長さ1を精度0.1%で測定し,厚さdを式(5)から算出する。l:試験片の長さ(m)注記密度の実際の値が得られない場合(文獻(xiàn)又は製造業(yè)者から得られる物性表とは全く異なるとき)は,浸せき方法によって密度を測定する。試験前に絶緑皮膜を除去する必要がある(高分解能マイクロメータを用いて多數(shù)簡所で厚さを測定することによって,精度は悪いが密度は得られ比較可能な結(jié)果を得るためには,最低4個の試験片について試験し,結(jié)果を平均する必要がある。6í板試験片を使川した測定はA.5による。4.4再現(xiàn)性5占積率の測定5.1適用分野占積率の測定方法は,全ての種類の電磁鋼帯に適用することができる。5.2測定手順試験は最小6mmの高さの積層を得るのに十分な數(shù)の同一寸法の試験片で行う。注記1試験片は,便宜的にエプスタイン試験片を流用できる。試験片をひょう(秤)量し,±0.33%以內(nèi)の精度で平均長さ及び幅を測定する。あらかじめ切斷かえりを除去した試験片を積層し,圧縮機(jī)のラムの間に置く。ラムの表面積は,試験片の積層體を完全に覆うことができる面積とする。試験片の積層體に(1.00±0.05)MPaの圧力を加える。この圧力を加えた狀態(tài)で,積層體の4辺,又はこれができない場合,短い2辺の中央のラム間距離hを土0.3%以內(nèi)の精度で測定する。 特別に合意している場合には,試験片の寸法より小さいが,25mm×12mm以上の面積のラムを用いて占積率を測定できる。この場合には,試験片の切斷かえりを除去する必要はない。ラム間距離hは積層のb:試験片の平均幅(m)5.3再現(xiàn)性7単板試験片を使用する測定法(B法)A.1密度の測定でB法を使用する場合の単板試験片B法に使用する?yún)g板試験片は,次の寸法とする。一長さl=500mmこれは,J川S.C.2556に適合する?yún)g板試験器(SST)に使用する無方向性電磁鋼帯の試験片の一般的な寸法である。ただし,試験片の寸法は,次の範(fàn)囲內(nèi)で変更することができる。90mm≤b≤510mm及び500mm≤l≤600mmA.2密度の測定でB法を使用する場合の積pm·pの測定方法二次元場の等角寫像法に基づき,均一厚さ及び任意の形狀の物體について,式(A.1)の関係が成立することが示されている。ここに,p:抵抗率(Q·m)d:試験片の厚さ(m)RARcn:接點(diǎn)AとBとを流れる?yún)g位電流當(dāng)たりの,接點(diǎn)CとDとの間の電位差VcーVpから求められる抵抗値(Q),接點(diǎn)A,B,C及びDはできる限り小さくし,試験片の辺にわたってランダムに分作させる。Rgcpa:同様に,接點(diǎn)BとCとを流れる?yún)g位電流當(dāng)たりの,接點(diǎn)DとAとの間の電位差から求められる抵抗値(Q)Fp:比.だけの関數(shù)比が1に近い場合には,F?は1になり,これを省略できる。この比を1に近くするには,図A.1に示すように,接點(diǎn)A,B,C,Dは,正方形又は長方形試験片のそれぞれの辺の中心に対稱に配置する。8図A.1—B法における試験片上での接點(diǎn)の位置この場合も,式(A.1)から式(3)を川いて,厚さdによらない積pm定する。式(1)を使用しても,この値を算出することができる。注記この簡條で規(guī)定した方法は,3.3.2に示されているエプスタイン試験片のA法と等価であり,一つの等級の材料の個々のエプスタイン試験片にA法を適用した場合の分布より小さい範(fàn)囲內(nèi)にあることが示されている。測長裝置は3.4.1及びA.3による。A.3密度の測定でB法を使用する場合の測定裝置の必要條件曲率半徑)を備えた各々の接點(diǎn)を,基板に固定されたホルダー上に取り付ける。接點(diǎn)は±1mm以內(nèi)の精度で,試験片の軸に対稱に配置する(図A.1參照)。多様な長さの試験片に対応するため,対向して配置されたこれらの接點(diǎn)の位置を,変更できるようにする。接點(diǎn)間の距離が変わっても他の二つの接點(diǎn)を結(jié)ぶ軸に対する対稱性は保持されるようにする。この場合,支持平板のサイズを変更する必要がある。種々の異なる位置にタップ穴及び調(diào)整スロットがあれば,接點(diǎn)ホルダーを異なった位置に配置できる。接點(diǎn)は,ばねによって試験片に弾性的に押し付けられる。接點(diǎn)のエッジは試験片のエッジに垂直とする。ホルダーに対して可動することができる小形の接點(diǎn)ブロックを使用し,ホルダーと接點(diǎn)ブロックとの間に配置されたばねによって試験片に対して押し付けられるようにすると,接點(diǎn)のエッジは試験片のエッジに垂直にすることができる。この可動接點(diǎn)は接點(diǎn)及びホルダーの両方に溶接された柔軟な導(dǎo)線によって,ホルダー又はホルダー上の光込みソケットに接統(tǒng)する(図A.2注記十分に電気的に接觸させるために,はんだ付けなどの他の方法を使用してもよい。9電