Generalrulesforperformanceevaluationofatomic2022-12-09發布2023-1請注意本文件的某些內容有可能涉及專利，本文件的發布本文件由中國材料與試驗團體標準委員會科學試驗評價技術委員會科學試驗評價技術標2原子光譜分析儀器性能評價通則題。使用者有責任采取適當的安全和健康措施，并保證本文件規定了原子光譜分析儀器使用性能評價的術語和定義及評感耦合等離子體原子發射光譜儀、原子吸收光譜儀、原子熒光光譜儀和X射線熒光光譜儀GB/T6379.1測量方法與結果的準確度(正確度與精密度)第1部GB/T8170數值修約規則與極JJG810波長色散X射線熒光光譜儀檢定T/CSTM00277.1分析儀器穩定性評價第1部分基于標準方法精T/CSTM00277.2分析儀器穩定性評價第2部分基于實驗室分析結果精密度GB/T6379.1和GB/T32267、J檢出限detectionlimit（limitofdetermination）定量限quantificationlimit(limitofquantification)接受參照值acceptedreferend)當a）b）c）都不能獲得時則用（可測）量的期望，即規一被測定量在短時間內對相繼獨立進行多次測儀器穩定性stabilityofequipment在規定的工作條件下，在規定的時間內，儀器保持測定最小光譜帶寬minimumbandwidthofspectralli基線漂移baselinedrift通道間干擾mutualinterferencebetweencha4計數率比ratioofcountrate探測器能量分辨率energyresolutionofdetector探測器的脈沖高度分布曲線的半峰寬與平均脈沖高度的百分儀器線性計數率偏差deviationoflinearcountrateofequipment計數率對X光管電流的曲線上，90%或60%儀器規定4評價標準4.1計量檢定規程、計量技術規范和校準方法4.2分析方法標準5.1.1.1測試方法在儀器考核波長范圍內選取兩條足夠鄰近且譜線峰值大致相當的元素特征譜線λ1、λ2（如光強λ1λ2Δλ峰短波側50%峰寬W0.5,λ2，以及λ1與λ2兩譜峰之間的寬度Δλ,定義此條件下測得的分辨率（R0.5）見公式（1）:...........................短波側80%峰寬W0.8,λ2，以及λ1與λ2兩譜峰之間的寬度Δλ,定義此條件下測得的分辨率（R0.8）見公式（2）:.............................5.1.1.2評價方法按5.1.1.1方法二所測最小光譜帶寬是否5.1.2檢出限與定量限5.1.2.1測試方法65.1.2.2評價方法將定量限與國家、行業、團體測試方法標準測量范圍下限進行比較，評價是否滿足標準要求。5.1.3.1測試方法方法一5.1.3.2評價方法方法一按T/CSTM00277.1或T/CSTM5.1.4.2評價方法方法一按T/CSTM00277.1或T/5.1.5.1測試方法5.1.5.2評價方法計算測量值的平均值與接受參照值之差，將其與臨界差比較，滿75.2.2評價方法儀器工作條件滿足相關國家、行業、團體標準規定備的環境條件、工作參數有明確規定，樣品處理設備應滿足標8根據評價目的選擇考核元素，元素的選取應考慮儀器的波長范圍和掃描元素含量水平應考慮包含元素的分析下限與分析上限，且含量水平應覆蓋不同含量9考核元素9.1考核元素9.2元素含量水平元素含量水平應考慮包含元素的分析下限與分析上限，且含量水平應覆蓋不同含量測量數據按GB/T8170進行修約，通常，單個測量數據9將各儀器性能測試值與標準、規范的極限值\區間值進行比較，作出是否符合標準要求或達到某一A.1電感耦合等離子體原子發射光譜儀1Mn257.610nm譜線半峰寬≤0.015X射線熒光光譜儀專項評價指標見表A.2。160%為A級，不低于50%為B級。2F-PC：≤40%（Al-Kα)為A級，≤45%（Al-Kα)B級SC：≤60%Cu-Kα)為A級，