表面化學分析 掃描探針顯微術 用原子力顯微鏡和兩點JKR法測定柔順材料彈性模量的程序 編制說明_第1頁
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1《表面化學分析掃描探針顯微術用原子力顯微鏡和兩點JKR法測量柔順材料彈性模量的程序》2Procedureforthedeterminationofelasticmoduliforcompliantmaterialsusingatomicforcemicroscopeandthetwo-point正式公布實施后，2023年6月全國微束分析標準化技術委員會表面化學分析分進行充分的答辯與討論并投票表決，同意上報申請立項。2024年3月列入國家標準化管理委員會頒布的2024年第一批制修訂國家標準計劃，計劃編號為分析深度剖析濺射深度的測量》、《表面化學分析《表面化學分析掃描探針顯微術用于二維摻雜物成在接到國家標準化管理委員會下達的國家標準制訂計劃后，中山大學于32023年，中山大學分析測試中心的陳建研究員團隊完成ISO21222:2020國際標準的翻譯及校核，形成標準的草案；2025年形成了標準的征求意見稿。之匯總處理表》，并依此修改形成修訂標準送審稿。《表面化學分析掃描探針顯后續補上，征求意見前先刪掉。后續補上，征求意見前先刪掉。本標準等同采用ISO21222:2020《Surfacechemicalanalysis—Scanningprobemicroscopy—Procedureforthedeterminationofelasmaterialsusingatomicfo本標準主要技術內容包括彈性模量測量程序：偏折靈敏度和彈性常數的測量、針尖半徑的測量、力-距離曲線的測量本國家標準等同采用國際標準ISO21222:2020。本標準中使用原子力顯微鏡本國家標準等同采用國際標準ISO21222:2020。保證國家標準與國際標準的4《Surfacechemicalanalysis—Scanningprobemicroscopy—Procedeterminationofelasticmoduliforcompliantmaterialsusingatomicforcemicroscopeandthetwo-pointJKRmethod》的第1版ISO21222:2020于2020年1月正2023年申請國家標

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