T-JXNFS 004-2024 鉭鐵、鈮鐵精礦選冶過程樣品化學分析方法多元素含量的測定 波長色散X 射線熒光光譜法_第1頁
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文檔簡介

ICS77.120.99CCSH14江西省有色金屬學會團體標準determinationofmulti-Wavelengthdispersivex-rayfluorescencespectrome江西省有色金屬學會發布IT/JXNFS004-2024本文件按照GB/T1.1-2020《標準化工作導則第1部分:標準化文件的結構和起草規則》的規定起草。請注意本文件的某些內容可能涉及專利。本文件的發布機構不承擔識別專利的責任。本文件由江西省有色金屬學會提出并歸口。本文件起草單位:宜春鉭鈮礦有限公司、贛州冶研所檢測技術服務有限公司、贛州有色冶金研究所有限公司。本文件主要起草人:王賀、劉名紅、左美媛、郭文萍、羅燕生、文小強、謝玲君、李振飛、危玲、袁琦、肖娟、汪光鑫、鐘婷。1T/JXNFS004-2024鉭鐵、鈮鐵精礦選冶過程樣品中多元素含量的測定波長色散X射線熒光光譜法本文件規定了鉭鐵、鈮鐵精礦選冶過程樣品中五氧化二鉭、五氧化二鈮、二氧化鈦、二氧化硅、三氧化鎢、錳、錫、硫、鐵含量的測定方法。本文件方法1適用于鉭鐵、鈮鐵精礦選冶過程樣品中五氧化二鉭、五氧化二鈮、二氧化鈦、二氧化硅、三氧化鎢、錳、錫、硫、鐵含量的測定。方法2適用于鉭鐵、鈮鐵精礦選冶過程樣品中五氧化二鉭、五氧化二鈮、二氧化鈦、二氧化硅、三氧化鎢、錳、鐵的測定。方法1粉末壓片法,方法2熔融玻璃片法,測定范圍(質量分數)見表1。本文件方法二不適用于鉿含量大于0.1%的物料中鉭含量的測定。表1測定范圍錳錫-硫-鐵2規范性引用文件下列文件中的內容通過文中的規范性引用而構成本文件必不可少的條款。其中,注日期的引用文件,僅該日期對應的版本適用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改單)適用于本文件。GB/T6682分析實驗室用水規格和試驗方法GB/T8170數值修約規則與極限數值的表示和判定GB/T17433冶金產品化學分析基礎術語JJG810波長色散X射線熒光光譜儀檢定規程3術語和定義GB/T17433界定的術語和定義適用于本文件。2T/JXNFS004-20244.1方法原理試料經粉末壓片法制樣,試料中各組分在波長色散X射線熒光光譜儀中經激發放射出特征X射線,譜線經重疊和基體效應校正后其強度與試料中該組分的質量分數成正比。通過測量試料中目標物的特征X射線強度,定量分析試料中各組分的質量分數。4.2試劑或材料除非另有說明,在分析中僅使用確認為分析純的試劑和符合GB/T6682規定的二級水。4.2.1粘結劑:硼酸。4.2.2P10氣體:體積分數為90%的氬氣和體積分數為10%的甲烷。4.3儀器設備4.3.1波長色散X射線熒光光譜儀:符合JJG810規定。4.3.2粉末壓樣機:壓力≥3.9×105N。4.4樣品4.4.1試樣粒度不大于0.074mm。4.4.2試樣預先在105℃~110℃烘2h,置于干燥器中冷卻至室溫。4.5試驗步驟4.5.1試料稱取樣品3.5g(4.4)。4.5.2測定次數平行做兩份試驗。4.5.3試料片的制備使用8~9g硼酸(4.2.1)墊底、鑲邊,將約3.5g試料(4.5.1)置于粉末壓樣機上,以一定的壓力制成表面平整、無裂痕的薄片。4.5.4測定4.5.4.1測定條件調節儀器(參考附錄A.1),使其處于最佳測量條件。4.5.4.2校準曲線的制作選擇能覆蓋被測組分含量范圍又具有一定梯度的系列標準樣品或者人工配制的標準樣品按照(4.5.3)制備標準試料片,在儀器最佳測量條件下,測量標準試料片中待測組分的X射線熒光強度。以標準試料片中待測組分的含量為橫坐標,X射線熒光強度為縱坐標,繪制校準曲線。可選擇理論α系數法、基本參數法、經驗α系數法其中之一對校準曲線進行校正。T/JXNFS004-20244.5.4.3校準曲線漂移校正儀器穩定后,選擇不少于2個標準試料片對儀器進行漂移校正。可根據儀器的穩定性確定儀器漂移校正的時間間隔4.5.4.4試料片測量在儀器最佳測量條件下,測量試料片中待測組分的X射線熒光強度,從校準曲線上得出試料片中各待測組分的含量。4.6試驗數據處理試料中待測組分的含量以質量分數wx計,結果保留至小數點后兩位,按GB/T8170的規定修約。4.7精密度4.7.1重復性在重復性條件下獲得的兩次獨立測試結果的測定值,在以下給出的平均值范圍內,這兩個測試結果的絕對差值不超過重復性限(r超過重復性限(r)的情況不超過5%。重復性限(r)按表2數據采用線性內插法求得。表2重復性限五氧化二鈮質量分數/%三氧化鎢質量分數/%-- 硫質量分數/%錫質量分數/%4.7.2允許差實驗室間分析結果的差值應不大于表3所列允許差;表3允許差4T/JXNFS004-2024三氧化鎢質量分數/% 硫質量分數/% 錫質量分數/% 5方法2:熔片法5.1方法原理試料、內標和混合熔劑按2:1:56稀釋比進行配料,以硝酸鋰為氧化劑,溴化銨為脫模劑,在1150℃下熔融制備試料片,用待測組分的X射線熒光強度(五氧化二鉭用五氧化二鉭/二氧化鉿X射線熒光強度比)對待測組分的含量建立校準曲線。根據校準曲線計算待測組分的含量。5.2試劑或材料除非另有說明,在分析中僅使用確認為分析純的試劑和符合GB/T6682規定的二級水。5.2.1混合熔劑(四硼酸鋰:偏硼酸鋰=67:33,優級純)。5.2.2三氧化二鐵:w≥99.95%,105℃烘2h,在干燥器中冷卻至室溫。5.2.3三氧化二鋁:w≥99.95%,105℃烘2h,在干燥器中冷卻至室溫。5.2.4二氧化硅:w≥99.95%,105℃烘2h,在干燥器中冷卻至室溫。5.2.5三氧化鎢:w≥99.95%,105℃烘2h,在干燥器中冷卻至室溫。5.2.6二氧化錫:w≥99.95%,105℃烘2h,在干燥器中冷卻至室溫。5.2.7二氧化鋯:w≥99.95%,105℃烘2h,在干燥器中冷卻至室溫。5.2.8二氧化錳:w≥99.95%,105℃烘2h,在干燥器中冷卻至室溫。5.2.9二氧化鈦:w≥99.95%,105℃烘2h,在干燥器中冷卻至室溫。5.2.10五氧化二鉭:w≥99.95%,在800℃灼燒2h,在干燥器中冷卻至室溫。5.2.11五氧化二鈮:w≥99.95%,在800℃灼燒2h,在干燥器中冷卻至室溫。5.2.12二氧化鉿:w≥99.95%,在800℃灼燒2h,在干燥器中冷卻至室溫。5.2.13溴化銨溶液(400g/L);稱取40g溴化銨,加入50mL水攪拌溶解,轉移至100mL容量瓶中,稀釋至刻度,混勻。5.2.14硝酸鋰溶液(220g/L);稱取22g硝酸鋰,加入50mL水攪拌溶解,轉移至100mL容量瓶中,5T/JXNFS004-2024稀釋至刻度,混勻。5.2.15P10氣體:體積分數為90%的氬氣和體積分數為10%的甲烷。5.3儀器設備5.3.1波長色散X射線熒光光譜儀:符合JJG810規定。5.3.2鉑-黃坩堝(95%Pt+5%Au):容積不小于30mL。5.3.3鉑-黃坩堝(95%Pt+5%Au)模具:與所用波長色散X射線熒光光譜儀鋼杯尺寸匹配。5.3.4熔樣機:溫度可控制在1200℃,并具備自動搖擺功能。5.3.5馬弗爐:溫度可控制在700℃。5.4樣品5.4.1:試樣粒度不大于0.074mm。5.4.2:試樣預先在105℃~110℃烘2h,置于干燥器中冷卻至室溫。5.5試驗步驟5.5.1試料稱取0.2500g樣品(5.4)。5.5.2平行試驗平行做兩份試驗。5.6試料片的制備5.6.1配料稱取7.0000g混合熔劑(5.2.1)置于鉑-黃坩堝中(5.3.2),依次加入試料(5.5.1)和0.1250g5.6.2預氧化和熔融將裝有配料的鉑-黃坩堝(5.3.2)置于預先加熱至700℃馬弗爐(5.3.5)中,保溫15min后取出,冷卻至室溫,加入0.1mL溴化銨溶液(5.2.13將鉑-黃坩堝轉移至預先加熱至1150℃熔樣機(5.3.4)中,在搖擺下熔融10min。5.6.3澆鑄需要澆鑄的將熔融物澆鑄到預先加熱至1150℃的鉑-黃坩堝模具(5.3.3)中,不需澆鑄的直接將熔融坩堝取出,在空氣中冷卻至脫模。5.6.4檢查試料片應無不熔物,起泡,表面應平整、光潔。否則應重新制備。5.7系列標準片的制作稱取7.0000g混合熔劑(5.2.1)置于鉑-黃坩堝中(5.3.2按附錄B表B.1加入各元素氧化物(5.2.2~5.2.11)和0.1250g二氧化鉿(5.2.12)用玻璃棒混勻,毛刷輕刷粘于玻璃棒上的試料,均勻滴加1mL硝酸鋰溶液(5.2.14按5.6.2~5.6.4制備標準片,系列標準片待測組分質量分數見附錄B表B.2,亦可選擇能覆蓋被測元素含量范圍的至少10個水平的同類型的有證標準物質/標準樣品及其混6T/JXNFS004-2024配物制作系列標準片。5.8測定5.8.1測定條件調節儀器(見附錄A.2),使其處于最佳測量條件。5.8.2校準曲線的繪制將系列標準片各待測組分的質量分數輸入計算機,在選定的儀器測定參數(5.8.1)條件下,測定系列標準片(5.7五氧化二鉭與二氧化鉿X射線熒光強度比值為縱坐標,其它待測組分X射線熒光強度測定值為縱坐標,以標準試料片中待測氧化物的含量為橫坐標,繪制校準曲線。5.8.3校準曲線準確度的確認校準曲線建立完成后,應用系列標準片以外的化學成分相近純物質混配物或同類型的有證標準物質/標準樣品對校準曲線的準確度進行確認。5.8.4儀器的漂移校正定期對儀器進行標準化確認,通常以固定標準片檢查待測元素的X射線強度是否有顯著變化來確認,若發生顯著變化說明儀器發生漂移。當儀器發生漂移時,通過測量標準片的X射線強度對儀器進行漂移校正,可采用單點校正或兩點校正。5.8.5試料片測量在儀器最佳測量條件下,測量試料片(5.6)中待測氧化物的X射線熒光強度,通過校準曲線得出試料片中各待測組分的含量。5.9試驗數據處理試料中待測組分的含量以質量分數wx計,結果保留至小數點后兩位,按GB/T8170的規定修約。5.10精密度5.10.1重復性在重復性條件下獲得的兩次獨立測試結果的測定值。在表4給出的平均值范圍內,兩個測試結果的絕對差值不超過重復性限(r),超過重復性限(r)的情況不超過5%,重復性限(r)按表4數據采用線性內插法或外延法求得。表4重復性限 T/JXNFS004-2024- 三氧化鎢質量分數/% 5.10.2允許差實驗室間分析結果的差值應不大于表5所列允許差。表5允許差三氧化鎢質量分數/%6質量保證和控制試驗報告至少應給出以下幾個方面的內容:——試驗對象;——本文件編號;——分析結果及其表示;——與基本分析步驟的差異;——觀察到的異常現象;——試驗日期。8T/JXNFS004-2024X射線熒光光譜儀的測量條件表A.1給出了方法1的推薦測量條件。

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