浙江省質量技術監督局發布微米千分尺校準規范微米千分尺校準規范I (Ⅲ) (1) (1) (3)4.7微分筒錐面的端面棱邊至固定套 (3)4.9微分筒錐面的端面與固定套筒毫米 4.11測量面的表面粗糙度 (3)4.13兩測量面的平行度 （4)4.15校對用量桿尺寸和尺寸變動量 （4) 5.1環境條件 6校準方法 6.1測微螺桿的軸向竄動和徑向擺動 (5)6.2測砧測量面與測微螺桿測量面的相對偏移量 (7) (8) 6.7微分筒錐面的端面至固定套筒標尺標記面的距離 (8) (8)6.9微分筒錐面的端面與固定套筒毫米標尺標記的相對位置 (8)6.10零值誤差 (9)6.11測量面的表面粗糙度 6.12測量面的平面度 6.13兩測量面的平行度 6.14示值誤差 (10)附錄A微米千分尺示值誤差測量結果不確定度評定 (15)米千分尺》共同構成支撐本校準規范制定工1微米千分尺校準規范2Ⅱ型和Ⅲ型微米千分尺的微米游標筒與微分筒標尺標記面連接處的軸向間隙Ⅱ型和Ⅲ型微米千分尺的微米游標筒與固定套筒圓周方向的相對位移在測微3微米千分尺的平測微頭與量具測力儀球面接觸時的測量力Ⅱ型和Ⅲ型微米千分尺的微米游標筒與微分筒兩標尺標記面之差應不大于微米千分尺鎖緊裝置緊固和松開時，微米千分尺兩測量面的平行度不超過表4121251測力計MPE：±2.0%2測砧測量面與測微螺桿測量面的相對測力計MPE：±2.0%3微米游標筒與微分筒標尺標記面連接4微米游標筒與固定套筒圓周方向的相56量具測力儀MPE：±2.0%7微分筒錐面的端面棱邊至固定套筒標8微米游標筒與微分筒兩標尺標記面之差9微分筒錐面的端面與固定套筒毫米標表面粗糙度比較樣塊MPE1217）%610mm后，使杠桿千分表測頭接觸測微螺桿的端部，再沿杠桿千分表測量方向加力（2～3）N，然后在相反方向加同樣大小的力，此時杠桿千分表示值的變化值7（0～25）mm的微米千分尺可目力觀察微米千分尺測砧測量面與測微螺桿測量在檢驗平板上用杠桿百分表或百分表測量，測量時借助夾具放置在檢驗平板后用杠桿百分表或百分表測量測砧測量面與測微螺桿測量面在這一方位上的相量面在另一方位上相對偏移量△y,測砧測量面與測微螺桿測量面的相對偏移量（1）89平晶接觸，轉動棘輪機構，并輕輕轉動平行平晶，使兩測量面出現的干涉環或干涉帶數目調至最少。分別讀取兩測量面上的干涉條紋數，取兩測量面上的干涉條紋數目之和與所用光的波長值的計算結果作為兩測量面的平行度。利用平行平晶組中每一塊平行平晶按上述程序分別進行測量，取其中最大值作為兩測微米千分尺示值誤差e可由式(2)計算：e=Li-Ls（2）>25A＋5.12A＋10.24A＋15.36A＋21.50A＋25A.1概述A.1.3測量對象：微米千分尺，測量范圍為(0～100e=LcLb+Lc.αc.ΔtcLb.αb.Δtb（A.1）αc，αb——微米千分尺和量塊的線脹系數，℃-1；令δα=αcαb，δt=ΔtcΔtb得e=Lc-Lb+L.δα.Δt.+L.α.δt（A.3）42uc22(e)121222u22+c32u32+c42u42A.4.1、測量重復性引入的不確定度u1；A.4.2、量塊引入的不確定度u2；A.4.3、微米千分尺與量塊的線脹系數差引入的不確定度u3；A.4.4、微米千分尺和量塊的溫度差引入不確定度u4。u(xi)ciu11u2u3L.Δtu4L.αu(xi)ciu11u2u3L.Δtu4L.αA.6.1測量重復性引入的不確定度分量u1A.6.2由對零位量塊引入的不確定度分量u21和校準點量塊引入的不確定度分量u22組成不確定度u2的評定。A.6.2.1由對零位量塊引入的不確定度為分量u21測量上限L=25mm時:測量上限L=100mm時:A.6.2.2校準點量塊引入的不確定度為分量u22測量上限25mm時:A.6.3微米千分尺和量塊間線脹系數差引入的不