汀浙江省質量技術監督局發布小測頭千分尺校準規范I引言??????????????????????????????(Ⅲ)1范圍?????????????????????????????(1)2引用文獻???????????????????????????(1)3術語和計量單位????????????????????????（1）示值變動性?????????????????????????（???????????????????????????5計量特性??????????????????????????（2)5.1測微螺桿的軸向竄動和徑向擺動????????????????（2）5.2測砧與測微螺桿測量面的偏移量????????????????（2）測力????????????????????????????(2)5.4刻線寬度及寬度差??????????????????????(2)5.5微分筒錐面的端面至固定套筒刻線面的距離???????????(2)5.6微分筒錐面的端面與固定套筒毫米刻線的相對位置????????(2)5.7測量面的平面度???????????????????????(3)示值變動性????????????????????????（3)漂移????????????????????????????（3)5.10兩測量面的平行度?????????????????????（3)示值誤差?????????????????????????（3)細分誤差?????????????????????????（3)5.13小測頭千分尺校對用量桿尺寸和尺寸變動量??????????（3)6校準條件??????????????????????????6.1環境條件?????????????????????????6.2校準項目和校準設備????????????????(4)7校準方法?????????????????????????(5)7.1測微螺桿的軸向竄動和徑向擺動????????????????(5)7.2測砧與測微螺桿測量面的偏移量????????????????(6)???????????????????????????7.4刻線寬度及寬度差??????????????????????(7)7.5微分筒錐面的端面至固定套筒刻線面的距離??????????7.6微分筒錐面的端面與固定套筒毫米刻線的相對位置????????(7)7.7測量面的平面度???????????????????????(7)7.8示值變動性??????????????????????(7)漂移???????????????????????????7.10兩測量面的平行度?????????????????????（8)示值誤差?????????????????????????細分誤差?????????????????????????(9)7.13校對用量桿尺寸和尺寸變動量?????????????(9)8校準結果表達????????????????????????9復校時間間隔????????????????????????(9)附錄A小測頭千分尺示值誤差測量結果不確定度評定????????(10)附錄B校準證書或校準報告內容?????????????????(14)本規范適用于分度值/分辨力為0.001mm、0.01mm,測量上限至100mm的小測頭千分尺的校準。3.1示值變動性4概述276④51—尺架2—固定測砧3—測微螺桿4—微分筒5—測力裝置6—顯示屏7—護板裝置5.1測微螺桿的軸向竄動和徑向擺動測微螺桿的軸向竄動和徑向擺動應不大于0.01mm。5.2測砧與測微螺桿測量面的偏移量測砧與測微螺桿測量面的偏移量應不超過表1的規定。5.3測力小測頭千分尺的測力系指測微螺桿測量面與量具測力儀平面接觸時所作用5.4刻線寬度及寬度差微分筒刻線寬度為(0.08～0.20)mm,固定套筒上的刻線與微分筒上的刻線的寬度差不大于0.03mm。5.5微分筒錐面的端面棱邊至固定套筒刻線面的距離5.6微分筒錐面的端面與固定套筒毫米刻線的相對位置32314校準小測頭千分尺和校對用的量桿的室內溫度和室內平衡溫度的時間應在2123量具測力儀MPE：±1.0%45微分筒錐面的端面棱邊至固定套筒刻6微分筒錐面的端面與固定套筒毫米刻789平行平晶MPEV0.6～1.0）μm57校準方法7.1測微螺桿的軸向竄動和徑向擺動7.1.1測微螺桿的軸向竄動，用杠桿千分表校準。校準時，杠桿千分表與測微螺桿測量面接觸，沿測微螺桿軸向方向分別往返加力(3～5)N,如圖3所示。7.1.2測微螺桿的徑向擺動，用杠桿千分表校準。校準時，將測微螺桿伸出尺架10mm后，使杠桿千分表接觸測微螺桿的端部，再沿杠桿千分表測量方向加力(2～3)N,然后在相反方向加同樣徑向擺動量。徑向擺動的校準應在測微螺桿相互垂直的兩個方向進行。此過程如圖4所示。◎67.2測砧與測微螺桿測量面的偏移量(0～25)mm的小測頭千分尺可目力觀察小測頭千分尺測砧與測微螺桿測量面的偏移量，測量上限大于25mm的小測頭千分尺可借助校對用量桿進行校準。如有異議時，可按下列方法進行校準。測量上限大于25mm的小測頭千分尺可用專用檢具校準偏移量。在檢驗平板上用杠桿百分表校準，校準時借助夾具放置在檢驗平板上，如圖5所示，調整夾具使小測頭千分尺的測微螺桿與檢驗平板工作面平行，然后用杠桿百分表校準測砧與測微螺桿在這一方位上的偏移量x,然后將尺架側轉90°,按上述方法校準測砧與測微螺桿在另一方位上偏移量y,測砧與測微螺桿測量面的相對偏移量△按下式求得：此項校準也可用其他專用檢具校準。77.3測力7.4刻線寬度及寬度差在工具顯微鏡上校準。微分筒或刻線盤上的刻線寬度至少任意抽檢3條刻7.5微分筒錐面的端面棱邊至固定套筒刻線面的距離在工具顯微鏡上校準，也可用0.4mm塞尺置于固定套筒刻線表面上用比較法校準。校準應在微分筒轉動一周內不小于3個位置上進行。7.6微分筒錐面的端面與固定套筒毫米刻線的相對位置7.7測量面的平面度小測頭千分尺平面度用二級平面平晶以技術光波法校準。將平面平晶的測量面與測砧的平面研合，其形成的干涉環或干涉帶的最小數目為平面度校準結7.8示值變動性在相同測量條件下重復測量5次分別讀數。示值變動性以最大值與最小值8平晶接觸，轉動棘輪機構，并輕輕轉動平晶，使兩測量面出現的干涉環或干涉帶數目調至最少。分別讀取兩測量面上的干涉條紋數，取兩測量面上的干涉條紋數目之和與所用光的波長值的計算結果作為兩測量面的平行度。利用平行平晶組中每一塊平行平晶按上述程序分別進行校準，取其中最大值作為受檢千分的小測頭千分尺，用兩測量面直接接觸調整零位；對其他測量范圍的用校對量e=Li-Ls>25A＋5.12A＋10.24A＋15.36A＋21.50A＋2597.12細分誤差共校準12點，分別讀出各校準點數顯裝置的顯示值與微分筒讀數值之差。其最7.13校對用量桿尺寸和尺寸變動量小測頭千分尺校對用量桿的尺寸偏差及變動性在光學計或測長機上采用4等量塊以比較法進行校準。對于平測量面的校對用量桿應采用球面測帽在圖6所示的5點上進行校準，5點中的最大值與最小值之差即為校對用量桿變動量9復校時間間隔小測頭千分尺的校準時間間隔，由于復校時間間隔的長短是由小測頭千分尺的使用情況、使用者、小測頭千分尺本身質量等因素A.1概述A.1.3測量對象：小測頭千分尺和數顯小測頭千分尺，測量范圍為(0～100)eLcLbLcctcLbbtb（A.1）A.3方差和靈敏度系ctb得eLc-LbLtLt由于各分量彼此獨立，按不確定度傳播律公式，其輸出量估計值e的方差為uc2u2(e)c12u12c22u22c32u32c42u42(A.4)u12(u2)2(Lt)2u32(L)2u42A.4.1、測量重復性引入的不確定度u1；A.4.2、量塊引入的不確定度u2；A.4.3、小測頭千分尺與量塊的線脹系數差引入的不確定度u3；A.4.4、小測頭千分尺和量塊的溫度差引入不確定度u4。u(xi)ciciu(xi)u11u2u3Ltu4Luc=0.57μmu(xi)ciciu(xi)u11u2u3Ltu4Luc=0.81μmA.6.1小測頭千分尺測量重復性引入的不確定度分量u1量重復性引入的不確定度分量，因此小測頭千分尺測量重復性引入的不確定度分量作為u1。A.6.2由對零位量塊引入的不確定度分量u21和校準點量塊引入的不確定度分量u22組成不確定度u2的評定。A.6.2.1由對零位量塊引入的不確定度為分量u21u21-6A.6.2.2校準點量塊引入的不確定度為分量u22 u2=u1u2=u1u2=0.0020.242=0.24μmu2=u1u2=0.3420.392=0.52μmA.6.3小測頭千分尺與量塊間線脹系數差引入的不確定度u3 A.6.4小測頭千分尺和量