第第頁(yè)校準(zhǔn)術(shù)語(yǔ)—涂層測(cè)厚儀以下討論供應(yīng)了與DeFelsko涂層測(cè)厚儀相關(guān)的計(jì)量術(shù)語(yǔ)的定義、解釋、限制和實(shí)際示例。用于編寫(xiě)本文檔的資源緊要包含SSPC、ISO、ANSI和ASTM等國(guó)際組織發(fā)布的技術(shù)文章和標(biāo)準(zhǔn)。目的是為DeFelsko文檔開(kāi)發(fā)一個(gè)通用參考平臺(tái)，包含文獻(xiàn)、手冊(cè)、技術(shù)文章、通信和網(wǎng)絡(luò)料子。類型1PullOff測(cè)厚儀在1型PullOff（PosiTest或PosiPen）測(cè)厚儀中，永磁體與涂層表面直接接觸。測(cè)量將磁鐵從表面拉出所需的力，并將其解釋為刻度或儀表顯示的涂層厚度值。將磁體保持在表面上的磁力與磁體和鋼之間的距離（即干涂層的厚度）的非線性函數(shù)成反比。從厚涂層上移除磁鐵所需的力較小。類型2電子測(cè)厚儀2型電子測(cè)厚儀（PosiTector）使用電子電路將參考信號(hào)轉(zhuǎn)換為涂層厚度。電子鐵質(zhì)測(cè)量?jī)x依據(jù)兩種不同的磁性原理工作。有些使用永磁體，當(dāng)靠近鋼時(shí)，會(huì)加添磁體極面的磁通密度。涂層厚度是通過(guò)測(cè)量磁通密度的這種變更來(lái)確定的，磁通密度的變更與磁鐵和鋼基材之間的距離成反比。位于極面的霍爾元件和磁阻元件是測(cè)量這種磁通密度變更的常用方法。但是，這些元件的響應(yīng)取決于溫度，因此需要進(jìn)行溫度彌補(bǔ)。其他鐵質(zhì)電子測(cè)厚儀依據(jù)電磁感應(yīng)原理工作。包含軟鐵棒的線圈由交流電流供電，從而在探頭處產(chǎn)生變更的磁場(chǎng)。與永磁體一樣，當(dāng)探頭靠近鋼基材時(shí)，桿內(nèi)的磁通密度會(huì)加添。這種變更由第二個(gè)線圈檢測(cè)到。第二個(gè)線圈的輸出與涂層厚度有關(guān)。由于線圈參數(shù)的溫度倚靠性，這些應(yīng)變計(jì)還需要溫度彌補(bǔ)。表征表征是一個(gè)過(guò)程，通過(guò)該過(guò)程教會(huì)儀器將從其探頭尖端接收到的信號(hào)與實(shí)際涂層厚度測(cè)量值相關(guān)聯(lián)。表征過(guò)程的結(jié)果是儀器內(nèi)置的校準(zhǔn)曲線。基于曲線的多而雜性，它還可能包含其他影響的余量，例如環(huán)境溫度。每臺(tái)DeFelsko儀器都使用覆蓋儀器全部范圍的可追溯校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行的測(cè)量來(lái)單獨(dú)表征。正是這一特性使DeFelsko儀器能夠?yàn)榇蠖鄶?shù)應(yīng)用直接進(jìn)行有意義的測(cè)量。參考標(biāo)準(zhǔn)參考標(biāo)準(zhǔn)是已知厚度的樣品，用戶可以依據(jù)它來(lái)驗(yàn)證其測(cè)厚儀的精準(zhǔn)性。參考標(biāo)準(zhǔn)通常是涂層厚度標(biāo)準(zhǔn)或墊片。假如合同雙方同意，已知（或可接受）厚度的樣本部分可用作特定工作的厚度標(biāo)準(zhǔn)。涂層厚度標(biāo)準(zhǔn)對(duì)于大多數(shù)儀器，涂層厚度標(biāo)準(zhǔn)通常是光滑的金屬基材，其具有可追溯到國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)（NIST）的已知厚度的非磁性（環(huán)氧樹(shù)脂）涂層。用于磁力計(jì)的基材是鐵（鋼）或用于渦流計(jì)的有色金屬（鋁）。作為制造過(guò)程的一部分，高公差涂層厚度標(biāo)準(zhǔn)用于表征和校準(zhǔn)測(cè)厚儀。客戶可以購(gòu)買(mǎi)相同的標(biāo)準(zhǔn)，用作校準(zhǔn)試驗(yàn)室的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)，或用作現(xiàn)場(chǎng)或工廠車(chē)間的檢查標(biāo)準(zhǔn)。與超聲波測(cè)厚儀一起使用的涂層厚度標(biāo)準(zhǔn)是經(jīng)過(guò)機(jī)械加工成平坦光滑表面的實(shí)心塑料（聚苯乙烯）塊。除了可追溯到國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的已知厚度外，這些標(biāo)準(zhǔn)還具有已知的聲速。校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)品作為附件購(gòu)買(mǎi)，以幫助充足客戶日益增長(zhǎng)的需求，以充足ISO/QS9000和內(nèi)部質(zhì)量掌控要求。很多客戶發(fā)覺(jué)在內(nèi)部校準(zhǔn)他們自身的測(cè)厚儀比使用DeFelsko的校準(zhǔn)服務(wù)更應(yīng)用。為了便利這些客戶，供應(yīng)了標(biāo)稱值的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)集，以涵蓋每個(gè)DeFelsko測(cè)厚儀的整個(gè)范圍。全部標(biāo)準(zhǔn)都帶有校準(zhǔn)證書(shū)，顯示對(duì)NIST的可追溯性。墊片墊片是已知厚度的扁平非磁性（塑料）部件。雖然墊片通常能夠接受待測(cè)基材的形式，但墊片的精度比涂層厚度標(biāo)準(zhǔn)更受限制。因此，當(dāng)使用墊片對(duì)2類（電子）測(cè)厚儀進(jìn)行校準(zhǔn)調(diào)整時(shí)，在確定測(cè)量精度之前，將墊片的公差與測(cè)厚儀的公差結(jié)合起來(lái)特別緊要。不建議將墊片與類型1（機(jī)械拉斷）測(cè)厚儀一起使用。這種墊片通常相當(dāng)堅(jiān)硬和彎曲，即使在光滑的鋼測(cè)試表面上也不會(huì)完全平放。在機(jī)械測(cè)厚儀測(cè)量的拉斷點(diǎn)相近，墊片常常從鋼表面彈回，使磁鐵過(guò)早升起并導(dǎo)致錯(cuò)誤讀數(shù)。校準(zhǔn)校準(zhǔn)是測(cè)量可溯源校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)并驗(yàn)證結(jié)果是否在測(cè)厚儀規(guī)定精度范圍內(nèi)的受控和記錄過(guò)程。校準(zhǔn)通常由測(cè)厚儀制造商或合格試驗(yàn)室在受控環(huán)境中使用文件化流程進(jìn)行。校準(zhǔn)中使用的涂層厚度標(biāo)準(zhǔn)必須使得測(cè)量結(jié)果的綜合不確定性小于測(cè)厚儀規(guī)定的精度。校準(zhǔn)間隔校準(zhǔn)間隔是儀器重新校準(zhǔn)之間的既定時(shí)間段。依據(jù)ISO17025的要求，DeFelsko不將校準(zhǔn)間隔作為我們的PosiPen、PosiTest、PosiTector6000和100涂層測(cè)厚儀頒發(fā)的校準(zhǔn)證書(shū)的一部分。對(duì)于尋求幫助訂立自身的校準(zhǔn)間隔的客戶，我們共享以下閱歷。與保質(zhì)期無(wú)關(guān)的因素在確定校準(zhǔn)間隔時(shí)更為關(guān)鍵。這些因素緊要是使用頻率、相關(guān)應(yīng)用以及在使用、處置和儲(chǔ)存過(guò)程中的注意程度。例如，頻繁使用測(cè)厚儀、在磨蝕表面上測(cè)量或粗暴使用測(cè)厚儀（即掉落測(cè)厚儀、未能更換探頭尖端的蓋子進(jìn)行存放或常常將測(cè)厚儀扔進(jìn)工具箱進(jìn)行存放）的客戶）可能需要相對(duì)較短的校準(zhǔn)間隔。從理論分析和實(shí)踐閱歷來(lái)看，溫度和濕度對(duì)應(yīng)變片的影響是微乎其微的。另外，制造過(guò)程旨在更大限度地削減測(cè)厚儀性能的校準(zhǔn)后變更。即使在漂移的情況下，測(cè)厚儀測(cè)量通常也是線性的，因此在使用前通過(guò)測(cè)厚儀的“零”功能進(jìn)行彌補(bǔ)。盡管DeFelsko建議客戶依據(jù)自身的閱歷和工作環(huán)境建立測(cè)厚儀校準(zhǔn)間隔，但客戶反饋建議將一年作為典型的起點(diǎn)。另外，我們的閱歷表明，購(gòu)買(mǎi)新儀器的客戶可以安全地將儀器購(gòu)買(mǎi)日期作為他們第一次校準(zhǔn)間隔的開(kāi)始。保質(zhì)期的更小影響降低了實(shí)際校準(zhǔn)證書(shū)日期的緊要性。校準(zhǔn)證書(shū)校準(zhǔn)證書(shū)是記錄實(shí)際測(cè)量結(jié)果和全部其他相關(guān)信息以成功校準(zhǔn)儀器的文件。DeFelsko在每臺(tái)新的、重新校準(zhǔn)的或維護(hù)和修理過(guò)的儀器中都附有校準(zhǔn)證書(shū)，清楚地表明對(duì)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的可追溯性。可追溯性可追溯性是通過(guò)不間斷的比較鏈跟蹤測(cè)量結(jié)果的本領(lǐng)，一直追溯到公認(rèn)正確的固定國(guó)際或國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)。該鏈通常由幾個(gè)適當(dāng)?shù)臏y(cè)量標(biāo)準(zhǔn)構(gòu)成，每個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的值都比其后續(xù)標(biāo)準(zhǔn)具有更高的精準(zhǔn)性和更少的不確定性。重新校準(zhǔn)（重新認(rèn)證）重新校準(zhǔn)，也稱為重新認(rèn)證，是對(duì)使用過(guò)的儀器進(jìn)行校準(zhǔn)的過(guò)程。在儀器的整個(gè)生命周期中都需要定期重新校準(zhǔn)，由于探頭表面會(huì)受到磨損，這可能會(huì)影響測(cè)量的線性度。理論上，擁有可追溯的厚度參考標(biāo)準(zhǔn)和可從DeFelsko網(wǎng)站獲得的校準(zhǔn)程序副本的客戶可以重新校準(zhǔn)他們自身的測(cè)厚儀。客戶還受到他們自身的質(zhì)量體系要求以及他們掌控重新校準(zhǔn)條件的本領(lǐng)的限制。驗(yàn)證（校準(zhǔn)驗(yàn)證）校準(zhǔn)驗(yàn)證是儀器用戶依據(jù)覆蓋預(yù)期涂層厚度范圍的已知參考標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行的精準(zhǔn)性檢查。該過(guò)程旨在驗(yàn)證測(cè)厚儀是否仍按預(yù)期運(yùn)行。通常執(zhí)行驗(yàn)證是為了防止在輪班開(kāi)始或結(jié)束時(shí)使用不精準(zhǔn)的測(cè)厚儀進(jìn)行測(cè)量，在進(jìn)行關(guān)鍵測(cè)量之前，當(dāng)儀器掉落或損壞時(shí)，或者每當(dāng)懷疑有錯(cuò)誤讀數(shù)時(shí)。假如合同雙方認(rèn)為合適，可以就驗(yàn)證測(cè)厚儀精度的細(xì)節(jié)和頻率達(dá)成初步協(xié)議。假如讀數(shù)與參考標(biāo)準(zhǔn)不一致，則自上次精度檢查以來(lái)進(jìn)行的全部測(cè)量都是可疑的。假如顯現(xiàn)物理?yè)p壞、磨損、高使用率或經(jīng)過(guò)既定的校準(zhǔn)間隔，則應(yīng)停止使用測(cè)厚儀并返回制造商進(jìn)行維護(hù)和修理或校準(zhǔn)。檢查測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)的使用不能替代儀器的定期校準(zhǔn)和確認(rèn)，校準(zhǔn)調(diào)整（調(diào)整、優(yōu)化）校準(zhǔn)調(diào)整是校準(zhǔn)測(cè)厚儀的厚度讀數(shù)（除去偏差）以匹配已知樣品的厚度讀數(shù)，以提高測(cè)厚儀在特定表面或其測(cè)量范圍的特定部分的精準(zhǔn)性。在大多數(shù)情況下，只需要在未涂層的基材上檢查零位并開(kāi)始測(cè)量。然而，基板（成分、磁性、形狀、粗糙度、邊沿效應(yīng)）和涂層（成分、表面粗糙度）以及環(huán)境和表面溫度等特性的影響可能需要對(duì)儀器進(jìn)行調(diào)整。大多數(shù)2型測(cè)厚儀都可以依據(jù)已知的參考標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行調(diào)整，例如涂層零件或墊片。但是，PosiPen和PosiTest等類型1測(cè)厚儀具有非線性刻度。由于它們的調(diào)整功能是線性的，因此不應(yīng)進(jìn)行任何調(diào)整。相反，用戶應(yīng)當(dāng)讀取賤金屬讀數(shù)（BMR）。對(duì)于未指定校準(zhǔn)調(diào)整方法的2型測(cè)厚儀，通常首先進(jìn)行1點(diǎn)校準(zhǔn)調(diào)整。假如碰到不精準(zhǔn)的情況，則應(yīng)進(jìn)行2點(diǎn)校準(zhǔn)調(diào)整。1點(diǎn)校準(zhǔn)調(diào)整1pt校準(zhǔn)調(diào)整涉及在對(duì)已知樣品或參考標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行多次讀數(shù)后將儀器的校準(zhǔn)曲線固定在一點(diǎn)。假如需要，可以將墊片放置在裸基板上以建立這樣的厚度。該調(diào)整點(diǎn)可以位于儀器測(cè)量范圍內(nèi)的任何位置，但為獲得更佳結(jié)果，應(yīng)選擇接近預(yù)期測(cè)量厚度的位置。歸零是簡(jiǎn)單的1點(diǎn)調(diào)整形式。它涉及未涂層樣品或板的測(cè)量。在簡(jiǎn)單的零位校準(zhǔn)調(diào)整中，進(jìn)行一次測(cè)量，然后將讀數(shù)調(diào)整為零位。在平均零校準(zhǔn)調(diào)整中，進(jìn)行多次測(cè)量，然后測(cè)厚儀計(jì)算平均讀數(shù)并自動(dòng)將該值調(diào)整為零。2點(diǎn)校準(zhǔn)調(diào)整2pt校準(zhǔn)調(diào)整與1pt仿佛，只是儀器的校準(zhǔn)曲線在對(duì)已知樣品或參考標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行多次讀數(shù)后固定在兩個(gè)已知點(diǎn)。這兩個(gè)厚度必須在儀器的測(cè)量范圍內(nèi)。通常在預(yù)期涂層厚度的任一側(cè)選擇點(diǎn)。PosiTector6000的一個(gè)優(yōu)勢(shì)是其整個(gè)測(cè)量范圍內(nèi)的精度。這通常使零（未涂層）成為2點(diǎn)校準(zhǔn)中使用的兩個(gè)點(diǎn)之一、基本金屬讀數(shù)基底金屬讀數(shù)（BMR）是一種歸零技術(shù)，用于粗糙表面上的1類（機(jī)械拉斷）測(cè)厚儀。對(duì)1類測(cè)厚儀的調(diào)整本質(zhì)上是線性的，但測(cè)厚儀的刻度是非線性的。因此，緊要的是不要將測(cè)厚儀調(diào)整到裸基板上的讀數(shù)為零。建議計(jì)算未涂層部件的BMR，并從涂層部件獲得的實(shí)際讀數(shù)中減去它