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文檔簡介

1JB/T5770.2─××××立式電解成形機床第2部分:精度檢驗本文件規定了立式電解成形機床的坐標系和主要部件、通則、幾何精度檢驗、定位精度檢驗和加工檢驗。本文件適用于立式電解成形機床精度的檢驗活動。2規范性引用文件下列文件中的內容通過文中的規范性引用而構成本文件必不可少的條款。其中,注日期的引用文件,僅該日期對應的版本適用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改單)適用于本文件。GB/T14896.1—2009特種加工機床術語第1部分:基本術語GB/T14896.3—2009特種加工機床術語第3部分:電解加工機床GB/T17421.1—1998機床檢驗通則第1部分:在無負荷或精加工條件下機床的幾何精度GB/T17421.2—2016機床檢驗通則第2部分:數控軸線的定位精度和重復定位精度的確定3術語和定義GB/T14896.1—2009和GB/T14896.3—2009界定的術語和定義適用于本文件。4坐標系和主要部件立式電解成形機床(以下簡稱“機床”)示意圖和坐標系見圖1,主要部件的名稱見表1。圖1立式電解成形機床示意2JB/T5770.2─××××表1立式電解成形機床主要部件名稱123crossslide(X’-axis,Y’-axis)45675通則5.1計量單位在本文件中,所有線性尺寸、偏差及相應的公差單位均用毫米表示,角度用度表示,角度偏差及相應的公差主要用比率表示,但在某些情況下可用微弧度或角秒明確,下列表達式用于角度偏差或公差的轉換:0.010/1000=10×10-6=10μrad≈2″。5.2引用標準使用本文件應引用GB/T17421.1—1998特別是機床檢驗前的安裝、運動件的預熱、計量方法的說明和檢驗設備的推薦精度。5.3機床調平在對機床進行檢驗之前,應對機床進行水平調整。5.4檢驗次序本文件給出的檢驗項目的順序并不限定檢驗的實際次序。為了簡化測量儀器(器具)的安裝,檢驗可按任意次序進行。5.5檢驗實施檢驗機床時,并不總是有必要或可能執行本部分所給出的全部檢驗項目,當檢驗出于驗收目的時,在與制造商/供應商達成一致的情況下,由用戶自行選擇其關心的機床相關部件和/或性能的檢驗項目。在訂購機床時,應明確指定檢驗項目。僅引用本文件作為驗收檢驗,而未明確規定具體檢驗及未就相應檢驗費用達成一致時,不能被視為對任何締約方具有約束力。5.6測量儀器本文件所述檢驗項目指定的測量儀器僅是范例,也可使用具有同樣測量范圍并且相同或更高精度的其他儀器。線性位移傳感器應有0.002mm或更高的分辨力。5.7最小公差在幾何精度檢驗中,實測長度與本文件給出的長度不同時,公差可通過比例法確定,最小公差3JB/T5770.2─××××值應計到0.005mm。5.8定位精度檢驗實施這些檢驗應引用GB/T17421.2—2016,特別是在環境條件、機床預熱、測量方法及結果的計算和數據處理等部分。當有其他數控軸時,應由供應商(制造商)與用戶協商一致進行檢驗。6幾何精度檢驗項目G1工作臺平面度。簡圖YY+X+X′+Y′OX公差在500測量長度內為0.025:測量長度任意增加100,公差值增加0.005。注:測量長度指O-X和O-Y中較長邊的長度。測量儀器精密水平儀或平尺、量塊和線性位移傳感器或光學儀器或其他儀器。檢驗方法(見GB/T17421.1—1998中5.3.2.2,5.3.2.3,5.3.2.4)精密水平儀放置在工作臺臺面上,在O—X和O—Y長度方向上選定測量間隔點,每個方向上的間隔測量點不少于4個,沿O—X和O—Y方向測量間隔點逐步移動精密水平儀,并記下讀數。通過作圖或計算,求出平面度值。4JB/T5770.2─××××項目G2X軸與Y軸運動的垂直度。簡圖公差任意100測量長度上為0.020。測量儀器線性位移傳感器、直角方尺。檢驗方法(見GB/T17421.1—1998中5.5.2.2.4)將直角方尺放在工作臺上,線性位移傳感器固定在機床某一固定位置(如陰極安裝板)上,線性位移傳感器測頭與直角方尺A面接觸,工作臺沿Y軸方向運動,調整直角方尺,使線性位移傳感器在直角方尺兩端的讀數相等,線性位移傳感器測頭與直角方尺的另一垂直工作面B接觸,工作臺沿X軸方向運動。誤差值以測量長度內線性位移傳感器讀數的最大差值計。JB/T5770.2─××××項目G3Z軸運動與工作臺面的垂直度。簡圖公差任意100測量長度上為0.020。測量儀器線性位移傳感器、圓柱角尺。檢驗方法(見GB/T17421.1—1998中5.5.2.2.1,5.5.2.2.2)線性位移傳感器固定在陰極安裝板上,圓柱角尺放置在工作臺上。a)按圖示在ZX垂直平面內進行測量,使線性位移傳感器測頭沿X方向與圓柱角尺的工作面相接觸,陰極安裝板在Z軸方向上移動,按圖示記下線性位移傳感器讀數。讀數的最大值為誤差值。b)按圖示在ZY垂直平面內按同樣方法重復檢查。6G4JB/T5770.2─××××G4項目陰極安裝板與工作臺面的平行度。簡圖公差任意100測量長度上為0.020。測量儀器線性位移傳感器。檢驗方法(見GB/T17421.1—1998中5.5.2.2.1,5.5.2.2.2)線性位移傳感器放置在工作臺面上,線性位移傳感器測頭與陰極安裝板的工作面接觸。移動線性位移傳感器,按圖示在ZX、ZY垂直平面內進行測量。線性位移傳感器讀數的最大值為誤差值。7JB/T5770.2─××××項目G5Z軸運動中的主軸偏擺。簡圖CCCC-C公差任意300測量長度為0.06/200。測量儀器線性位移傳感器、圓柱角尺。檢驗方法(見GB/T17421.1—1998中5.2.3.1.3)線性位移傳感器固定在陰極安裝板上,圓柱角尺放置在工作臺上且偏離主軸的左側(距離約為100mm線性位移傳感器測頭與圓柱角尺的工作面相接觸。陰極安裝板在Z軸方向上移動,記下各個讀數并標記圓柱角尺上的各相應高度。正方向移動X軸(距離為200mm調整線性位移傳感器,使線性位移傳感器測頭沿同一直線再次與圓柱角尺的工作面相接觸,線性位移傳感器重新調零,在原先各位置的同樣高度上重新測量并記錄。計算每個測量高度上兩次讀數的差值,選擇這些差值中的最大值和最小值,按照下式計算結果:α=最大差值?最小差值dα值不超過公差,其中d為線性位移傳感器兩次位置之間的距離。8JB/T5770.2─××××項目G6Z軸軸向受力變形。簡圖公差變形量0.15;變形量差0.06。測量儀器線性位移傳感器、測力計。檢驗方法(見GB/T17421.1—1998中5.5.2.2.1,5.5.2.2.2)Z軸伸出至最大位置,線性位移傳感器固定在工作臺上,測頭觸及陰極安裝板。a)在主軸中心位置沿軸向施加力F,分別在軸中心及距陰極安裝板邊緣20mm的兩點(兩點連線過主軸中心且平行于X方向)測量誤差,并記錄。b)在主軸偏心位置(在陰極安裝板上,距主軸中心50mm)沿軸向施加力F,在與施力點對稱位置(施力點與測量點連線過主軸中心且平行于X方向)測量誤差;施力點與測量點交換位置再測量一次,誤差以兩讀數的差值計。JB/T5770.2─××××7定位精度檢驗項目P1Z軸運動的定位精度與重復定位精度。簡圖項目 測量長度≤250﹥250~500﹥500~1000雙向定位精度A0.0110.0150.019單向重復定位精度R↑和R↓0.0050.0070.009雙向重復定位精度R0.0100.0130.015軸的反向差值B0.0090.0110.013平均反向差值B0.0050.0060.007雙向定位系統偏差E0.0070.0080.009軸的雙向平均位置偏差的范圍M0.0020.0030.004測量儀器長度基準尺和顯微鏡或激光測量儀器。檢驗方法(見GB/T17421.1—1998中2.3.2.2.1;GB/T17421.2—2016)使長度基準尺或激光測量儀器的光束軸線與被檢軸平行。原則上采用快速進給定位,但也可由用戶和供應商(制造商)協商采用適宜的進給速度。JB/T5770.2─××××項目P2X軸運動的定位精度與重復定位精度。簡圖項目測量長度≤125雙向定位精度A0.0080.0120.016單向重復定位精度R↑和R↓0.0040.0060.008雙向重復定位精度R0.0060.0100.014軸的反向差值B0.0050.0080.012 平均反向差值B0.0030.0040.006雙向定位系統偏差E0.0040.0060.008軸的雙向平均位置偏差的范圍M0.0010.0020.003測量儀器長度基準尺和顯微鏡或激光測量儀器。檢驗方法(見GB/T17421.1—1998中2.3.2.2.1;GB/T17421.2—2016)使長度基準尺或激光測量儀器的光束軸線與被檢軸平行。原則上采用快速進給定位,但也可由用戶和供應商(制造商)協商采用適宜的進給速度。JB/T5770.2─××××項目P3Y軸運動的定位精度與重復定位精度。簡圖項目測量長度≤125雙向定位精度A0.0080.0120.016單向重復定位精度R↑和R↓0.0040.0060.008雙向重復定位精度R0.0060.0100.014軸的反向差值B0.0050.0080.012 平均反向差值B0.0030.0040.006雙向定位系統偏差E0.0040.0060.008軸的雙向平均位置偏差的范圍M0.0010.0020.003測量儀器長度基準尺和顯微鏡或激光測量儀器。檢驗方法(見GB/T17421.1—1998中2.3.2.2.1;GB/T17421.2—2016)使長度基準尺或激光測量儀器的光束軸線與被檢軸平行。原則上采用快速進給定位,但也可由用戶和供應商(制造商)協商采用適宜的進給速度。JB/T5770.2─××××8加工檢驗項目M1加工孔的圓度及孔內表面粗糙度。簡圖公差圓度0.05;表面粗糙度Ra≤1.6μm。測量儀器三坐標測量

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