標準解讀

《JJG 28-2019 平晶》相較于《JJG 28-2000 平晶》,在內容上進行了多方面的更新與調整,具體變化體現在以下幾個方面:

一、標準名稱及適用范圍有所擴展。新版本中,不僅涵蓋了原有的平晶檢定要求,還增加了對平晶使用條件和維護保養的具體指導,使得該標準更加全面地服務于實際應用。

二、術語定義部分得到完善。《JJG 28-2019》對“平晶”及相關概念給出了更為準確的定義,有助于統一行業內對于這些術語的理解,減少因理解差異導致的操作偏差。

三、技術指標細化且嚴格化。新標準提高了平晶表面質量的要求,比如平面度誤差限值等關鍵參數設定得更加嚴格,并新增了關于外觀缺陷的最大允許尺寸的規定,確保產品質量符合更高標準。

四、檢定方法與程序更加規范。《JJG 28-2019》詳細描述了不同類型的平晶(如光學平晶、電子平晶)所需采用的具體檢測手段和技術路線,同時明確了各項測試的操作步驟、數據處理方式以及結果判定準則,增強了可操作性和一致性。

五、增加了環境條件要求。新版標準特別強調了進行平晶檢定時所需的溫濕度控制及其他環境因素的影響,以保證測量結果的準確性與可靠性。


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....

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  • 2019-09-27 頒布
  • 2020-03-27 實施
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文檔簡介

中華人民共和國國家計量檢定規程

JJG28—2019

平晶

OpticalFlats

2019-09-27發布2020-03-27實施

國家市場監督管理總局發布

JJG28—2019

??

???????????????

平晶檢定規程?JJG28—2019?

??

?????????????

?代替JJG28—2000?

VerificationRegulationofOpticalFlats??

歸口單位全國幾何量工程參量計量技術委員會

:

主要起草單位湖南省計量檢測研究院

:

中國計量科學研究院

參加起草單位蘇州慧利儀器有限責任公司

:

中國兵器工業第研究所

205

本規程委托全國幾何量工程參量計量技術委員會負責解釋

JJG28—2019

本規程主要起草人

:

陳勇湖南省計量檢測研究院

()

張恒中國計量科學研究院

()

曾琰湖南省計量檢測研究院

()

劉麗娟湖南省計量檢測研究院

()

參加起草人

:

韓森蘇州慧利儀器有限責任公司

()

柏文琦湖南省計量檢測研究院

()

王生云中國兵器工業第研究所

(205)

JJG28—2019

目錄

引言

………………………(Ⅱ)

范圍

1……………………(1)

引用文件

2………………(1)

概述

3……………………(1)

計量性能要求

4…………(3)

平行度

4.1………………(3)

工作面平面度

4.2………………………(3)

非工作面的平面度

4.3…………………(4)

穩定性

4.4………………(4)

通用技術要求

5…………(5)

外觀及表面質量

5.1……………………(5)

外形尺寸

5.2……………(5)

長平晶十字刻線位置

5.3………………(6)

兩端面夾角

5.4………………………(6)

工作面與圓柱母線的垂直度

5.5………(7)

計量器具控制

6…………(7)

檢定項目和主要檢定設備

6.1…………(7)

檢定條件

6.2……………(7)

檢定方法

6.3……………(9)

檢定結果處理

6.4………………………(12)

檢定周期

6.5……………(12)

附錄平晶表面疵病的尺寸及數量

A…………………(13)

附錄相移式激光等厚干涉測量法

B…………………(15)

附錄等厚干涉測量法

C………………(18)

附錄等傾干涉測量法

D………………(20)

附錄四面互檢法檢定長平晶數據處理示例

E………(22)

附錄長平晶自重變形量

F……………(25)

附錄檢定證書和檢定結果通知書內頁格式

G………(27)

JJG28—2019

引言

通用計量術語及定義國家計量檢定規程編寫

JJF1001—2011《》、JJF1002—2010《

規則測量不確定度評定與表示共同構成本規程修訂工作的基

》、JJF1059.1—2012《》

礎性系列技術法規

本規程與平晶相比除編輯性修改外主要技術變化如下

JJG28—2000《》,,:

更正了平晶的印刷錯誤

———JJG28—2000《》:

中式u5u更正為u5u見現版

JJG28—20006.3.8.2b)(6):2=1,:b=a[

1212

(5)];

附錄中表的表頭第列EiLiLnKn更正為Ei

JJG28—2000CC.18:=(/),:=

LiLnKn見現版表

(/)Δ(E.1);

?d2??d?2

附錄中式F?÷F更正為F?÷F

JJG28—2000D(D.2):Δ=è?×96,:Δ=è?×96

9696

見現版式

[(C.2)]。

長平晶兩次周期檢定平面度之差從放寬為見

———310mm0.020μm0.030μm(

4.4)。

依據量塊取消了等量塊改用等量塊見

———JJG146—2011《》,6,5(6.3.2)。

取消了平行平晶平行度在激光平面等厚干涉儀上檢定的方法

———。

增加相移式等厚測量裝置的結構概述測量方法見附錄等相關內容

———、(B)。

增加標準平晶F范圍內的平面度計算方法見附錄

———96(C)

本規程的歷次版本發布情況

:

———JJG28—2000;

———JJG28—1991;

———JJG28—1980。

JJG28—2019

平晶檢定規程

1范圍

本規程適用于平晶包括平面平晶平行平晶和長平晶的首次檢定后續檢定和

(、)、

使用中檢查

2引用文件

本規程引用下列文件

:

無色光學玻璃

GB/T903—2019

平面平晶

JB/T7401—1994

平行平晶

JB/T7402—1994

光學和光子學光學元件和光學系統的干涉儀測量第

ISO14999-4:2015(E)4

部分在中所明確規定的公差說明和評價

:ISO10110(Opticsandphotonics—Interfero-

metricmeasurementofopticalelementsa

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